专利名称：带V(λ)光度探头的光谱辐射分析仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及光谱辐射分析仪，尤其涉及带V(λ)光度探头的光谱辐射分析仪。
在光源光度色度测量中，一般使用光谱辐射分析仪，光谱辐射分析仪通常由测试主机，参考探测器和导光光纤束组成。参考探测器的作用是在分光测量扫描过程中用于监测被测光源的波动。这种光谱辐射分析仪存在着一个主要的弱点是仪器的光度测量线性范围较窄，尤其用于光通量测试时，问题更显突出。本实用新型的目的是提供一种带V(λ)光度探头的光谱辐射分析仪，以实现更宽的光度线性和更好光度测量的准确度。
本实用新型的目的是提供一种以实现更宽光度线性和更好光度测量准确度的带V(λ)光度探头的光谱辐射分析仪。
为了达到上述目的，本实用新型采取下列措施带V(λ)光度探头的光谱辐射分析仪，它包括分光测试主机，导光光纤束，特征是在分光测试主机上，通过屏蔽线与V(λ)光度探头相连。
本实用新型用V(λ)光度探头替代原来的参考探测器，通过这种V(λ)光度探头，光谱辐射分析仪不仅能实现原来的参考探测器监测被测光波动的功能，而且可以实现通过V(λ)光度探头直接测量被测光度值的功能。由于V(λ)光度探头比原来的光谱辐射分析仪具备更宽的光度线性，因此带V(λ)光度探头的光谱辐射分析仪易于实现更宽的光度线性，并可实现光度值的快速测量(无需光谱扫描)，从而使本实用新型完全实现了积分法测光的优点，此外，用光谱辐射分析仪所特有的分光法测光不受被测光源光谱分布影响的特点，来修正因V(λ)光度探头的V(λ)匹配误差，易于实现高的光度测量准确度。
总之，本实用新型带V(λ)光度探头的光谱辐射分析仪，同时兼备积分球和分光法测光的优点，比以往的光谱辐射分析仪易于实现宽的光度线性和高的光度准确性。
以下结合附图
对本实用新型作详细说明。
附图是本实用新型结构示意图。
带V(λ)光度探头的光谱辐射分析仪，它包括分光测试主机1，导光光纤束3，特征是在分光测试主机1上，通过屏蔽线4与V(λ)光度探头2相连。分光测试主机可采用PMS-3光谱分析仪。
权利要求1．一种带V(λ)光度探头的光谱辐射分析仪，它包括分光测试主机[1]，导光光纤束[3]，其特征在于在所说的分光测试主机[1]上，通过屏蔽线[4]与V(λ)光度探头[2]相连。
专利摘要本实用新型公开了一种带V(λ)光度探头的光谱辐射分析仪。它包括分光测试主机,导光光纤束,在分光测试主机上,通过屏蔽线与V(λ)光度探头相连。本实用新型采用V(λ)光度探头作为分光测试的参考通道,同时又可以从V(λ)光度探头直接读取被测光度值,实现了光谱辐射分析仪集积分法和分光法测光于一体,因而这种光谱辐射分析仪具有更宽的光度线性和更好的光度测量的准确性。
文档编号G01J3/28GK2444217SQ0024792
公开日2001年8月22日 申请日期2000年8月21日 优先权日2000年8月21日
发明者潘建根, 胡红英 申请人:杭州远方仪器有限公司
专业数控铣床产品供应商
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