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专利名称：Led元件测试装置的制作方法
技术领域：
本创作涉及一种测试装置，尤其涉及一种LED元件测试装置。
背景技术：
LED元件封装完成后还需要对其电激发光以及发光的光强度进行检测。通常，LED 元件的测试装置适合正光型(Top view)的LED元件使用，因为所述正光型LED元件的发光 面是位于该元件的顶面上，两电极焊垫则设置在该元件的底面，因此，透过所述电极焊垫可 将LED元件直接焊接在测试装置的基板上，使设置在LED元件顶面上的发光面对正上方具 有的收光器进行量测。但是在量测侧光型(Side view)的LED元件时，由于所述侧光型LED 元件的发光面是位于LED的侧面上，在测量这类LED过程中，LED必须倾倒后使其发光面朝 向上方的收光器。当所述侧光型LED元件被倾倒后，原来位于底面的所述两电极焊垫会相 应的被偏转至一个竖直平面上，这样使得焊接侧光型LED元件焊垫至电路板时往往需要较 多的焊锡才能将LED元件固定，如此便会使制造成本增加，且焊接的过程中更需要花费较 长的时间固定，焊枪高温(大于摄氏350度)容易造成LED元件的封装结构及品质破坏，发 光面亦可能因为焊锡而发生倾斜状况，让收光器无法完整的收光而使量测不准确。创作内容有鉴于此，有必要提供一种可适合侧光型LED元件的测试装置。一种LED元件测试装置，其包括一个基板以及至少一个检测电路。所述基板包括 一个承载表面，设置有一个电连接部以传输测试所需的电力。所述检测电路设置于所述基 板上，并具有一个容置槽其开口设置于所述基板的承载表面上，且与所述电连接部电性连 接。所述容置槽的侧壁上设置有两个电极接点连接该检测电路。所述容置槽与LED元件相 对应并可使该LED元件插入所述容置槽内，从而与所述检测电路构成一个检测回路。本创作LED元件测试装置，由于在容置槽的内侧壁上设置有该检测电路的两个电 极接点，使所述侧光型LED元件被倾倒后置入所述容置槽内与所述检测电路达成电性连 接，能防止LED元件发光面检测时的倾斜并维持量测的精确，同时减少使用焊锡量降低成 本。

图1是本创作LED元件测试装置的俯视图。图2是图1所示测试装置之一容置槽的放大图。图3是侧光型LED元件的正视图。图4是图3所示侧光型LED元件设置于图2所示容置槽的示意图。主要元件符号说明测试装置10基板12电连接部122[0015]第一电极接点第二电极接点检测电路
1222 1224 14 142 144 146 20 202
204
205容置槽第一容置槽电极接点第二容置槽电极接点侧光型LED元件发光面第一电极焊垫第二电极焊垫
具体实施方式
下面将结合附图对本创作作一具体介绍。请参阅图1，所示为本创作LED元件测试装置的俯视图，所述LED元件测试装置10 包括一个基板12以及至少一个检测电路14。所述基板12包括一个承载表面，该承载表面 上设置有一个电连接部122以传输测试所需的电力。所述电连接部122包括至少一个第一 电极接点1222、以及至少一个第二电极接点1224，在本实施方式中，第一电极接点1222设 置在所述基板12承载表面的一个侧边上，第二电极接点12M设置在所述基板12承载表面 的中部位置并延伸到所述侧边。所述第二电极接点12M与第一电极接点1222并排设置， 用以方便与外部供电装置电性连接。所述第一及第二电极接点1222、12M与所述检测电路 14对应设置，即一个第一电极接点1222与一个第二电极接点12M之间对应设置一个检测 电路14。所述检测电路14用以检测侧光型LED元件20其发光面和底面相互垂直(如图3 所示)，使所述检测电路14与所述侧光型LED元件20达成电性连接后即可进行检测。所述检测电路14设置在所述基板12上，并具有一个容置槽142其开口设置于所 述基板12的承载表面上，且与所述电连接部122在所述第一电极接点1222及第二电极接 点12 之间电性连接。所述容置槽142的构型可对应所需检测之侧光型LED元件20之外 形设计，使该侧光型LED元件20便于稳定地设置及进行检测。所述容置槽142内设置有两 个电极接点，分别为第一容置槽电极接点144及第二容置槽电极接点146(如图2所示)用 以与所述侧光型LED20元件具有的第一电极焊垫204及第二电极焊垫205(如图3所示) 电性连接。所述第一容置槽电极接点144及第二容置槽电极接点146设置在所述容置槽 142内，并分别与所述电连接部122的第一电极接点1222及第二电极接点12M通过检测电 路14相互电性连接。本实施方式中，所述第一容置槽电极接点144及第二容置槽电极接点 146设置在所述容置槽142 —个垂直于所述基板12承载表面的侧壁上，并分别与所述电连 接部122的第一电极接点1222及第二电极接点12M通过检测电路14相互电性连接。所 述侧光型LED元件20放置于所述容置槽142内时，该侧光型LED元件20具有的第一电极 焊垫204及第二电极焊垫205(如图3所示)分别与所述第一容置槽电极接点144及第二 容置槽电极接点146电性接触，从而构成一个检测回路，使该检测电路14可通过所述电连 接部122提供测试所需的电力进行检测，并藉由所述容置槽142的周围侧壁支撑所述侧光 型LED元件20，使所述侧光型LED元件20具有的发光面202亦不会倾斜，让检测使用的收光器可以完整接收发光面202之光量以准确的量测。 所述容置槽142与所述侧光式LED元件20相对应从的配合设置，可采用插入式或是镶埋式 的方式放置。所述插入式为所述容置槽142的内部宽度相当于所述侧光式LED元件20的 外形宽度(如图4所示)，使侧光式LED元件20的第一电极焊垫204及第二电极焊垫205 与第一容置槽电极接点144及第二容置槽电极接点146可以相对应的直接密合接触，从而 可以省略焊锡的过程。所述镶埋式为所述容置槽142的内部宽度略大于所述侧光式LED元 件20的外形宽度，所述侧光式LED元件20完整放置于所述容置槽142内，使侧光式LED元 件20的第一电极焊垫204及第二电极焊垫205与第一容置槽电极接点144及第二容置槽 电极接点146利用焊锡固定。本实施方式中，所述电连接部122的第二电极接点12 在所述基板12承载表面 的中部位设置，其可以形成一个环状或是其它几何形状。所述环状第二电极接点12M周围 设置复数个检测电路14。所述复数个容置槽142环绕所述环状第二电极接点12M形成在 所述基板12承载表面上并与检测电路14连接。所述基板12承载表面的上端则设置有收 光器(图中未标示)以接收并量测所述侧光型LED元件20发光面所发射的光量。所述检测电路14透过所述容置槽142内的LED元件20插入而导通检测回路，可减 少设置LED元件20在所述检测电路14上的焊锡使用量以降低成本，同时可以避免焊枪高 温对LED元件20品质的影响。另外，藉由所述容置槽142的周围侧壁支撑使得侧光型LED 元件的发光面202不会倾斜，可以得到较正确的测量数据。综上，本创作LED元件测试装置的检测电路所具有的容置槽设置，允许LED元件插 入其容置槽空间内并导通其检测回路，尤其是对侧光型LED元件的量测工作，能解决目前 以焊接方式设置上的不良问题，使LED元件的量测更加方便、准确、成本降低具有良好的效 能。另外，本领域技术人员还可在本创作精神内做其它变化，当然，这些依据本创作精 神所做的变化，都应包含在本创作所要求保护的范围之内。
权利要求1.一种LED元件测试装置，其包括一个基板以及至少一个检测电路，所述基板包括一 个承载表面，设置有一个电连接部以传输测试所需的电力，其特征在于所述检测电路设置 于所述基板上，并具有一个容置槽其开口设置于所述基板的承载表面上，且与所述电连接 部电性连接，所述容置槽的侧壁上设置有两个电极接点连接该检测电路，所述容置槽与LED 元件相对应并可使该LED元件插入所述容置槽内及和该两个电极接点电性连接，从而与所 述检测电路构成一个检测回路。
2.如权利要求1所述的LED元件测试装置，其特征在于所述电连接部包括至少一个 第一电极接点、以及至少一个第二电极接点。
3.如权利要求1所述的LED元件测试装置，其特征在于所述检测电路的两个电极接 点设置在所述容置槽内，并分别与所述电连接部的第一电极接点及第二电极接点通过所述 检测电路相互电性连接。
4.如权利要求3所述的LED元件测试装置，其特征在于所述检测电路的两个电极接 点设置在所述容置槽一个垂直于所述基板的承载表面的侧壁上，并分别与所述电连接部的 第一电极接点及第二电极接点通过所述检测电路相互电性连接。
5.如权利要求1所述的LED元件测试装置，其特征在于所述LED元件为侧光型LED元 件，其发光面和底面相互垂直。
专利摘要本创作提供一种LED元件测试装置，其包括一个基板以及至少一个检测电路。所述基板包括一个承载表面，设置有一个电连接部以传输测试所需的电力。所述检测电路设置于所述基板上，并具有一个容置槽其开口设置于所述基板的承载表面上，且与所述电连接部电性连接。所述容置槽的侧壁上设置有两个电极接点连接该检测电路。所述容置槽与LED元件相对应并可使该LED元件插入所述容置槽内，从而与所述检测电路构成一个检测回路。本创作能防止LED元件发光面在检测时的发生倾斜从而维持对LED检测的精确度并可降低成本。
文档编号G01J1/02GK201859012SQ20102025980
公开日2011年6月8日 申请日期2010年7月15日 优先权日2010年7月15日
发明者林雅雯 申请人:展晶科技(深圳)有限公司, 荣创能源科技股份有限公司