专利名称：用于结合表面分析和整体分析的检查和/或分类的过程和设施的制作方法
技术领域：
本发明涉及行进的物体、物件或类似物、特别是废料的快速表征的领域，用于对它们进行区分和/或对它们进行评估的目的，本发明的本身的目标包括:用于对物体、物件或类似物进行检查和/或自动分类的过程和设施。
背景技术：
在前述领域范围内已经提出多种解决方案。这样，已经开发出多种在表面上或以轻微渗透方式测量的过程，用于自动分离应用。在不例中,FR-A-2895688描述一种用于对非金属物体进行检查和分类的过程和自动化机器，其中，在传送器带上行进的每个物体的上层暂时地经历热辐射。然后执行对物体的热图分析，以确定物体的类型。这种技术特别地用于对纸、纸板等进行区分。这种区分过程的局限在于，不可能在光面(light)或涂层纸板(平坦纸板)与特定杂志之间进行区分。实际上，杂志封皮如果较厚，则与光面或涂层纸板具有相同的热行为。这样，在分类过程中，杂志将被认为是光面或涂层纸板，并因而将不会被合理回收。这种过程遭遇的第二种局限是，与在传送器带上行进的物体的潮湿度相关。潮湿的物体具有的行为与干的物体不同，如果潮湿水平越大，则不同越大。EP-A-124350描述一种使用红外波谱的表面分析系统。这种系统可以区别不同类别的物体，例如不同塑料(PET、PETG、PS、ABS，等等)的物体。物体的波谱表面分析能够实现这种区别。另外，已经开发出可以测量物体厚度的其它过程。这些过程使用透射(transmission)技术,例如不同的X射线或伽玛射线技术，或者较低能量技术，例如超高频。在超高频的领域，已经提出具有材料表征系统的多种专利。存在特定的使用微波辐射的这些系统，用于测量潮湿度，例如在US-A-5845529和US-A-5333493所述。这些美国专利申请公开的系统可以测量厚的包/捆的干产品，例如在上述提及的第一个美国文献中的成包/捆的烟草、棉花、木材，也可以测量在上述提及的第二个美国文献中的煤炭的潮湿水平。对此，微波信号可被发送穿过将被测量的物体。通过测量幅度和相位，于是可确定被检测物体的潮湿水平。我们注意到，这些测量除了区别潮湿水平的不同之外，并未用于区别不同组分的包/捆。其它存在的出版物呈现出可以进行材料表征的在超高频领域的解决方案。在示例中，可提到文献FR-A-2906369，其中描述一种超高频设备，用于检查和探测基本上均质材料(例如成卷的玻璃纤维绝缘材料)中的缺陷。这种设备包括发射系统，以辐照将被表征的物体。在接收侧，天线阵列能够收集被发射的信号。根据信号的幅度和相位，可以确定缺陷。最后，已经公开了不同技术的特定关联。这种情况的示例如下，在文献US-A-20100085066中，超高频技术与X射线技术相结合，以检查机场的多件行李。在此文献中，超高频技术能够增大行李的检查速度。多件行李首先经历超高频分析。这种分析能够获得在传送器上行进的行李件的影像。如果超高频分析显示不确定性，则此件行李经历另外的和独立的通过X射线的分析。由于通过软件视点的超高频分析更易于安置就位，因而这种技术关联能够增大检查速率，这是因为，仅有可疑的行李件通过X射线分析。
发明内容
本发明的基本目的包括:提出一种解决方案，在本文开始指出的应用环境中能够以显著方式改进对行进(例如在传送器上行进)的物体、物件或类似物进行分类的质量和/或对其特定特征或特定参数进行测量的精度。所提出的解决方案在必要时还必须允许对所述流的材料类型或待评估特征进行总体量化。为此目的，本发明的第一目标在于提供一种自动过程，用于对物体、物件或类似物进行检查和/或分类，所述物体、物件或类似物属于至少两个不同类别并且形成为基本在单一层中行进，例如在传送器带或类似运送支撑部上行进，过程的特征在于，其包括:使行进流的物体、物件或类似物经历至少两种不同类型的通过辐射进行的无接触分析，所述分析的结果以结合(combined)方式用于每个物体、物件或类似物，以执行在这些物体、物件或类似物中的区分和/或对这些物体、物件或类似物的至少一个特征的评估，所用的分析一方面包括能够确定在此过程中暴露于所使用辐射的物体或类似物的上层或外层的物理和/或化学组分的至少一个表面分析过程，另一方面包括能够确定相同的物体或类似物的材料的等效厚度的至少一个整体(volume)分析过程。在此文件中，等效厚度是指:在不考虑可能的间隙的情况下、假定材料在可见表面下保持相同时，表面要素(element)的竖直设置材料的总量。因此，本发明基于至少一种表面识别或分析技术和至少一种整体分析技术的结合使用，由此形成应用于行进中的物体、物件或类似物的组的至少一种双分析。优选地，本发明设想:通过表面分析过程和通过整体分析过程而处理所述物体、物件或类似物，所述物体、物件或类似物在其在单层流行进过程中连续地(successively)或同时地经历所述两种分析过程中的每种。这样，行进的物体或物件的每个表面要素经历两种连续的或同时的分析:一种分析通过表面识别技术实现并能够确定材料的类型(物理和/或化学构成)，一种分析通过整体测量技术实现并能够确定材料的等效厚度。两种不同类型分析的这种结合，对于通过两种分析采集的信息和数据结合使用，能够知晓在传送器上行进的每种材料的总量，并因而显著改进分类品质或者特定参数的测量精度，所述特定参数例如为潮湿水平或下供热值(lower heating value)(以LHV表示)的测量值。这种结合还可用于大量应用，例如无接触的动态称重。另外，根据本发明的过程可具有以下的一种或多种有利特征或以下的一种或多种变例实施例:在针对在传送器带或类似运送支撑部上行进的物体、物件或类似物的流的从上方施加的表面分析过程和从上方或下方施加的整体分析过程的使用过程中发射辐射，辐射的接收在反射后发生在所述流上方或者在透射(transmission)后发生在支撑部下方；
所述整体分析过程使用微波或超高频(UHF)波，优选地在IGHz至IOTHz的频率范围内；所述整体分析过程使用透射X射线，在2keV至IOOkeV之间的能量范围内；所述表面分析过程使用红外辐射，并包括近红外或中红外的光学分析过程或者中红外的热图(thermographic)分析过程；所述表面分析过程是原子组分的分析过程，例如是通过X射线荧光的分析过程，或者是通过激光诱导等离子体波谱的分析过程。另外，根据本发明的过程可包括:对含纤维的物体、物件或类似物，基于通过所述表面分析过程和整体分析过程提供(furnish)的结合的结果,确定湿度水平；和/或对于包括或包含纸和/或纸板(cardboard)的物体、物件或类似物的行进流，根据它们相应的总材料厚度而执行区分。另外，遵照根据本发明的过程的有利应用，所述不同类型分析的所述结果可用于对所述行进流的物体、物件或类似物执行无接触称重，优选地基本实时地执行所述无接触称重；或者对所述行进流的物体、物件或类似物执行LHV评估。本发明的目标还在于提供一种设施，用于对物体、物件或类似物进行检查和/或自动分类，所述物体、物件或类似物属于至少两个不同种类或类别，所述设施特别地可用于如前所述的过程，所述设施一方面包括用于确保所述物体或类似物基本在单一层中行进的装置，所述单一层例如为传送器带或类似的运送支撑部，所述设施另一方面包括至少两个无接触的分析装置，所述无接触分析装置通过对所述行进的物体、物件或类似物进行辐射而实现；设施的特征在于，其进一步包括:用于对每个物体、物件或类似物通过不同类型的所述分析装置提供的所述结果结合使用以在这些物体或类似物中执行区分和/或对这些物体或类似物的至少一个特征执行评估的装置；所述分析装置一方面包括至少一个表面分析装置且另一方面包括至少一个整体分析装置，所述表面分析装置能够确定暴露于此装置的辐射的物体或类似物的上层或外层的物理和/或化学组分，所述整体分析装置能够确定相同的物体或类似物的材料的等效厚度。来自不同分析过程的数据被独立地存储在处理单元中并然后被综合处理(pool)。处理单元能够使数据时间同步，并由此当来自两种分析装置的传感器的数据被连续/依次获得而不是被同时获得时重建来自两种分析装置的传感器的各像素之间的纵向连贯性/相干性(coherence)。如果像素的侧向分辨率因各传感器而异，则这两种分辨率可通过利用计算系统对所述传感器中的至少一种进行降级(degrading)而实现协调(reconcile),优选地使得两种结合的像素的分辨率对应于将两个连续喷射(ejection)要素分开的间隙。
通过以下对以非限制性示例方式给出的优选实施例相关并参照附图阐释的描述，本发明将被更好地理解，其中:图1是根据本发明优选实施例的设施的简化局部立体示意图。图2是可作为图1所示设施一部分的使用超高频波的整体分析系统或装置的简化立体示意图。
图3和4是图2所示使用超高频波的分析装置沿与行进方向垂直的方向的简化剖视示意图，其中分别更详细地例示出接收天线阵列(图3)和发射天线阵列(图4)。图5是可作为图1所示设施的一部分的基于热图分析过程的表面分析装置的简化立体示意图，所述表面分析装置优选地采用中红外线。图6是可作为图1所示设施一部分的基于光谱或光学分析过程的表面分析装置的简化立体示意图，所述表面分析装置采用近红外线。图7是可作为图1所示设施一部分的基于整体分析过程的表面分析装置的简化立体示意图，所述表面分析装置使用透射X射线。图8是与用于对不同种类的纸/纸板/杂志流进行分类的表面和整体分析的结果的结合使用相对应的决策流程图。
具体实施例方式附图中的图1通过示例以简化方式例示出设施1，其用于对物体、物件或类似物2进行检查和/或分类，所述的物体、物件或类似物2属于至少两个不同种类或类别。所述设施I 一方面包括用于确保所述物体或类似物2基本在单一层中行进、例如在传送器带或类似运送支撑部上行进的装置3，另一方面包括通过对行进的物体、物件或类似物2辐射而进行无接触分析的至少两个装置4和5。根据本发明，这种设施I进一步包括用于针对每个物体、物件或类似物2由不同类型分析装置4、5提供(furnish)的结果的结合使用的装置6，用以在这些物体或类似物中执行区分和/或对这些物体或类似物的至少一个特征执行评估；所述的分析装置4、5 —方面包括至少一个表面分析装置4且另一方面包括至少一个整体(volume)分析装置，表面分析装置4能够确定暴露于这一装置的辐射的物体或类似物2的外层的物理和/或化学组分，所述整体分析装置能够确定相同的物体或类似物2的材料的等效厚度。虽然在图1中的设施I使用两种连续的分析(分析装置4和5的传感器在空间上沿物体2的行进方向错开)，不过这两种分析也可以同时执行(各传感器的分析区相互融合或包含)。如附图中的图2至4和7示意性所示，整体分析装置5有利地可从由以下分析装置形成的组中选出:利用超高频波的分析装置，利用透射X射线的分析装置；运送支撑部3优选地针对所使用辐射而言基本透明。优选地，使用超高频波的整体分析装置5 (优选地为在IGHz至IOTHz的频率范围内)，包括至少一个阵列的发射天线8和至少一个阵列的接收天线9，该单元在前述的频率范围内的限定工作频率下工作，所述发射天线和接收天线例如为平面天线的类型，所述发射天线和接收天线沿与将被检查或分类的所述物体或类似物2的行进方向D垂直的方向排列(align)，所述接收天线9被安置在所述运送支撑部3下。根据优化的变例实施例，超高频波整体分析装置5包括:至少两个阵列的发射天线8和接收天线9，相关联的成对的阵列8、9在不同工作频率下操作，这些工作频率之比至少等于2。进一步地，如图5和6中以示例方式所示，表面分析装置4有利地可以从由以下分析装置形成的组中选出:近红外或中红外光学分析装置，中红外热图(thermography)分析装置，X射线荧光分析装置，和激光诱导等离子体波谱(spectroscopy)分析装置；所述运送支撑部3在必要时提供(furnish)相对于所述物体或类似物2的对照背景，用于所考虑的分析福射。当然，设施I进一步包括:额外结构(硬件或软件)，从而可以使用根据前述过程的不同操作，所述额外结构特别地用于采集和处理由所述分析装置4和5提供(furnish)的所述结果。在下文中，根据本发明的设施和过程的不同变例实施例被更详细地但以非限制性方式结合附图描述。如图1所示，如前所述，根据本发明的过程主要包括:使行进在传送器带3上的物体2经历至少两种不同的分析。第一种分析是表面分析，基于对表面分析系统4的使用。可以使物体2经历多次表面分析以进一步改进表征。第二种分析基于对整体测量系统5的使用，能够对物体2在其整个厚度上进行分析。而且，可以使物体2经历多次整体测量分析，以实现更好的测量精度。如前所述，整体测量技术可为不同类型，例如超高频、X射线或伽玛射线。各分析的顺序可为任意类型。通过不同的分析被采集的数据然后在处理单元6 (例如数据处理单元)中综合处理(pool)，并然后被分析以确定物体2的特征。可提供喷射(ejection)系统7，能够在必要时将各物体分为两个或更多个类别。在以下描述中，所选择的整体测量系统5的优选实施例将采用超高频或X射线技术。表面分析系统4可根据目标应用而使用紫外光/可见光、红外线波谱的光学分析和/或热图分析。当然，这些示例不是限制性的。在所有情况下，传送器带3的整个宽度经历电磁辐射，电磁辐射来自安置在上方的源并生成返回信号到也安置在上方的探测器:这种构造被称为背向散射。由于表面波具有较小穿透深度，因而这些技术可以仅在表面上分析物体2。通过这种分析，可确定行进在传送器带3上的材料的类型。例如，使用近红外线的波谱技术能够识别不同的塑料(PET、PETG, ABS、PS，等等)，具有I毫米至数毫米穿透量。采用中红外热辐射的热图技术具有小于100 μ m的穿透量。例如，其能够区别不同类型的纸(影印机类型A4纸，棕色瓦楞纸板，光面或涂层纸板，等等)。在通过图5所示适合系统4的热图分析(一种本身已知的技术)过程中，热源10能够将热辐射发送到区11上。当物体2经过这一区11时，物体2的上层经受加热。热感相机12测量照射前的区13与照射后的区14之间的温度升高值。根据所述物体的组分，物体将具有不同的温度升高值。例如，对于纸/纸板流，较薄的纸件将比纸板件被更好地加热，这样能够对其进行区别。在红外波谱分析系统4 (图6，本身已知)使用过程中，红外光源15能够将红外辐射发送到区16中。在传送器带3上行进的所有物体2经历这种辐射。影像获取系统17能够扫描(sweep)传送器带3并观察每个物体2的频谱(spectrum)。中央处理单元6能够采集和处理所述的数据。物体2的每种组成材料具有不同的频谱响应，这样能够通过与数据库中所存储模型的比较而确定行进的物体2的材料的性质。整体分析可基于对超高频系统5 (图2)的使用，其能够在物体整个厚度中分析物体2。物体2通过由天线8发射的超高频波束辐照，天线8被支撑部8，保持并优选地为锥类型。所述波然后从发射天线阵列8传播到接收天线阵列9。当物体2经过区18中时，物体2使由天线阵列9获取的超高频波的波幅和相位改变。物体2的损耗角正切越大，则所述波被削弱得越多；物体2的相对介电常数越大，则所述波越慢(或异相)。发射天线阵列8位于与传送器带3相距一定距离(所述距离优选地为150至300mm)处，使得在传送器带3上行进的物体2可以自由通过。发射阵列的每个天线8辐照一合理宽度的传送器带3，因而分开限定距离，所述限定距离基于例如以下参数而定:所述频率，天线类型，天线增益。例如，在IOGHz时，发射天线8分开，优选地使得每个天线辐照20cm或更大宽度的传送器带。接收天线阵列9 (图3)安置在传送器带3下，包括平面天线19 (指的是“贴片天线”)，各平面天线19分开而使得各天线之间不存在串扰。探测系统20与每个天线19串联(in series with)连接,从而能够知晓所述信号的模数(modulus)和/或相位。探测系统20例如是复合相关器(complex correlator),其如在电气和电子工程师协会(IEEE)学报，微波原理和技术，Vol.25, N0.12，1977年12月的由Glenn F.Enguen所著的“六端口反射计:可替代的网络分析仪”中所述。相位测量也可以使用从属系统(slave system)进行，从属系统在进行平衡发射和接收信号的幅度的预处理之后添加(superimpose)发射信号和接收信号。当物体经过区18中时，每个信号的模数和相位被修改。这些使用探测系统20测量的数据使用模拟电路21被格式化，然后被传递并由中央处理单元6处理。超高频信号来自于源22 (图4)，所选的频率可从几GHz至几THz。这种信号然后在必要时使用功率分配器23分为多路，以形成传送器带的优化辐照。放大器24安置在每个天线8的上游，能够放大所述信号。根据源22的频率，可以仅使用单一的安置在源22与分配器23之间的放大器。发射的功率越大，则超高频系统5的探测范围越宽。每个天线8的入口处的IOmW的功率适合于IOGHz的应用频率并适合于安置为与传送器带3相距30cm的天线阵列。第二类型的整体分析系统5 (图7)也可使用X射线技术构建。在此情况下，源25能够将X射线发射到一定宽度的传送器带3上。穿过物体2和穿过传送器带3的射线由探测器26收集。这种测量技术对于在传送器带3上行进的物体2的穿过厚度是敏感的。这样，可以通过知晓这些物体2的组成材料而将较厚物体分离于较薄物体。这最后一种信息通过表面分析4给出。穿过物体2的波的功率与(a *L)的指数(exponential)成比例地减�。渲校帘硎静牧系奈障凳琇表示材料的厚度。通过使用表面识别技术4而确定a。如果已知α，则可以通过测量从发射部25到接收部26的X射线或超高频波的透射的功率而确定L。最后，有必要将来自表面分析系统4和整体分析系统5的数据结合。这些数据的综合处理使用中央处理单元6实现。这样，系统4和5的结合能够改进在传送器带3上行进的物体2的表征和区别。根据结合这两种技术的预计应用，数据的综合处理以不同方式进行。例如，对质量测量应用或下供热值(LHV)，表面识别技术提供关于所分析的表面要素的材料的类型的信息，第二分析提供此表面要素的竖直设置材料的量。结合这两种信息，能够计算出物体2的重量或LHV。通过前文的描述，本领域技术人员易于理解由所述两种技术的结合所带来的改进。
本发明的实际应用示例在以下公开内容中描述，特别是结合与现有技术中所描述的纸分类(在光面或涂层纸板/杂志的区别过程中的局限)相关联的问题进行描述。如果两种物体2呈现出相似的表面层，则已经发现，仅有表面分析系统4是不够的。在纸/纸板流的示例的情况下，难以在杂志的厚封皮与光面或涂层的纸板(具有低的再循环价值的平坦纸板)之间进行区别。现在，在分类应用中，杂志表现为一种重要的回收纸源。仅使用前述的分析系统4，则具有厚封皮的杂志被认为是光面或涂层纸板，并因而未以优化方式回收。在此情况下，仅以模数读取模式使用的超高频系统5能够执行这种光面或涂层纸板/杂志的区分。实际上，当物体2 (光面或涂层纸板或者杂志)经过区18时，如果物体2是杂志而不是光面或涂层纸板，则测量到的损耗将较大。由于杂志较厚(平均表面质量=5kg/m2)，因而超高频波必须穿过更多的材料；因而与光面或涂层纸板(平均表面质量=lkg/m2)相比，这些波被削弱地更多。所测量的损耗的变化按照以下类型:P (dB) = a (f) Xe，其中，e表示纤维素的等效厚度(以_为单位)，a (f)表示与材料相关联的损耗(dB/mm)并取决于工作频率f。例如，在25GHz下，a (25GHz) =0.3dB/mm。通常，具有5mm (120页)厚度的杂志产生大约1.5dB的损耗。另一方面，日历类型的光面或涂层纸板(厚度2mm)仅产生约0.6dB的损耗。这样，尽管过去仅使用表面分析系统4不可能将光面或涂层纸板区别于杂志，不过现在还另外使用超高频系统5就可以进行这种区别。例如，假定损 耗极限为0.7dB，则可以认为，产生损耗大于此极限的任何物体2均为杂志。在相反的情况下，物体2被认为是光面或涂层纸板。更常用地，前文中实用变例的描述适用于区分具有纤维素基体的具有相互不同材料总厚度的各物体2。整体分析系统5还能够改进对存在潮气的各产品的区别。这种应用可使用超高频系统阐释。这种系统能够核查在传送器带3上流通的物体2是否潮湿。实际上，湿的材料产生更大损耗(水在超高频下具有高吸收系数)，还在波上产生更大相移或延迟(水在超高频下具有较高介电常数)。在相对介电常数介质ε r中传播的波的相移可写为以下形式:
2nfΦ = _——_ X d
C其中，Φ以弧度表示，f表示信号的频率，c表示真空中的光速，d表示在物体中传播的距离。如果考虑波在Imm距离上(over)的运动，则获得以下相移:对于在空气(ε r=l)中且在IOGHz下的传播，Φ=12°。对于在干木(ε r=l.8)中且在IOGHz下的传播，Φ=16.1。。对于在干纸(ε r=2.1)中且在IOGHz下的传播，Φ=17.1。。对于在水(ε r=30)中且在IOGHz下的传播，Φ=65°。我们注意到，水产生的相移大约4倍于由干木或纸产生的相移。对比而言，水的吸收是木或纸的40倍。由于这两种比率不同，因而通过获知波的模数和相位，可以识别出潮湿材料，实际上甚至可以测量出潮湿材料的水含量。通过获知关于材料潮湿度的信息(由超高频系统5提供)、以及不同流基于潮湿度的热行为，可对由热图系统4取得的测量值进行修正，以改进所述区分。下表提供在IOGHz频率下对两种类型样品和两种潮湿水平测得的相位和损耗的估计值:
权利要求
1.一种自动过程，用于对物体、物件或类似物进行检查和/或分类，所述物体、物件或类似物属于至少两个不同类别并且形成为基本在单一层中行进，例如在传送器带或类似运送支撑部上行进，过程的特征在于，其包括使行进流的物体、物件或类似物(2)经历至少两种不同类型的通过辐射进行的无接触分析，所述分析的结果以结合方式用于每个物体、物件或类似物(2)，以执行在这些物体、物件或类似物(2)中的区分和/或对这些物体、物件或类似物(2)的至少一个特征的评估，所用的分析一方面包括能够确定在此过程中暴露于所使用辐射的物体或类似物(2)的上层或外层的物理和/或化学组分的至少一个表面分析过程，而另一方面包括能够确定相同的物体或类似物(2)的材料的等效厚度的至少一个整体分析过程。
2.根据权利要求1所述的过程，其中， 所述过程包括:通过表面分析过程和通过整体分析过程而处理所述物体、物件或类似物(2)，所述物体、物件或类似物(2)在其在单层流中行进过程中连续地或同时地经历每种所述分析过程。
3.根据权利要求1和2中任一项所述的过程，其中， 所述整体分析过程使用微波或超高频UHF波，优选地在IGHz至IOTHz的频率范围内。
4.根据权利要求1和2中任一项所述的过程，其中， 所述整体分析过程使用透射X射线，在2keV至IOOkeV之间的能量范围内。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的过程，其中， 所述表面分 析过程使用红外辐射，并包括近红外或中红外的光学分析过程或者中红外的热图分析过程。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的过程，其中， 所述表面分析过程是原子组分的分析过程，例如是通过X射线荧光的分析过程，或者是通过激光诱导等离子体波谱的分析过程。
7.根据权利要求1至6中任一项所述的过程，其中， 所述过程包括:对含纤维的物体、物件或类似物(2)，基于通过所述表面分析过程和整体分析过程提供的结合的结果，确定潮湿水平。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的过程，其中， 所述过程包括:对于包括或包含纸和/或纸板的物体、物件或类似物(2)的行进流，根据它们相应的总材料厚度而执行区分。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的过程，其中， 使用所述不同类型的分析的所述结果，对所述行进流的物体、物件或类似物(2)执行无接触称重，优选地基本实时地执行所述无接触称重。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的过程，其中， 使用所述不同类型的分析的所述结果，对所述行进流的物体、物件或类似物(2)的下供热值、上供热值、生物甲烷化能力、和/或氯的水平执行评估，优选地基本实时地执行所述评估。
11.一种设施，用于对物体、物件或类似物进行检查和/或自动分类，所述物体、物件或类似物属于至少两个不同种类或类别，特别地所述设施用于根据权利要求1所述的过程，所述设施一方面包括用于确保所述物体或类似物基本在单一层中行进的装置，所述单一层例如为传送器带或类似运送支撑部，所述设施另一方面包括至少两个无接触分析装置，所述无接触分析装置通过对所述行进的物体、物件或类似物进行辐射而实现；设施(I)中进一步包括:用于对每个物体、物件或类似物(2)通过不同类型的所述分析装置(4，5)提供的所述结果结合使用以在这些物体或类似物中执行区分和/或对这些物体或类似物的至少一个特征执行评估的装置(6);所述分析装置(4，5) 一方面包括至少一个表面分析装置(4)且另一方面包括至少一个整体分析装置，所述表面分析装置(4)能够确定暴露于这一装置的辐射的物体或类似物(2)的上层或外层的物理和/或化学组分，所述整体分析装置能够确定相同的物体或类似物(2 )的材料的等效厚度。
12.根据权利要求11所述的设施，其中， 所述整体分析装置(5)从由以下分析装置形成的组中选出:利用超高频波的分析装置，利用透射X射线的分析装置；优选地所述运送支撑部(3)对所使用的辐射而言基本透明。
13.根据权利要求11或12所述的设施，其中， 所述表面分析装置(4)从由以下分析装置形成的组中选出:近红外或中红外光学分析装置，中红外热图分析装置，X射线荧光分析装置，和激光诱导等离子体波谱分析装置；在必要时所述运送支撑部(3)提供相对于所述物体或类似物(2)的对照背景，用于所考虑的分析福射。
14.根据权利要求12或13所述的设施，其中， 所述使用超高频波的整体分析装置(5)、优选地为在IGHz至IOTHz的频率范围内的整体分析装置(5)，包括至少一个阵列的发射天线(8)和至少一个阵列的接收天线(9)，该单元在前述的频率范围内的限定工作频率下工作，所述发射天线和接收天线例如为平面天线的类型，所述发射天线和接收天线沿与将被检查或分类的所述物体或类似物(2)的行进方向(D)垂直的方向排列，所述接收天线(9)安置在所述运送支撑部(3)下。
15.根据权利要求14所述的设施，其中， 所述使用超高频波的整体分析装置(5)包括至少两个阵列的发射天线(8)和接收天线(9)，相关联的成对的阵列(8，9)在不同工作频率下操作，这些工作频率之比至少等于2。
16.根据权利要求11至14中任一项所述的设施，其中， 所述设施进一步包括额外结构，使用根据权利要求7至10中任一项所述的过程，所述额外结构特别地用于处理由所述分析装置(4和5)提供的所述结果。
全文摘要
本发明的目标在于，提供用于对物体、物件或类似物进行检查和/或分类的自动过程和设施，所述物体、物件或类似物属于至少两个不同类别并且形成为基本在单一层中行进，例如在传送器带或类似运送支撑部上行进。过程的特征在于，其包括使行进流的物体、物件或类似物(2)经历至少两种不同类型的通过辐射进行的无接触分析，所述分析的结果以结合方式用于每个物体、物件或类似物(2)，以执行在这些物体、物件或类似物(2)中的区分和/或对这些物体、物件或类似物(2)的至少一个特征的评估，所使用的分析一方面包括能够确定在此过程中暴露于所使用辐射的物体或类似物(2)的上层或外层的物理和/或化学组分的至少一个表面分析过程，而另一方面包括能够确定相同的物体或类似物(2)的材料的等效厚度的至少一个整体分析过程。
文档编号G01N35/00GK103149372SQ20121051847
公开日2013年6月12日 申请日期2012年12月5日 优先权日2011年12月6日
发明者安托万·鲍喏利, 大卫·毛呐伊若克, 简·路易斯·科塔兹, 弗雷德里克·加勒特, 本杰明·布兰姆培 申请人:佩朗精品工艺股份有限公司, 萨瓦大学
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