专利名称：可见分光光度计光电信号检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种光电信号检测装置，具体来说涉及一种可见分光光度计光电 信号检测装置。
背景技术：
可见分光光度计是是理化分析中最常用的仪器。各种类型分光光度计尽管其功 能、外型和结构不同，但都是根据朗伯比尔定律设计的。可见分光光度计从构成上讲，一般 包括单色器，样品池，光源，信号检测装置以及信号光电探测器。但是，现有技术中已有的可 见分光光度计光电信号检测装置一般结构相对复杂，各级放大电路的累积转换误差大，噪声大。
实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种可见分光光度计光电信号检测装置，它结构简 单，有效避免了各级放大电路的累积转换误差，降低了系统的噪声，有助于提高整个可见分 光光度计的综合性能指标。为实现上述目的，本实用新型提供的技术方案为一种可见分光光度计光电信号检测装置，包括第一光电探测器，第二光电探测器， 同步信号发生器，电荷采集器，以及控制器；所述的电荷采集器分别与所述第一光电探测 器，所述第二光电探测器，所述信号发生器以及所述控制器相连接，所述控制器还与同步信 号发生器相连接。上述的可见分光光度计光电信号检测装置，其中，所述的电荷采集器为双通道电 荷采集器。上述的可见分光光度计光电信号检测装置，其中，所述的控制器为组合逻辑控制
ο上述的可见分光光度计光电信号检测装置，其中，所述的控制器为微程序控制器。本实用新型的可见分光光度计光电信号检测装置，双通道电荷采样器的设置，有 效避免了各级放大电路的累积转换误差，降低了系统的噪声；且由于采用同步信号发生器， 因而有效抑制了温漂和器件特性分步误差；结构简单，从整体上提高了可见分光光度计的 综合性能指标。
图1为本实用新型的可见分光光度计光电信号检测装置的连接关系图。
具体实施方式
下面结合说明书附图和具体实施方式
来对本实用新型做进一步详细的说明。图1示出了本实用新型的可见分光光度计光电信号检测装置的各个组件之间的连接关系图。如图1所示，本实用新型的可见分光光度计光电信号检测装置包括第一光电 探测器1，第二光电探测器2，同步信号发生器3，双通道电荷采集器4，以及控制器5 ；其中， 电荷采集器4分别与第一光电探测器1，所述第二光电探测器2，信号发生器3以及控制器 5相连接，同时，控制器5还与同步信号发生器3相连接。本实用新型的可见分光光度计光电信号检测装置的工作原理如下单色光经过半 反透镜分光并经过样品池吸收后到达第一信号光电探测器接1，双通道电荷采集器4分别 与第一光电探测器1以及第二光电信号探测器2相连接，用于采集第一光电探测器1与第 二光电探测器2输出的光电流，积分转换为电荷信号并进行模/数采样；其中，第一光电探 测器1与双通道电荷采集器4安装在同一块采样电路主板上，两者之间的间距应保持尽量 �。宰畲笙薅鹊丶跎俚绾稍诖涔讨械牡绱鸥扇�。同步信号发生器3为双通道电荷采 集器4提供运行所需要的不同时序，控制器5为双通道电荷采集器3以及同步信号发生器 3提供运行所需的信号，并完成整个光电信号检测装置的调零以及对数转换等功能，从而控 制整个可见分光光度计光电信号检测装置的运行。本实用新型的可见分光光度计光电信号检测装置，双通道电荷采样器的设置，有 效避免了各级放大电路的累积转换误差，降低了系统的噪声；且由于采用同步信号发生器， 因而有效抑制了温漂和器件特性分步误差；结构简单，从整体上提高了可见分光光度计的 综合性能指标。应当指出的是，上述内容只是本实用新型的最佳实施方式的列举，对于本领域的 技术人员来说，在不偏离本实用新型精神的范畴内对本实用新型所做的等效变换和修饰都 将落入本实用新型的权利要求的保护范围之内。
权利要求1.一种可见分光光度计光电信号检测装置，其特征在于，包括第一光电探测器，第二光 电探测器，同步信号发生器，电荷采集器，以及控制器；所述的电荷采集器分别与所述第一 光电探测器，所述第二光电探测器，所述同步信号发生器以及所述控制器相连接，所述控制 器还与同步信号发生器相连接。
2.如权利要求1所述的可见分光光度计光电信号检测装置，其特征在于，所述的电荷 采集器为双通道电荷采集器。
3.如权利要求1或2所述的可见分光光度计光电信号检测装置，其特征在于，所述的控 制器为组合逻辑控制器。
4.如权利要求1或2所述的可见分光光度计光电信号检测装置，其特征在于，所述的控 制器为微程序控制器。
专利摘要本实用新型一种可见分光光度计光电信号检测装置，包括第一光电探测器，第二光电探测器，同步信号发生器，电荷采集器，以及控制器；所述的电荷采集器分别与所述第一光电探测器，所述第二光电探测器，所述同步信号发生器以及所述控制器相连接，所述控制器还与同步信号发生器相连接。本实用新型的可见分光光度计光电信号检测装置，双通道电荷采样器的设置，有效避免了各级放大电路的累积转换误差，降低了系统的噪声，结构简单，从整体上提高了可见分光光度计的综合性能指标。
文档编号G01N21/01GK201844968SQ201020562320
公开日2011年5月25日 申请日期2010年10月15日 优先权日2010年10月15日
发明者胡建立 申请人:上海佑科仪器仪表有限公司
专业数控铣床产品供应商
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