专利名称：一种电路可靠性的测试方法和相关装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及电路领域，尤其涉及一种电路可靠性的测试方法和相关装置。
背景技术：
草坪灯系列产品通常设置有两种工作模式6小时模式(6h)和10小时模式(10h)，并且这两种模式之间可以自由转换，其主要通过在该产品的电路上分别设置连接两种模式的引脚以及连接各个引脚进行转换控制的开关实现，当该开关连接在6小时模式的引脚上时该电路工作在6小时模式下，当该开关从6小时模式的引脚转换到10小时模式的引脚上时该电路就工作在10小时模式下，当该开关关闭时，整个电路处于关闭(OFF)模式。电路工作的两种模式以及电源的开和关也通过此开关来同步控制，因此，该开关又通常称之为三档双联开关，能够实现“6h-0FF-10h”功能转换的。
为了测试此类产品的电路在这三种模式之间转换时电路的可靠性如何，即需要测试在这三种模式之间转换是否会引起电路发热、损坏等多种不良现象，现有技术的做法是用大量的三档双联开关一一连接到该电路上，然后让三档双联开关在三个模式之间转换，观察电路是否出现不良现象，本发明的发明人发现这种通过大量的三档双联开关进行逐一测试的方法每使用一个三档双联开关都需要单独连接到该电路上，测试过程相当繁杂，也不能够快速的发现电路可能存在的隐患，且三档双联开关是连接在电路中的元件，使用三档双联开关做测试的方法能够测试出电路存在隐患的可能性也很小。由于需要大量的三档双联开关且多次测试也同样影响三档双联开关的寿命，使得测试成本也较高。
发明内容
本发明实施例提供了一种电路可靠性的测试方法和相关装置，用于简化电路的测试过程，能够快速发现电路的隐患，降低测试成本。为解决上述技术问题，本发明实施例提供以下技术方案—方面，本发明实施例提供一种电路可靠性的测试方法，包括将第一联刀片置于电路的第一引脚和第二引脚上，所述电路包括第一引脚、第二引脚、第三引脚、第四引脚，所述电路在所述第一引脚和所述第二引脚通过所述第一联刀片连通且同时所述第三引脚和所述第四引脚通过第二联刀片连通时工作在第一模式；对所述第一联刀片已经连通所述第一引脚和所述第二引脚的所述电路进行可靠性测试。另一方面，本发明实施例还提供电路可靠性的测试装置，包括第一连通单元，用于将第一联刀片置于电路的第一引脚和第二引脚上，所述电路包括第一引脚、第二引脚、第三引脚、第四引脚，所述电路在所述第一引脚和所述第二引脚通过所述第一联刀片连通且同时所述第三引脚和所述第四引脚通过第二联刀片连通时工作在第一模式；第一测试单元，用于对所述第一联刀片已经连通所述第一引脚和所述第二引脚的所述电路进行可靠性测试。从以上技术方案可以看出，本发明实施例具有以下优点在本发明实施例中，对于包括有四个引脚的电路，只通过第一联刀片连通了第一引脚和第二引脚，此时由于电路的四个引脚并没有同时被连通故电路不会进入工作，此时对只连通了第一引脚和第二引脚的电路进行可靠性测试，由于此种情况通常是电路能够容忍的极限，故可以判断出该电路的可靠性能，能够快速发现电路的隐患，本发明实施例的方法不需要大量三档双联开关，测试过程简单易行，测试成本较低。
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图I为本发明实施例提供的一种电路可靠性的测试方法的流程示意图；图2为本发明实施例提供的一种电路与第一联刀片、第二联刀片的结构关系示意图；图3为本发明实施例提供的另一种电路可靠性的测试方法的流程示意图；图4为本发明实施例提供的另一种电路可靠性的测试方法的流程示意图；图5为本发明实施例提供的另一种电路与第一联刀片、第二联刀片的结构关系示意图；图6为本发明实施例提供的另一种电路与第一联刀片、第二联刀片的结构关系示意图；图7为本发明实施例提供的电路可靠性的测试装置的结构示意图。
具体实施例方式本发明实施例提供了一种电路可靠性的测试方法和相关装置，用于简化电路的测试过程，降低测试成本。为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部实施例。基于本发明中的实施例，本领域的技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。本发明实施例提供的一种电路可靠性的测试方法，如图I所示，包括101、将第一联刀片置于电路的第一引脚和第二引脚上。其中，本发明实施例提供的电路包括第一引脚、第二引脚、第三引脚、第四引脚，该电路在第一引脚和第二引脚通过第一联刀片连通且同时第三引脚和第四引脚通过第二联刀片连通时工作在第一模式。本发明实施例中测试可靠性的电路通常包括四个引脚，其中在第一引脚和第二引脚通过第一联刀片连通且同时第三引脚和第四引脚通过第二联刀片连通时工作在第一模式，也就是说，同时将第一联刀片连通该电路的其中两个引脚、将第二联刀片连通该电路的另两个引脚，该电路能够工作在第一模式，例如，假如该电路为草坪灯系列产品上使用的控制电路，包括了四个引脚，第一联刀片和第二联刀片同时连通该电路的引脚时该电路可以进入6小时的工作模式。需要说明的是，在本发明实施例中，该测试方法测试的电路具体可以指一般常用的电路，也可以指的是在复杂的工业产品上应用的集成电路(IC, Integrated Circuit),只要该IC电路需要通过联刀片连通其上的引脚就能够进行可靠性即可，在实际应用场景中，根据该电路所应用的产品决定是一般的电路还是集成电路，此处仅作说明，不作为对本发明的限定。需要说明的是，在本发明实施例的步骤101中描述的第一联刀片其实是一种连接电路上的引脚的联刀片，另外此步骤中描述的第二联刀片也是一种连接电路上的引脚的联刀片，在步骤101中之所以命名为第一联刀片只是为了和后续出现的第二联刀片相区别，其“第一”和“第二”并不具有时序上或者逻辑上的任何关系，当出现第一联刀片时不是一定要出现第二联刀片，当然在出现第二联刀片时也不是一定要出现第一联刀片，只为了表示分别是两个不同的联刀片而已。当然为了区别这两个不同的联刀片还可以采用其它的命名方式，例如，可以分别命名为联刀片a和联刀片b等。并且本发明实施例中记载的“第一 模式”、“第二模式”的含义也可以借用此处关于“第一”和“第二”的说明。为了能够清楚的描述本发明实施例中提供的电路与第一联刀片、第二联刀片的结构关系，请参阅图2所示，电路201包括了四个引脚，分别为第一引脚2011、第二引脚2012、第三引脚2013、第四引脚2014，该电路201在第一引脚2011和第二引脚2012通过第一联刀片202连通且同时第三引脚2013和第四引脚2014通过第二联刀片203连通时工作在第一模式。对应于步骤101，在图2中也就是将第一联刀片202片置于电路201的第一引脚2011和第二引脚2012上，此时就可以触发步骤102执行了。102、对第一联刀片已经连通第一引脚和第二引脚的电路进行可靠性测试。当电路上的两个引脚被第一联刀片连通后，此时就可以对该电路进行可靠性的测试了，具体的，步骤102可以包括判断第一联刀片已经连通第一引脚和第二引脚的电路是否产生不正常发热，或，判断第一联刀片已经连通第一引脚和第二引脚的电路是否损坏。当电路上的两个引脚被第一联刀片连通后，可以判断一下该电路是否产生不正常发热，若有不正常的发热现象产生，可以对该电路进行进一步的测试，以找出其产生故障的原因，对该电路进行改进，因为此时该电路的四个引脚并没有被同时连通，该电路也就不可能工作在第一模式，由于只有一个联刀片接通了该电路的其中两个引脚，这通常是电路能够容忍的极限，若此时产生不正常发热，可能是该电路具有缺陷，需要进一步的判断。其中电路不正常发热指的是除了电路正常工作时产生的正常发热以外的异常发热现象，例如，一般电路工作时都会产生轻微的发热，则是正常发热，当电路存在隐患(即不可靠时)可能会产生较多的发热，例如发烫等，则可以断定电路可能具有缺陷，需要进一步的判断。另外，判断第一联刀片已经连通第一引脚和第二引脚的电路是否损坏，具体可以包括如下步骤Al、将第一联刀片连通第一引脚和第二引脚且同时将第二联刀片连通第三引脚和第四引脚；A2、判断该电路是否正常工作在第一模式，若不是，表示电路已经损坏。
对于步骤Al，属于同时将该电路的四个引脚连通的情形，步骤A2可以进行判断该电路是否是正常的工作在第一模式，若不是，表示该电路已经损坏，需要进行故障的修复，若该电路能够正常工作在第一模式下，表明此电路通过了可靠性测试，该电路为合格的。需要说明的是，在本发明实施例中，判断电路的可靠性除了前述方法，还可以有多种实现方式，此处只是其中一些实现方式，并不能作为对本发明的限定。在本发明实施例中，对于包括有四个引脚的电路，只通过第一联刀片连通了第一引脚和第二引脚，此时由于电路的四个引脚并没有同时被连通故电路不会进入工作，此时对只连通了第一引脚和第二引脚的电路进行可靠性测试，由于此种情况通常是电路能够容忍的极限，故可以判断出该电路的可靠性能，能够快速发现电路的隐患，本发明实施例的方法不需要大量三档双联开关，测试过程简单易行，测试成本较低。本发明实施例还提供了另一种电路可靠性的测试方法，除了包括如图I所示的步骤101和102之外，还包括如下步骤，请参阅图3所示
103、在将第一联刀片置于电路的第一引脚和第二引脚上之后，将第二联刀片置于电路的第三弓丨脚和第四引脚上。在本发明实施例中，如图2所示，将第一联刀片202片置于电路201的第一引脚2011和第二引脚2012上之后，将第二联刀片203置于电路201的第三引脚2013和第四引脚2014上，此时就可以触发步骤104执行了。需要说明的是，在将第一联刀片置于电路的第一引脚和第二引脚上之后的预置时间内将第二联刀片置于电路的第三引脚和第四引脚上，预置时间为I毫秒(ms)至5秒(s)之间的任一时刻，也就是说，在步骤101执行完之后，在一预置时间内执行步骤103，该预置时间具体可以为Ims至5s内的任一时刻,在本发明实施例中,对于需要测试可靠性的电路，在第一联刀片和第二联刀片不能同步连通电路的引脚时(该时间通常就是毫秒级或者秒级的时间)，电路的忍受能力最差，有可能出现不良现象，此时对电路进行可靠性测试，能够取得很好的效果。104、对先将第一联刀片连通第一引脚和第二引脚之后再将第二联刀片连通第三弓I脚和第四引脚的电路进行可靠性测试。需要说明的是，在本发明实施例中，对先将第一联刀片连通第一引脚和第二引脚之后再将第二联刀片连通第三引脚和第四引脚的电路进行可靠性测试，具体的测试方式可以参见前述实施例的描述，此处不再赘述。在本发明实施例中，对于包括有四个引脚的电路，对先将第一联刀片连通第一引脚和第二引脚之后再将第二联刀片连通第三引脚和第四引脚的电路进行可靠性测试，此时由于电路的四个引脚并不是同时被连通故电路不会立刻进入工作，此时对电路进行可靠性测试，由于此种情况通常是电路能够容忍的极限，故可以判断出该电路的可靠性能，本发明实施例的方法不需要大量三档双联开关，测试过程简单易行，测试成本较低。本发明实施例还提供了另一种电路可靠性的测试方法，除了包括如图3所示的步骤101至104之外，还包括如下步骤，请参阅图4所示105、当电路还包括第五引脚和第六引脚时，将第二联刀片置于电路的第三引脚和第四引脚上之后，将第一联刀片置于电路的第二引脚和第五引脚上，其中，电路在第四引脚和第六引脚通过第二联刀片连通、且同时第二引脚和第五引脚通过第一联刀片连通时工作在第二模式。本发明实施例中测试可靠性的电路通常包括六个引脚，如图5所示，电路201包括了六个引脚，分别为第一引脚2011、第二引脚2012、第三引脚2013、第四引脚2014、第五引脚2015、第六引脚2016，该电路201在第一引脚2011和第二引脚2012通过第一联刀片202连通且同时第三引脚2013和第四引脚2014通过第二联刀片203连通时工作在第一模式，在第四引脚2014和第六引脚2016通过第二联刀片203连通、且同时第二引脚2012和第五引脚2015通过第一联刀片202连通时工作在第二模式，也就是说，该电路能够工作在两种模式，例如，假如该电路为草坪灯系列产品上使用的控制电路，包括了六个引脚，第一联刀片和第二联刀片同时连通该电路的第一引脚和第二引脚、第三引脚和第四引脚时该电路可以进入6小时的工作模式，第一联刀片和第二联刀片同时连通该电路的第二引脚和第五引脚、第四引脚和第六引脚时该电路可以进入10小时的工作模式。基于本发明实施例提供的方法，当电路包括有8个引脚时，该电路可以包括有三种模式，例如，假如该电路为草坪灯系列产品上使用的控制电路201，如图6所示，包括了 8个引脚(分别是第一引脚2011、第二引脚2012、第三引脚2013、第四引脚2014、第五引脚2015、第六引脚2016、第七引脚2017、第八引脚2018)，第一联刀片202和第二联刀片203同时连通该电路的第一引脚和第二引脚、第三引脚和第四引脚时该电路可以进入6小时的工作模式，第一联刀片和第二联刀片同时连通该电路的第二引脚和第五引脚、第四引脚和第六引脚时该电路可以进入OFF模式，第一联刀片和第二联刀片同时连通该电路的第五引脚和第七引脚、第六引脚和第八引脚时该电路可以进入10小时的工作模式。106、对已经将第二联刀片连通第三引脚和第四引脚之后再将第一联刀片连通第二引脚和第五引脚的电路进行可靠性测试。需要说明的是，在本发明实施例中，对已经将第二联刀片连通第三引脚和第四引脚之后再将第一联刀片连通第二引脚和第五引脚的电路进行可靠性测试，具体的测试方式可以参见前述实施例的描述，此处不再赘述。在本发明实施例中，对于包括有六个引脚的电路，已经将第二联刀片连通第三引脚和第四引脚之后再将第一联刀片连通第二引脚和第五引脚的电路进行可靠性测试，此时由于电路的四个引脚并不是同时被连通故电路不会立刻进入工作，此时对电路进行可靠性测试，由于此种情况通常是电路能够容忍的极限，故可以判断出该电路的可靠性能，本发明实施例的方法不需要大量三档双联开关，测试过程简单易行，测试成本较低。在实际应用中，本发明实施例提供的电路可靠性测试装置具体可以内置于现有的对电路进行测试的设备内，也可以单独设置成一独立设备对电路进行测试，具体可以通过软件或硬件集成的方式来实现对电路的可靠性测试处理。在本发明实施例中将介绍和上述方法实施例中介绍的方法相对应的装置，具体各单元的执行方法可参见上述方法实施例，在此仅描述相关单元的内容，具体说明如下，如图7所示，电路可靠性测试装置700，包括第一连通单元701，用于将第一联刀片置于电路的第一引脚和第二引脚上，电路包括第一引脚、第二引脚、第三引脚、第四引脚，电路在第一引脚和第二引脚通过第一联刀片连通且同时第三引脚和第四引脚通过第二联刀片连通时工作在第一模式；第一测试单元702，用于对第一联刀片已经连通第一引脚和第二引脚的电路进行可靠性测试。
需要说明的是，在本发明实施例中，对于电路可靠性测试装置700而言，作为其中的一种实现方式，还可以包括(未在图7中示出)第二连通单元，用于在将第一联刀片置于电路的第一引脚和第二引脚上之后，将第二联刀片置于电路的第三引脚和第四引脚上；第二测试单元，用于对先将第一联刀片连通第一引脚和第二引脚之后再将第二联刀片连通第三弓I脚和第四引脚的电路进行可靠性测试。需要说明的是，在本发明实施例中，对于电路可靠性测试装置700而言，作为其中的一种实现方式，还可以包括(未在图7中示出)第三连通单元，用于当电路还包括第五引脚和第六引脚时，将第二联刀片置于电路的第三引脚和第四引脚上之后，将第一联刀片置于电路的第二引脚和第五引脚上，其中，电路在第四引脚和第六引脚通过第二联刀片连通、且同时第二引脚和第五引脚通过第一联 刀片连通时工作在第二模式； 第三测试单元，用于对已经将第二联刀片连通第三引脚和第四引脚之后再将第一联刀片连通第二引脚和第五引脚的电路进行可靠性测试。需要说明的是，在本发明实施例中，对于第一测试单元702而言，作为其中的一种实现方式，具体用于判断第一联刀片已经连通第一引脚和第二引脚的电路是否产生不正常发热，或，判断第一联刀片已经连通第一引脚和第二引脚的电路是否损坏。更为具体的，对于第一测试单元701，用于判断第一联刀片已经连通第一引脚和第二引脚的电路是否损坏时，还可以包括如下内容(未在图7中示出)双连通子单元，用于将第一联刀片连通第一引脚和所述第二引脚且同时将第二联刀片连通第三引脚和第四引脚；判断子单元，用于判断电路是否正常工作在第一模式，若不是，表示电路已经损坏。需要说明的是，上述装置各�？�/单元之间的信息交互、执行过程等内容，由于与本发明方法实施例基于同一构思，其带来的技术效果与本发明方法实施例相同，具体内容可参见本发明前述所示的方法实施例中的叙述，此处不再赘述。在本发明实施例中，对于包括有四个引脚的电路，第一连通单元只通过第一联刀片连通了第一引脚和第二引脚，此时由于电路的四个引脚并没有同时被连通故电路不会进入工作，此时第一测试单元对只连通了第一引脚和第二引脚的电路进行可靠性测试，由于此种情况通常是电路能够容忍的极限，故可以判断出该电路的可靠性能，能够快速发现电路的隐患，本发明实施例提供的装置不需要大量三档双联开关，测试过程简单易行，测试成本较低。本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。以上对本发明所提供的一种电路可靠性的测试方法和相关装置进行了详细介绍，对于本领域的一般技术人员，依据本发明实施例的思想，在具体实施方式
及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
权利要求
1.一种电路可靠性的测试方法，其特征在于，包括 将第一联刀片置于电路的第一引脚和第二引脚上，所述电路包括第一引脚、第二引脚、第三引脚、第四引脚，所述电路在所述第一引脚和所述第二引脚通过所述第一联刀片连通且同时所述第三引脚和所述第四引脚通过第二联刀片连通时工作在第一模式； 对所述第一联刀片已经连通所述第一引脚和所述第二引脚的所述电路进行可靠性测试。
2.根据权利要求I所述的方法，其特征在于，所述方法还包括 在将第一联刀片置于电路的第一引脚和第二引脚上之后，将所述第二联刀片置于所述电路的所述第三引脚和所述第四引脚上； 对先将所述第一联刀片连通所述第一引脚和所述第二引脚之后再将所述第二联刀片连通所述第三弓I脚和所述第四引脚的所述电路进行可靠性测试。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括 当所述电路还包括第五引脚和第六引脚时，将所述第二联刀片置于所述电路的所述第三引脚和所述第四引脚上之后，将所述第一联刀片置于所述电路的所述第二引脚和所述第五引脚上，其中，所述电路在所述第四引脚和所述第六引脚通过所述第二联刀片连通、且同时所述第二引脚和所述第五引脚通过所述第一联刀片连通时工作在第二模式； 对已经将所述第二联刀片连通所述第三引脚和所述第四引脚之后再将所述第一联刀片连通所述第二引脚和所述第五引脚的所述电路进行可靠性测试。
4.根据权利2所述的方法，其特征在于，在将第一联刀片置于电路的第一引脚和第二引脚上之后的预置时间内将所述第二联刀片置于所述电路的所述第三引脚和所述第四引脚上，所述预置时间为I毫秒ms至5秒s之间的任一时刻。
5.根据权利要求I所述的方法，其特征在于，所述对所述第一联刀片已经连通所述第一引脚和所述第二引脚的所述电路进行可靠性测试，包括 判断所述第一联刀片已经连通所述第一引脚和所述第二引脚的所述电路是否产生不正常发热，或，判断所述第一联刀片已经连通所述第一引脚和所述第二引脚的所述电路是否损坏。
6.根据权利5所述的方法，其特征在于，所述判断所述第一联刀片已经连通所述第一引脚和所述第二引脚的所述电路是否损坏，包括 将所述第一联刀片连通所述第一引脚和所述第二引脚且同时将所述第二联刀片连通所述第三引脚和所述第四引脚； 判断所述电路是否正常工作在第一模式，若不是，表示所述电路已经损坏。
7.一种电路可靠性测试装置，其特征在于，包括 第一连通单元，用于将第一联刀片置于电路的第一引脚和第二引脚上，所述电路包括第一引脚、第二引脚、第三引脚、第四引脚，所述电路在所述第一引脚和所述第二引脚通过所述第一联刀片连通且同时所述第三引脚和所述第四引脚通过第二联刀片连通时工作在第一模式； 第一测试单元，用于对所述第一联刀片已经连通所述第一引脚和所述第二引脚的所述电路进行可靠性测试。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述电路可靠性测试装置还包括第二连通单元，用于在将第一联刀片置于电路的第一引脚和第二引脚上之后，将所述第二联刀片置于所述电路的所述第三引脚和所述第四引脚上； 第二测试单元，用于对先将所述第一联刀片连通所述第一引脚和所述第二引脚之后再将所述第二联刀片连通所述第三引脚和所述第四引脚的所述电路进行可靠性测试。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述电路可靠性测试装置还包括 第三连通单元，用于当所述电路还包括第五引脚和第六引脚时，将所述第二联刀片置于所述电路的所述第三引脚和所述第四引脚上之后，将所述第一联刀片置于所述电路的所述第二引脚和所述第五引脚上，其中，所述电路在所述第四引脚和所述第六引脚通过所述第二联刀片连通、且同时所述第二引脚和所述第五引脚通过所述第一联刀片连通时工作在第二模式； 第三测试单元，用于对已经将所述第二联刀片连通所述第三引脚和所述第四引脚之后再将所述第一联刀片连通所述第二引脚和所述第五引脚的所述电路进行可靠性测试。
10.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一测试单元，具体用于判断所述第一联刀片已经连通所述第一引脚和所述第二引脚的所述电路是否产生不正常发热，或，判断所述第一联刀片已经连通所述第一引脚和所述第二引脚的所述电路是否损坏。
11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述第一测试单元，包括 双连通子单元，用于将所述第一联刀片连通所述第一引脚和所述第二引脚且同时将所述第二联刀片连通所述第三引脚和所述第四引脚； 判断子单元，用于判断所述电路是否正常工作在第一模式，若不是，表示所述电路已经损坏。
全文摘要
本发明实施例公开了电路可靠性的测试方法和相关装置，用于简化电路的测试过程，能够快速发现电路的隐患，降低测试成本。本发明实施例方法包括将第一联刀片置于电路的第一引脚和第二引脚上，所述电路包括:第一引脚、第二引脚、第三引脚、第四引脚，所述电路在所述第一引脚和所述第二引脚通过所述第一联刀片连通且同时所述第三引脚和所述第四引脚通过第二联刀片连通时工作在第一模式；对所述第一联刀片已经连通所述第一引脚和所述第二引脚的所述电路进行可靠性测试。
文档编号G01R31/28GK102759703SQ20121023919
公开日2012年10月31日 申请日期2012年7月11日 优先权日2012年7月11日
发明者叶许, 蔡元坤, 陈国强 申请人:深圳珈伟光伏照明股份有限公司
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