专利名称：用于x射线荧光检测预富集制样的抽滤滤杯的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种抽滤所用的滤杯，具体涉及一种适合用于X射线荧光检测预富集制样的抽滤滤杯。
背景技术：
现有报道χ-射线荧光法(XRF)检测贵金属的方法，一般采用熔融法，直接将固体样品制成熔片，不仅设备和试剂成本高，且操作要求高，费时费力。同时，采用常规熔融法、 压片法制样来检测贵金属，由于方法检出限高，限制了 X-射线荧光法在痕量贵金属检测方面的应用。将贵金属预先富集制成薄样，用XRF检测时，能够克服X射线荧光光谱法检测贵金属样品时，采用常规制样方法检出限较高及难以进行含痕量金属的液体样品检测问题。 但是预富集过程中采用目前现有的滤杯进行抽滤时，由于溶液体系对附着在滤膜上的富集产物的冲击力较大，使富集产物附着不均勻，表面不平整，不利于后续XRF检测的准确性。
发明内容本实用新型的目的在于提供一种用于X射线荧光检测预富集制样的抽滤滤杯，所用滤杯可以减小溶液体系对富集产物的冲击力，使富集产物表面更平整，且使其更加均勻地集中到X射线荧光检测的测量面积内，有利于检测的准确性。为实现上述目的，本实用新型所采用的技术方案是一种用于X射线荧光检测预富集制样的抽滤滤杯，所述滤杯由中空的上部杯体和下部杯体构成且两端开口，上部杯体任一处的横截面为圆形，从上部杯体的顶端开口到上部杯体的底端开口的横截面直径逐渐减�。虏勘宄试餐沧矗虏勘宓亩ザ丝谟肷喜勘宓牡锥丝谥本断嗟龋虏勘宓亩ザ丝谟肷喜勘宓牡锥丝诹邮股喜勘逵胂虏勘逍纬梢惶�。而且，上部杯体的纵截面的边缘呈弧形。而且，上部杯体的纵截面呈倒置的梯形。而且，下部杯体的横截面的面积不超过X射线荧光的测量面积。而且，下部杯体的底端开口为磨口。本实用新型具有以下优点本实用新型提供的滤杯由于上部杯体的横截面面积逐渐减小，当用于在X射线荧光检测预富集制样过程中对富集产物进行抽滤时，使溶液体系沿滤杯杯壁的流速得以缓冲，减小了对已经附着在微孔滤膜上的富集产物的冲击，使富集产物更加均勻，此外，下部杯体的横截面面积小于X射线荧光的测量面积，从而使富集产物能够集中到测试面积范围内，有利于检测的准确性。
图1为本实用新型提供的一种滤杯的整体结构示意图；图2为本实用新型提供的另一种滤杯的整体结构示意图；[0013]上述图中，1 上部杯体；2 下部杯体；3 上部杯体的顶端开口 ；4 下部杯体的底
端开口。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型提供的滤杯作进一步的说明。实施例1本实用新型提供的一种用于X射线荧光检测预富集制样的抽滤滤杯的结构如图1 所示，所述滤杯由中空的上部杯体1和下部杯体2构成且两端开口(图1中以虚线示意，虚线以上的部分表示上部杯体1，虚线以下的部分表示下部杯体幻，上部杯体1的任一处的横截面为圆形，从上部杯体的顶端开口 3到上部杯体的底端开口的横截面直径逐渐减�。臼凳├猩喜勘�1的纵截面的边缘呈弧形。下部杯体2呈圆筒状，下部杯体的顶端开口与上部杯体的底端开口直径相等，下部杯体的顶端开口与上部杯体的底端开口连接使上部杯体与下部杯体形成一体，下部杯体2的横截面的面积不超过X射线荧光的测量面积，下部杯体的底端开口 4为磨口。实施例2图2所示为本实用新型提供的另一种用于X射线荧光检测预富集制样的抽滤滤杯的结构，所述滤杯由中空的上部杯体1和下部杯体2构成且两端开口(图1中以虚线示意， 虚线以上的部分表示上部杯体1，虚线以下的部分表示下部杯体幻，上部杯体1的任一处的横截面为圆形，从上部杯体的顶端开口 3到上部杯体的底端开口的横截面直径逐渐减�。� 本实施例中上部杯体1的纵截面呈倒置的梯形。下部杯体2呈圆筒状，下部杯体的顶端开口与上部杯体的底端开口直径相等，下部杯体的顶端开口与上部杯体的底端开口连接使上部杯体与下部杯体形成一体，下部杯体2的横截面的面积不超过X射线荧光的测量面积，下部杯体的底端开口 4为磨口。本实用新型的滤杯在用于抽滤时，将下部杯体的底端开口 4朝下平放于砂芯上部即可抽滤。由于上部杯体的横截面直径逐渐减小，抽滤时，使溶液体系沿滤杯杯壁的流速得以缓冲，减小了对已经富集在水系微孔滤膜上的样品的冲击力，使富集产物更加均勻、平整，此外，由于下部杯体的横截面面积不超过X射线荧光的测量面积，使富集产物能够集中到测试面积范围内，有利于后续进行XRF测试的准确性。
权利要求1.一种用于X射线荧光检测预富集制样的抽滤滤杯，其特征在于所述滤杯由中空的上部杯体和下部杯体构成且两端开口，上部杯体任一处的横截面为圆形，从上部杯体的顶端开口到上部杯体的底端开口的横截面直径逐渐减�。虏勘宄试餐沧矗虏勘宓亩ザ丝谟肷喜勘宓牡锥丝谥本断嗟龋虏勘宓亩ザ丝谟肷喜勘宓牡锥丝诹邮股喜勘逵胂虏勘逍纬梢惶�。
2.根据权利要求1所述的抽滤滤杯，其特征在于上部杯体的纵截面的边缘呈弧形。
3.根据权利要求1所述的抽滤滤杯，其特征在于上部杯体的纵截面呈倒置的梯形。
4.根据权利要求1所述的抽滤滤杯，其特征在于下部杯体的横截面的面积不超过X 射线荧光的测量面积。
5.根据权利要求1或4所述的抽滤滤杯，其特征在于下部杯体的底端开口为磨口。
专利摘要本实用新型公开了一种用于X射线荧光检测预富集的抽滤滤杯。所述滤杯由中空的上部杯体和下部杯体构成且两端开口，上部杯体任一处的横截面为圆形，从上部杯体的顶端开口到上部杯体的底端开口的横截面直径逐渐减�。虏勘宄试餐沧矗虏勘宓亩ザ丝谟肷喜勘宓牡锥丝谥本断嗟龋虏勘宓亩ザ丝谟肷喜勘宓牡锥丝诹邮股喜勘逵胂虏勘逍纬梢惶�。本实用新型提供的滤杯用于在预富集过程中进行抽滤时，减小了溶液体系对富集产物的冲击，使富集样品更加均匀地集中到X射线荧光的测量面积范围内，有利于检测的准确性。
文档编号G01N23/223GK202075164SQ20112014512
公开日2011年12月14日 申请日期2011年5月10日 优先权日2011年5月10日
发明者宋虎跃, 朱园园, 汤志勇, 邱海鸥, �：樘� 申请人:中国地质大学(武汉)
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