专利名称：一种四脚共面测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及ー种用于电子元件制造领域的四脚共面测试装置。
背景技术：
目前普遍使用的电子元件上都有四个引脚，ー个合格的电子元件，这四个引脚应该是共面的，即所谓的四脚共面。目前的技术标准，这四个引脚的平面误差在0. Imm之内，即判定这个电子元件是四脚共面的，只有这样这个电子元件才是合格的。目前采用的四脚共面的测试方法为采用投影方式，将电子元件引脚使用光学比较仪等设备投影至屏幕上放大测量，对四脚共面性进行判断。效率低下，而且人为操作失误造成的误判率较高，造成四脚共面测试准确率下降。
实用新型内容本实用新型的目的是为了克服现有技术的不足，提供一种四脚共面测试装置，其结构简单，判断四脚共面效率和准确率都高实现上述目的的一种技术方案是一种四脚共面测试装置，包括电源和并联电路，所述并联电路的一个并联节点设置进行四脚共面测试的四眼插座。进ー步的，所述并联电路的两个支路上分别设置第一电阻和第二电阻。进ー步的，所述电源为直流电源。再进ー步的，所述并联电路的两个支路上分别设置第一整流器和第二整流器。更进一歩的，所述第一整流器和所述第二整流器是整流ニ极管。采用了本实用新型的一种四脚共面测试装置的技术方案，即在所述测试装置包括电源和并联电路，所述并联电路的一个并联节点设置进行四脚共面测试的四眼插座的技术方案，其技术效果是可以提高电子元器件制造领域四脚共面测试的效率和准确率。
图I为本实用新型的一种四脚共面测试装置的电路示意图。
具体实施方式
请參阅图I和图2，为了能更好地对本实用新型的技术方案进行理解，下面通过具体地实施例，并结合附图进行详细地说明本实用新型的一种四脚共面测试装置，包括电源I和并联电路2，所述并联电路2的一个并联节点设置进行四脚共面测试的四眼插座3。当电子元件的四个引脚四脚共面时，电子元件的四个引脚均匀插接在四眼插座的四个插孔上，所述并联电路导通，当电子元件的四个引脚不是四脚共面时，电子元件的四个引脚无法均匀插接在所述四眼插座的四个插孔上，所述并联电路无法导通。因此依据电路的通断，就可以判断电子元件的四个引脚是否是四脚共面的。比起传统方法来说，四脚共面测试效率和准确率更高。为了保护所测试的电子元件不会因为电路短路而被击穿，因此所述并联电路2的两个支路上分别设置第一电阻21和第二电阻22。当然第一电阻21和第二电阻22也可用灯泡替代，这样观察并联电路的导通和断路更为直观，效率也更高。为了进ー步提高所述测试装置使用的方便性，所述电源I采用的是直流电源，所述并联电路的两个支路上分别设置第一整流器23和第二整流器24，所述第一整流器23和第二整流器24所选用的是整流ニ极管或者IGBT管。本技术领域中的普通技术人员应当认识到，以上的实施例仅是用来说明本实用新型，而并非用作为对本实用新型的限定，只要在本实用新型的实质精神范围内，对以上所述实施例的变化、变型都将落在本实用新型的权利要求书范围内。
权利要求1.一种四脚共面测试装置，其特征在干所述测试装置包括电源(I)和并联电路(2)，所述并联电路(2)的一个并联节点设置进行四脚共面测试的四眼插座(3)。
2.根据权利要求I所述的四脚共面测试装置，其特征在于所述并联电路(2)的两个支路上分别设置第一电阻(21)和第二电阻(22)。
3.根据权利要求I或2所述的测试装置，其特征在于所述电源(I)为直流电源。
4.根据权利要求3所述的四脚共面测试装置，其特征在干所述并联电路(2)的两个支路上分别设置第一整流器(23)和第二整流器(24)。
5.根据权利要求4所述的四脚共面测试装置，其特征在于所述第一整流器(23)和所述第二整流器(24)是整流ニ极管。
专利摘要本实用新型公开了一种用于电子元器件制造领域的四脚共面测试装置，包括电源和并联电路，所述并联电路的一个并联节点设置进行四脚共面测试的四眼插座。当电子元件的四个引脚四脚共面时，电子元件的四个引脚均匀插接在所述四眼插座的四个插孔上，所述并联电路导通，当电子元件的四个引脚不是四脚共面时，电子元件的四个引脚无法均匀插接在所述四眼插座的四个插孔上，所述并联电路无法导通。其技术效果是可以提高电子元器件制造领域四脚共面测试的效率和准确率。
文档编号G01B7/34GK202393347SQ20112049062
公开日2012年8月22日 申请日期2011年11月30日 优先权日2011年11月30日
发明者吴奕峰, 周华, 沈京京, 胡龙生, 许震欢, 鲁志豪 申请人:上海市电力公司
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