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专利名称：一种电子元件引脚检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种电子元件检测装置，特别是指一种电子元件引脚检测装置。
背景技术：
随着电子技术的飞速发展，电子产品的使用也越来越广泛，因而为了提高生产效率，在电子产品的生产过程中也越来越多的采用机械化、自动化的生产方式。而在采用机械设备对元器件进行插件，焊接等加工之前，需要对产品的质量进行检测，避免将不良元件焊接到产品导致产品成为次品。中国实用新型专利申请号为200520076975. 9、名为“全自动电子元件测试装置”的专利文献，公开了一种电子元件检测装置，通过设置一对导电刷对电子元件进行检测，但是该装置仅用于测试电子元件的导电情况。而在实际引用中同时还存在一些引脚间是不需要导通、对其仅需要检测其引脚是否完整的元件，还有一些元件引脚导通但实际上引脚已经 受损的元件次品存在，所以生产中需要一种能够对电子元件的引脚情况进行检测，而现阶段依然缺乏此类装置。
发明内容本实用新型要解决的技术问题是提供一种能够在无论电子元件引脚是否导通的情况下都可对电子元件的引脚的完整情况进行检测的装置。为了解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案一种电子元件引脚检测装置，包括固定装置、两个检测探针及两个检测头，所述两个检测探针之间相互绝缘，两个检测头之间相互电连接，所述固定装置上设置有两个阶梯槽，所述两个检测头分别设置于两个阶梯槽的上端部，所述两个检测探针分别设置于两个阶梯槽的下端部，一个检测探针连接有信号输入接口板，另一个检测探针连接有信号输出接口板；初始状态时，同一阶梯槽内检测探针的上端与检测头的下端之间有间隙，当被检测的电子元件的引脚合格时，所述同一阶梯槽内的检测探针的上端与检测头的下端相互抵接。其中，所述检测头套接有弹簧，所述弹簧的一端与检测头固定连接，弹簧的另一端与阶梯槽固定连接。其中，所述固定装置包括有检测座、检测探针座及信号连接座，所述检测座、检测探针座及信号连接座从上往下依次层叠固定。优选的，所述检测座为导电体，所述检测探针座和信号连接座均为绝缘体。另一优选的，所述检测座、检测探针座和信号连接座均为绝缘体，所述两个检测头通过导线电连接。其中，所述检测座上端设置有载体板，所述载体板上设置有与阶梯槽相对应的通孔。其中，所述检测头的下部设置有轴肩，初始状态时，该轴肩的上端面与所述检测座抵接。[0012]其中，所述检测头与检测探针之间的间隙为O. 3mm O. 7mm。本实用新型的有益效果在于本实用新型提供了一种电子元件引脚检测装置，当所有检测头与检测探针抵接，检测装置中从信号输入接口板至信号输出接口板构成一回路，信号输出接口板可输出信号输入接口板输入的信号，以此可判断元件引脚正常，反之可判断存在引脚异常，元件不合格，从而实现在无论电子元件引脚是否导通的情况下都可对电子元件的引脚的完整情况进行检测。同时本装置结构简单，不易出错，可靠性高。

图I为本实用新型实施例一进行检测之前的剖面结构示意图。图2为本实用新型实施例一检测不合格电子元件时的剖面结构示意图。图3为本实用新型实施例一检测合格电子元件时的剖面结构示意图。图4为本实用新型实施例二检测另一种不合格电子元件时的剖面结构示意图。
具体实施方式
为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例与附图对本实用新型作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本实用新型的限定。如图I至图3所示，为本实用新型一种电子元件引脚检测装置的实施例一，包括固定装置、两个检测探针I及两个检测头2，所述两个检测探针I之间相互绝缘，两个检测头2之间相互电连接，所述固定装置上设置有两个阶梯槽3，所述两个检测头2分别设置于两个阶梯槽3的上端部，所述两个检测探针I分别设置于两个阶梯槽3的下端部，一个检测探针I连接有信号输入接口板4，另一个检测探针I连接有信号输出接口板5 ;初始状态时，同一阶梯槽3内检测探针I的上端与检测头2的下端之间有间隙，当被检测的电子元件的引脚合格时，所述同一阶梯槽3内的检测探针I的上端与检测头2的下端相互抵接。检测时，将电子元件的的引脚放置到检测头2上，电子元件的引脚将检测头2向下压使其与检测探针I抵接。当所有检测头2与检测探针I抵接，检测装置中从信号输入接口板4至信号输出接口板5构成一回路，信号输出接口板5可输出信号输入接口板4输入的信号，以此可判断元件引脚正常，反之可判断存在引脚异常，元件不合格。从而实现在无论电子元件引脚是否导通的情况下都可对电子元件的引脚的完整情况进行检测。同时本装置结构简单，不易出错，可靠性高。而且可以对不同数量的引脚进行检测。需要补充说明的是，所述电子元件引脚检测装置还可以是分别设置有三个检测头
2、检测探针I、一个信号输入接口板4及两个信号输出接口板5。检测时当两个信号输出接口板5输出与输入接口板一致的信号时可判断电子兀件引脚正常，反之电子兀件不合格，以此实现对3脚元件的检测。本实施例中，所述检测头2套接有弹簧6，所述弹簧6的一端与检测头2固定连接，弹簧6的另一端与阶梯槽3固定连接。检测完成后，撤离电子元件，检测头2在弹簧6作用下重新恢复到初始位置，等待下一次测试。使得检测更加方便，实用性更强。本实施例中，所述固定装置包括有检测座7、检测探针座8及信号连接座9，所述检测座7、检测探针座8及信号连接座9从上往下依次层叠固定。以便于对检测座7、检测探针座8及信号连接座9进行组装和拆卸，降低了所述电子元件引脚检测装置的维护和检修成本。本实施例的所述检测座7为导电体，所述检测探针座8和信号连接座9均为绝缘体，以使得两个检测头2之间相互电连接，两个检测探针I之间相互绝缘。本实施例中，所述检测座7上端设置有载体板10，所述载体板10上设置有与阶梯槽3相对应的通孔11。电子元件引脚插入通孔11既可与检测头2抵接，避免电子元件放置不准确时检测头2碰到电子元件其他部分，既保护了检测头2及电子元件，也使得检测更加准确。优选的实施方式是，所述检测头2与检测探针I之间的间隙为O. 5mm可获得较好的检测效果，当然，所述检测头2与检测探针I之间的间隙还可以为O. 3mm、0. 7mm或
O.3mm 07mm之间的其它数值，还可以根据需检测的电子元件的引脚情况进行合适的调整，以使得本检测装置有更好的检测效果。·[0027]本实施例的所述检测头2的下部设置有轴肩12，初始状态时，该轴肩12的上端面与所述检测座7抵接。该轴肩12的设置用于防止检测头2从阶梯槽3中弹出而影响检测头2的正常工作。如图4所示为本实用新型一种电子元件引脚检测装置的实施例二，与上述实施例一的不同之处在于由两组所述电子元件引脚检测装置组合使用，其中一组检测装置的信号输入接口板4与另一组检测装置的信号输出接口板5相互连接；本装置可检测带有四个引脚的电子元件，适用性更广。当然，还可以是更多的检测装置按照上述方式相互连接，以达到检测具有更多引脚的电子元件的目的。本实用新型一种电子元件引脚检测装置的实施例三(图未示)，与实施例一的不同之处在于所述检测座7、检测探针座8、信号连接座9均为绝缘体，所述两个检测头2通过导线电连接。避免导电体的检测座7可能会发生漏电等情况，既提高其安全性，也提高其检测效果。上述实施例为本实用新型较佳的实现方案，除此之外，本实用新型还可以其它方式实现，在不脱离本实用新型发明构思的前提下任何显而易见的替换均在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种电子元件引脚检测装置，其特征在于包括固定装置、两个检测探针(I)及两个检测头(2)，所述两个检测探针(I)之间相互绝缘，两个检测头(2)之间相互电连接，所述固定装置上设置有两个阶梯槽(3 )，所述两个检测头(2 )分别设置于两个阶梯槽(3 )的上端部，所述两个检测探针(I)分别设置于两个阶梯槽(3)的下端部，一个检测探针(I)连接有信号输入接口板(4)，另一个检测探针(I)连接有信号输出接口板(5); 初始状态时，同一阶梯槽(3)内检测探针(I)的上端与检测头(2)的下端之间有间隙，当被检测的电子元件的引脚合格时，所述同一阶梯槽(3)内的检测探针(I)的上端与检测头(2)的下端相互抵接。
2.根据权利要求I所述的一种电子元件引脚检测装置，其特征在于所述检测头(2)套接有弹簧(6)，所述弹簧(6)的一端与检测头(2)固定连接，弹簧(6)的另一端与阶梯槽(3)固定连接。
3.根据权利要求I所述的一种电子元件引脚检测装置，其特征在于所述固定装置包括有检测座(7 )、检测探针座(8 )及信号连接座(9 )，所述检测座(7 )、检测探针座(8 )及信号连接座(9 )从上往下依次层叠固定。
4.根据权利要求3所述的一种电子元件引脚检测装置，其特征在于所述检测座(7)为导电体，所述检测探针座(8 )和信号连接座(9 )均为绝缘体。
5.根据权利要求3所述的一种电子元件引脚检测装置，其特征在于所述检测座(7)、检测探针座(8)和信号连接座(9)均为绝缘体，所述两个检测头(2)通过导线电连接。
6.根据权利要求3所述的一种电子元件引脚检测装置，其特征在于所述检测座(7)上端设置有载体板(10)，所述载体板(10)上设置有与阶梯槽(3)相对应的通孔(11)。
7.根据权利要求3所述的一种电子元件引脚检测装置，其特征在于所述检测头(2)的下部设置有轴肩(12)，初始状态时，该轴肩(12)的上端面与所述检测座(7)抵接。
8.根据权利要求I所述的一种电子元件引脚检测装置，其特征在于所述检测头(2)与检测探针(I)之间的间隙为O. 3mm O. 7mm。
专利摘要本实用新型涉及一种电子元件检测装置，特别是指一种电子元件引脚检测装置，包括固定装置、两个检测探针及两个检测头，所述两个检测探针之间相互绝缘，两个检测头之间相互电连接，所述固定装置上设置有两个阶梯槽，所述两个检测头分别设置于两个阶梯槽的上端部，初始状态时，同一阶梯槽内检测探针的上端与检测头的下端之间有间隙，当被检测的电子元件的引脚合格时，所述同一阶梯槽内的检测探针的上端与检测头的下端相互抵接。若所有检测头与检测探针抵接，检测装置中从信号输入接口板至信号输出接口板构成一回路，以此可判断元件引脚正常，反之可判断存在引脚异常，元件不合格，从而实现对电子元件的引脚情况进行检测。
文档编号G01R31/00GK202661566SQ20122027951
公开日2013年1月9日 申请日期2012年6月14日 优先权日2012年6月14日
发明者苏凯波, 钟显辉, 黎旺, 曾翔清, 陈卓标 申请人:东莞市新泽谷机械制造股份有限公司