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专利名称：小行程漏电测试结构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及小行程漏电测试结构。
背景技术：
现有产品的测试部品采用微动开关，然而微动开关使用寿命短，电气间隙不够，耐压不足，在大电流通过时容易烧坏，容易误触发。因此，现有技术有待于改进。

实用新型内容本实用新型提供小行程漏电测试结构，用于解决现有技术中微动开关使用寿命短，耐压不足，失误率高的问题。为解决上述技术问题，本实用新型实施例提供的小行程漏电测试结构，采用如下技术方案小行程漏电测试结构，其中，包括测试棒、外壳、铭牌、簧片、基板、固定接点板，所述测试棒固定在所述外壳上，所述簧片焊接在所述基板上进行固定；所述固定接点板与所述簧片对应设置。具体地，所述基板上设置有焊盘，所述焊盘与所述簧片尖部对应设置。本实用新型提供的小行程漏电测试结构，结构简单，使用寿命长，电气间隙大，可承受大电流，不容易烧坏，同时避免误触发，测试机构使用寿命可达I万次以上；大大增加电气间隙，远远大于微动开关的电气间隙，且可避免误触发；因电气间隙大，本机构绝缘耐压性能可靠，且在大电流分断时不容易烧坏。

图1为本实用新型实施例所述的小行程漏电测试结构的第I实施例的结构示意图。图2为本实用新型实施例所述的小行程漏电测试结构的第2实施例的结构示意图。
具体实施方式
本实用新型提供的小行程漏电测试结构，结构简单，使用寿命长，电气间隙大，可承受大电流，不容易烧坏，同时避免误触发，测试机构使用寿命可达I万次以上；大大增加电气间隙，远远大于微动开关的电气间隙，且可避免误触发；因电气间隙大，本机构绝缘耐压性能可靠，且在大电流分断时不容易烧坏。
以下结合附图对本实用新型实施例提供给的小行程漏电测试结构进行详细描述。实施例1 :如图1所示，小行程漏电测试结构，其中，包括测试棒1、外壳2、铭牌3、簧片4、基板5、固定接点板6，所述测试棒I固定在所述外壳2上，并采用铭牌进行防水，所述簧片4焊接在所述基板5上进行固定；所述固定接点板6与所述簧片4对应设置。固定接点板给基板供电，将两侧固定接点板(零线及火线)通过簧片进行导通短路，从而使产品脱扣。功能实现方式通过按测试棒使测试簧片与固定接点板接触后产生漏电电流，产品触发脱扣。因为测试簧片的行程放大作用使簧片与固定接点板之间间隙增大，保证了电气间隙，增加了产品安全性能。且因为铭牌保护与外壳的形状使测试棒不容易被误触到而使产品误触发。实施例2:如图2所示，小行程漏电测试结构，其中，包括测试棒1、外壳2、簧片4、基板5、固定接点板6，所述测试棒I固定在所述外壳2上，所述簧片4焊接在所述基板5上进行固定。具体地，所述基板5上设置有焊盘7，所述焊盘7与所述簧片4尖部对应设置。测试棒固定在外壳上；簧片焊接在基板上进行固定；固定接点板给基板供电，将两侧固定接点板(零线及火线)通过簧片进行导通短路，从而使产品脱扣。功能实现方式当测试棒下按时，簧片尖部接触基板焊盘，产品才会触发脱扣。通过簧片形状对簧片与焊盘之间行程放大，增大了焊盘与簧片之间的间隙，增加了产品的安全性能。且因为外壳固定测试棒形状原因，必须使用细小的物体按测试棒，产品才能继续触发脱扣，避免产品误触发。本实用新型提供的小行程漏电测试结构，结构简单，使用寿命长，电气间隙大，可承受大电流，不容易烧坏，同时避免误触发，测试机构使用寿命可达I万次以上；大大增加电气间隙，远远大于微动开关的电气间隙，且可避免误触发；因电气间隙大，本机构绝缘耐压性能可靠，且在大电流分断时不容易烧坏。以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式
，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。
权利要求1.小行程漏电测试结构，其特征在于，包括测试棒、外壳、铭牌、簧片、基板、固定接点板，所述测试棒固定在所述外壳上，所述簧片焊接在所述基板上进行固定；所述固定接点板与所述簧片对应设置。
2.根据权利要求1所述的小行程漏电测试结构，其特征在于，所述基板上设置有焊盘，所述焊盘与所述簧片尖部对 应设置。
专利摘要本实用新型公开了小行程漏电测试结构，其中，包括测试棒、外壳、铭牌、簧片、基板、固定接点板，所述测试棒固定在所述外壳上，所述簧片焊接在所述基板上进行固定；所述固定接点板与所述簧片对应设置；所述基板上设置有焊盘，所述焊盘与所述簧片尖部对应设置。本实用新型提供的小行程漏电测试结构，结构简单，使用寿命长，电气间隙大，可承受大电流，不容易烧坏，同时避免误触发，测试机构使用寿命可达1万次以上；大大增加电气间隙，远远大于微动开关的电气间隙，且可避免误触发；因电气间隙大，本机构绝缘耐压性能可靠，且在大电流分断时不容易烧坏。
文档编号G01R31/02GK202916371SQ201220378410
公开日2013年5月1日 申请日期2012年8月1日 优先权日2012年8月1日
发明者石刚 申请人:广州番禺旭东阪田电子有限公司