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一种tdi红外扫描成像调试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种成像调试装置，具体涉及一种用于TDI长波红外焦平面阵列扫描成像的调试装置。一种TDI红外扫描成像调试装置，包含扫描机构、镜头和探测器装置，其中扫描机构位于TDI红外扫描成像调试装置的最前端，用于扫描信号，在扫描机构后面设置镜头，镜头的后面设置探测器装置。本新型的有益效果是：本申请的调试装置完成了基于对TDI长波红外探测器的成像调试，装置简易、方便调试，并经过试验验证，可将探测器装置部分的技术移值于到产品的设计当中，加快了设计的进度，保证了产品设计的可靠性。同时该装置的设计可用于几种TDI长波红外焦平面探测及其成像电路，拓宽了其使用范围。
【专利说明】一种TDI红外扫描成像调试装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种成像调试装置，具体涉及一种用于TDI长波红外焦平面阵列扫描成像的调试装置。
【背景技术】
[0002]TDI长波红外焦平面阵列一般用于高分辨率红外成像，该类型探测器鉴于其特点多数在系统集成装配后才能开展深入的调试工作，而且若想成清晰的图像需要距离景物几百米或者更远，系统体积重量大调试工作比较麻烦，不方便电路及探测器的调试工作，不利于早期发现电路或者是探测器的使用问题，也不利于深入掌握红外TDI线阵探测器的特点，以便更好的发挥探测器的优势得到更为理想的图像。为满足初期对成像电路各功能的调试及对探测器各指标的深刻理解，研制一适合多款TDI红外焦平面阵列的调试装置，在室内即可完成对电路及探测器的功能及性能的调测试。

【发明内容】

[0003]本实用新型的目的在于提供一种TDI长波红外焦平面探测器成像调试装置
[0004]本新型是这样实现的:一种TDI红外扫描成像调试装置，包含扫描机构、镜头和探测器装置，其中扫描机构位于TDI红外扫描成像调试装置的最前端，用于扫描信号，在扫描机构后面设置镜头，镜头的后面设置探测器装置。
[0005]如上所述的一种TDI红外扫描成像调试装置，其中，扫描机构主要包含电机和摆镜，其中摆镜用于与电机连接，并受电机控制摆动。
[0006]如上所述的一种TDI红外扫描成像调试装置，其中，探测器装置的电路部分含前端探测器、和成像电路，成像电路设置在前端探测器后部，成像电路用于控制前端探测器的探测，并接收前端探测器的探测信号。
[0007]如上所述的一种TDI红外扫描成像调试装置，其中，所述的成像电路包括两路驱动电路和预处理电路，其中两路驱动电路分别对应奇信号和偶信号，驱动电路用于驱动前端探测器。
[0008]如上所述的一种TDI红外扫描成像调试装置，其中，所述的预处理电路包括用于接收外部信号的信号调理，信号调理处理过的信号被发送给AD转换，AD转换的输出信号被发送给外部的扫描控制电路，AD转换的输出信号还被发送给信号预处理模块，信号预处理模块将处理后的信号通过接口芯片发送给外部的红外测试设备。
[0009]如上所述的一种TDI红外扫描成像调试装置，其中，所述的接口芯片包括LVDS接口芯片和RS422接口芯片。
[0010]本新型的有益效果是:本申请的调试装置完成了基于对TDI长波红外探测器的成像调试，装置简易、方便调试，并经过试验验证，可将探测器装置部分的技术移值于到产品的设计当中，加快了设计的进度，保证了产品设计的可靠性。同时该装置的设计可用于几种TDI长波红外焦平面探测及其成像电路，拓宽了其使用范围。【专利附图】

【附图说明】
[0011]图1为红外扫描成像调试装置示意图；
[0012]图2为红外扫描成像系统调试装置详细组成框图；
[0013]图3为红外扫描成像调试装置UG图(需修改为黑白线条图)。
[0014]图中:1.扫描机构、2.镜头、3.探测器装置。
【具体实施方式】
[0015]如图1所示，一种TDI红外扫描成像调试装置，包含扫描机构1、镜头2和探测器装置3,其中扫描机构I位于TDI红外扫描成像调试装置的最前端,用于扫描信号,在扫描机构I后面设置镜头2，镜头2的后面设置探测器装置3。
[0016]如附图2所示，扫描机构I主要包含电机和摆镜，其中摆镜用于与电机连接，并受电机控制摆动。通过摆镜的摆动完成对一定视场内目标的扫描，可通过测试设备对其速度进行控制已满足匹配成像的要求，该装置中扫描摆角可达到±15° ;镜头采用二次成像的方式将景物成像在探测器焦平面上，镜头的设计可满足物距Im到Ikm左右的成像要求。如附图2所示，探测器3装置的电路部分含前端探测器、和成像电路，成像电路设置在前端探测器后部，成像电路用于控制前端探测器的探测，并接收前端探测器的探测信号。
[0017]所述的成像电路包括两路驱动电路和预处理电路，其中两路驱动电路分别对应奇信号和偶信号，驱动电路用于驱动前端探测器。
[0018]所述的预处理电路包括用于接收外部信号的信号调理，信号调理处理过的信号被发送给AD转换，AD转换的输出信号被发送给外部的扫描控制电路，AD转换的输出信号还被发送给信号预处理模块，信号预处理模块将处理后的信号通过接口芯片发送给外部的红外测试设备。
[0019]所述的接口芯片包括LVDS接口芯片和RS422接口芯片。
[0020]成像电路完成提供给探测器相应的偏压和时序，对探测器输出信号进行阻抗匹配及放大，对探测器多通道信号的采集及预处理，预处理包含奇偶合成排序、非均匀性校正及增益控制等，
[0021]探测器3还包括与外部安装环境相适应的安装支架，安装支完成了该类型探测器(分立式斯特林制冷机)的支撑并且具备调焦功能，同时考虑到电路的复杂性，将几种电路集成在支架上，方便了调试。
[0022]图3是该装置的UG图。该实用新型红外扫描成像调试装置经过了试验的验证，满足在成像电路及探测器初期的成像调试问题，取得了很好的效果，为产品的设计提供了基础，并能将其中探测器及其电路部分直接应用到产品设计中。
[0023]本新型装置的使用过程大致如下:采用摆镜扫描的方式，将镜头的图像依次扫描到探测器的焦平面上，通过对扫描机构的同步控制，保证TDI红外探测器的驻留积分时间、信号读出速率与系统扫描速率匹配，通过扫描覆盖横向视场，图像信号经过探测器装置成像电路预处理后传输给测试设备。
【权利要求】
1.一种TDI红外扫描成像调试装置，其特征在于:包含扫描机构(I)、镜头(2)和探测器装置(3)，其中扫描机构(I)位于TDI红外扫描成像调试装置的最前端，用于扫描信号，在扫描机构(I)后面设置镜头(2)，镜头(2)的后面设置探测器装置(3)。
2.如权利要求1所述的一种TDI红外扫描成像调试装置，其特征在于:扫描机构(I)主要包含电机和摆镜，其中摆镜用于与电机连接，并受电机控制摆动。
3.如权利要求2所述的一种TDI红外扫描成像调试装置，其特征在于:探测器装置(3)的电路部分含前端探测器、和成像电路，成像电路设置在前端探测器后部，成像电路用于控制前端探测器的探测，并接收前端探测器的探测信号。
4.如权利要求3所述的一种TDI红外扫描成像调试装置，其特征在于:所述的成像电路包括两路驱动电路和预处理电路，其中两路驱动电路分别对应奇信号和偶信号，驱动电路用于驱动前端探测器。
5.如权利要求4所述的一种TDI红外扫描成像调试装置，其特征在于:所述的预处理电路包括用于接收外部信号的信号调理，信号调理处理过的信号被发送给AD转换，AD转换的输出信号被发送给外部的扫描控制电路，AD转换的输出信号还被发送给信号预处理模块，信号预处理模块将处理后的信号通过接口芯片发送给外部的红外测试设备。
6.如权利要求5所述的一种TDI红外扫描成像调试装置，其特征在于:所述的接口芯片包括LVDS接口芯片和RS422接口芯片。
【文档编号】G01J5/02GK203587223SQ201320347760
【公开日】2014年5月7日 申请日期:2013年6月17日 优先权日:2013年6月17日
【发明者】沈玉秀, 殷国平, 牟健, 范海清, 陶玉, 梁爽 申请人:中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所