专利名称：用于牙齿种植体的红外传感测量方法
技术领域：
本发明涉及种植体技术领域，特别涉及一种用于牙齿种植体的红外传感测量方法。
背景技术：
现在在牙齿种植体生产过程中，普遍存在着需要和仿真磨损牙龈体进行安装套用，在安装套用前，都有用模拟根管设备给出仿真磨损牙龈的深度，这种模拟根管设备经由测电阻差值的方式来进行，但是这样的方式要经过复杂的运算，并且这种复杂的经验型公式的计算不会根据外界环境气温而改变，所以误差很大，这样导致牙齿种植体生产出来无法安装套用
发明内容
·本发明提供一种用于牙齿种植体的红外传感测量方法，经由当牙齿种植体生产前，仿真磨损牙龈的上端与上部红外传感器相对，并且仿真磨损牙龈的下端与下部红外传感器相对，随后启动中央处理器驱使上部红外传感器和下部红外传感器同步扫描各自对应的位置数据，并发回中央处理器进行减法运算。运算简单且准确，误差小导致牙齿种植体生产出来能够安装套用。为实现上述目的，本发明的技术方案为
一种用于牙齿种植体的红外传感测量方法，先设置上部红外传感器I和下部红外传感器2，所述的用于牙齿种植体的红外传感测量方法附设同上部红外传感器I和下部红外传感器2相导通的中央处理器3。所述的同上部红外传感器I和下部红外传感器2相导通的中央处理器3为带有减法�？榈脑怂闫鳎迷怂闫鞫陨喜亢焱獯衅鱅和下部红外传感器2传回的数据进行减法运算。当牙齿种植体生产前，仿真磨损牙龈的上端与上部红外传感器I相对，并且仿真磨损牙龈的下端与下部红外传感器2相对，随后启动中央处理器3驱使上部红外传感器I和下部红外传感器2同步扫描各自对应的位置数据，并发回中央处理器3进行减法运算。经由当牙齿种植体生产前，仿真磨损牙龈的上端与上部红外传感器I相对，并且仿真磨损牙龈的下端与下部红外传感器2相对，随后启动中央处理器3驱使上部红外传感器I和下部红外传感器2同步扫描各自对应的位置数据，并发回中央处理器3进行减法运算。运算简单且准确，误差小导致牙齿种植体生产出来能够安装套用。
图I为本发明的结构示意图。
具体实施例方式下面经由附图对本发明做进一步说明如附图I所示，用于牙齿种植体的红外传感测量方法，先设置上部红外传感器I和下部红外传感器2，所述的用于牙齿种植体的红外传感测量方法附设同上部红外传感器I和下部红外传感器2相导通的中央处理器3。所述的同上部红外传感器I和下部红外传感器2相导通的中央处理器3为带有减法�？榈脑怂闫鳎迷怂闫鞫陨喜亢焱獯衅鱅和下部红外传感器2传回的数据进行减法运算。当牙齿种植体生产前，仿真磨损牙龈的上端与上部红外传感器I相对，并且仿真磨损牙龈的下端与下部红外传感器2相对，随后启动中央处理器3驱使上部红外传感器I和下部红外传感器2同步扫描各自对应的位置数据，并发回中央处理器3进行减法运算。
经由当牙齿种植体生产前，仿真磨损牙龈的上端与上部红外传感器I相对，并且 仿真磨损牙龈的下端与下部红外传感器2相对，随后启动中央处理器3驱使上部红外传感器I和下部红外传感器2同步扫描各自对应的位置数据，并发回中央处理器3进行减法运算。运算简单且准确，误差小导致牙齿种植体生产出来能够安装套用。
权利要求
1. 一种用于牙齿种植体的红外传感测量方法，其特征在于先设置上部红外传感器I和下部红外传感器(2)，所述的用于牙齿种植体的红外传感测量方法附设同上部红外传感器I和下部红外传感器2相导通的中央处理器(3);中央处理器(3)带有减法�？榈脑怂闫鳎迷怂闫鞫陨喜亢焱獯衅�(I)和下部红外传感器(2)传回的数据进行减法运算；当牙齿种植体生产前，仿真磨损牙龈的上端与上部红外传感器(I)相对，并且仿真磨损牙龈的下端与下部红外传感器(2)相对，随后启动中央处理器(3)驱使上部红外传感器(I)和下部红外传感器(2 )同步扫描各自对应的位置数据，并发回中央处理器(3 )进行减法运算。
全文摘要
一种用于牙齿种植体的红外传感测量方法，经由当牙齿种植体生产前，仿真磨损牙龈的上端与上部红外传感器相对，并且仿真磨损牙龈的下端与下部红外传感器相对，随后启动中央处理器驱使上部红外传感器和下部红外传感器同步扫描各自对应的位置数据，并发回中央处理器进行减法运算。运算简单且准确，误差小导致牙齿种植体生产出来能够安装套用。
文档编号G01B11/22GK102878931SQ20121040520
公开日2013年1月16日 申请日期2012年10月23日 优先权日2012年10月23日
发明者林西 申请人:西安中邦种植体技术有限公司
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