专利名称：一种人工电磁材料单元的试验点选取方法及装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及超材料领域，具体涉及一种人工电磁材料单元的试验点选取方法及装置。
背景技术：
随着超材料技术的发展，人工电磁材料结构单元电磁特性的描述对人工电磁材料自动化设计起着至关重要的作用，测量人工电磁材料结构单元的电磁特性是人工电磁材料设计过程中的一个重要环节，人工电磁材料的形状和大小会影响其电磁特性，因此，在测量人工电磁材料单元的电磁特性的过程中需要选取大量的试验点进行试验。目前，人工材料单元的试验点选取方法为参见图1，是现有技术人工材料单元的试验点选取方法的示意图。例如对一种“工”型拓扑结构的超材料单元进行试验，定义的 几何参数为G向量[a，b，w]，假设参数a，b，和w三参数的取值范围分别为[1，4]，[1,3],[O. 1，0.2]，且各几何参数对应的采样样本点个数为4，3和2。根据正交设计方法进行试验点的选�。枰≡袢缦卤鞩所示的24个试验点来完成试验，按照正交试验设计原理获得正交表如下表I所示
序号 abw
~ I I 07 ~
~2II02~
~ I 2 ο ~
~I202~
~5I3Ο~
~6I302~
~ 2 I 0Γ ~
~82I02~
~92207 ~
10220 2~
~ 2307 ~~ 2~ ~2~~3~ O. 2
~13 3 i 57Τ
~14 3 0ΓΓ ~15 3 2 07Τ ~16 3 2 0ΓΓ ~17 3 3 07Τ ~18 3 3 0Γ2"
~19 4 αΤ 20 4 0ΓΓ ~21 4 2 αΤ ~22 4 2 072~
2 3 4 3 07Τ24 4 3 02~表I在对现有技术的研究和实践过程中，本发明的发明人发现，现有的人工电磁材料结构单元的试验点选取方法如果运用到多个参数并且多个参数的采样样本点数目较多时，则要选取大量的试验点。过多的试验点会消耗大量的资源。
发明内容
本发明实施例提供一种人工电磁材料单元的试验点选取方法，包括获取待测人工电磁材料单元的参数、所述参数的取值范围和参数水平；根据所述人工电磁材料单元的参数、所述参数的取值范围和参数水平，通过贝叶斯自适应设计方法计算试验点序列；选取所述试验点序列指示的人工电磁材料单元的试验点。一种人工电磁材料单元的试验点选取装置，其特征在于，包括相应地，本发明还提供一种人工电磁材料单元的试验点选取装置，包括参数获取�？椋糜诨袢〈馊斯さ绱挪牧系ピ牟问�、所述参数的取值范围和参数水平；序列计算�？椋糜诟菟鋈斯さ绱挪牧系ピ牟问�、所述参数的取值范围和参数水平，通过贝叶斯自适应设计方法计算试验点序列；试验点选取�？椋糜谘∪∷鍪匝榈阈蛄兄甘镜娜斯さ绱挪牧系ピ氖匝榈�。
本发明实施例通过获取待测人工电磁材料单元的参数、所述参数的取值范围和参数水平，根据所述人工电磁材料单元的参数、所述参数的取值范围和参数水平，通过贝叶斯自适应设计方法计算试验点序列，选取所述试验点序列指示的人工电磁材料单元的试验点。保证了试验点的均匀性，实现了选取较少的均匀性强的试验点来完成试验，减少试验点的选取个数，节约了试验资源，优化了试验设计。
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图I是现有技术人工材料单元的试验点选取方法的示意2是本发明第一实施例提供的人工电磁材料单元的试验点选取方法的流程图； 图3是本发明第二实施例提供的人工电磁材料单元的试验点选取装置的结构示意图。
具体实施例方式本发明实施例提供一种人工电磁材料单元的试验点选取方法及装置。以下分别进行详细说明。本发明实施例一的一种人工电磁材料单元的试验点选取方法的流程图可参考图2，该方法包括步骤101,获取待测人工电磁材料单元的参数、所述参数的取值范围和参数水平。例如，选取几何参数为(a，b)，各参数的取值范围分别为[O. 25,1], [O. 25，I]。各参数的取值水平个数分别为4和4。步骤102，根据所述人工电磁材料单元的参数、所述参数的取值范围和参数水平，通过贝叶斯自适应设计方法计算试验点序列。利用贝叶斯自适应设计技术来生成试验点序列，具体假设，我们需要做η次电磁仿真实验，微结构几何参数个数为S，采用如下所述步骤来生成试验点序列首先,对于每个参数j, j = I, . . . , s,对整数序列I, . . . , η进行一次随机重排,得到随机序列n j⑴，L, π j (η)。然后，定义Y为微结构的电磁响应，Ω为响应样本空间，Θ为结构几何参数空间，Pe(y θ)为概率模型，用以描述由几何参数为θ的微结构得到电磁响应y的概率密度。定义试验空间为E，试验样本点e，这样选择一个试验e后，就会电磁响应观测数据Y。基于观测数据Y和试验点e，从决策集D中选取决策点d，其中决策集D由试验的最终目的决定。试验过程包括统计推断/统计决策两个交互部分。在试验e中，给定观测数据Y，决策d通过求取下述后验期望实体函数得到，
:nax - Iii d Θ. e V ·ρ θιΥ e αθ = e.. Υ
d J2■此处对Θ空间求取的数学期望表征未知参数Θ的不确定度。
将上述结构在电磁响应样本空间Ω进行积分，得到期望实体函数
权利要求
1.一种人工电磁材料单元的试验点选取方法，其特征在于，包括 获取待测人工电磁材料单元的参数、所述参数的取值范围和参数水平； 根据所述人工电磁材料单元的参数、所述参数的取值范围和参数水平，通过贝叶斯自适应设计方法计算试验点序列； 选取所述试验点序列指示的人工电磁材料单元的试验点。
2.如权利要求I所述的方法，其特征在于，所述通过贝叶斯自适应设计方法计算试验点序列具体包括 获取所述人工电磁材料单元的参数的个数和试验次数； 根据所述参数的个数和试验次数，计算在预定区间内的试验点序列。
3.如权利要求I所述的方法，其特征在于，所述参数指示人工电磁材料单元的形状或大小。
4.如权利要求I所述的方法，其特征在于，所述参数至少有两个取值水平。
5.如权利要求I所述的方法，其特征在于，所述人工电磁材料单元至少包括两个参数。
6.一种人工电磁材料单元的试验点选取方法，其特征在于，包括 参数获取�？椋糜诨袢〈馊斯さ绱挪牧系ピ牟问�、所述参数的取值范围和参数水平； 序列计算�？椋糜诟菟鋈斯さ绱挪牧系ピ牟问�、所述参数的取值范围和参数水平，通过贝叶斯自适应设计方法计算试验点序列； 试验点选取�？椋糜谘∪∷鍪匝榈阈蛄兄甘镜娜斯さ绱挪牧系ピ氖匝榈�。
7.如权利要求I所述的方法，其特征在于，所述序列计算�？榫咛灏� 信息获取单元，用于获取所述人工电磁材料单元的参数的个数和试验次数； 计算单元，用于根据所述参数的个数和试验次数，计算在预定区间内的试验点序列。
8.如权利要求I所述的装置，其特征在于，所述参数指示人工电磁材料单元的形状或大小。
9.如权利要求I所述的装置，其特征在于，所述参数至少有两个取值水平。
10.如权利要求I所述的装置，其特征在于，所述人工电磁材料单元至少包括两个参数。
全文摘要
本发明实施例提供一种人工电磁材料单元的试验点选取方法及装置，包括获取待测人工电磁材料单元的参数、所述参数的取值范围和参数水平，根据所述人工电磁材料单元的参数、所述参数的取值范围和参数水平，通过贝叶斯自适应设计方法计算试验点序列，选取所述试验点序列指示的人工电磁材料单元的试验点，实施本发明实施例，实现了选取较少的试验点来完成试验，减少试验点的选取个数，节约了试验资源，优化了试验设计。
文档编号G01R31/00GK102890201SQ20111011167
公开日2013年1月23日 申请日期2011年4月30日 优先权日2011年4月30日
发明者刘若鹏, 刘斌, 栾琳 申请人:深圳光启高等理工研究院, 深圳光启创新技术有限公司
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