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马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台泛用测试治具的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台泛用测试治具，所述泛用测试治具为方形板状，所述泛用测试治具设有两排定位孔，第一排定位孔是与马尼亚测试机台上定位孔对应的马尼亚定孔位，第二排定位孔是与全新方位四倍密机台上定位孔对应的四倍密定位孔，所述马尼亚定位孔和四倍密定位孔分别位于泛用测试治具相邻的两条边，由于该泛用测试治具同时具有马尼亚定位孔和四倍密定位孔，使马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台各取所用，满足两种机台的工作定位需求，无需旋转套用同一排定位孔，提高了工作效率和稳定性。
【专利说明】马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台泛用测试治具

【技术领域】
[0001]本发明属于印刷电路板制造用设备领域，具体涉及一种能够通用于马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台的泛用测试治具。

【背景技术】
[0002]现有技术中，全新方位四倍密机台与玛尼亚测试机台所用的治具除定位孔以外，其他结构都是一样的，因此，一般共享泛用测试治具，但是目前泛用测试治具只有一排定位孔，而且该排定位孔是适用于马尼亚测试机台的，全新方位四倍密机台在使用泛用测试治具时需旋转后从左边套用原玛尼亚机台的定位孔，但是全新方位四倍密机台上的定位孔和马尼亚机台的定位孔还是有些不同的，如此，全新方位四倍密机台在架设治具时从机台侧面定位不稳定且不容易定位。


【发明内容】

[0003]为了解决上述问题，本发明提供了一种马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台泛用测试治具，该马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台泛用测试治具具有马尼亚定位孔和四倍密定位孔，使马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台各取所用，满足两种机台的工作定位需求，无需旋转套用同一排定位孔，提高了工作效率和稳定性，且结构简单、易于实施。
[0004]本发明为了解决其技术问题所采用的技术方案是:
[0005]一种马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台泛用测试治具，所述泛用测试治具为方形板状，所述泛用测试治具设有两排定位孔，第一排定位孔是与马尼亚测试机台上定位孔对应的马尼亚定孔位，第二排定位孔是与全新方位四倍密机台上定位孔对应的四倍密定位孔，所述马尼亚定位孔和四倍密定位孔分别位于泛用测试治具相邻的两条边。
[0006]本发明的有益效果是:本发明的泛用测试治具设有两排定位孔，第一排定位孔是与马尼亚测试机台上定位孔对应的马尼亚定孔位，第二排定位孔是与全新方位四倍密机台上定位孔对应的四倍密定位孔，并且马尼亚定位孔和四倍密定位孔分别位于泛用测试治具相邻的两条边，由于该泛用测试治具同时具有马尼亚定位孔和四倍密定位孔，使马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台各取所用，满足两种机台的工作定位需求，无需旋转套用同一排定位孔，提高了工作效率和稳定性。

【专利附图】

【附图说明】
[0007]图1为本发明的结构示意图。

【具体实施方式】
[0008]以下通过特定的具体实例说明本发明的【具体实施方式】，本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的优点及功效。本发明也可以其它不同的方式予以实施，即，在不悖离本发明所揭示的范畴下，能予不同的修饰与改变。
[0009]实施例:一种马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台泛用测试治具，所述泛用测试治具为方形板状，所述泛用测试治具设有两排定位孔，第一排定位孔是与马尼亚测试机台上定位孔对应的马尼亚定孔位1，第二排定位孔是与全新方位四倍密机台上定位孔对应的四倍密定位孔2，所述马尼亚定位孔和四倍密定位孔分别位于泛用测试治具相邻的两条边。
【权利要求】
1.一种马尼亚测试机台和全新方位四倍密机台泛用测试治具，其特征在于:所述泛用测试治具为方形板状，所述泛用测试治具设有两排定位孔，第一排定位孔是与马尼亚测试机台上定位孔对应的马尼亚定孔位(I)，第二排定位孔是与全新方位四倍密机台上定位孔对应的四倍密定位孔(2)，所述马尼亚定位孔和四倍密定位孔分别位于泛用测试治具相邻的两条边。
【文档编号】G01R31/28GK104483621SQ201410816899
【公开日】2015年4月1日 申请日期:2014年12月24日 优先权日:2014年12月24日
【发明者】李泽清 申请人:竞陆电子(昆山)有限公司