专利名称：一种检测数字专用集成电路中触发器单粒子效应的系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种检测数字专用集成电路中触发器单粒子效应的系统，属于半导体器件抗空间单粒子效应能力验证技术领域。
背景技术：
当数字电路应用在空间环境中时，空间高能粒子会穿透半导体器件内部并在路径上产生电离，电路节点会吸收电离产生的电子和空穴从而导致电路错误，这种效应称为单粒子效应。在地面上验证半导体器件的抗单粒子效应能力主要依靠地面重离子加速器来模拟单粒子试验，由于试验现场需要在真空辐射环境下进行，对测试系统的抗干扰、实时性、 体积等提出了更高要求，且限制了一些先进大型仪器设备的使用，因此相比于普通实验室的半导体器件测试，往往需要自行研发搭建不同类型半导体器件的单粒子效应检测系统。单粒子效应主要分为单粒子翻转效应(SEU)和单粒子闩锁效应(SEL)，单粒子闩锁效应指单个离子在器件内部电路中产生电流脉冲，使得pn-pn结构导通，造成器件电流大幅增大；单粒子翻转效应指存储器件中的单粒子翻转，导致存储信息的丢失。单粒子闩锁效应的检测较为简单，主要是对半导体器件的电流进行监控，而单粒子翻转效应的检测则较为复杂，一般需要搭建基于可编程逻辑器件的嵌入式测试系统。数字专用集成电路(ASIC)是一种为专门目的而设计的集成电路，是应特定用户要求和特定电子系统的需要而设计、制造的集成电路，与通用集成电路相比，专用集成电路具有体积更小、功耗更低、可靠性更高、成本更低等特点。专用集成电路有数字、模拟、数模混合三种类型，其中数字专用集成电路的应用最为广泛。现有的数字专用集成电路芯片 (ASIC)在芯片研制过程中，需要加入可测性设计(DFT)，用以在芯片出厂前对芯片的内部结构单元进行性能检测，可测性设计通过增加电路的硬件结构来减少测试生成的复杂性， 是当今数字专用集成电路芯片设计流程中必不可少的环节。常用的可测性设计方法包括扫描设计方法、存储器内建自测试方法和边界扫描设计方法等。其中利用扫描设计方法对数字专用集成电路芯片中的触发器进行单粒子效应验证是业内的一般方法，主要用于检测单粒子翻转效应。现有的基于扫描设计方法对数字专用集成电路芯片中的触发器进行单粒子效应验证的检测系统主要存在着以下两个不足一是可以统计出整个电路芯片触发器的错误率，但难以分别统计每个触发器的错误率，不容易识别和定位数字专用集成电路芯片中对单粒子敏感的触发器，因此不便于抗辐射加固芯片设计人员改进设计；二是数字专用集成电路芯片中一般存在着全局或局部时钟电路，一旦该时钟电路在试验中发生单粒子翻转将造成大量的触发器翻转错误，需要区分这种情况与正常的触发器单粒子翻转，而现有检测系统不具备这种功能。
发明内容
本发明的技术解决问题是克服现有技术的不足，提供一种检测数字专用集成电路中触发器单粒子效应的系统，该系统组成简单，检测精度高，能够有效区分正常的触发器单粒子翻转和单粒子效应造成的单粒子翻转。本发明的技术解决方案是一种检测数字专用集成电路中触发器单粒子效应的系统，包括主控计算机、可编程逻辑器件、存储器件、传输协议器件；其中可编程逻辑器件由模式选择�？�、向量生成�？�、边沿检测模块、电平检测模块、错误帧缓存�？楹痛湫槟？樽槌桑恢骺丶扑慊刂瓶杀喑搪呒骷脑诵校邮湛杀喑搪呒骷觳獾降谋哐丶觳饧剖髦�、电平检测计数器值和错误帧数据；存储器件，缓存错误帧数据；传输协议器件，完成主控计算机和可编程逻辑器件通讯传输；
传输协议�？椋瓿煽杀喑搪呒骷痛湫槠骷耐ㄑ洞洌荒Ｊ窖≡衲？椋邮罩骺丶扑慊目刂浦噶畈敝悠德�、数字专用集成电路触发器链长度、测试模式和测试码四项配置信息，并利用四项配置信息对向量生成�？�、边沿检测�？�、电平检测�？�、错误帧缓存�？榻信渲茫幌蛄可赡？椋菽Ｊ窖≡衲？榕渲玫乃南钆渲眯畔⒉植馐韵蛄渴涑鲋潦肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁词菔淙攵丝冢菽Ｊ窖≡衲？榕渲玫氖敝悠德什敝油叫藕攀涑鲋帘哐丶觳饽？�、电平检测�？楹痛砦笾』捍婺？榻惺敝油剑槐哐丶觳饽？椋菽Ｊ窖≡衲？榕渲玫氖肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁闯ざ取⒉馐阅Ｊ胶筒馐月肴钆渲眯畔⒍允肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄拷斜哐丶觳獾玫奖哐丶觳饧剖髦担哐丶觳饧剖髦低ü湫槟？槭涑鲋林骺丶扑慊坏缙郊觳饽？椋菽Ｊ窖≡衲？榕渲玫氖肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁闯ざ�、测试模式和测试码三项配置信息对数字专用集成电路触发器链数据输出端口的输出向量进行电平检测得到电平检测计数器值，电平检测计数器值通过传输协议模块输出至主控计算机；错误帧缓存�？椋菽Ｊ窖≡衲？榕渲玫氖肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁闯ざ群筒馐月肓较钆渲眯畔⒍允肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄拷写砦笾〖觳獾玫酱砦笾∈荩砦笾∈莼捍嬖诖娲⑵骷胁⑼ü湫槟？槭涑鲋林骺丶扑慊�。所述向量生成�？榈墓ぷ鞴涛�(1)接收模式选择�？榕渲玫氖敝悠德�、数字专用集成电路触发器链长度、测试模式和测试码四项配置信息；(2)向量生成�？榻邮盏降挠氪シ⑵髁闯ざ认嗤牟馐月胧涑鲋链シ⑵髁词菔淙攵丝冢瓿啥允肿ㄓ眉傻缏返某跏贾梦唬�(3)向量生成模块根据测试模式产生数字测试向量，当配置的测试模式为动态测试，向量生成�？榱蒒个与触发器链长度相同的测试码输出至触发器链数据输入端口，当配置的测试模式为静态测试，向量生成模块生成一个与触发器链长度相同的测试码输出至触发器链数据输入端口，N为自然数；同时向量生成�？楦菖渲玫氖敝悠德什敝油叫藕攀涑鲋帘哐丶觳饽？�、电平检测�？�、错误帧缓存�？楹褪肿ㄓ眉傻缏方惺敝油健Ｋ霰哐丶觳饽？榈墓ぷ鞴涛�(1)接收模式选择�？榕渲玫氖肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁闯ざ�、测试模式和测试
码三项配置信息；(2)边沿检测�？楦莶馐阅Ｊ浇斜哐丶觳猓艚邮盏牟馐阅Ｊ轿馐裕� 则在每个时钟同步信号的下降沿边沿检测模块读取触发器链数据输出端口的输出向量，将触发器链数据输出端口的输出向量与配置的测试码进行比较，若二者不一致则边沿检测计数器值加1，若二者一致则边沿检测计数器值不变；若接收的测试模式为静态测试，则在单粒子辐照完成后读取触发器链数据输出端口的输出向量，读取的输出向量长度与配置的触发器链长度相同，将触发器链数据输出端口的输出向量与配置的测试码进行比较，若二者不一致则将不一致的个数赋予边沿检测计数器，若二者相一致，则边沿检测计数器值记为零；(3)将边沿检测计数器值通过传输协议模块输出至主控计算机。所述电平检测�？榈墓ぷ鞴涛�(1)接收模式选择�？榕渲玫氖肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁闯ざ�、测试模式和测试
码三项配置信息；(2)电平检测�？楦莶馐阅Ｊ浇械缙郊觳猓艚邮盏牟馐阅Ｊ轿馐裕蛟诿扛鍪敝油叫藕诺南陆笛氐缙郊觳饽？槎寥〈シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄浚渲械谝桓鍪敝又芷诖シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄坑肱渲玫牟馐月虢斜冉希溆嗍敝又芷诮臼敝又芷诖シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄坑肷弦皇敝又芷诖シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄拷斜冉希舳卟灰恢略虻缙郊觳饧剖髦导�1，若二者相一致则电平检测计数器值不变；若接收的测试模式为静态测试，则在单粒子辐照完成后读取触发器链数据输出端口的输出向量，读取的输出向量长度与配置的触发器链长度相同，电平检测计数器记录触发器链数据输出端口输出向量中电平跳变的次数；(3)将电平检测计数器值通过传输协议模块输出至主控计算机。所述错误帧缓存�？榈墓ぷ鞴涛�(1)接收模式选择�？榕渲玫氖肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁闯ざ群筒馐月肓较钆渲� fn息；(2)在每个时钟同步信号的下降沿错误帧缓存�？榛捍娲シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄浚捍娴氖涑鱿蛄砍ざ扔肱渲玫拇シ⑵髁闯ざ认嗤艋捍娴氖涑鱿蛄恐杏幸晃皇萦肱渲玫牟馐月氩煌蚪砦笾”曛疚簧柚梦�1，并将错误帧数据存储至存储器件中，待单粒子辐照完成后通过传输协议�？榻砦笾∈菔涑鲋林骺丶扑慊艋捍娴氖涑鱿蛄恐忻恳晃皇菥肱渲玫牟馐月胂嗤蚪砦笾”曛疚簧柚梦�0。本发明与现有技术相比有益效果为本发明能够有效区分时钟电路单粒子翻转造成的大量触发器翻转与正常大量的触发器单粒子翻转现象，前者在辐照试验过程中短时间内(通常在10个时钟周期内)会出现大量触发器翻转，后者在辐照试验过程中的出现概率随时间分布的较为均勻，本发明利用这一特点通过边沿检测�？楹偷缙郊觳饽？槔词迪智郑倍淌奔淠诒哐丶觳饧剖髟黾又翟洞笥诘缙郊觳饧剖髟黾又�(例如10个时钟周期内大于N/10倍)，说明是时钟电路单粒子翻转造成的大量触发器翻转，反之为正常大量
6的触发器单粒子翻转；本发明将触发器链长N定义为一帧的长度，对每个触发器编号(1 N)，当某一时刻某个触发器发生单粒子翻转时，可以将该帧缓存下来，精确地获得数字专用集成电路对单粒子翻转敏感的触发器�？椴⒕返赝臣瞥雒扛龃シ⑵鞯牡チＷ臃砦舐剩佣傅夹酒杓迫嗽备慕杓啤�
图1为本发明的系统组成原理图；图2为本发明边沿检测模块的工作流程图；图3为本发明电平检测�？榈墓ぷ髁鞒掏迹煌�4为本发明错误帧缓存模块的工作流程图；图5为错误帧数据缓存示意图。
具体实施例方式如图1所示，本发明包括辐照环境外的主控计算机，辐照环境内的可编程逻辑器件、存储器件、传输协议器件。其中可编程逻辑器件内包含了模式选择�？�、向量生成�？�、边沿检测模块、电平检测�？�、错误帧缓存�？椤⒋湫槟？椋恢骺丶扑慊ü荽湎哂氪湫槠骷嗔湫槠骷肟杀喑搪呒骷写湫槟？榈拇涠丝诹樱娲⑵骷肟杀喑搪呒骷写砦笾』捍婺？榈亩丝诹樱肿ㄓ眉傻缏酚肟杀喑搪呒骷邢蛄可赡？�、边沿检测�？�、电平检测�？�、错误帧缓存�？榈亩丝谙嗔�; 可编程逻辑器件中模式选择�？榻邮沾湫槟？榉⒗吹闹噶疃韵蛄可赡？�、边沿检测模块、电平检测�？�、错误帧缓存�？榻信渲茫幌蛄可赡？榻邮漳Ｊ窖≡衲？榉⒗吹呐渲眯畔⒉馐韵蛄扛肿ㄓ眉傻缏�、产生同步信号给边沿检测�？�、电平检测模块和错误帧缓存�？椋槐哐丶觳饽？榻邮漳Ｊ窖≡衲？榉⒗吹呐渲妹罴觳馐肿ㄓ眉傻缏返氖涑鲂藕牛⒔哐丶觳饨峁ü湫槟？榉⒊觯坏缙郊觳饽？榻邮漳Ｊ窖≡衲？榉⒗吹呐渲妹罴觳馐肿ㄓ眉傻缏返氖涑鲂藕牛⒔缙郊觳饨峁ü湫槟？榉⒊觯淮砦笾』捍婺？榻邮漳Ｊ窖≡衲？榉⒗吹呐渲妹罴觳馐肿ㄓ眉傻缏返氖涑鲂藕牛砦笾〖觳饨峁捍嬖诖娲⑵骷校⒖梢酝ü湫槟？榉⒊龈媒峁�。下面具体介绍本发明系统的实现过程。主控计算机上的上位机控制程序发出模式设置命令，通过传输协议器件传给可编程逻辑器件，传输协议可以是RS232串口协议、USB2. 0协议或以太网IEEE802. 3协议，传输协议器件为支持相应传输协议的协议芯片；存储器件可以为动态存储器SDRAM、静态存储器SRAM或闪存FLASH中，存储器件的读写频率需高于数字专用集成电路触发器链的工作频率；可编程逻辑器件中的传输协议�？榻邮盏降哪Ｊ缴柚妹罘⒏Ｊ窖≡衲？椋Ｊ窖≡衲？橄嘤Φ嘏渲孟蛄可赡？�、边沿检测�？�、电平检测模块、错误帧缓存�？�。模式选择�？橛糜布枋鯤DL语言程序实现，用以设置检测系统的时钟频率、帧长(触发器链长度N)、测试模式(动态测试还是静态测试)、测试码(写0还是写1)，并将以上配置信息通过参数变量的形式设置给向量生成�？�、边沿检测�？椤⒌缙郊觳饽？�、错误帧缓存模块。向量生成�？橛糜布枋鯤DL语言程序实现。按照模式选择�？榉⒗吹氖敝悠德�、数字专用集成电路触发器链长度、测试模式和测试码四项配置信息，向量生成�？榻邮盏降挠氪シ⑵髁闯ざ认嗤牟馐月胧涑鲋链シ⑵髁词菔淙攵丝冢瓿啥允肿ㄓ眉傻缏返某跏贾梦唬蛄可赡？楦莶馐阅Ｊ讲植馐韵蛄浚迸渲玫牟馐阅Ｊ轿馐裕蛄可赡？榱蒒个与触发器链长度相同的测试码(0或1)输出至触发器链数据输入端口，当配置的测试模式为静态测试，向量生成模块生成一个与触发器链长度相同的测试码输出至触发器链数据输入端口，N为自然数；同时向量生成�？楦菖渲玫氖敝悠德什敝油叫藕攀涑鲋帘哐丶觳饽？�、电平检测�？�、错误帧缓存�？楹褪肿ㄓ眉傻缏方惺敝油健Ｍ�2说明了边沿检测�？榈氖迪至鞒掏迹糜布枋鯤DL语言程序实现。接收模式选择�？榕渲玫氖肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁闯ざ�、测试模式和测试码三项配置信息；打开辐照源开始辐照粒子，边沿检测�？楦莶馐阅Ｊ浇斜哐丶觳猓艚邮盏牟馐阅Ｊ轿馐裕粑馐裕诿扛鐾绞敝有藕诺南陆笛乩戳偈倍寥∈肿ㄓ眉傻缏返拇シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄浚シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄坑肱渲玫牟馐月虢斜冉希舳卟灰恢略虮哐丶觳饧剖髦导�1，若二者一致则边沿检测计数器值不变，判断传输协议模块是否发来结束的命令，若是辐照源关闭，结束比较，若否等待下一个同步时钟下降沿继续比较；若为静态测试，向量生成�？榻潭ǖ缙�1给数字专用集成电路的时钟端口将时钟信号停止，打开辐照源开始辐照粒子，累计辐照粒子达到标准后停止辐照，读取触发器链数据输出端口的输出向量，读取的输出向量长度与配置的触发器链长度相同， 将触发器链数据输出端口的输出向量与配置的测试码进行比较，若二者不一致则将不一致的个数赋予边沿检测计数器，若二者相一致，则边沿检测计数器值记为零，接收传输协议�？榉⒗唇崾拿睿蛄可赡？榛指赐绞敝有藕牛臣票哐丶觳獾拇砦笫⒎⒒卮砦笫骺丶扑慊�。图3说明了电平检测�？榈氖迪至鞒掏迹糜布枋鯤DL语言程序实现。接收模式选择�？榕渲玫氖肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁闯ざ�、测试模式和测试码三项配置信息；打开辐照源开始辐照粒子，电平检测�？楦莶馐阅Ｊ浇械缙郊觳猓艚邮盏牟馐阅Ｊ轿馐裕诿扛鍪敝油叫藕诺南陆笛氐缙郊觳饽？槎寥〈シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄浚渲械谝桓鍪敝又芷诖シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄坑肱渲玫牟馐月虢斜冉希� 其余时钟周期将本时钟周期触发器链数据输出端口的输出向量与上一时钟周期触发器链数据输出端口的输出向量进行比较(比较完毕后缓存当前时钟周期输出端口的测试向量以备下一个时钟周期比较)，若二者不一致则电平检测计数器值加1，若二者相一致则电平检测计数器值不变，判断传输协议�？槭欠穹⒗唇崾拿睿羰欠赵垂乇眨崾冉希� 若否等待下一个同步时钟下降沿继续比较；若为静态测试，向量生成�？榻潭ǖ缙�1给数字专用集成电路的时钟端口将时钟信号停止，打开辐照源开始辐照粒子，累计辐照粒子达到标准后停止辐照，在单粒子辐照完成后读取触发器链数据输出端口的输出向量，读取的输出向量长度与配置的触发器链长度相同，电平检测计数器记录触发器链数据输出端口输出向量中电平跳变的次数，接收传输协议�？榉⒗唇崾拿睿蛄可赡？榛指赐绞敝有藕牛臣频缙奖浠问次缙郊觳獯砦笫⒎⒒馗么砦笾蹈骺丶扑慊�。图4说明了错误帧缓存�？榈氖迪至鞒掏迹糜布枋鯤DL语言程序实现。错误帧缓存�？橹辉谘≡窳硕馐阅Ｊ较虏沤泄ぷ鳎蔡馐阅Ｊ较虏还ぷ�。打开辐照源开始辐照粒子，在每个时钟同步信号的下降沿错误帧缓存�？榛捍娲シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄浚捍娴氖涑鱿蛄砍ざ扔肱渲玫拇シ⑵髁闯ざ认嗤扛鲇氪シ⑵髁闯ざ认嗤氖涑鱿蛄课恢。艋捍娴氖涑鱿蛄恐杏幸晃皇萦肱渲玫牟馐月氩煌蚪砦笾”曛疚簧柚梦�1，并将错误帧数据存储至存储器件中，辐照结束后通过传输协议�？榻砦笾∈菔涑鲋林骺丶扑慊艋捍娴氖涑鱿蛄恐忻恳晃皇菥肱渲玫牟馐月胂嗤蚪砦笾”曛疚簧柚梦�0。。图5举例说明了一个错误帧缓存的实例。假设某款待测芯片中的触发器链长为N， 那么每帧的长度也定义为N，在动态测试的过程中，不断缓存刷新触发器数据输出端一帧的数据，帧序1 X-I的各帧数据无误，错误帧标志位为0，不保存这些帧的数据，帧序X的帧数据第3位有误，错误帧标志位为1，保存当前帧数据至外部存储器，同时可以判定标号为 3的触发器发生了一次单粒子翻转，以此类推，即可以精确地统计出每个触发器的单粒子翻转错误率。辐照过程中，传输协议�？槭凳钡亟哐丶觳饧剖鞯闹岛偷缙郊觳饧剖鞯闹捣⒒刂骺丶扑慊骺丶扑慊荼４婕锹迹倍淌奔淠诒哐丶觳饧剖髟黾又翟洞笥诘缙郊觳饧剖髟黾又�(例如10个时钟周期内大于N/10倍)，可以判断为时钟电路单粒子翻转造成的大量触发器翻转，反之为正常大量的触发器单粒子翻转，结合错误帧数据还可以定位单粒子敏感时钟电路或触发器编号。辐照结束后，错误帧数据通过传输协议�？榉⒒刂骺丶扑慊梢酝臣拼砦笾∈葜忻扛龃シ⑵�(1 N)的错误率(错误率=错误数/辐照粒子数)。本发明未详细说明部分属本领域技术人员公知常识。
权利要求
1.一种检测数字专用集成电路中触发器单粒子效应的系统，其特征在于包括主控计算机、可编程逻辑器件、存储器件、传输协议器件；其中可编程逻辑器件由模式选择�？�、向量生成�？�、边沿检测�？�、电平检测�？�、错误帧缓存�？楹痛湫槟？樽槌桑恢骺丶扑慊刂瓶杀喑搪呒骷脑诵校邮湛杀喑搪呒骷觳獾降谋哐丶觳饧剖髦�、电平检测计数器值和错误帧数据； 存储器件，缓存错误帧数据；传输协议器件，完成主控计算机和可编程逻辑器件通讯传输； 传输协议�？椋瓿煽杀喑搪呒骷痛湫槠骷耐ㄑ洞洌� 模式选择�？椋邮罩骺丶扑慊目刂浦噶畈敝悠德�、数字专用集成电路触发器链长度、测试模式和测试码四项配置信息，并利用四项配置信息对向量生成�？�、边沿检测�？椤⒌缙郊觳饽？椤⒋砦笾』捍婺？榻信渲茫幌蛄可赡？椋菽Ｊ窖≡衲？榕渲玫乃南钆渲眯畔⒉植馐韵蛄渴涑鲋潦肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁词菔淙攵丝冢菽Ｊ窖≡衲？榕渲玫氖敝悠德什敝油叫藕攀涑鲋帘哐丶觳饽？�、电平检测模块和错误帧缓存�？榻惺敝油剑槐哐丶觳饽？椋菽Ｊ窖≡衲？榕渲玫氖肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁闯ざ取⒉馐阅Ｊ胶筒馐月肴钆渲眯畔⒍允肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄拷斜哐丶觳獾玫奖哐丶觳饧剖髦担哐丶觳饧剖髦低ü湫槟？槭涑鲋林骺丶扑慊坏缙郊觳饽？椋菽Ｊ窖≡衲？榕渲玫氖肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁闯ざ�、测试模式和测试码三项配置信息对数字专用集成电路触发器链数据输出端口的输出向量进行电平检测得到电平检测计数器值，电平检测计数器值通过传输协议模块输出至主控计算机；错误帧缓存�？椋菽Ｊ窖≡衲？榕渲玫氖肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁闯ざ群筒馐月肓较钆渲眯畔⒍允肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄拷写砦笾〖觳獾玫酱砦笾∈荩砦笾∈莼捍嬖诖娲⑵骷胁⑼ü湫槟？槭涑鲋林骺丶扑慊�。
2.根据权利要求1所述的一种检测数字专用集成电路中触发器单粒子效应的系统，其特征在于所述向量生成�？榈墓ぷ鞴涛�(1)接收模式选择�？榕渲玫氖敝悠德�、数字专用集成电路触发器链长度、测试模式和测试码四项配置信息；(2)向量生成模块将接收到的与触发器链长度相同的测试码输出至触发器链数据输入端口，完成对数字专用集成电路的初始置位；(3)向量生成�？楦莶馐阅Ｊ讲植馐韵蛄浚迸渲玫牟馐阅Ｊ轿馐裕蛄可赡？榱蒒个与触发器链长度相同的测试码输出至触发器链数据输入端口，当配置的测试模式为静态测试，向量生成�？樯梢桓鲇氪シ⑵髁闯ざ认嗤牟馐月胧涑鲋链シ⑵髁词菔淙攵丝冢琋为自然数；同时向量生成�？楦菖渲玫氖敝悠德什敝油叫藕攀涑鲋帘哐丶觳饽？�、电平检测�？椤⒋砦笾』捍婺？楹褪肿ㄓ眉傻缏方惺敝油�。
3.根据权利要求1所述的一种检测数字专用集成电路中触发器单粒子效应的系统，其特征在于所述边沿检测�？榈墓ぷ鞴涛�(1)接收模式选择�？榕渲玫氖肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁闯ざ�、测试模式和测试码三项配置信息；(2)边沿检测�？楦莶馐阅Ｊ浇斜哐丶觳猓艚邮盏牟馐阅Ｊ轿馐裕蛟诿扛鍪敝油叫藕诺南陆笛乇哐丶觳饽？槎寥〈シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄浚シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄坑肱渲玫牟馐月虢斜冉希舳卟灰恢略虮哐丶觳饧剖髦导�1，若二者一致则边沿检测计数器值不变；若接收的测试模式为静态测试，则在单粒子辐照完成后读取触发器链数据输出端口的输出向量，读取的输出向量长度与配置的触发器链长度相同，将触发器链数据输出端口的输出向量与配置的测试码进行比较，若二者不一致则将不一致的个数赋予边沿检测计数器，若二者相一致，则边沿检测计数器值记为零；(3)将边沿检测计数器值通过传输协议�？槭涑鲋林骺丶扑慊�
4.根据权利要求1所述的一种检测数字专用集成电路中触发器单粒子效应的系统，其特征在于所述电平检测�？榈墓ぷ鞴涛�(1)接收模式选择�？榕渲玫氖肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁闯ざ�、测试模式和测试码三项配置信息；(2)电平检测�？楦莶馐阅Ｊ浇械缙郊觳猓艚邮盏牟馐阅Ｊ轿馐裕蛟诿扛鍪敝油叫藕诺南陆笛氐缙郊觳饽？槎寥〈シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄浚渲械谝桓鍪敝又芷诖シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄坑肱渲玫牟馐月虢斜冉希溆嗍敝又芷诮臼敝又芷诖シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄坑肷弦皇敝又芷诖シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄拷斜冉希舳卟灰恢略虻缙郊觳饧剖髦导�1，若二者相一致则电平检测计数器值不变；若接收的测试模式为静态测试，则在单粒子辐照完成后读取触发器链数据输出端口的输出向量，读取的输出向量长度与配置的触发器链长度相同，电平检测计数器记录触发器链数据输出端口输出向量中电平跳变的次数；(3)将电平检测计数器值通过传输协议模块输出至主控计算机。
5.根据权利要求1所述的一种检测数字专用集成电路中触发器单粒子效应的系统，其特征在于所述错误帧缓存�？榈墓ぷ鞴涛�(1)接收模式选择�？榕渲玫氖肿ㄓ眉傻缏反シ⑵髁闯ざ群筒馐月肓较钆渲眯畔ⅲ�(2)在每个时钟同步信号的下降沿错误帧缓存�？榛捍娲シ⑵髁词菔涑龆丝诘氖涑鱿蛄浚捍娴氖涑鱿蛄砍ざ扔肱渲玫拇シ⑵髁闯ざ认嗤艋捍娴氖涑鱿蛄恐杏幸晃皇萦肱渲玫牟馐月氩煌蚪砦笾”曛疚簧柚梦�1，并将错误帧数据存储至存储器件中，待单粒子辐照完成后通过传输协议�？榻砦笾∈菔涑鲋林骺丶扑慊艋捍娴氖涑鱿蛄恐忻恳晃皇菥肱渲玫牟馐月胂嗤蚪砦笾”曛疚簧柚梦�0。
全文摘要
本发明公开了一种检测数字专用集成电路中触发器单粒子效应的系统，包括主控计算机、可编程逻辑器件、存储器件、传输协议器件；其中可编程逻辑器件由模式选择�？�、向量生成�？�、边沿检测�？�、电平检测模块、错误帧缓存�？楹痛湫槟？樽槌�。本发明能够有效区分时钟电路单粒子翻转造成的大量触发器翻转与正常大量的触发器单粒子翻转现象，同时结合错误帧缓存�？榈谋４媸荩返赝臣瞥雒扛龃シ⑵鞯牡チＷ臃砦舐�。本发明系统组成简单，检测精度高。
文档编号G01R31/303GK102262212SQ20111009240
公开日2011年11月30日 申请日期2011年4月13日 优先权日2011年4月13日
发明者于春青, 刘立全, 岳素格, 杜守刚, 杨晓飞, 江军, 祝长民, 范隆, 董攀, 贾海涛, 郑宏超 申请人:中国航天科技集团公司第九研究院第七七二研究所, 北京时代民芯科技有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
