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专利名称：半导体针孔检测仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种检测仪，特别是一应用于检测金属包装薄板上的细小微孔的半 导体针孔检测仪。
背景技术：
目前，检验人员一般通过目测来检査金属包装薄板的质量，人工检测工序繁琐，精 度低，且依然很难发现金属包装薄板如易拉罐存在的微孔，而这些极度微小的针孔却能 使食品包装内氧气、水蒸气等逐步增多，导致食物被细菌污染，引起食品变质变味，继 而造成消费者食品中毒，危及人体健康，给食品制造商造成经济或信誉的损失。如何将 这些存在极度微小针孔的易拉罐，从源头上即金属包装材料的裁剪阶段检测出来，是一 个金属包装检测领域至今未能解决的难题。 发明内容
本实用新型的目的是为了解决上述技术的不足而提供一种全自动在线检测，且精度 高、效率高、反应快，非接触检测的半导体针孔检测仪。
为了达到上述目的，本实用新型所设计的半导体针孔检测仪，它主要包括机架和电 源，机架上设有遮光防擦伤托架，在遮光防擦伤托架的上侧设有灯箱，灯箱内垂直向下
设有红外LED灯，遮光防擦伤托架和灯箱之间设有检测区；在遮光防擦伤托架的下侧为
固定在机架上的主箱体，主箱体上盖为防尘有机玻璃，主箱体内设有一维探测器，所述 的一维探测器采用半导体管作为光电转换器件，双端阳极输出电流信号。遮光防擦伤托 架起到防止外界光线照射到一维探测器上和支撑被检测薄板的作用。 一维探测器能有效 迅速的探测到透过被检测薄板上微孔的红外光，从而确认被检测薄板上含有微孔。
为了使本实用新型所设计的这种半导体针孔检测仪能检测各种不同的规格的薄板， 机架一侧或两侧设有弹性巻动的遮光板，遮光板的一端连接在电机滑块上，电机滑块与 电机滑块导轨组成移动副，电机滑块与电机传动连接。电机滑块能在电机的控制下来回 移动，从而控制检测区的宽度，以适应被检测薄板的宽度。使得红外光线只能通过被检 测薄板上的微孔才能照射到一维探测器上，防止误报的发生。
3为了达到方便操作人员设置检测参数，操作检测仪，也达到全自动检测的目的，所
述的红外LED灯、 一维探测ll都与设置在主箱体内的电气控制部分电连接，电气控制部 分2上连接有操作台、显示设备和报警装置。报警装置能在检测到微孔时自动报警。
为了使整套设备能有效检测，工作平稳，所述的电源其电压为165V至240V,频率 为50flz至601Iz,平均功率为250VA,峰值功率为500VA;红外LED灯(5)是5V供电、 提供主波长为960nm的红外光的红外LED灯， 一维探测器是士 15V供电的一维探测器。
本实用新型所得到的半导体针孔检测仪，采用光电结合手段能实现针孔在生产线上 的快速智能检测，检测精度和检测效率极高，能有效克服检测人员凭经验进行主观性的 质量认定。 一维探测器作为将极微弱光信号转换为可测电信号的光电转换器件，具有极 高的灵敏度和极快的时间响应度，使得半导体管针孔检测仪能精准检测金属材料分剪、 切片在线速度高达600m/min的高速运行过程中的针孔，邻近孔的最小时间间隔分辨率为 20 ms对直径30 Wn的孔。同时设有自动报警装置，检测人员依据报警即可剔除有针孔 的薄板。

图l是本实施例l主视图2是本实施例1图1 A-A处的剖视图。
具体实施方式
下面通过实施例结合附图对本实用新型作进一步的描述。 实施例1
如图l、图2所示，本实施例描述的半导体针孔检测仪，它主要包括机架l和电源， 电源一般固定在机架1上。机架1上设有遮光防擦伤托架11，在遮光防擦伤托架11的 上侧设有灯箱4，灯箱4内垂直向下设有红外LED灯5，遮光防擦伤托架11和灯箱4之 间设有检测区15;在遮光防擦伤托架11的下侧为固定在机架1上的主箱体10,主箱体 10上盖为防尘有机玻璃13，主箱体10内设有一维探测器6,所述的一维探测器6采用 半导体管作为光电转换器件，双端阳极输出电流信号。机架1两侧都设有弹性巻动的遮 光板9，遮光板9的一端连接在电机滑块8上，电机滑块8与电机滑块导轨12组成移动 副，电机滑块8与电机14传动连接，所述的传动连接是齿轮、链轮及链条组成的。红外LED灯5、 一维探测器6都与设置在主箱体10内的电气控制部分2电连接，电气控制部 分2上连接有操作台、显示设备，和报警装置4，操作台和显示设备可以结合为触摸屏 操作台16。其中，所述的电源其电压为165V至240V，频率为50Hz至60Hz，平均功率 为250VA，峰值功率为500VA;红外LED灯(5)是5V供电、提供主波长为960nm的红外 光的红外LED灯， 一维探测器(6)是士15V供电的一维探测器。
工作时，先通过触摸屏操作台控制遮光板9，使得检测的有效果宽度与被检测薄板7 适配，防止未经过被检测薄板的光线照射到一维探测器6上，然后打开红外LED灯5和 一维探测器6，将被检测薄板7推入检测区15，进行检测。当被检测薄板上含有微孔时， 红外线光通过微孔照射到一维探测器6上， 一维探测器6内的半导体管即可将光信号转 换为电信号，并通过双端阳极输出，使得报警装置4报警。
权利要求1.一种半导体针孔检测仪，它主要包括机架(1)和电源，其特征是机架(1)上设有遮光防擦伤托架(11)，在遮光防擦伤托架(11)的上侧设有灯箱(4)，灯箱(4)内垂直向下设有红外LED灯(5)，遮光防擦伤托架(11)和灯箱(4)之间设有检测区(15)；在遮光防擦伤托架(11)的下侧为固定在机架(1)上的主箱体(10)，主箱体(10)上盖为防尘有机玻璃(13)，主箱体(10)内设有一维探测器(6)，所述的一维探测器(6)采用半导体管作为光电转换器件，双端阳极输出电流信号。
2. 根据权利要求1所述的半导体针孔检测仪，其特征是所述的机架(1) 一侧或两 侧设有弹性巻动的遮光板(9)，遮光板(9)的一端连接在电机滑块(8)上， 电机滑块(8)与电机滑块导轨(12)组成移动副，电机滑块(8)与电机(14) 传动连接。
3. 根据权利要求1或2所述的半导体针孔检测仪，其特征所述的红外LED灯(5)、 一维探测器(6)都与设置在主箱体(10)内的电气控制部分(2)电连接，电 气控制部分(2)上连接有操作台、显示设备和报警装置(4)。
4. 根据权利要求1或2所述的半导体针孔检测仪，其特征是所述的电源其电压为 165V至240V，频率为50Hz至60Hz，平均功率为250VA,峰值功率为500VA; 红外LED灯(5)是5V供电、提供主波长为960nm的红外光的红外LED灯， 一维探测器(6)是土15V供电的一维探测器。
5. 根据权利要求3所述的半导体针孔检测仪，其特征是所述的电源其电压为165V 至240V,频率为50Hz至60Hz，平均功率为250VA,峰值功率为500VA;红外 LED灯(5)是5V供电、提供主波长为960nm的红外光的红外LED灯， 一维 探测器(6)是士15V供电的一维探测器。
专利摘要本实用新型所涉及的半导体针孔检测仪，它主要包括机架和电源，机架上设有遮光防擦伤托架，在遮光防擦伤托架的上侧设有灯箱，灯箱内垂直向下设有红外LED灯，遮光防擦伤托架和灯箱之间设有检测区；在遮光防擦伤托架的下侧为固定在机架上的主箱体，主箱体上盖为防尘有机玻璃，主箱体内设有一维探测器，所述的一维探测器采用半导体管作为光电转换器件，双端阳极输出电流信号，本实用新型所得到的半导体针孔检测仪，采用光电结合手段能实现针孔在生产线上的快速智能检测，检测精度和检测效率极高，能有效克服检测人员凭经验进行主观性的质量认定。
文档编号G01N21/894GK201408172SQ20092011833
公开日2010年2月17日 申请日期2009年4月23日 优先权日2009年4月23日
发明者李秋林 申请人:杭州炫弘科技有限公司