专利名称：Ccd式的间隙测量系统及方法
技术领域：
本发明涉及间隙测量系统，尤其涉及ー种CCD式的间隙测量系统及方法。
背景技术：
LCD (Liquid Crystal Display,液晶显不器)由 BLU(Back Light Unit,背光�？�)作为发光源并以LCM(Liquid Crystal Module，液晶�？�)显像，发光源的光学品质(例如辉度、色度，均匀度，漏光，MURA)直接影响IXD的性能，而影响这些指标的变异数主要是IXD的各零组件的材料的结构及间隙，特别是LED与导光板之间的间隙。传统间隙測量方式为三次元測量，但此种量测方式存在
检测时间长，且无法在线量测等缺陷，同时，该种检测方式虽然可以进行随机抽样，但无法真正有效率对品质把关，并降低批量性或随机性不良的风险。
发明内容
本发明的目的在于提供ー种CCD式的间隙测量系统及方法，其能实现对LED与导光板的间隙的快速在线检测，从而克服了现有技术中的不足。为实现上述发明目的，本发明采用了如下技术方案
ー种CCD式的间隙测量方法，该方法为以至少ニ组数字取像子系统对待测物表面拍摄成像，并将获得的灰度图像数据输入计算机，其后，藉由计算机处理灰度图像数据，并检测出待测物中LED和导光板的边缘，同时，还将灰度图像于一人机界面上显示，且在灰度图像上标不出LED和导光板的边缘,并显不出LED与导光板的间距,继而将LED与导光板的间距与设定參数范围比较，判定待测物的品质。优选的，该至少两组数字取像子系统并行固定在一高度可调节的支架上部，该支架下端与一可承载待测物的基座固定连接。优选的，其特征在干，所述数字取像子系统包括一 CXD摄像装置，所述CXD摄像装置上还设有成像镜头和打光光源。优选的，所述计算机内设有ー核心算法模块，该核心算法�？槎越邮盏降幕叶韧枷袷萁新瞬ù砗螅觳獾酱馕镏蠰ED测试孔的位置，再进行霍夫变换，检测出LED的边缘，并对导光板内部微结构的图形进行排除，检测出导光板的边缘，而后，藉由与该核心算法�？榱拥囊幌允灸？榻叶韧枷裼谝蝗嘶缑嫔舷允荆以诨叶韧枷裆媳晔境鯨ED和导光板的边缘,并显不出LED与导光板的间距。尤为优选的，所述核心算法�？楹拖允灸？榛褂胍蝗嘶鹰砉芾砥教�。优选的，该至少两组数字取像子系统经交換机与计算机单向连接。ー种CXD式的间隙测量系统，它包括至少ニ组数字取像子系统，每组数字取像子系统均包括一 CXD摄像装置，所述CXD摄像装置上设有成像镜头和打光光源；该至少ニ组数字取像子系统并行安装在一高度可调整的支架上，且所述支架安装在一可承载固定被测物的基座上；该至少ニ组数字取像子系统经ー交換机与计算机连接，所述计算机内设有ー核心算法�？椋煤诵乃惴？槎源邮秩∠褡酉低炒邮盏降幕叶韧枷袷萁新瞬ù砗螅觳獾酱馕镏蠰ED测试孔的位置，再进行霍夫变换，检测出LED的边缘，并对导光板内部微结构的图形进行排除，检测出导光板的边缘，而后，藉由与该核心算法�？榱拥囊幌允灸？榻叶韧枷裼谝蝗嘶缑嫔舷允荆以诨叶韧枷裆媳晔境鯨ED和导光板的边缘，并显示出LED与导光板的间距，，继而将LED与导光板的间距与设定參数范围比较，判定待测物的品质。优选的，所述基座上设有ー被测物固定治具。优选的，所述核心算法�？楹拖允灸？榛褂胍蝗嘶鹰砉芾砥教�。优选的，该至少两组数字取像子系统经交換机与计算机单向连接。本发明的人机接ロ管理平台定性的提供定量的显示间隙的数值，当待测物的间隙超出品质规范的设定——即为品质不良(NG)，当NG数超过厂内规范则立即停线进行异常排除程序，降低厂内损失与防堵NG产品流至客户端。 与现有技术相比，本发明的有益效果在于(I)自动寻边量測；(2)具低成本与简易且快速的操作优势；(3)检测点数可増加取像组件进行点数扩充；(4)适于品管、研发、实验室及生在线实时检测。
图I是本发明一较佳实施例CCD式的间隙测量系统的结构示意 图2是图I实施例中的人机界面的示意图。
具体实施例方式參阅图1-2，该CXD式的间隙测量系统包括CXD摄像装置1，CXD摄像装置2，成像镜头3，成像镜头4，打光光源5，打光光源6，支架7，基座8，被测物固定治具9，固定�？�10和计算机11; C⑶camera I上设有成像镜头3，成像镜头3前设有打光光源5 ;(XD camera2上设有成像镜头4，成像镜头4前设有打光光源6 ;ニ组数字取像子系统经固定�？�10安装在可调整高度的支架7上，支架7安装在可承载固定被测物的基座8上，基座8上设有被测物固定治具9 ;ニ组数字取像子系统经交換机与计算机11连接；计算机11的硬盘中设有核心算法模块，该核心算法模块与一作为间隙測量装置操作平台的人机接ロ管理连接；该核心算法�？椴捎米远氨咚惴ㄑ罢冶徊饧湎兜谋咴担唤峁扇嘶缑媪⒓聪允�。检测吋，首先支架7根据基座8上平面光源机构的厚度，调整成像镜头3和成像镜头4的前缘与待测物表面的相对距离；然后ニ组数字取像子系统与交换机连接形成ー单向的数据传送路径，将数据传送给计算机11 ;接着计算机11内的核心算法�？榻牡降幕叶韧枷窠写恚觳獬鯨ED和导光板的边缘，在人机界面上显示拍到的灰度图像，并在图像上标示出LED和导光板的边缘，再显示LED与导光板的间距；最后人机接ロ管理平台供使用者依其量测需求在此接ロ设定量测參数与品质的允收范围，比较的结果若落在品质的允收徂围内则认定为良品，反之为NG品。其中人机界面及人机接ロ管理平台为ー执行文件并以窗ロ方式显示，储存于计算机11的硬盘，其包含有与取像系统数量一致的影像显示组件21、与取像系统一致的间隙测量结果显示组件22和品质判断组件23 ;影像显示组件21，显示数字取像子系统镜头视角范围内的影像，经由自动的选点方式定义出量测位置；当间隙测量结果显示组件22的数值不落在使用者设定的品质允收区间，品质判断组件23即以红色方块警示为NG，反之则以绿色方块表示Pass。只要是微小间隙快速即可运用本创作之间隙测量系统以评断品质的程度并分类Pass或是NG。本发明所提出的CXD式的间隙测量系统可通过多次取像降低随机误差，并以特性化系数的方式修正系统误差，透过窗ロ化的人机接ロ，其操作參数均可经由该计算机11加以设定，使用者能够轻易的使用并快速的了解待测物品的光学品质，表I为该种间隙测量系统的规格表。
权利要求
1.ー种CXD式的间隙测量方法，其特征在于，该方法为以至少ニ组数字取像子系统对待测物表面拍摄成像，并将获得的灰度图像数据输入计算机，其后，藉由计算机处理灰度图像数据，并检测出待测物中LED和导光板的边缘，同时，还将灰度图像于一人机界面上显示，且在灰度图像上标示出LED和导光板的边缘，并显示出LED与导光板的间距，继而将LED与导光板的间距与设定參数范围比较，判定待测物的品质。
2.根据权利要求I所述的CCD式的间隙测量方法，其特征在于，该至少两组数字取像子系统并行固定在一高度可调节的支架上部，该支架下端与一可承载待测物的基座固定连接。
3.根据权利要求I或2所述的CCD式的间隙测量方法，其特征在于，所述数字取像子系统包括一 CXD摄像装置，所述CXD摄像装置上还设有成像镜头和打光光源。
4.根据权利要求I所述的CCD式的间隙测量方法，其特征在于，所述计算机内设有ー核心算法�？椋煤诵乃惴？槎越邮盏降幕叶韧枷袷萁新瞬ù砗螅觳獾酱馕镏蠰ED测试孔的位置，再进行霍夫变换，检测出LED的边缘，并对导光板内部微结构的图形进行排除，检测出导光板的边缘，而后，藉由与该核心算法�？榱拥末`显示�？榻叶韧枷裼谝蝗嘶缑嫔舷允荆以诨叶韧枷裆媳晔境鯨ED和导光板的边缘，并显示出LED与导光板的间距。
5.根据权利要求4所述的CCD式的间隙测量方法，其特征在于，所述核心算法�？楹拖允灸？榛褂胍蝗嘶鹰砉芾砥教印�
6.根据权利要求I或2所述的CCD式的间隙测量方法，其特征在干，该至少两组数字取像子系统经交換机与计算机单向连接。
7.一种CXD式的间隙测量系统，其特征在干，它包括至少ニ组数字取像子系统，每组数字取像子系统均包括一 CXD摄像装置，所述CXD摄像装置上设有成像镜头和打光光源；该至少ニ组数字取像子系统并行安装在一高度可调整的支架上，且所述支架安装在一可承载固定被测物的基座上；该至少ニ组数字取像子系统经ー交換机与计算机连接，所述计算机内设有ー核心算法�？椋煤诵乃惴？槎源邮秩∠褡酉低炒邮盏降幕叶韧枷袷萁新瞬ù砗螅觳獾酱馕镏蠰ED测试孔的位置，再进行霍夫变换，检测出LED的边缘，并对导光板内部微结构的图形进行排除，检测出导光板的边缘，而后，藉由与该核心算法�？榱拥囊幌允灸？榻叶韧枷裼谝蝗嘶缑嫔舷允荆以诨叶韧枷裆媳晔境鯨ED和导光板的边缘，并显示出LED与导光板的间距，，继而将LED与导光板的间距与设定參数范围比较，判定待测物的品质。
8.根据权利要求7所述的CCD式的间隙测量系统，其特征在于，所述基座上设有ー被测物固定治具。
9.根据权利要求7所述的CCD式的间隙测量系统，其特征在于，所述核心算法�？楹拖允灸？榛褂胍蝗嘶鹰砉芾砥教�。
10.根据权利要求7所述的CCD式的间隙测量系统，其特征在于，该至少两组数字取像子系统经交換机与计算机单向连接。
全文摘要
本发明公开了一种CCD式的间隙测量系统及方法，它包括二组数字取像子系统，每一组数字取像子系统包括一CCD摄像机，CCD摄像机上设有成像镜头和打光光源；二组数字取像子系统经一固定�？榘沧霸谝豢傻髡叨鹊闹Ъ苌希Ъ馨沧霸谝豢沙性毓潭ū徊馕锏幕希欢槭秩∠褡酉低尘唤换换爰扑慊樱患扑慊挠才讨猩栌泻诵乃惴？椋诵乃惴？橛梢蝗嘶涌诠芾聿⒆鑫湎恫饬孔爸玫牟僮髌教ǎ缓诵乃惴？椴捎米远氨咚惴ㄑ罢冶徊饧湎兜谋咴担唤峁扇嘶涌诹⒓聪允尽１痉⒚骺勺远氨吡坎猓怀杀镜陀氩僮骷蛞浊铱焖伲患觳獾闶稍黾尤∠褡榧械闶┏洌皇视谄饭堋⒀蟹ⅰ⑹笛槭壹吧谙呤凳奔觳�。
文档编号G01N21/88GK102661715SQ20121018739
公开日2012年9月12日 申请日期2012年6月8日 优先权日2012年6月8日
发明者许照林 申请人:苏州富鑫林光电科技有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
