专利名称：键盘间隙检验治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种键盘间隙检验治具。
背景技术：
现有的键盘上的键帽之间的间隙无法用人眼目视出间隙大�。菀自斐杉湎恫痪牟涣迹贾虏吡悸式档停档土松屎筒菲分�。
实用新型内容本实用新型的目的是克服现有技术存在的缺陷，提供一种能检测出键盘上键帽之 间间隙大小的键盘间隙检验治具。本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是一种键盘间隙检验治具，包括板体，所述板体上设置有若干与所要检测的键盘上的键帽一一对应的通孔，所述通孔的各边均比与其对应的键帽的单边大0. 2mm。所述板体由硬质材料制成。有益效果将本实用新型套在键盘上，就可以看清楚键帽之间间隙大�。缥薷缮嫦窒螅蛑っ鞔思涛计罚褂眉蚪喾奖悖壹觳饪焖�。
以下结合附图
和具体实施方式
对本实用新型作进一步详细的说明。图I是本实用新型的优选实施例的结构示意图。其中1、板体；2、通孔。
具体实施方式
如图I所示的一种键盘间隙检验治具，包括板体1，所述板体I上设置有若干与所要检测的键盘上的键帽一一对应的通孔2，所述通孔2的各边均比与其对应的键帽的单边大 0. 2mm。所述板体I由硬质材料制成。应当理解，以上所描述的具体实施例仅用于解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。由本实用新型的精神所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围之中。
权利要求1.一种键盘间隙检验治具，其特征在于包括板体(I)，所述板体(I)上设置有若干与所要检测的键盘上的键帽一一对应的通孔(2)，所述通孔(2)的各边均比与其对应的键帽的单边大0. 2mm。
2.根据权利要求I所述的键盘间隙检验治具，其特征在于所述板体(I)由硬质材料制成。
专利摘要本实用新型涉及一种键盘间隙检验治具，包括板体，所述板体上设置有若干与所要检测的键盘上的键帽一一对应的通孔，所述通孔的各边均比与其对应的键帽的单边大0.2mm。本实用新型提供了一种能检测出键盘上键帽之间间隙大小的键盘间隙检验治具。
文档编号G01B5/14GK202432970SQ201220048569
公开日2012年9月12日 申请日期2012年2月15日 优先权日2012年2月15日
发明者李青 申请人:群光电子(苏州)有限公司
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