专利名称：一种双路激光纳米粒子检测仪的制作方法
技术领域：
本实用新型激光检测分析仪器，特别是指 一种双路激光纳米粒子 数据分析仪。
背景技术：
激光粒子检测技术是由激光技术、纳米应用技术、激光光路转换 技术、接收传感器技术、微电子加工技术、光机电技术为一体的综合 技术。^^测时激光通过净皮4全测的纳米粒子，用户通过接收入射粒子后 的光信号对粒子分析，目前的激光检测只有单路激光信号，且光路焦 距有限，如在超纳米颗粒时，设备无法实现4全测分析。
实用新型内容
有鉴于此，本实用新型在于提供一种双路激光纳米粒子检测仪， 以解决上述单路激光检测单一，在超纳米颗粒时，设备无法实现检测 分析的问题。
为解决上述问题，本实用新型提供一种双路激光纳米粒子检测仪，
包括安装在支架上的激光发生器射出的激光经过光散修正镜过滤后， 经过扩束镜实现光直径的扩束，扩束后的激光穿过存放被测粒子的测 试视窗，经过等能分光棱镜分为两路光信号， 一路射入第一传感接收 器，另一路经过变焦镜变焦后射入第二传感接收器，激光扩束镜、测 试视窗、等能分光棱镜可滑动的安装在同一直线方向上的自动定心线 性轨道上。
优选的，激光发生器与光散修正镜的光传输方向相互垂直，在光 散修正镜的一端安装有改变光入射角度的第一光程反射镜和改变光折 射角度的第二光程反射镜。
优选的，等能分光棱镜射入第一传感接收器的光传输方向、与射
入变焦镜光传输方向垂直，变焦镜通过第三光程反射镜将变焦后射入 第二传感接收器。优选的，还包括分别接收第一传感接收器、第二传感接收器的
光感应器，光感应器将感应到光信号转换为数据信号并传输至连接的 处理所述数据信号的计算机。本实用新型中的检测仪，可将光信号分为两路对被测粒子进行检 测，并通过变焦镜进行变焦，由于变焦镜的光传输方向与自动定心线性轨道垂直，可减少检测仪的体积及长度，结构紧凑、携带方便；检 测后的数据信号通过计算机可实现两路信号的对比，提高检测准确度。
图1是检测仪的结构图； 图2是检测仪的侧视图； 图3是软件包的架构图。
具体实施方式
为清楚说明本实用新型中的检测仪，下面给出优选的实施例详细 说明。
参见图1、图2,图l是实施例的结构图，包括安装在支架上的 激光发生器2，激光发生器2射出的激光经过光散修正镜3修正后， 经过扩束镜4实现光直径的扩束，扩束后的激光穿过存放被测粒子的 测试视窗5，经过等能分光棱镜6分为两路光信号， 一路射入第一传 感接收器91,另 一路通过变焦镜7射入第二传感接收器92。
激光发生器2、光散修正镜3、扩束镜4、测试视窗5、等能分光 棱镜6.可安装在同一直线方向的轨道上，也可如实施例中，安装在平 行方向的支架和轨道上，已降低检测仪长度，如将激光发生器2安装 在支架上，将光散修正镜3安装方向与激光发生器2的光射出方向垂 直，并通过第一光程反射镜.ll和第二光程反射镜12反射入激光扩束 镜4;将激光扩束镜4、测试视窗5、等能分光棱镜6安装在自动定心
线性轨道8上。
该检测仪的激光发生器2采用波长为6328氦氖红色光源,经光散 修正镜3滤光，通过第二光程反射镜12入射到扩束镜4中，变成出瞳 直径4) 13.5mm,汇聚焦距fl' =670mm直径(}) 0.05的焦点,这是第一检 测路径，第二才全测^各径,在扩束镜4出瞳的固定距离处(实验的标准位 置)，通过激光分光器,通过变焦镜7调节，汇聚焦距f2， =3000mm、 4000mm、 5000mm直4圣cj) 0.05的焦点。
双路激光纳米粒子数据分析仪采用全量程米式散射理论，充分分 析了分散介质和被检测粒子的折射效应，两个定焦光路接收不同的激 光数据，配合最优的非均匀性交叉三维扇形探测器阵列和无约束拟合 反演方法，构成数据阵，分别读出数据，几组数据处理可以分别输出， 也可以对比输出数据。以上激光信号输入和输出端所构成了激光光路 的检测。由于精确激光输入，和激光分束器，即等能分光棱镜6产生 精确的光束分配，保持两个检测点的数据对比精确性，最大限度解决 了，输出光信号为准确性；通过第二检测点的输出点激光源的数据更 准确，两个接受分析信号源之间产生接受区别，所以输出激光信号由 于干涉条件的改变而逐渐减�。笔涑鼋咕嘣趂2' =3000mm-5000mm 时，输出光信号为干涉最小。
该检测仪还可以连接光感应器，并将第一传感接收器91、第二传 感接收器92所接收到的光信号转换为电信号，并将电信号传输到计算 机内，通过计算机进行分析，由于两路信号的焦距不同，可实现两路 光信号的对比分析，也可实现分别分析。
该检测仪可适用的干法领域、湿法领域如下
干法使用领域各种磁性材料,水泥、西药、中药、有机化合物粉。
湿法使用领域湿法分循环泵进行方式和微量样品池进行方式。 湿法使用领域如下
各种非金属粉(如轻钙、重钙、石墨等)
各种金属粉(如铝粉、铜粉、合金粉等) 各种化学试剂(如涂料、磨料、陶瓷原料等)以上两种使用领域，基本覆盖了流体、干粉检测的各种物质， 在数据采集可以在几秒钟内完成，分析材料的粒子范围可在
0.02-1000um之间，可在此范围自定义分级。计算机进行处理时，可按照图3所示的结构进行数据处理，将处 理后的数据输出报告有粒度分析图表、粒度分布图表、粒度数据图表； 并进行数据统计、比较和模式转换等，实现微分分布、积分分布，R-R 数学分布、标准分布和按日分级分布等多种形式。检测运算可分为有约束拟合反演和无约束拟合反演的方法。有约 束拟合反演法是在计算前假设粒度参数符合一般性分布规律，此方法 测试计算后必须修正；无约束拟合反演的法是测试前对粒度不进行设 标准参数设定，使用分析仪的参数对中系统预先对系统复位，通过激 光的强度和折射非均匀性的激光接收器交叉三维扇形探测器阵列直接 计算出粒度的分布规律，从而能够准确地测量出样品的真实粒度分布。粒度分布图形和粒度数据分布图表累计粒度分布数据、曲线、
区间粒度分布数据。图形有平均粒度特征参数。对于本实用新型各个实施例中所阐述的检测仪，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含 在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1、一种双路激光纳米粒子检测仪，其特征在于，包括安装在支架上的激光发生器(2)射出的激光经过光散修正镜(3)过滤后，经过扩束镜(4)实现光直径的扩束，扩束后的激光穿过存放被测粒子的测试视窗(5)，经过等能分光棱镜(6)分为两路光信号，一路射入第一传感接收器(91)，另一路经过变焦镜(7)变焦后射入第二传感接收器(92)，激光扩束镜(4)、测试视窗(5)、等能分光棱镜(6)安装在同一直线方向上、可滑动的自动定心线性轨道(8)上。
2、 根据权利要求1所述的检测仪，其特征在于，激光发生器(2) 与光散修正镜(3)的光传输方向相互垂直，在光散修正镜(3)的一 端安装有改变光入射角度的第一光程反射镜(11)和改变光折射角度 的第二光程反射镜(12)。
3、 根据权利要求1所述的检测仪，其特征在于，等能分光棱镜(6) 射入第一传感接收器(91 )的光传输方向、与射入变焦镜(7)光传输 方向垂直，变焦镜(7)通过第三光程反射镜(13 )将变焦后射入第二 传感接收器(92)。
4、 根据权利要求1所述的^r测仪，其特征在于，还包括分别接 收第一传感接收器(91 )、第二传感接收器(92)的光感应器，光感应 器将感应到光信号转换为数据信号并传输至连接的处理所述数据信号 的计算机。
专利摘要本实用新型公开了一种双路激光纳米粒子检测仪，安装在支架上的激光发生器射出的激光经过光散修正镜过滤后，经过扩束镜实现光直径的扩束，扩束后的激光穿过存放被测粒子的测试视窗，经过等能分光棱镜分为两路光信号，一路射入第一传感接收器，另一路经过变焦镜变焦后射入第二传感接收器，激光扩束镜、测试视窗、等能分光棱镜可滑动的安装在同一直线方向上的自动定心线性轨道上。检测仪对两路被测粒子信号进行检测，并通过变焦镜进行变焦，由于变焦镜的光传输方向与自动定心线性轨道垂直，可减少检测仪的体积及长度，结构紧凑、携带方便；检测后的数据信号通过计算机可实现两路信号的对比，提高检测准确度。
文档编号G01N21/00GK201177593SQ20082000487
公开日2009年1月7日 申请日期2008年3月17日 优先权日2008年3月17日
发明者孟繁有 申请人:孟繁有
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