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专利名称：测角仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量装置，特别是涉及一种对光学材料的折射率进行精密测试的测角仪。
背景技术：
光学材料的折射率参数是进行光学设计的基�。�只有精确掌握光学材料折射率的可靠数据，才能根据要求完成高质量的设计工作。而对于光学材料研究制造者而言，确定所研究的光学材料的折射率性能指标是重要的基本内容，是进行材料评定的技术基�。�也是生产定型的参考依据，因此，对光学材料折射率的精确测定是使用、研制光学材料的前提。目前，通常采用V棱镜折射仪和测角仪通过测角法测量光学材料的折射率。即将测试的光学材料按要求加工成一定形状的测试样块，测试光束通过样块后偏折光线的方向 角度，来确定其折射率的大小。随着光学工业的发展，对光学材料的要求不但数量大，而且质量要求也越来越高。V棱镜折射仪的精度较低，无法满足高精度测试的需要。精密测角仪测试精度高，且为绝对测量，通常折射率测量精度为10，若要折射率测量精度达到10，甚至更高，就要求测角精度在I"以上的大型精密测角仪。但精密测角仪价钱高昂，构造复杂，对使用环境和操作者有较高要求，不适用于生产、工程等方面的广泛应用。

实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种低成本、高精度的测角仪。本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是测角仪，由安装有载物系统的经纬仪和自准直仪构成，所述自准直仪与经纬仪连接。进一步的，所述载物系统由载物台、平面轴承和支撑架构成，所述平面轴承设置在载物台和支撑架之间。进一步的，还包括底座、支架和小平台，所述支架设置在底座的圆形滑轨上，所述自准直仪设置在支架上，所述小平台分别与支撑架和支架刚性连接。进一步的，所述经纬仪放置在设置有圆形滑轨的底座上。进一步的，在所述小平台上相对支架的另一端安装有配重块。进一步的，在所述载物台上设置有第二调整螺钉，在支撑架上设置有第三调整螺钉。进一步的，所述载物台的转轴与经纬仪的垂直转轴平行。进一步的，所述经纬仪底部安装有3个成等边三角形排布的第一调整螺杆。本实用新型的有益效果是利用较为常见、使用面广的经纬仪和自准直仪构建测角仪，利用自准直仪对准和经纬仪的高精度测角，能够实现低成本、高精度测试光学材料的折射率的目的，有利于进行光学玻璃生产和科研，提高了质量监控准确性和稳定性。该检测装置由于可以进行折射率较高精度的测试，因此可以进行光学材料色散值的高精度测试，从而实现低色散光学材料色散值的检测。
图I是本实用新型的结构示意图。图2是图I的俯视图。图3是本实用新型的测试光路图。
具体实施方式
如图I和图2所示，本实用新型由自准直仪3和安装有载物系统的经纬仪16构成，自准直仪3与经纬仪16通过小平台5连接，自准直仪3可以绕经纬仪16的垂直轴转动，并通过小平台5带动经纬仪16自转，经纬仪16的作用是提供载物平台，并通过经纬仪16的水平度盘9提供高精度测角。自准直仪3的作用是寻找和瞄准入射光透过样品后的折射光。经纬仪16放置在底座7的水平台面上，经纬仪16底部安装有3个成等边三角形排布的第一调整螺杆8，可以通过旋转螺杆调整经纬仪16的空间位置以及上部载物系统的水平位置。载物系统安装在经纬仪16的垂直支架11上的调平基板14上。载物系统由载物台I、平面轴承10和支撑架13构成，平面轴承10设置在载物台I和支撑架13之间，隔离了载物台I和支撑架13，使载物台I只能自转，而不会跟随也不会影响其它部分的转动。在载物台I上设置有第二调整螺钉2，在支撑架13上设置有第三调整螺钉15，可以以调平基板14为水平基准，通过调整第二调整螺钉2和调整第三调整螺钉15，调整载物台I的空间位置，使载物台I的转轴与经纬仪16的垂直转轴平行。底座7的边沿设置有圆形滑轨，支架6设置在底座7的滑轨上，自准直仪3设置在支架6上，从而使自准直仪3可以沿着圆形滑轨绕经纬仪16的垂直轴转动。小平台5分别与支撑架13和支架6刚性连接，由于支撑架13刚性连接在经纬仪16上，所以当支架6沿着圆形滑轨绕经纬仪16的垂直轴转动时，设置在支架6上的自准直仪3也同时绕经纬仪16的垂直轴转动，并且支架6带动小平台5、支撑架13使经纬仪16自转，同时带动经纬仪16的水平度盘9同步转动。在小平台5上相对支架6的另一端安装有配重块12，以保持整个装置的平稳，防止轴向跳动。测试时，将样品放置在载物台I上，如图3所示，通过调整螺钉，利用自准直仪3对准调整，使样品入射面与光轴垂直。寻找入射光通过样品的偏折出射光时，转动自准直仪3在圆形滑轨上滑动，通过刚性连接在自准直仪3上的小平台5，会带动经纬仪16的水平度盘9同步转动，从而使水平度盘9可以测出自准直仪3转动的角度a。转动自准直仪3找到偏折出射光后，锁紧自准直仪3，再通过自准直仪3精密对准，自准直读数，获得小角度读数b。a+b即为光束通过样品后偏折光线的方向角度。该检测装置结构紧凑，易于调整，可以较为方便地实现不同的偏折光线的方向角度的测试，并通过折射率公式实现折射率较高精度的测试。自准直仪3还可带有光源输入孔4，采用自准直方法测折射率时，可以方便从外部引入测试光源，满足不同谱线折射率测试的需要，实现自准直法测试折射率。本实用新型的测角仪所采用的经纬仪16采用电子经纬仪，测角精度要在2"以上；自准直仪3采用消色差物镜，可以适应宽光谱测试需要，提高测试精度，当测试要求较高时，可以采用离轴抛物镜反射式结构。
权利要求1.测角仪，其特征在于由安装有载物系统的经纬仪(16)和自准直仪(3)构成，所述自准直仪(3)与经纬仪(16)连接。
2.如权利要求I所述的测角仪，其特征在于所述载物系统由载物台(I)、平面轴承(10)和支撑架(13)构成，所述平面轴承(10)设置在载物台(I)和支撑架(13)之间。
3.如权利要求2所述的测角仪，其特征在于还包括底座(7)、支架(6)和小平台(5)，所述支架(6)设置在底座(7)的圆形滑轨上，所述自准直仪(3)设置在支架(6)上，所述小平台(5)分别与支撑架(13)和支架(6)刚性连接。
4.如权利要求3所述的测角仪，其特征在于所述经纬仪(16)放置在设置有圆形滑轨的底座(7)上。
5.如权利要求3所述的测角仪，其特征在于在所述小平台(5)上相对支架(6)的另一端安装有配重块(12)。
6.如权利要求2所述的测角仪，其特征在于在所述载物台(I)上设置有第二调整螺钉(2)，在支撑架(13)上设置有第三调整螺钉(巧)。
7.如权利要求2所述的测角仪，其特征在于所述载物台(I)的转轴与经纬仪(16)的垂直转轴平行。
8.如权利要求I所述的测角仪，其特征在于所述经纬仪(16)底部安装有3个成等边三角形排布的第一调整螺杆(8)。
专利摘要本实用新型提供一种低成本、高精度的测角仪。测角仪，由安装有载物系统的经纬仪和自准直仪构成，所述自准直仪与经纬仪连接。本实用新型利用较为常见、使用面广的经纬仪和自准直仪构建测角仪，利用自准直仪对准和经纬仪的高精度测角，能够实现低成本、高精度测试光学材料的折射率的目的，有利于进行光学玻璃生产和科研，提高了质量监控准确性和稳定性。
文档编号G01C1/02GK202533067SQ20122016676
公开日2012年11月14日 申请日期2012年4月19日 优先权日2012年4月19日
发明者周佺佺 申请人:成都光明光电股份有限公司