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专利名称：线路检测模组以及具有该线路侦测模组的测试治具的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种线路检测模组，尤其涉及一种用以检测LED的外部线路连接是否正常的线路检测模组及具有该线路检测模组的测试治具。
背景技术：
发光二极管(Light-Emitting Diode, LED)作为一种新型的发光体，由于电光效率高、体积小、寿命长、节能环保而在各类电子产品中得到广泛的应用。半导体发光二极管最广泛的应用为通过其点亮或者熄灭来指示电子产品的不同工作状态。因此，发光二极管应用到电子装置上时，应确认该发光二极管的外部线路连接是否能够正常导通而点亮，从而防止由于线路连接故障等LED本身质量之外的问题导致其不能点亮而影响指示结果。现有的一种发光二极管线路检测方法是通过肉眼观察LED是否能点亮来相应判断线路是否良好。该种作业方法很可能由于长期的视觉疲劳而造成误判，准确率较低。另一种发光二极管线路检测方法是通过LED检测仪来测试LED的频率、色温等等参数来判断LED线路是否良好。然而，该种LED测试仪的成本较高，不利于大批量的LED的线路测试。

发明内容
有鉴于此，有必要提供一种准确度较高且成本较低的线路检测模组。另，还有必要提供一种具有上述线路检测模组的测试治具。一种线路检测模组，用以检测发光二极管的外部线路是否能够正常导通，所述线路检测模组包括一至少逻辑单元及一锁存电路，所述逻辑单元的两输入端分别连接至发光二极管的正极、负极，输出端连接至锁存电路，所述逻辑单元对应对应发光二极管的导通输出一信号至锁存电路，以触发锁存电路锁存一对应该发光二极管外部线路导通的状态，以便测试者通过锁存电路锁存的状态确认发光二极管的外部线路导通。一种测试治具，用以检测发光二极管的外部线路是否能够正常导通，该测试治具包括连接组件以及线路测试模组，所述线路测试模组包括至少一个逻辑单元以及一锁存电路，所述每一逻辑单元的两输入端分别通过连接组件连接至一发光二极管的正极、负极，并对应连接的发光二极管的导通产生一高电平信号，且当所有逻辑单元均产生一高电平信号时，将触发锁存电路锁存一对应所有发光二极管的外部线路均导通的状态，以便测试者通过锁存电路锁存的状态确认测试的所有发光二极管的外部线路均导通。与现有技术相比，本发明的测试治具可测量单个发光二极管的线路，也可同时测量电子产品内的多个发光二极管的外部线路连接是否均导通，测试效率高。另外，该测试治具还设置一锁存电路，用以锁存测试通过时此时锁存芯片的状态，使得即使电子产品内的发光二极管的外部线路状态切换快速，也可通过锁存芯片锁存的状态准确的辨认出所述发光二极管的外部线路是否能够正常导通，准确度较高，也无需额外购置测试仪，成本较低。


图1为本发明实施方式提供的线路测试模组的电路原理图。图2为具有图1所示的线路测试模组的测试治具的电路原理图。主要元件符号说明
权利要求
1.一种线路检测模组，用以检测发光二极管的外部线路是否能够正常导通，其特征在于所述线路检测模组包括至少一逻辑单元及一锁存电路，所述逻辑单元的两输入端分别连接至发光二极管的正极、负极，输出端连接至锁存电路，所述逻辑单元对应发光二极管的导通输出一信号至锁存电路，以触发锁存电路锁存一对应该发光二极管外部线路导通的状态，以便测试者通过锁存电路锁存的状态确认发光二极管的外部线路导通。
2.如权利要求1所述的线路检测模组，其特征在于所述逻辑单元为一异或门。
3.如权利要求2所述的线路检测模组，其特征在于所述发光二极管导通，输入两个不同信号至逻辑单元的两输入端，并通过逻辑单元运算输出一高电平信号至锁存电路，锁存电路对应接收到的高电平信号输出一高电平信号，并锁存该输出高电平信号的状态。
4.如权利要求3所述的线路检测模组，其特征在于所述锁存电路包括锁存芯片以及输出接口，所述锁存芯片连接至逻辑单元的输出端，所述输出接口连接至锁存芯片，所述锁存电路通过锁存芯片锁存所述输出高电平信号的状态，以触发连接至该输出端口的现有的指示装置指示测试的发光二极管的外部线路正常导通。
5.一种测试治具，用以检测发光二极管的外部线路是否能够正常导通，该测试治具包括连接组件，其特征在于所述测试治具还包括线路检测模组，所述线路检测模组包括至少一个逻辑单元以及一锁存电路，所述每一逻辑单元的两输入端分别通过连接组件连接至一发光二极管的正极、负极，并对应连接的发光二极管的导通产生一高电平信号，且当所有逻辑单元均产生一高电平信号时，将触发锁存电路锁存一对应所有发光二极管的外部线路均导通的状态，以便测试者通过锁存电路锁存的状态确认测试的所有发光二极管的外部线路均导通。
6.如权利要求5所述的测试治具，其特征在于所述测试治具还包括一逻辑运算模组，所述逻辑运算模组电连接于每一逻辑单元的输出端以及锁存电路之间，用以接收所有逻辑单元输出的信号，并对应所有逻辑单元均输出的高电平信号对应输出一高电平信号至锁存电路，锁存电路对应接收到的高电平信号输出一高电平信号，并锁存该输出高电平信号的状态。
7.如权利要求6所述的测试治具，其特征在于所述逻辑运算模组包括若干个逻辑与门，所述每一逻辑单元输出的信号分别连接至一逻辑与门的输入端，经过该逻辑与门运算后再输入至另一逻辑与门的输入端，直至所有逻辑单元输出的多个信号经过若干个逻辑与门运算后最终仅输出一个信号，锁存电路根据该最终输出的信号是否由低电位变为高电位来锁存所述状态。
8.如权利要求7所述的测试治具，其特征在于所述锁存电路包括锁存芯片以及输出接口，所述锁存芯片连接至逻辑运算模组的输出端，所述输出接口连接至锁存芯片，所述锁存电路通过锁存芯片锁存所述输出高电平信号的状态，以触发连接至该输出端口的现有的指示装置指示测试的所有发光二极管的外部线路均正常导通。
9.如权利要求6所述的测试治具，其特征在于所述测试治具还包括控制模组，所述控制模组连接至逻辑单元的输出端，用于当该测试治具检测的发光二极管的数量较少而使部分逻辑单元闲置时，将该闲置的逻辑单元输出端置高电位而发送一高电平信号至逻辑运算模组。
10.如权利要求9所述的测试治具，其特征在于所述控制模组包括开关以及若干电阻，所述开关的一侧引脚分别通过一电阻连接至电源而置为高电位，另一侧引脚分别连接 至一逻辑单元的输出端，作动开关使对应闲置的逻辑单元的两侧引脚连通，以将闲置的逻辑单元的输出端置为高电位。
全文摘要
一种线路检测模组，用以检测发光二极管的外部线路是否能够正常导通，所述线路检测模组包括一至少逻辑单元及一锁存电路，所述逻辑单元的两输入端分别连接至发光二极管的正极、负极，输出端连接至锁存电路，所述逻辑单元对应对应发光二极管的导通输出一信号至锁存电路，以触发锁存电路锁存一对应该发光二极管外部线路导通的状态，以便测试者通过锁存电路锁存的状态确认发光二极管的外部线路导通。本发明还提供一种具有上述线路检测模组的测试治具。
文档编号G01R31/02GK103018613SQ20111028169
公开日2013年4月3日 申请日期2011年9月21日 优先权日2011年9月21日
发明者陈雄志, 古松国 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司