专利名称:一种启动箱综合检查仪的制作方法
技术领域:
本实用新型涉及启动箱检查领域,确切地说是指一种启动箱综合检查仪。
技术背景 目前,传统的起动箱综合检查仪主要采用手动的方式, 每一步测试都需要人工进行计时,要完成每个动作时间节点,就需要人工进行一次人工操作装置工作一个循环,既费时又费力,而且精度很低,需要改进。
实用新型内容针对上述缺陷,本实用新型解决的技术问题在于提供一种启动箱综合检查仪,采用程序控制的方式,实现了整个测试步骤的自动化、智能化,不但可以自动,单步选择测试,且还有精度高,一次性可以完成所有的测试数据,大大减少了人为误差。为了解决以上的技术问题,本实用新型提供的启动箱综合检查仪,包括开关电源、CPU控制电路、光耦隔离、矩阵开关,所述开关电源与所述CPU控制电路连接,所述矩阵开关分别与所述开关电源、CPU控制电路和启动箱连接,所述启动箱通过所述光耦隔离与所述CPU控制电路连接。优选地,启动箱综合检查仪还包括电源转换,所述开关电源通过所述电源转换与所述CPU控制电路连接。优选地,启动箱综合检查仪还包括显示屏,所述显示屏与所述CPU控制电路连接。优选地,所述显示屏为IXD显示屏。优选地,启动箱综合检查仪还包括直流电压表和直流电流表。优选地,启动箱综合检查仪还包括测试连接器。本实用新型提供的启动箱综合检查仪,其特征在于,包括开关电源、CPU控制电路、光耦隔离、矩阵开关,所述开关电源与所述CPU控制电路连接,所述矩阵开关分别与所述开关电源、CPU控制电路和启动箱连接,所述启动箱通过所述光耦隔离与所述CPU控制电路连接。与现有技术相比,本实用新型提供的启动箱综合检查仪,采用程序控制的方式,实现了整个测试步骤的自动化、智能化,不但可以自动,单步选择测试,且还有精度高,一次性可以完成所有的测试数据,大大减少了人为误差。
图I为本实用新型中启动箱综合检查仪的结构框图。
具体实施方式
为了本领域的技术人员能够更好地理解本实用新型所提供的技术方案,下面结合具体实施例进行阐述。请参见图1,该图为本实用新型中启动箱综合检查仪的结构框图。[0014]本实用新型提供的启动箱综合检查仪,包括开关电源、CPU控制电路、光耦隔离、矩阵开关,开关电源与CPU控制电路连接,矩阵开关分别与开关电源、CPU控制电路和启动箱连接,启动箱通过光稱隔离与CPU控制电路连接。启动箱综合检查仪还包括电源转换,开关电源通过电源转换与CPU控制电路连接。启动箱综合检查仪还包括IXD显示屏,IXD显示屏与CPU控制电路连接。启动箱综合检查仪还包括直流电压表、直流电流表和测试连接器。[0015]本实用新型提供的启动箱综合检查仪在程序控制下,自动检查设置的测试模式,如是自动还是单步测试,通过CPU控制电路,控制矩阵开关及光耦隔离检查起动箱的各种工作状态,并模拟各种工作状态以达到测试目的,最后将测试结果送到IXD显示屏上,显示出最终结果。与现有技术相比,本实用新型提供的启动箱综合检查仪,采用程序控制的方式,实现了整个测试步骤的自动化、智能化,不但可以自动,单步选择测试,且还有精度高,一次性可以完成所有的测试数据,大大减少了人为误差。对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
权利要求1.一种启动箱综合检查仪,其特征在于,包括开关电源、CPU控制电路、光耦隔离、矩阵开关,所述开关电源与所述CPU控制电路连接,所述矩阵开关分别与所述开关电源、CPU控制电路和启动箱连接,所述启动箱通过所述光耦隔离与所述CPU控制电路连接。
2.根据权利要求I所述的启动箱综合检查仪,其特征在于,还包括电源转换,所述开关电源通过所述电源转换与所述CPU控制电路连接。
3.根据权利要求I所述的启动箱综合检查仪,其特征在于,还包括显示屏,所述显示屏与所述CPU控制电路连接。
4.根据权利要求3所述的启动箱综合检查仪,其特征在于,所述显示屏为LCD显示屏。
5.根据权利要求I所述的启动箱综合检查仪,其特征在于,还包括直流电压表和直流电流表。
6.根据权利要求I所述的启动箱综合检查仪,其特征在于,还包括测试连接器。
专利摘要本实用新型公开一种启动箱综合检查仪,其特征在于,包括开关电源、CPU控制电路、光耦隔离、矩阵开关,所述开关电源与所述CPU控制电路连接,所述矩阵开关分别与所述开关电源、CPU控制电路和启动箱连接,所述启动箱通过所述光耦隔离与所述CPU控制电路连接。与现有技术相比,本实用新型提供的启动箱综合检查仪,采用程序控制的方式,实现了整个测试步骤的自动化、智能化,不但可以自动,单步选择测试,且还有精度高,一次性可以完成所有的测试数据,大大减少了人为误差。
文档编号G01R31/00GK202362404SQ20112049655
公开日2012年8月1日 申请日期2011年12月2日 优先权日2011年12月2日
发明者袁华 申请人:成都飞亚航空设备应用研究所有限公司