专利名称：一种光合辐射照度计的制作方法
技术领域：
本实用新型属于光辐射测量领域，具体涉及一种光合辐射照度计。
背景技术：
光辐射是植物光合作用的能源，影响着光合作用过程中形成的产量和产品的质量，此外光作为一种起调节作用的能源，还对植物形态的发展、叶子的形状及大小以及从营养生长到生殖生长的转变速度都起着重要的作用，因此光合有效辐射量的测量是植物光照，植物生长，以及环境保护(温室效应等)的一个重要技术内容。然而，目前还没有实现多个系统下的光合辐射照度测量的仪器，这给光源的光合作用效率计算带来了麻烦。即便是实现单个系统测量的设备也存在较多缺陷。在光量子系统中，具有光量子探头的光量子计是测量光合辐射照度的主要设备，光量子探头的光谱灵敏度与理想光量子响应函数的匹配程度是影响测量精度最重要的因素，但精确匹配却是十分困难的，如图1所示，现有光量子探头往往存在较大的光谱失匹配误差。在植物辐射度学中，对应地使用具有光谱灵敏曲线与相匹配的宽波段辐射探头来实现光合辐射照度测量， 它同样存在光谱失匹配问题。探测器的光谱失匹配会导致所测量的光合辐射照度存在较大误差，特别当被测光的光谱功率分布与定标该先辐射照度计的标准光源的光谱功率分布存在较大差异时，测量误差将十分可观，因此在不同光源照射下测量光合辐射照度时，其测量结果的横向可比性较差。光谱仪也是一种测量光合辐射照度的仪器，但受光电转换器件的影响，光谱仪的线性动态范围较窄，且其它因素，如杂散光、暗噪声也会影响测量结果，该方法测量精度也达不到很高。
实用新型内容本实用新型的目的在于克服现有技术中存在的上述问题，提供一种光合辐射照度计，能够实现光量子系统和植物辐射度学系统等多个系统下的光合辐射照度测量，且较高的测量精度，测量结果具有较高的横向可比性。为达到上述目的，本发明所采取的技术方案是一种光合辐射照度计，包括用于测量光谱功率分布的光谱仪，宽波段辐射探头，所述光谱仪与处理芯片电连接，所述宽波段辐射探头与所述处理芯片电连接，光谱仪包括有入射狭缝、光栅和阵列探测器的光谱仪。光谱仪包括有单色仪和单通道光电探测器的机械扫描式光谱仪。宽波段辐射探头前具有余弦校正器。本实用新型的有益效果本实用新型的光合辐射照度计能够同时实现光量子系统和植物辐射度系统中的光合辐射照度测量以及光度和辐射度测量，使用方便，且通过光谱校正，测量具有较高的精度。
[0010]图1为本实用新型的光合辐射照度计结构示意图。
具体实施方式
如图1为本实用新型的光合辐射照度计的一个实施例示意图，本实施例中的光谱仪1是由阵列探测器1-5作为光电转换单元的光谱仪1。被测光从该光谱仪1的入射狭缝 1-1进入，入射到准直镜1-2上，经准直后入射到平面光栅1-3，平面光栅1-3将入射光色散并反射到会聚镜1-4上，会聚镜1-4将色散光反射到阵列探测器1-5上，阵列探测器1-5上的每一个象元接收一定波长的光辐射进行，可以快速测量出被测光的光谱功率分布。光谱仪1包括有单色仪和单通道光电探测器的机械扫描式光谱仪。宽波段辐射探头2前具有余弦校正器2-1。在使用本实用新型的光合辐射照度计时，宽波段辐射探头2和光谱仪1同时进行测量，并把测量结果输入到处理芯片3，经计算得到精确的植物辐射度学系统下的光合辐射照度。
权利要求1.一种光合辐射照度计，包括用于测量光谱功率分布的光谱仪(1)，宽波段辐射探头 O)，所述光谱仪(1)与处理芯片(3)电连接，其特征在于所述宽波段辐射探头( 与所述处理芯片(3)电连接，光谱仪⑴包括有入射狭缝(1-1)、光栅(1-3)和阵列探测器(1-5) 的光谱仪(1)。
2.根据权利要求1所述的光合辐射照度计，其特征在于光谱仪(1)包括有单色仪和单通道光电探测器的机械扫描式光谱仪。
3.根据权利要求2所述的光合辐射照度计，其特征在于宽波段辐射探头(2)前具有余弦校正器(2-1)。
专利摘要本实用新型公开了一种光合辐射照度计，包括用于测量光谱功率分布的光谱仪，宽波段辐射探头，所述光谱仪与处理芯片电连接，所述宽波段辐射探头与所述处理芯片电连接，光谱仪包括有入射狭缝、光栅和阵列探测器的光谱仪。本实用新型的有益效果本实用新型的光合辐射照度计能够同时实现光量子系统和植物辐射度系统中的光合辐射照度测量以及光度和辐射度测量，使用方便，且通过光谱校正，测量具有较高的精度。
文档编号G01J1/42GK202255621SQ201120286960
公开日2012年5月30日 申请日期2011年8月9日 优先权日2011年8月9日
发明者何相礼 申请人:浙江大合建设工程检测有限公司
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