专利名称：一种异形卡尺的制作方法
技术领域：
本实用新型属于电瓷制造领域，涉及一种异形卡尺。
背景技术：
壁厚差问题是瓷套产品立式外仿修坯工艺本身所造成的主要缺陷，因其采用底盘定位、内孔由橡胶套紧固的方法，因而不可避免的存在壁厚差隐患，由于瓷套产品的湿坯和光坯阶段的强度较低，容易变形和碰损，且上下底座都为切割部分。这样就不能像测量成瓷后瓷套那样，在原有的工装的基础上，只能在瓷套产品成瓷后，才能测量其壁厚差值，这样就对产品在湿坯或光坯阶段检查造成困难。
实用新型内容本实用新型提供了一种异形卡尺，能够测量出避雷器瓷套产品湿坯和光坯阶段壁厚差。本实用新型所采用的技术方案是一种异形卡尺，包括主尺，在该主尺的一端垂直向下延伸有第一测量爪，该第一测量爪包括与主尺垂直的第一竖直部以及与第一竖直部垂直的第一爪部，在该主尺上进一步设置有与第一测量爪配合的第二测量爪，该第二测量爪包括在主尺上滑动的滑动部，自滑动部垂直向下延伸的第二竖直部，以及与第二竖直部垂直并与第一爪部相对的的第二爪部。所述第一爪部和第二爪部的外表面包覆有橡胶；本实用新型异形卡尺至少具有以下优点使用时，将本实用新型异形卡尺的第一测量爪伸入瓷套内部，第二测量爪置于瓷套外部，然后通过调节第二测量爪上设置的滑块， 使第一测量爪和第二测量爪夹持住瓷套壁，对瓷套壁厚进行测量，然后采取四点测量法对瓷套壁厚进行测量。
图1为本实用新型异形卡尺的结构示意图；图2为本实用新型异形卡尺的使用状态图。图中的标号与元件的对应关系如下
1 主尺11 刻度3 第一测量爪
~第二测量爪 5 mim 7 Wm
具体实施方式请参阅图1所示，本实用新型异形卡尺包括主尺1，该主尺1上刻有刻度11，在该主尺1的一端垂直向下延伸有第一测量爪3，该第一测量爪3包括与主尺垂直的第一竖直部以及与第一竖直部垂直的第一爪部，在该主尺1上进一步设置有与第一测量爪3配合的第二测量爪5，该第二测量爪5包括在主尺1上滑动的滑动部51，自滑动部51垂直向下延伸的第二竖直部，以及与第二竖直部垂直的第二爪部。所述第一爪部和第二爪部的外表面包覆有橡胶7，防止异形卡尺对瓷套刮伤。 请参阅图2所示，使用时，将本实用新型异形卡尺的第一测量爪3伸入瓷套内部， 第二测量爪5置于瓷套外部，然后通过调节第二测量爪5上设置的滑块51，使第一测量爪3 和第二测量爪5夹持住瓷套壁，对瓷套壁厚进行测量，如此，采取四点测量法对瓷套壁厚进行测量。以上所述仅为本实用新型的一种实施方式，不是全部或唯一的实施方式，本领域普通技术人员通过阅读本实用新型说明书而对本实用新型技术方案采取的任何等效的变换，均为本实用新型的权利要求所涵盖。
权利要求1.一种异形卡尺，其特征在于包括主尺(1)，在该主尺(1)的一端垂直向下延伸有第一测量爪(3)，该第一测量爪(3)包括与主尺(1)垂直的第一竖直部以及与第一竖直部垂直的第一爪部，在该主尺(1)上进一步设置有与第一测量爪(3)配合的第二测量爪(5)，该第二测量爪(5)包括在主尺(1)上滑动的滑动部(51)，自滑动部(51)垂直向下延伸的第二竖直部，以及与第二竖直部垂直并与第一爪部相对的第二爪部。
2.如权利要求1所述的一种异形卡尺，其特征在于所述第一爪部和第二爪部的外表面包覆有橡胶(7)。
专利摘要本实用新型提供了一种异形卡尺，包括主尺，在该主尺的一端垂直向下延伸有第一测量爪，该第一测量爪包括与主尺垂直的第一竖直部以及与第一竖直部垂直的第一爪部，在该主尺上进一步设置有与第一测量爪配合的第二测量爪，该第二测量爪包括在主尺上滑动的滑动部，自滑动部垂直向下延伸的第二竖直部，以及与第二竖直部垂直的第二爪部。本实用新型异形卡尺可以测量避雷器瓷套产品湿坯和光坯阶段壁厚差。
文档编号G01B3/20GK202188808SQ20112027459
公开日2012年4月11日 申请日期2011年7月29日 优先权日2011年7月29日
发明者张力敏, 肖博 申请人:中国西电电气股份有限公司
专业数控铣床产品供应商
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