专利名称：一种光学器件的测试系统的制作方法
技术领域：
本实用新型属于光学应用领域，尤其涉及一种光学器件的测试系统。
背景技术：
光机投影技术的应用越来越广泛，整套系统实现原理是用于微型投影的光机或 LED光源经过光学透镜折射后，希望得到的是一个发光均勻的发光平面显示在采光面板上。 但是由于目前的技术水平，还做不到真正的平行光源，所以如果要在采光面板上得到一个近似平行的光平面的话，必须在LED光源或光机端安装光学透镜，将发散的光变为需要的近似平行的光源。由于实际工艺的限制，这种光学透镜或光机在生产完成后，并不能保证100%的是合乎设计规格。如何在批量生产的这些产品中筛选出不合乎设计规格及生产要求的产品， 就需要这样一个设备来检测这些待验证的产品。
实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种用于检测检测光学器件品质的测试系统。本实用新型是这样实现的，一种光学器件的测试系统，包括采集待测光机的光信号的采光面板；与待测光机连接、控制待测光机点亮，同时还与所述采光面板连接、对所述采光面板采集的光信号进行处理的单片机单元；与所述单片机单元连接的显示单元。本实用新型实施例又提供了另一种光学器件的测试系统，包括LED 光源；采集经过待测透镜组件透射过的所述LED光源的光信号的采光面板；与所述LED光源连接、控制所述LED光源点亮，同时还与所述采光面板连接、对所述采光面板采集的光信号进行处理的单片机单元；与所述单片机单元连接的显示单元。本实用新型实施例又提供了另一种光学器件的测试系统，包括将待测LED光源发出的光线折射为平行光的透镜组件；采集经过所述透镜组件透射过的光信号的采光面板；与所述LED光源连接、控制所述LED光源点亮，同时还与所述采光面板连接、对所述采光面板采集的光信号进行处理的单片机单元；与所述单片机单元连接的显示单元。进一步地，所述测试系统还包括一与所述单片机单元连接的电源单元。进一步地，所述采光面板上分布有若干光敏二极管。本实用新型通过采集待测光机或待测透镜组件透射在采光面板上的光，从而计算出在采光面板上的光的亮度和均勻度，单片机单元再将亮度与均勻度结果与设计规格中的参数进行对比，从而判断待测的光学透镜或光机是否符合设计要求，本实用新型可用于工厂产线大规模测试来料品质。
图1是本实用新型实施例提供的光学器件的测试系统的结构原理图；图2是图1中的采光面板的设计图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，
以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。图1示出了本实用新型实施例提供的光学器件的测试系统的结构原理，为了便于描述，仅示出了与本实施例相关的部分。参照图1，本实用新型实施例提供的光学器件的测试系统可用于测试光机、透镜组件、LED光源等器件，当用于测试透镜组件时，包括LED光源1、采光面板3、单片机单元4和显示单元5，此时，透镜组件21为待测器件；当用于测试光机时，包括采光面板3、单片机单元4和显示单元5，此时，光机22为待测器件，光机2 2内置有光源和透镜组件；当用于 LED光源时，包括透镜组件21、采光面板3、单片机单元4和显示单元5，此时，光机22为待测器件，光机22内置有光源和透镜组件。其中透镜组件21用于将LED光源1发出的发散的光折射为平行光或近平行光，采光面板3采集该平行光或近平行光的光信号，并将采集到的光信号转换为电信号然后送到单片机单元4，单片机单元4再进行处理并将处理结果与预存的标准设计规格的参数进行对比，将对比结果通过的显示单元5予以显示。上述单片机单元4与光机或LED光源1连接，用于测试光机2 2时，则与待测光机 22连接，用于控制光机22或LED光源1的点亮。单片机单元4还与采光面板3连接，首先将采光面板3传送的电压信号进行AD转换再进行处理。进一步地，本测试系统还包括一电源单元6，该电源单元6与单片机单元4连接，为单片机单元4提供工作所需要的电压、电流。而单片机单元4又提供采光面板3、光机22、 LED光源1工作需要的电压，并控制其启动和关闭。进一步地，如图2所示，上述采光面板3上分布有若干光敏二极管A，通过光敏二极管实现采光。下文描述图1所示测试系统的各单元的工作顺序。电源单元6对单片机单元4供电后，单片机单元4启动，启动完成后进入待命模式；当光机或测试透镜等光学器件安装好后，即由单片机单元4点亮光机22或LED光源1 ；等待一段时间后，光机22或LED光源1发光稳定后，由单片机单元4启动采光面板3 ；采光面板3开始工作，将采集到的信号直接传送到单片机单元4 ；单片机单元4接收到采光面板3送过来的信号后，经过内部功能�？榈拇聿⑸墒中藕牛缓笫涑龅较允镜ピ�5上显示出来。显示的测试结果是单片机单元 4处理后的结果；该信号通过与设计规格的参数比对后，即可生成用户需要的判定结果。[0032] 以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种光学器件的测试系统，其特征在于，包括 采集待测光机的光信号的采光面板；与待测光机连接、控制待测光机点亮，同时还与所述采光面板连接、对所述采光面板采集的光信号进行处理的单片机单元； 与所述单片机单元连接的显示单元。
2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括一与所述单片机单元连接的电源单元。
3.如权利要求1或2所述的测试系统，其特征在于，所述采光面板上分布有若干光敏二极管。
4.一种光学器件的测试系统，其特征在于，包括 LED光源；采集经过待测透镜组件透射过的所述LED光源的光信号的采光面板； 与所述LED光源连接、控制所述LED光源点亮，同时还与所述采光面板连接、对所述采光面板采集的光信号进行处理的单片机单元； 与所述单片机单元连接的显示单元。
5.如权利要求4所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括一与所述单片机单元连接的电源单元。
6.如权利要求4或5所述的测试系统，其特征在于，所述采光面板上分布有若干光敏二极管。
7.一种光学器件的测试系统，其特征在于，包括 将待测LED光源发出的光线折射为平行光的透镜组件； 采集经过所述透镜组件透射过的光信号的采光面板；与所述LED光源连接、控制所述LED光源点亮，同时还与所述采光面板连接、对所述采光面板采集的光信号进行处理的单片机单元； 与所述单片机单元连接的显示单元。
8.如权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括一与所述单片机单元连接的电源单元。
9.如权利要求7或8所述的测试系统，其特征在于，所述采光面板上分布有若干光敏二极管。
专利摘要本实用新型适用于光学应用领域，提供了一种光学器件的测试系统，包括采光面板；与所述待测光机连接、控制待测光机点亮，同时还与所述采光面板连接、对所述采光面板采集的光信号进行处理的单片机单元；与所述单片机单元连接的显示单元。本实用新型通过采集待测光机投射在采光面板上的光，从而计算出在采光面板上的光的亮度和均匀度，单片机单元再将亮度与均匀度结果与设计规格中的参数进行对比，从而判断待测光机是否符合设计要求。
文档编号G01M11/02GK201965015SQ20102069641
公开日2011年9月7日 申请日期2010年12月31日 优先权日2010年12月31日
发明者扶廷勇, 许武 申请人:深圳展景世纪科技有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
