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专利名称：一种测试夹具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电子技术领域，尤其涉及一种测试夹具。
背景技术：
随着电子技术日新月异的发展，在不同电子产品中各种贴片元器件的应用范围非常广泛，例如贴片电阻、贴片电容、贴片电感等。为了保证这些贴片元器件的正确使用，对它们进行性能或参数测试显得十分必要，而测试过程中采用正确、适用的测试夹具是一个关键环节。因为用途和功能的不同，电子产品中往往需要使用不同封装尺寸的贴片元器件，但发明人在发明过程中，发现目前大部分测试夹具是固定不变的，同一种测试夹具只能测试同一种规格的贴片元器件，即需要使用不同的测试夹具测试不同封装尺寸的元器件，不能实现兼容测试，这就在很大程度上降低了测试效率、提高了测试成本。

实用新型内容本实用新型提供一种测试夹具，用于解决现有技术中需要使用不同的测试夹具测试不同封装尺寸的元器件的问题，实现兼容测试，进而提高了测试效率，降低了测试成本。本实用新型实施例提供了一种测试夹具，具体包括测试载台部，上表面开设有一放置槽，在所述放置槽两端分别固定设置有千分头及固定杆；壳座部，开设有与所述测试载台部对应的第一通孔，通过所述第一通孔，所述测试载台部安设在所述壳座部上；第一探针结构及第二探针结构，所述第一探针结构及第二探针结构分别包括有一个探针，所述第一探针结构及第二探针结构分别设置在所述测试载台部两侧，并固定在所述壳座部上；其中，在测试时，将贴片器件放置于所述放置槽内，调节所述千分头，使得两个探针对准贴片器件的两侧面电极中心位置。如上所述的测试夹具,所述壳座部还包括第一固定片及第二固定片，通过所述第一固定片及第二固定片将所述第一探针结构及第二探针结构固定在所述测试载台部两侧；在每个固定片上开设有定位孔。如上所述的测试夹具，所述第一探针结构及第二探针结构，还包括第一定位杆及第二定位杆，其第一端通过所述定位孔与所述第一固定片及第二固定片连接；第一定位滑块及第二定位滑块,与所述第一定位杆及第二定位杆的第二端固定连接。如上所述的测试夹具,所述壳座部,还包括与所述第一探针结构对应的第二通孔，以及与所述第二探针结构对应的第三通孔；其中，所述第一定位滑块卡在所述第二通孔内，所述第二定位滑块卡在所述第三通孔内。如上所述的测试夹具，所述放置槽具体为一 V型槽，槽口两平面间夹角为90度到100 度。如上所述的测试夹具，在所述第一定位杆及第二定位杆上穿套一个弹簧，使得所述探针平稳对准所述贴片器件。如上所述的测试夹具，在所述壳座部设置有母信号线引出端，在所述定位滑块下方设置有公信号线引出端，使得所述探针在所述定位滑块内部与所述母信号线引出端相连接。如上所述的测试夹具，所述第一定位滑块及第二定位滑块呈倒凸形，扣在所述第二通孔及所述第三通孔内实现左右水平方向滑动。 如上所述的测试夹具，所述测试夹具还包括一盖子；所述盖子由透明材质制成；其中，所述盖子下边沿设有凹槽，使其扣在所述壳座部上方。如上所述的测试夹具，所述探针、所述测试载台由惰性硬质材料制成。本实用新型提供的测试夹具，通过以上实施例，具有以下有益技术效果或者优
占-
^ \\\ 由于该测试夹具测试载台部通过千分头的调节，可以上下垂直滑动，因此可以根据贴片元器件的尺寸大小对载台进行上下调节，使得放在载台中间的V型槽中的能够被测试探针对准；由于该测试夹具探针部设计了定位滑块，可以带动测试探针在水平方向左右滑动，同时在定位杆上穿套弹簧，使得测试探针在弹簧的弹力作用下能够平稳的对准贴片元器件的两侧面电极中心位置，提高了测试的准确度；由于该测试夹具能够实现上下和左右的滑动，因此，可以实现用同一个测试夹具测试不同规格的元器件，提高了测试效率，降低了测试成本。

图I为本实用新型实施例提供的测试夹具的整体结构图；图2为本实用新型实施例提供的测试夹具的具体结构图；图3为本实用新型实施例提供的测试夹具的第一探针结构的具体结构图；图4为为本实用新型实施例提供的测试夹具的第二探针结构的具体结构图；图5为本实用新型实施例提供的测试夹具的测试载台部的具体结构图；图6为本实用新型实施例提供的测试夹具的盖子的具体结构图。
具体实施方式
本实用新型提供一种测试夹具，用于解决现有技术中需要使用不同的测试夹具测试不同封装尺寸的元器件的问题，实现兼容测试，进而提高了测试效率，降低了测试成本。下面将结合附图以及实施例来对上述方案进行详细的阐述和说明。本实用新型提供了一种测试夹具，如图I所示，具体包括[0038]测试载台部30，上表面开设有一放置槽，在所述放置槽两端分别固定设置有千分头及固定杆；壳座部10，开设有与所述测试载台部对应的第一通孔，通过所述第一通孔，所述测试载台部安设在所述壳座部上；第一探针结构20a及第二探针结构20b，所述第一探针结构及第二探针结构分别包括有一个探针，所述第一探针结构及第二探针结构分别设置在所述测试载台部两侧，并固定在所述壳座部上；其中，在测试时，将贴片器件放置于所述放置槽内，调节所述千分头，使得两个探针对准贴片器件的两侧面电极中心位置。请参考图2、图3、图4、图5以及图6，在实际应用过程中，本实用新型实施例一提供的测试夹具可以按照以下设计
·[0043]壳座部10,如图2所示,包括上面板101 ;在所述上面板形成有第一通孔IOla ;本实用新型将第一通孔设计成长方形通孔，当然也可以根据实际应用情况设计成不同形状的通孔。第一固定片102a及第二固定片102b通过第一固定片及第二固定片将第一探针结构20a及第二探针结构20b固定在测试载台部30两侧；在每个固定片上开设有定位孔102c。如图2所示，本实用新型设计两个固定片，位于上面板，上面板的左右两端各一个；当然，在实际应用过程中，可以采用左右对称设计，也可以不采用，但是，左右两端最好都设计有固定片，起到平衡固定作用。后面板103，在所述后面板上设置有母信号线引出端103a ;如图2所示，本实用新型设计两个母信号线引出端。第一探针结构20a及第二探针结构20b，如图3和图4所示，包括测试探针201 ;所述第一探针结构及第二探针结构分别包括有一个测试探针，所述第一探针结构及第二探针结构分别设置在测试载台部两侧，并固定在壳座部上；以便在测试时，两支测试探针对准贴片的两侧面电极；其中，所述两个测试探针在内部与所述两个母信号线引出端相连接。第一定位杆202a及第二定位杆202b，其第一端通过所述定位孔102c与所述第一固定片102a及第二固定片102b连接；测试载台部30，如图5所示，镶嵌于所述第一通孔内，包括测试载台301，所述测试载台中间位置开有一放置槽301c，在所述放置槽的两端分别固定设置有固定杆302与千分头303 ；其中，固定杆302，与所述壳座部的下面板固定连接，所述固定杆通过所述第一通孔上下垂直移动；千分头303，包括测微螺杆303a，固定套管303b以及微分筒303c ;测微螺杆固定连接在壳座部的下面板上；固定套管穿套于测微螺杆，并与测试载台固定连接；微分筒穿套于固定套管，以实现在扭力作用下扭动微分筒，使测微螺杆上下垂直移动；本实用新型实施例一提供的测试夹具的工作原理如下所述在测试之前，将所述贴片器件放置于测试载台中间的放置槽内，调节微分筒，微分筒在扭力作用下扭动，使得测微螺杆上下垂直滑动，调整到使两支测试探针对准贴片器件的两侧面电极中心位置时即可，然后将信号线插入母信号线引出端，连接测试仪器，即可开始测试。本实用新型实施例二提供的测试夹具，在上述的测试夹具的基础上，如图2所示，其壳座部10还包括与所述第一探针结构对应的第二通孔101b，以及与所述第二探针结构对应的第三通孔IOlc ；其第一探针结构20a及第二探针结构20b，还包括第一定位滑块203a及第二定位滑块203b，与第一定位杆及第二定位杆的第二端固定连接；其中，所述第一定位滑块卡在所述第二通孔内，所述第二定位滑块卡在所述第三通孔内；两个测试探针和第一定位滑块以及第二定位滑块固定连接。通过此设计，使得固定在固定滑块上的测试探针可以随着固定滑块的左右滑动而移动。本实用新型实施例二提供的测试夹具的工作原理如下所述在测试之前，将所述贴片器件放置于测试载台中间的放置槽内，调节微分筒，微分筒在扭力作用下扭动，使得测微螺杆上下垂直滑动，若测试探针没有对准贴片器件的两侧面电极中心位置，通过拨动定位滑块使得测试探针往左或往右移动，调整到使两支测试探针都对准贴片器件的两侧面电极中心位置时即可，然后将测试信号线插入母信号线引出端，连接测试仪器，即可开始测试。进一步的，如上所述的测试夹具，本实用新型将放置槽具体设计为一 V型槽，槽口两平面间夹角为90度到100度，其中95度最优。如上所述的测试夹具，本实用新型在第一定位杆及第二定位杆上穿套一个弹簧204，使得所述测试探针能够在弹簧的支撑力作用下平稳对准贴片器件，提高测试的准确度。如上所述的测试夹具，本实用新型还在定位滑块下方设置有公信号线引出端103b，使得所述测试探针在所述定位滑块内部与所述母信号线引出端相连接。在没有设置定位滑块时，在固定片下方设置公信号线引出端，固定片与定位杆固定连接，测试探针与定位杆固定连接，因此，能够使得测试探针通过定位杆与所述母信号线引出端相连接。如所述的测试夹具，本实用新型将定位滑块设计呈倒凸形，扣在所述第二通孔以及第三通孔内实现左右水平方向滑动。当然，在实际应用过程中，也可以设计成不同的形状，只要可以在第一及第二通孔内滑动连接即可，在此就不再一一赘述。如上所述的测试夹具，所述测试探针、所述测试载台由惰性硬质材料制成，例如聚四氟乙烯等。如图6所示，如上所述的测试夹具，为了保证测试的时候安全起见，本实用新型提供的测试夹具还包括一盖子40 ;所述盖子由透明材质制成；可以直观的观察到测试元器件。其中，在所述盖子下边沿设置有凹槽，使其可以扣在所述壳座部上方。使用本实用新型提供的测试夹具进行测试时，先将测试夹具的信号线引出端通过测试信号线与测试仪器相连接，再将被测元器件置于测试载台的V形槽内，调节千分头的微分筒，可实现被测元器件在垂直方向上的位置调整。将被测元器件调整到合适位置后，再滑动定位滑块，即可将测试探针对准元器件两侧面电极中央位置，随后可以进行测试。接着测 试同一种封装尺寸元器件时，只需要滑动定位滑块，然后放置、取出被测件即可；测试不同封装尺寸的元器件时，可按照上述方法调整测试。这样，采用该夹具可以方便测试各种不同封装尺寸的元器件，而不需要根据封装尺寸不同而采用不同测试夹具，这无疑大大提升了测试效率并降低了测试成本，同时盖子的应用保证了测试的安全性。本实用新型提供的测试夹具，通过以上实施例，具有以下有益技术效果或者优
占-
^ \\\ 由于该测试夹具测试载台可以上下垂直滑动，因此可以根据贴片元器件的尺寸大小对载台进行上下调节，使得放在载台中间的V型槽中的能够被测试探针对准；由于该测试夹具探针部设计了定位滑块，可以带动测试探针在水平方向左右滑动，同时在定位杆上穿套弹簧，使得测试探针在弹簧的弹力作用下能够平稳的对准贴片元器件的两侧面电极中心位置，提高了测试的准确度；由于该测试夹具能够实现上下和左右的滑动，因此，可以实现用同一个测试夹具测试不同规格的元器件，提高了测试效率，降低了测试成本。尽管已描述了本实用新型的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本实用新型范围的所有变更和修改。显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
权利要求1.一种测试夹具，其特征在于，具体包括 测试载台部，上表面开设有一放置槽，在所述放置槽两端分别固定设置有千分头及固定杆; 壳座部，开设有与所述测试载台部对应的第一通孔，通过所述第一通孔，所述测试载台部安设在所述壳座部上； 第一探针结构及第二探针结构，所述第一探针结构及第二探针结构分别包括有一个探针，所述第一探针结构及第二探针结构分别设置在所述测试载台部两侧，并固定在所述壳座部上； 其中，在测试时，将贴片器件放置于所述放置槽内，调节所述千分头，使得两个探针对准贴片器件的两侧面电极中心位置。
2.如权利要求I所述的测试夹具，其特征在于，所述壳座部还包括 第一固定片及第二固定片，通过所述第一固定片及第二固定片将所述第一探针结构及第二探针结构固定在所述测试载台部两侧；在每个固定片上开设有定位孔。
3.如权利要求I所述的测试夹具，其特征在于，所述第一探针结构及第二探针结构，还包括 第一定位杆及第二定位杆，其第一端通过所述定位孔与所述第一固定片及第二固定片连接； 第一定位滑块及第二定位滑块，与所述第一定位杆及第二定位杆的第二端固定连接。
4.如权利要求3所述的测试夹具，其特征在于，所述壳座部，还包括 与所述第一探针结构对应的第二通孔，以及与所述第二探针结构对应的第三通孔；其中，所述第一定位滑块卡在所述第二通孔内，所述第二定位滑块卡在所述第三通孔内。
5.如权利要求I 4任一所述的测试夹具，其特征在于，所述放置槽具体为一V型槽，槽口两平面间夹角为90度到100度。
6.如权利要求3或4所述的测试夹具，其特征在于，在所述第一及第二定位杆上穿套一个弹簧，使得所述探针平稳对准所述贴片器件。
7.如权利要求3所述的测试夹具，其特征在于在所述壳座部设置有母信号线引出端，在所述定位滑块下方设置有公信号线引出端，使得所述探针在所述定位滑块内部与所述母信号线引出端相连接。
8.如权利要求3，4或7任一所述的测试夹具，其特征在于所述第一及第二定位滑块呈倒凸形，扣在所述第二通孔及所述第三通孔内实现左右水平方向滑动。
9.如权利要求I 4任一所述的测试夹具，其特征在于，所述测试夹具还包括 一盖子; 其中，所述盖子由透明材质制成，所述盖子下边沿设有凹槽，使其扣在所述壳座部上方。
10.如权利要求I 4任一所述的测试夹具，其特征在于，所述探针、所述测试载台由惰性硬质材料制成。
专利摘要本实用新型公开了一种测试夹具，具体包括测试载台部，上表面开设有一放置槽，在所述放置槽两端分别固定设置有千分头及固定杆；壳座部，开设有与所述测试载台部对应的第一通孔，通过所述第一通孔，所述测试载台部安设在所述壳座部上；第一探针结构及第二探针结构，所述第一探针结构及第二探针结构分别包括有一个探针，所述第一探针结构及第二探针结构分别设置在所述测试载台部两侧，并固定在所述壳座部上；其中，在测试时，将贴片器件放置于所述放置槽内，调节所述千分头，使得两个探针对准贴片器件的两侧面电极中心位置。
文档编号G01R1/04GK202421225SQ20112052289
公开日2012年9月5日 申请日期2011年12月14日 优先权日2011年12月14日
发明者高扬 申请人:中兴通讯股份有限公司