专利名称：测试底座针的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量探针，特别是涉及一种测试底座针。
背景技术：
一般情况下，印刷电路及芯片等完成线路布置后，为确定每条线路皆可正常导通， 必须用测试探针予以测试，测试探针的一头接触测试点，另一头连接导线，通过导线将测试探针和测试机连接起来，进行测试时，需要在测试探针的尾部连接导线，操作麻烦，而且测试时都是多点测试，各导线之间易产生缠绕。
实用新型内容为解决上述技术问题，本实用新型提供一种效率高，省时间，使用寿命长的测试底座针。本实用新型的测试底座针，包括测试底座针针体，所述测试底座针针体的端部设有多个针头，相邻两个针头之间的夹角为60度。本实用新型的测试底座针，所述针头的高度为0. 17-0. 23mm。与现有技术相比本实用新型的有益效果为本实用新型所述测试底座针针体的端部设有多个针头，相邻两个针头之间的夹角为60度，测试能力比以前有所改进，效率高，省时间，使用寿命长。
图1是本实用新型的结构图；图2是本实用新型中针头的立体图；图3是图2的主视图。
具体实施方式
以下结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式
作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。如图1、图2和图3所示，一种测试底座针，包括测试底座针针体1，所述测试底座针针体1的端部设有多个针头2，相邻两个针头2之间的夹角为60度。本实用新型的测试底座针，所述针头2的高度为0. 17-0. 23mm。以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变型，这些改进和变型也应视为本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种测试底座针，包括测试底座针针体，其特征在于所述测试底座针针体的端部设有多个针头，相邻两个针头之间的夹角为60度。
2.根据权利要求1所述的测试底座针，其特征在于所述针头的高度为0.17-0. 23mm。
专利摘要本实用新型涉及一种测量探针，目的是提供一种效率高，省时间，使用寿命长的测试底座针，包括测试底座针针体，所述测试底座针针体的端部设有多个针头，相邻两个针头之间的夹角为60度。本实用新型所述测试底座针针体的端部设有多个针头，相邻两个针头之间的夹角为60度，测试能力比以前有所改进，效率高，省时间，使用寿命长。
文档编号G01R1/073GK202066882SQ201120169179
公开日2011年12月7日 申请日期2011年5月25日 优先权日2011年5月25日
发明者周燕明 申请人:沈芳珍
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