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专利名称：半轴齿轮位置公差检具的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种检测机械零件位置公差的检具，具体地讲，本发明涉及一种作汽车差速器半轴齿轮位置公差的检具。
背景技术：
汽车差速器半轴齿轮是ー种设有内花键的锥齿轮，该类齿轮在高速旋转中传递扭矩，所以对半轴齿轮的设计精度和制造精度要求都很高。半轴齿轮的位置公差优劣对传动质量影响很大，制造过程中必须通过位置公差检验来判别其质量是否符合设计要求。半轴齿轮位置公差检验基准是内花键的分度圆，现有技术用相配套的外花键齿侧定位芯轴插入内花键孔中，以花键齿侧预留锥度作定位。该结构简单，基本满足检测定位条件，检测操作方便，在行业中已被大量应用。但是，目前所用的外花键齿侧定位芯轴不仅制作难度大、成本高，而且应用有一定局限性。例如，待检的半轴齿轮尺寸公差范围较大，所备的外花键齿侧定位芯轴不配套，则需配备多根不同尺寸公差范围的外花键齿侧定位芯轴才能满足检测 定位要求。

发明内容
本发明主要针对现有外花键齿侧定位芯轴用于半轴齿轮位置公差检测的不足，提出ー种结构简单、制作容易、定位准确、检测方便的半轴齿轮位置公差检具。本发明通过下述技术方案实现技木目标。半轴齿轮位置公差检具，它由芯轴、量棒组成。所述量棒为ー组三根细长圆柱棒，三根量棒直径相等且公差等级相同。其改进之处在于所述芯轴为锥度轴结构。所述量棒近似三等分安装在半轴齿轮的内花键槽中，芯轴以小尺寸端插进其中并以外壁与量棒接触配合构成定位结构。上述结构中的芯轴维度比为200mm O. 08mm O. 10mm,量棒公差为±0. 001mm。本发明与现有技术相比，具有以下积极效果
1、芯轴为圆锥轴，结构简单，制作容易；
2、微锥芯轴，定位可靠、准确，便于检测；
3、代替成本很高，采购周期长的花键锥度芯轴，缩短新产品开发周期。


图I是本发明结构立体示意图。图2是图I左视图。
具体实施例方式下面根据附图对本发明作进ー步说明。图I所示的半轴齿轮位置公差检具，它由芯轴I、量棒2组成，所述量棒2为ー组三根细长圆柱棒，三根量棒2直径相等且公差等级相同。本发明中的芯轴I为锥度轴结构，其维度比为200mm O. 08mm O. 10mm,本实施例中芯轴I的维度比为200mm 0.08mm。所述量棒2规格根据待检测的半轴齿轮内花键分度圆接触点直径位置确定，量棒2的公差为±0. 001mm，市场有标准件供应。将选定的量棒2近似三等分安装在半轴齿轮3的内花键中，芯轴I以小尺寸端插进其中并作轴向位移，直至外壁与量棒2接触配合构成定位结构。在此定位条件下作半轴齿轮3的有关径向跳动、端面跳动及球面跳动检验。本发明采用微锥芯轴I配合量棒2定位半轴齿轮3，结构简单，定位可靠，便于检測
权利要求
1.ー种半轴齿轮位置公差检具，它由芯轴(I)、量棒(2)组成；所述量棒(2)为ー组三根细长圆柱棒，三根量棒(2)直径相等且公差等级相同；其特征在干所述芯轴(I)为锥度轴结构；所述量棒(2)近似三等分安装在半轴齿轮(3)的内花键槽中，芯轴(I)以小尺寸端插进其中并以外壁与量棒(2)接触配合构成定位结构。
2.根据权利要求I所述的半轴齿轮位置公差检具，其特征在于所述芯轴(I)的锥度比为 200mm 0. 08mm 0. 10mm，量棒(2)公差为 ±0. 001mm。
全文摘要
本发明公开了一种半轴齿轮位置公差检具，它由芯轴、量棒组成。所述量棒为一组三根细长圆柱棒，三根量棒直径相等且公差等级相同。所述芯轴为锥度轴结构，量棒近似三等分安装在半轴齿轮的内花键中，芯轴以小尺寸端插进其中并以外壁与量棒接触配合构成定位结构，在此定位条件下作半轴齿轮的位置公差检测。本发明采用微锥芯轴配合量棒定位半轴齿轮，结构简单，定位可靠，便于检测。由于量棒在微锥芯轴外壁上轴向位移可微调配合尺寸，所以也适应作公差范围大的工件检测。本发明特别适合大批量检验使用。
文档编号G01B5/00GK102650511SQ20111004365
公开日2012年8月29日 申请日期2011年2月24日 优先权日2011年2月24日
发明者徐爱国, 黄小芳, 黄泽培 申请人:江苏太平洋精锻科技股份有限公司