一种追加的基板测试点的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种追加的基板测试点，所述基板一面设置有电气电路，所述基板另一面设置有若干追加的测试点，所述测试点与电气电路连接；所述测试点为开短路、电阻、电容、电感、压降等测试点。本实用新型实现了产品在线测试的覆盖率达到了100%，能准确地发现电路基板上的某一元件的失效，提高产品的品质保证能力；测试点布设在电路基板生产流程上，进行在线测试十分方便，节约了测试点不足而需要反复测试的时间，提升了生产效率；同吋，放置的测试点不影响电路基板的走线布局，排列整齐美观。
【专利说明】一种追加的基板测试点
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种基板测试点，尤其涉及一种追加的基板测试点。
【背景技术】
[0002]品质是企业的生命，如何能预防不良的发生、如何能尽可能早的发现不良是我们永恒的课题。我们电子产品的性能不良是人用肉眼无法发现的，因此必须借助于一些专用的仪器仪表，然而，传统的测试点往往受制于测试针的大�。薹ㄔ诘缏坊宓淖呦叩拿恳坏悴季纸胁馐裕庑┮瞧饕潜碓跹胛颐撬幸馐缘脑樱荒茏龅讲凡馐�100%的覆盖率，而且我们传统的电路基板设计方案无法对所有的电气网络进行植针。
实用新型内容
[0003]本实用新型的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种追加的基板测试点，本实用新型实现了产品在线测试覆盖率达到了 100%，能准确地发现电路基板上的某一元件的失效，提闻广品的品质保证能力。
[0004]实现上述目的的技术方案是:
[0005]本实用新型一种追加的基板测试点，所述基板一面设置有电气电路，其中，所述基板另一面设置有若干追加的测试点，所述测试点通过基板穿孔与电气电路连接，所述测试点设置引出测试植针。
[0006]上述的追加的基板测试点，其特征在于:所述测试点为开短路测试点。
[0007]上述的追加的基板测试点，其特征在于:所述测试点为电阻测试点。
[0008]上述的追加的基板测试点，其特征在于:所述测试点为电容测试点。
[0009]上述的追加的基板测试点，其特征在于:所述测试点为电感测试点。
[0010]上述的追加的基板测试点，其特征在于:所述测试点为压降测试点。
[0011]本实用新型的有益效果是:本实用新型实现了产品在线测试的覆盖率达到了100%，能准确地发现电路基板上的某一元件的失效，提高产品的品质保证能力；测试点布设在电路基板生产流程上，进行在线测试十分方便，节约了测试点不足而需要反复测试的时间，提升了生产效率；同吋，放置的测试点不影响电路基板的走线布局，排列整齐美观。
【专利附图】
【附图说明】
[0012]图1为现有技术的传统的基板测试点的连接原理示意图。
[0013]图2是本实用新型的一种追加的基板测试点的连接原理示意图。
[0014]图3是本实用新型的一种追加的基板测试点的放大示意图。
[0015]图4是本实用新型的一种追加的基板测试点的单个测试点的穿过基板连接放大示意图。
【具体实施方式】[0016]下面将结合附图对本实用新型作进一步说明。
[0017]请参阅图2、图3和图4，本实用新型一种追加的基板测试点，基板一面设置有电气电路，其中，基板另一面设置有若干追加的测试点，测试点通过基板穿孔与电气电路连接，测试点设置引出测试植针。
[0018]测试点为开短路、电阻、电容、电感、压降等测试点。
[0019]本实用新型是在基板上增加相应的测试点以方便测试，追加的测试点可以覆盖PCB电路基板上所有的电气网络进行植针，测试针能准确扎到对应的测试点。
[0020]本实用新型涉及PCB电路基板的走线布局测试点放置方案，不会影响产品性能和PCB的外观尺寸。在PCB电路基板的走线布局上针对每一个电气电路增加一个测试点，这个测试点用来与测试针接触，这样就可以实现产品的元器件测试覆盖率达到100%。
[0021]PCB电路基板的贴片连接器需要进行ICT在线测试，每一针眼(PIN)都能引出测试点。如图2所示共有55个测试点，图中示意性追加其中11个测试点TPU TP2、TP3、TP4、TP5、TP6、TP51、TP52、TP53、TP54 和 TP55。
[0022]如图1所示，传统的测试点往往受制于测试针的大�。薹ㄔ赑CB电路基板的走线布局的每一点进行测试。通常信号线之间线间距为0.508mm，而测试针大小的限制直径为
1.27_。因此，传统方法无法对所有电器网络进行植针，而且严重影响PCB电路基板的走线。随着时代的发展，需要考虑功耗、抗干扰和信号完整性等，对PCB电路基板的走线要求越来越严格。
[0023]本实用新型追加的基板测试点，如图3和图4所示，测试点通过通孔与待测试电气电路相连。由于信号线在电路板的一面走线，通过通孔与电路板的另一面的测试点导通。既不影响信号线走线，又利用电路板另一面的空余空间，这样也不影响PCB电路基板的外观尺寸；而且可以将追加的测试点排列整齐，方便了测试针床的制作。
[0024]以上结合附图实施例对本实用新型进行了详细说明，本领域中普通技术人员可根据上述说明对本实用新型做出种种变化例。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。因而，实施例中的某些细节不应构成对本实用新型的限定，本实用新型将以所附权利要求书界定的范围作为本实用新型的保护范围。
【权利要求】
1.一种追加的基板测试点，所述基板一面设置有电气电路，其特征在于:所述基板另一面设置有若干追加的测试点，所述测试点通过基板穿孔与电气电路连接，所述测试点设置引出测试植针。
2.据权利要求1所述的追加的基板测试点，其特征在于:所述测试点为开短路测试点。
3.根据权利要求1所述的追加的基板测试点，其特征在于:所述测试点为电阻测试点。
4.根据权利要求1所述的追加的基板测试点，其特征在于:所述测试点为电容测试点。
5.根据权利要求1所述的追加的基板测试点，其特征在于:所述测试点为电感测试点。
6.根据权利要求1所述的追加的基板测试点，其特征在于:所述测试点为压降测试点。
【文档编号】G01R31/02GK203732641SQ201320837415
【公开日】2014年7月23日 申请日期:2013年12月17日 优先权日:2013年12月17日
【发明者】何兰海, 阳小懂, 胡习华 申请人:上海旭统精密电子有限公司
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