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专利名称：电子晶体测试头的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种电子测试装置，特别是一种用于测试电子晶体的电子晶体测试头。
现有技术中运用的电子晶体测试头，它是由一个壳体和设在壳体中的测试板组成，这种结构的晶体测试头存在以下的问题其测试片是直接焊接在线路板上的，在更换时容易使线路板遭到破坏；由于它是一个封闭的结构，因此不能同时实现直接阻抗法和外接负载法的测量；测试头和测试片的接触是依靠簧片本身的弹力大小和固定弹簧力来决定的，由于其簧片间的力量太小影响了测试头与测试片之间的接触，对测试精度有一定的影响。
本实用新型的目的在于提供一种测试精度好，测试片更换容易，在同一测试头上可以实现两种测试方法的电子晶体测试头。
本实用新型的目的是这样实现的一种电子晶体测试头，它包括一个底座、一个定位板、一个标准测试板和测试片，其特征在于它还包括一个设于底座上的移动板，在移动板的一端连接一测试片压板底板，一个压板连接在测试片压板底板的另一端；所述的定位板底座垂直设置在底板的一端且在定位板底座上设有凹槽，所述的标准测试板由螺钉固定在定位板底座的垂直面上；所述定位板设在定位板底座的顶部，在所述定位板上还设有晶体插孔；在所述的定位板底座上连接有一个外接负载板。在移动板和测试片压板底板之间设有顶丝、弹簧和调节螺钉。所述的压板与底板呈45°角翘起。所述的底板的底面设有减震脚。
本实用新型结构简单，操作方便，测试精确度高，测试片更换容易，故障率低，并且可以在同一测试头上用直接阻抗测量法和外接负载测量法来测试电子晶体。
附

图1为本实用新型的结构示意图附图2为本实用新型的内部结构示意图附图3为本实用新型附图1的俯视图附图4为本实用新型的附图1的右视图附图5为本实用新型的附图1的A-A剖示图附图6为本实用新型的外接负载板的结构示意图下面以附图1、2、3、4、5、6为本实用新型的实施例，对本实用新型进行进一步的说明本实用新型的测试片19是由螺钉13直接固定在标准测试板14上的，标准测试板14是外置的，只要松开螺钉13，就可以实现测试片19的更换。螺钉11将定位板9固定在定位板底座12的顶部，利用螺钉11可以调节定位板9的前后位置。在移动板2和测试片压板底板6之间设有顶丝3、弹簧5和调节螺钉4，利用顶丝3、弹簧5和调节螺钉4，可以调节弹簧5的力量，从而使压板8压住晶体引线，并保证测试片19与标准测试板14之间作到力量适中地接触，提高测试精度。为了使得压板8的作用更容易地实现，可以将压板8设计为与底板呈45°角翘起，并由螺钉7将其固定在测试片压板底板6上。所述的底板1的底面设有减震脚15，以减少外界震动对测试的影响。当要使用外接负载测量法时，松开螺钉11和定位板，把外接负载板20插入定位板底座上的凹槽10中即可；在外接负载板20上设有负载插孔21和微调电容22。螺钉18用于固定标准测试板14。螺钉17为底板1与定位板底座12的固定件。
权利要求1.一种电子晶体测试头，它包括一个底座(1)、一个定位板(9)、一个标准测试板(14)和测试片(19)，其特征在于它还包括一个设于底座(1)上的移动板(2)，在移动板(2)的一端连接一测试片压板底板(6)，一个压板(8)连接在测试片压板底板(6)的另一端，；所述的定位板底座(12)垂直设置在底板(1)的一端且在定位板底座(12)上设有凹槽(10)，所述的标准测试板(14)由螺钉固定在定位板底座(12)的垂直面上；所述定位板(9)设在定位板底座(12)的顶部，在所述定位板(9)上还设有晶体插孔(16)；在所述的定位板底座(12)上连接有一个外接负载板(20)。
2.如权利要求1中所述的电子晶体测试头，其特征在于在移动板(2)和测试片压板底板(6)之间设有顶丝(3)、弹簧(5)和调节螺钉(4)。
3.如权利要求1中所述的电子晶体测试头，其特征在于所述的压板(8)与底板呈45°角翘起。
4.如权利要求1中所述的电子晶体测试头，其特征在于所述的底板(1)的底面设有减震脚(15)。
专利摘要本实用新型涉及一种电子测试装置,特别是一种电子晶体测试头,其特征在于它包括一个设于底座上的移动板,在移动板的一端连接一测试片压板底板,一个压板连接在测试片压板底板的另一端;定位板底座垂直于底板且设有凹槽,标准测试板由螺钉固定在定位板底座的垂直面上;定位板设在定位板底座的顶部,定位板底座上连接有一个外接负载板。本实用新型结测试精确度高,测试片更换容易,可用同一测试头实现两种测试方法。
文档编号G01R31/00GK2449239SQ0025899
公开日2001年9月19日 申请日期2000年10月26日 优先权日2000年10月26日
发明者刘革奇, 吴立勤 申请人:港科电子(深圳)有限公司