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专利名称：贴合有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法
技术领域：
本发明涉及一种贴合有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法；具体地说，涉及一种在不驱动液晶面板的状态下对贴合有偏振片的液晶面板的缺陷进行检测的方法。
背景技术：
液晶电视等是在液晶面板的两面将偏振片贴合在正交尼科尔棱镜上而制造的。缺陷检测虽然是对使用的原材料、主要制造过程中所得到的部件来进行的，但也可以对贴合有偏振片的液晶面板来进行。 作为贴合有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法，虽然也有通过驱动液晶面板来进行的方法，但需要搭载带电荷的驱动程序等，且在缺陷检测的时候，为了进行修补、返工，则要卸载驱动程序等很费事。因此，最好不搭载驱动程序，在不驱动液晶面板的状态下，对贴合有偏振片的液晶面板的缺陷进行检测。已知有在液晶面板未驱动的状态下，关于可见光不透射的标准黑色的液晶的情形，对液晶面板内的异物进行检测的方法(例如，参见日本特开JP2004-77261-A号公报)。用该方法可以将液晶面板内的异物作为亮点来进行检测。但是，作为贴合有偏振片的液晶面板的缺陷，有糊状物、膜的切屑等异物、空气的卷入以及割伤等多种多样的缺陷。这些由于其形态等有时无法检测出来。因而期待着出现一种对贴合有偏振片的液晶面板的缺陷能够无遗漏地检测出来的方法。本发明的目的在于提供一种能够在不驱动液晶面板的状态下，对贴合有偏振片的液晶面板的缺陷能够无遗漏地检测出来的方法。本发明者就在不驱动液晶面板的状态下，对贴合有偏振片的液晶面板的缺陷进行检测的方法专心地进行了探讨研究，其结果发现，(I)既可以通过照射可见光来进行检测，(2 )又可以通过照射近红外线来进行检测，能够无遗漏地检测出缺陷，从而终于完成了本发明。

发明内容
SP，本发明包含下述内容I、一种贴合有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法，所述方法包含在不使液晶面板驱动的状态下，从一个面对贴合有偏振片的液晶面板进行光照射，对来自另一个面的透射光进行检测，并进行信号处理的步骤，所述方法包含通过照射可见光进行的检测和通过照射近红外线进行的检测。2、根据I所述的方法，照射可见光的光源是金属卤化物灯，照射近红外线的光源是卤素灯，用C⑶照相机来进行透射光的检测。3、根据I或2所述的方法，所述方法包含在对透射光进行检测并进行信号处理时，预先将与来自黑色矩阵的格子状的图形相对应的周期性的图形信号输入给信号处理装置，消除所检测出的该周期性的图形信号并设定信号的基线的步骤。
根据本发明的方法，在不使驱动液晶面板的状态下，能够无遗漏地检测出贴合有偏振片的液晶面板的缺陷，具有这样的效果。


图I是本发明的缺陷检测装置的模式图。图2示意出偏振片在正交尼科尔状态时的光透射性。标号说明I贴合有偏振片的液晶面板2 光源
3照相机4信号处理装置
具体实施例方式在制造偏振片及液晶面板的时候，虽然通常分别进行缺陷检测，用无缺陷的偏振片和液晶面板进行贴合，但有时无法检测出缺陷，或者混入了有缺陷的偏振片或液晶面板；或者贴合时卷入了异物或空气，因而在贴合有偏振片的液晶面板上存在缺陷。偏振片通常在偏振膜的两面贴合保护膜，通过在其表面借助黏着剂贴合有保护膜、隔膜而构成。作为主要的缺陷是在剥离隔膜、将偏振片贴合到液晶面板上的时的膜的切屑等的异物和空气的卷入、黏着剂块、伤痕等。此外，关于液晶电视等，虽然有时在偏振片上还可以贴合有位相差板、防眩膜等，但通常这些是预先贴合并作为多层膜而将其贴合到液晶面板上的。在本发明中，贴合有这种多层膜的液晶面板也将作为对象。缺陷检测是从贴合有偏振片的液晶面板的一个面进行光照射，且对来自另一个面的透射光(透射该液晶面板的透射光)进行检测。图I表示缺陷检测装置的模式图。在贴合有偏振片的液晶面板I的下方配置光源2;在贴合有偏振片的液晶面板I的上方配置照相机3，一边使贴合有偏振片的液晶面板移动，一边进行检测。来自照相机的信号由信号处理装置4进行处理并且判断有无缺陷。在本发明中，进行(I)通过照射可见光来进行检测，即，在不使液晶面板驱动的状态下，从一个面对贴合有偏振片的液晶面板进行可见光照射，且对来自另一个面的透射光进行检测并进行信号处理来检测该液晶面板的缺陷；和，(2)通过照射近红外线来进行检测，即，在不使液晶面板驱动的状态下，从一个面对该液晶面板进行近红外线照射，且对来自另一个面的透射光进行检测并进行信号处理来检测该液晶面板的缺陷。通过照射可见光来进行检测和通过照射近红外线来进行检测，也可以先进行其中的某一个检测，不同时进行。作为发射可见光的光源例子可以举出金属卤化物灯。金属卤化物灯主要发射约在300-700nm之间的可见光。作为发射近红外线的光源的例子可以举出卤素灯。例如，采用色温度3500° K的卤素灯的话，可以发射波长约在700nm附近达到峰值，在300_780nm之间的可见光以及在780-2000nm之间的近红外光。
如果偏振片被贴合在正交尼科尔棱镜上，即，在二块偏振片的透射轴以正交的状态被贴合的话，在液晶面板未驱动的状态下可见光就几乎不透射，而近红外线却可以透射。图2表示偏振片为正交尼科尔状态时的光透射性(实线)的模式。作为检测透射光的照相机，通常使用CXD照相机。CXD照相机不仅对可见光而且对近红外线也具有感光度。图2表示CCD的感光度特性(虚线)模式。来自照相机的信号由信号处理装置进行处理，且对缺陷进行检测。对所得到的信号强度値设阈值，超出该阈值时，即当作缺陷。在照射可见光或近红外线两者中的某一个来进行检 测的方法中，所使用的阈値，既可以用两者相同的阈値，也可以用不同的阈値来进行检测。例如，设基线为0，将白(亮度高于基线)侧、黑(亮度低于基线)侧分别用32000灰度来表示，且将5000灰度设为阈値，超过5000灰度的，即当作缺陷。虽然用肉眼难以确认，但用C⑶照相机可以检测出来自黑色矩阵的格子状的图形。预先将与该格子状的图形对应的周期性图形的信号输入到信号处理装置中，消除检测出的周期性图形的信号并设定基线。求出来自该基线的灰度。对通过照射可见光来进行检测和通过照射近红外线来进行检测不做特别的限定，哪一个先进行即可。另外，也可以将可见光和近红外线分别同时地照射在液晶面板的不同部分来进行检测，但不能将可见光和近红外线重叠地进行照射(在同一处同时进行照射)。关于配置各自的光源及CCD照相机，且使贴合有偏振片的液晶面板移动并依次进行检测的方法，可以举出配置任一种光源和一台CCD照相机，通过照射其中的一种光来进行的检测结束后，将光源进行更换并通过照射另一种光来进行检测的方法。此外，作为所使用的CXD照相机的摄像元件，既可以是线传感器，也可以是面传感器。
实施例以下，虽然对检测方法以实施例进行示出，但本发明不局限于该实施例。实施例I与图I所示同样地，在两面贴合有偏振片的液晶面板的下方配置光源、在两面贴合有偏振片的液晶面板的上方配置照相机，一边让两面贴合有偏振片的液晶面板移动，以使偏振片的透射轴正交，一边进行缺陷检测。使两面贴合有偏振片的液晶面板上下翻转，即从在做成了电视情况下的表面侧及背面侧的两方进行了检测。光源米用金属齒化物灯及齒素灯，照相机米用(XD照相机，信号处理装置米用Optics图像处理外观检测装置(KUB0TEK(株)制)进行了检测。此外，还通过用一种灯进行光照射来进行检测之后，再替换成另一种灯通过另一种光照射来进行检测。在检测对象的两面贴合有偏振片的液晶面板，除了偏振片7 S力9 > (注册商标)(住友化学(株)制)的隔膜以外，是贴合于37英寸电视用液晶面板上的。在信号处理装置中，为了消除来自黑色矩阵的周期性图形，预先输入与其对应的周期性图形信号，且消除检测出的周期性图形信号并设定基线。设基线为0，对白侧及黑侧分别设定32000灰度，在使用金属卤化物灯的情况下，设1000灰度为阈值；在使用卤素灯的情况下，设5000灰度为阈值，分别超出阈值的，即当作缺陷。检测出缺陷的例子显示于表I中。表I
权利要求
1.一种贴合有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包含在不使液晶面板驱动的状态下，从一个面对贴合有偏振片的液晶面板进行光照射，对来自另一个面的透射光进行检测，并进行信号处理的步骤，所述方法包含通过照射可见光进行的检测和通过照射近红外线进行的检测。
2.根据权利要求I所述的贴合有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法，其特征在于，照射可见光的光源是金属卤化物灯，照射近红外线的光源是卤素灯，用C C D照相机来进行透射光的检测。
3.根据权利要求I或2所述的贴合有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包含在对透射光进行检测并进行信号处理时，预先将与来自黑色矩阵的格子状的图形相对应的周期性的图形信号输入给信号处理装置，消除所检测出的该周期性的图形信号并设定信号的基线的步骤。
全文摘要
本发明提供一种贴合有偏振片的液晶面板的缺陷检测方法，该方法包含在不使液晶面板驱动的状态下，从一个面对贴合有偏振片的液晶面板进行光照射，对来自另一个面的透射光进行检测，并进行信号处理的步骤，该方法包含通过照射可见光进行的检测和通过照射近红外线进行的检测。利用此方法能够无遗漏地检测出缺陷。
文档编号G01M11/00GK102741684SQ201180008299
公开日2012年10月17日 申请日期2011年2月2日 优先权日2010年2月8日
发明者井村圭太, 四宫由隆, 渡边康弘 申请人:住友化学株式会社