专利名称：新型微型轴槽位测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及ー种新型微型轴槽位测试装置。
背景技术：
微型轴相对较�。雀撸殖凭苤幔谖⑿椭岬募庸ぶ校３Ｐ枰饬恳鸭庸さ奈⑿椭岵畚�。传统的做法是使用投影机(仪)来测量微型轴的槽位，由于受切削轴的影响常常使得测量的误差比较大，而且这样的測量方式效率比较低，使得产品的生产加工受到影响。
发明内容为解决背景技术中现有測量微型轴槽位测出的数据误差较大，而且比较麻烦的问题，本实用新型提供ー种新型微型轴槽位测试装置。本实用新型的技术方案是ー种新型微型轴槽位测试装置，包括支架，所述的支架上设有微型轴安装架和测试工具安装架，所述的测试工具安装架上设有测试工具，所述的微型轴安装架上的侧面上设有定位挡片，其水平面上设有用于安放待测试微型轴的凹槽，所述定位挡片的水平高度高于微型轴安装架的水平高度且低于安放待测试微型轴后微型轴的轴心高度，所述的测试工具与定位挡片相对应。作为本实用新型的一种改进，所述的凹槽为V型。作为本实用新型的进ー步改进，所述的测试工具为螺旋测微器。本实用新型的有益效果是，通过新型的测试装置，可以方便、快速、准确的测出微型轴的槽位，使得微型轴槽位的測量不受切削轴的影响，测试误差�。彝ü咀爸么蟠蟮奶岣吡宋⑿椭岵畚坏牟饬啃�。
附图1为本实用新型实施例的结构示意图。附图2为附图1中A向的结构示意放大图。图中，1、支架；2、微型轴安装架；21、凹槽；3、测试工具安装架；4、微型轴；41、凸台；5、定位挡片；6、测试工具。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型实施例作进ー步说明由图1结合图2所示，ー种新型微型轴槽位测试装置，包括支架1，所述的支架I上设有微型轴安装架2和测试工具安装架3，所述的测试工具安装架3上设有测试工具6，所述的微型轴安装架2上的侧面上设有定位挡片5，其水平面上设有用于安放待测试微型轴4的凹槽21，所述定位挡片5的水平高度高于微型轴安装架2的水平高度且低于安放待测试微型轴4后微型轴4的轴心高度，所述的测试工具6与定位挡片5相对应。具体的说，待测试微型轴4的头部设有凸台41，所述的定位挡片5与凸台41的后端相卡，凸台41的前端与测试工具6相对应。更具体的说，所述的测试工具为螺旋测微器。通过新型的测试装置，可以方便、快速、准确的测出微型轴的槽位，使得微型轴槽位的测量不受切削轴的影响，测试误差�。彝ü咀爸么蟠蟮奶岣吡宋⑿椭岵畚坏牟饬啃�。所述的凹槽21为V型。这样的结构便于微型轴的安放和定位，便于测量槽位，当然在本实用新型中凹槽也可以为方形或者其他结构。各位技术人员须知虽然本实用新型已按照上述具体实施方式
做了描述，但是本实用新型的发明思想并不仅限于此实用新型，任何运用本发明思想的改装，都将纳入本专利专利权保护范围内。
权利要求1.一种新型微型轴槽位测试装置，其特征在于包括支架(I)，所述的支架(I)上设有微型轴安装架(2)和测试工具安装架(3)，所述的测试工具安装架(3)上设有测试工具(6)，所述的微型轴安装架(2)上的侧面上设有定位挡片(5)，其水平面上设有用于安放待测试微型轴(4)的凹槽(21)，所述定位挡片(5)的水平高度高于微型轴安装架(2)的水平高度且低于安放待测试微型轴(4)后微型轴(4)的轴心高度，所述的测试工具(6)与定位挡片(5)相对应。
2.根据权利要求1所述的新型微型轴槽位测试装置，其特征在于所述的凹槽(21)为V型。
3.根据权利要求1或2所述的新型微型轴槽位测试装置，其特征在于所述的测试工具(6)为螺旋测微器。
专利摘要一种新型微型轴槽位测试装置。解决了现有测量微型轴槽位测出的数据误差较大，而且比较麻烦的问题。它包括支架，所述的支架上设有微型轴安装架和测试工具安装架，所述的测试工具安装架上设有测试工具，所述的微型轴安装架上的侧面上设有定位挡片，其水平面上设有用于安放待测试微型轴的凹槽，所述定位挡片的水平高度高于微型轴安装架的水平高度且低于安放待测试微型轴后微型轴的轴心高度，所述的测试工具与定位挡片相对应。通过新型的测试装置，可以方便、快速、准确的测出微型轴的槽位，使得微型轴槽位的测量不受切削轴的影响，测试误差�。彝ü咀爸么蟠蟮奶岣吡宋⑿椭岵畚坏牟饬啃�。
文档编号G01B5/00GK202869402SQ20122056339
公开日2013年4月10日 申请日期2012年10月29日 优先权日2012年10月29日
发明者邱朋清, 肖志刚 申请人:温州神一微型轴有限公司
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