专利名称：熔断器自动测温系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种应用于熔断器寿命试验与评估系统中对熔断器组中各熔体温度进行测量与记录的熔断器自动测温系统。
背景技术：
熔断器在使用过程中，由于自身流过的电流及外界环境的影响，其不可避免的发生老化降级，影响其使用寿命。已有研究表明，只要运行环境能够保证，熔断器的寿命主要取决于熔体的状态。熔断器的熔体在通电条件下的主要老化机理就是金属电迁移，即金属中的离子迁移，这种迁移会在局部区域发生质量亏损而出现空洞，或产生质量堆积而出现小丘或凝固态毛刺，造成金属缺陷，电阻增大，引发局部过热，熔体温度升高，高温又会加速金属化电迁移的过程，使缺陷进一步增大，逐渐累积至发生熔体熔断。在对熔断器进行寿命评估、变加速因子的寿命评估等试验时，需要测量熔体的温度。但目前，熔体温度测试依然采用手动测量与记录的方法，无法避免由测量时间、仪器使用方式、测量位置、测量角度、读数等带来的误差。
发明内容本实用新型的目的是提供一种减小误差、提高测温数据准确性的熔断器自动测温系统。为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是一种熔断器自动测温系统，用于在熔断器寿命评估系统中自动检测熔断器组中各熔体的温度，其包括测试装置，所述的测试装置包括温度传感器、带动所述的温度传感器移动的行动机构；控制装置，所述的控制装置分别与所述的温度传感器和所述的行动机构相信号连接，所述的控制装置采集并存储所述的温度传感器测得的各所述的熔体的温度数据，所述的控制装置控制所述的行动机构移动。采用控制装置控制测试装置对熔断器组中各熔体的温度进行自动测量及保存，可以减小由于仪器使用方法、测量时间、测量位置等因素带来的测量误差。优选的，所述的温度传感器为非接触式温度传感器。采用非接触式温度传感器能够在不改变被测熔体温度场的条件下进行测量，提高了测量精度。优选的，所述的温度传感器为红外热成像温度传感器。优选的，所述的行动机构包括与所述的温度传感器相固定连接并与所述的控制装置相信号连接的步进式电机、与所述的步进式电机相配合的轨道，所述的轨道沿所述的各熔体的排布方向设置。优选的，其还包括与所述的控制装置相信号连接并监测所述的温度传感器位置的位移传感器。控制装置可以根据位移传感器所检测的温度传感器的位置控制行动机构，从而对温度传感器的测量位置进行精确调整。优选的，所述的控制装置为程控装置。采用程控装置可以减少系统内的连线，简化系统结构。
附图I为本实用新型的熔断器自动测温系统的示意图。以上附图中1、熔断器组；11、熔体；2、测试装置；3、控制装置；4、轨道。
具体实施方式
以下结合附图所示的实施例对本实用新型作进一步描述。实施例一参见附图I所示。一种熔断器自动测温系统，用于在熔断器寿命评估系统中自动检测熔断器组I中各熔体11的温度，其包括测试装置2、控制装置3、设置于测试装置2上或控制装置3上的位移传感器。测试装置2包括温度传感器、带动温度传感器移动的行动机构。温度传感器为非接触式的红外热成像温度传感器。行动机构包括与温度传感器相固定连接并与控制装置相信号连接的步进式电机、与步进式电机相配合的轨道4，轨道4沿各熔体11的排布方向设置。位移传感器用于监测温度传感器位置。控制装置3为程控装置，其分别与温度传感器、行动机构、位移传感器相无线信号连接。控制装置3采集并存储温度传感器测得的各熔体11的温度数据，控制装置3控制行动机构移动。熔断器自动测温系统具有循环式测量和定点式测量两种工作方式，控制装置3根据熔断器组I的温度状态控制熔断器自动测温系统在两种工作方式之间转换。常规情况下，该熔断器自动测温系统处于循环式测量工作方式，此时，控制装置3控制步进式电机沿轨道4移动，温度传感器逐个测量各熔体11的温度并将测得的数据传回控制装置3存储。当所有熔体11的温度全部测量完时完成一次测量循环。相邻两次测量循环之间经过第一时间间隔，该第一时间间隔可在控制装置3中设定。若某一熔体11的温度的连续两次测量值之差大于第一温差时，熔断器自动测温系统自动转换为定点式测量工作方式。第一温差的值可根据实际情况在控制装置3中设定，例如设定为10°C。当熔断器自动测温系统处于定点式测量工作方式时，温度传感器对某一熔体11的温度进行连续测量并将测量值传至控制装置3储存，相邻两次测量之间经过第二时间间隔。该第二时间间隔也可在控制装置3中设定，且通常第二时间间隔短于第一时间间隔，例如将测试频率设定为I次/秒。此时，若温度传感器测量的熔体11的温度在第三时间间隔内的测量值之差小于第二温差或该熔体11熔断时，熔断器自动测温系统自动转换为循环式测量工作方式。例如将第三时间间隔设定为5秒，第二温差设定为5°C，那么在5秒的时间内测得的温差若小于5°C或该熔体11熔断时，熔断器自动测温系统自动恢复为循环式测量工作方式。上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。 凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种熔断器自动测温系统，用于在熔断器寿命评估系统中自动检测熔断器组中各熔体的温度，其特征在于其包括 测试装置，所述的测试装置包括温度传感器、带动所述的温度传感器移动的行动机构； 控制装置，所述的控制装置分别与所述的温度传感器和所述的行动机构相信号连接，所述的控制装置采集并存储所述的温度传感器测得的各所述的熔体的温度数据，所述的控制装置控制所述的行动机构移动。
2.根据权利要求I所述的熔断器自动测温系统，其特征在于所述的温度传感器为非接触式温度传感器。
3.根据权利要求2所述的熔断器自动测温系统，其特征在于所述的温度传感器为红外热成像温度传感器。
4.根据权利要求I所述的熔断器自动测温系统，其特征在于所述的行动机构包括与所述的温度传感器相固定连接并与所述的控制装置相信号连接的步进式电机、与所述的步进式电机相配合的轨道，所述的轨道沿所述的各熔体的排布方向设置。
5.根据权利要求I所述的熔断器自动测温系统，其特征在于其还包括与所述的控制装置相信号连接并监测所述的温度传感器位置的位移传感器。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的熔断器自动测温系统，其特征在于所述的控制装置为程控装置。
专利摘要本实用新型涉及一种熔断器自动测温系统，用于在熔断器寿命评估系统中自动检测熔断器组中各熔体的温度，其包括测试装置和控制装置；测试装置包括温度传感器、带动温度传感器移动的行动机构；控制装置分别与温度传感器和行动机构相信号连接，控制装置采集并存储温度传感器测得的各熔体的温度数据，控制装置控制行动机构移动。由于本实用新型采用控制装置控制测试装置对熔断器组中各熔体的温度进行自动测量及保存，可以减小由于仪器使用方法、测量时间、测量位置等因素带来的测量误差。
文档编号G01J5/00GK202382856SQ20112053493
公开日2012年8月15日 申请日期2011年12月20日 优先权日2011年12月20日
发明者姚建林, 石颉 申请人:中国广东核电集团有限公司, 苏州热工研究院有限公司
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