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专利名称：膜材翘曲量测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型提供一种用于量测膜材翘曲值的装置，特指ー种量测含黏着层的光学膜材翘曲值，其可避免黏着层与装置沾黏，影响精准度及造成人员操作不当。
背景技术：
液晶平面显示器的面板制程中，包含偏光板对液晶盒精准对位的贴合过程，且面板的光学表现如对比、视角、色彩饱和度等，皆需仰赖与偏光板及其上光学膜的搭配；而偏光板制作方式习知为多层式膜材彼此贴合，因此若膜材彼此刚性不同，将难以避免地造成偏光板成品的翘曲，但为了面板快速自动化量产需求，偏光板成品的翘曲程度需被限定在一定程度内，以避免因过度翘曲使贴合机台无法吸附固定，造成对位坐标滑动偏差，影响面板光学表现，以及无法平整贴合造成的气泡外观不良；因此，翘曲程度对于偏光板为一重要评价指标。 此外，偏光板需贴合于面板液晶盒上，故成品需具备黏着层。请配合參看图I所示，图I为习知量测偏光板、光学膜等膜材翘曲的方式，其包含将待测膜材2静置于平坦基台I的上表面11，待待测膜材2稳定后依序量测角ー 21、角ニ 22、角三23及角四24相对于平坦基台I上表面11的翘曲高度h，以此为评估该待测膜材2是否符合面板厂贴合制程中所需的翘曲限度；若待测膜材2含黏着层时，其与上表面11接触时，将造成放置未平衡前，因黏附于上表面11，而无法反映其真实翘曲程度。因而黏着层将造成在量测其翘曲吋，因易与量测平坦基台沾黏，造成量测误差，使量测精准度不佳，无法精确筛选出适合面板厂快速生产的翘曲限度内的偏光板，及人员操作不易，増加人员量测时间。

实用新型内容因此，本实用新型的目的之ー在于提供ー种不易沾粘的膜材翘曲量测装置，以期克服现有量测平坦基台的难点。为达到上述目的，本实用新型提供的膜材翘曲量测装置在一较佳实施例中，其包含平坦基台，其上表面的表面积大于待测膜材的表面积；及复数个突出微结构均匀分布于该平坦基台的上表面，其中该复数个突出微结构具有相同高度且各具有平坦的顶表面。在本实用新型的膜材翘曲量测装置一较佳实施例中，该复数个突出微结构为不连续重复単元。该复数个突出微结构的顶表面积总和小于该平坦基台上表面的表面积。在本实用新型的膜材翘曲量测装置另ー较佳实施例中，该不连续重复単元的宽度相同；同时该不连续重复单元间具有间隔，且该间隔的宽度相同；而上述该不连续重复单元的宽度较佳为小于1_ ;上述该不连续重复単元的间隔宽度较佳为介于I U m至1_。在本实用新型提供的膜材翘曲量测装置另ー较佳实施例中，其包含平坦基台，其上表面的表面积大于待测膜材的表面积，且该平坦基台可为金属平坦基台或导电高分子平坦基台；及复数个突出微结构均匀分布于该平坦基台的上表面，其中该复数个突出微结构具有相同高度且各具有平坦的顶表面。本实用新型以此实施例实施时，可使膜材所带静电荷经由导电性平坦基台传导消除，避免静电吸附而造成翘曲值偏差。在本实用新型提供的膜材翘曲量测装置另ー较佳实施例中，其包含平坦基台，其上表面的表面积大于待测膜材的表面积；及复数个突出微结构均匀分布于该平坦基台的上表面，其中该复数个突出微结构具有相同高度且各具有平坦的顶表面，且该复数个突出微结构可包含涂层，涂层位于该复数个突出微结构的表面，该涂层可包含金属层或导电高分子层。本实用新型以此实施例实施时，可使膜材所带静电荷经由与导电性涂层的传导而消除，避免静电吸附而造成翘曲值偏差。关于本实用新型的优点与精神可以藉由以下的实用新型详述及附图得到进ー步的了解。

图I为习知的翘曲量测平坦基台示意图。图2为本实用新型的膜材翘曲量测装置的示意图。图3为本实用新型的膜材翘曲量测装置ー实施例的侧视图。图4为本实用新型的膜材翘曲量测装置另ー实施例的侧视图。
具体实施方式
请配合參看图2所示，图2为本实用新型所提供的膜材翘曲量测装置的一较佳实施例，膜材翘曲量测装置包含平坦基台1，其上表面11的表面积大于待测膜材2的表面积；及复数个突出微结构3均匀分布于该平坦基台I的上表面11，其中该复数个突出微结构3具有相同高度h 3且各具有平坦的顶表面31。其中，本实用新型的膜材翘曲量测装置与现有技术的膜材翘曲量测装置的相同的元件采用相同标号。在本实用新型的膜材翘曲量测装置的一较佳实施例中，该复数个突出微结构3为不连续重复单元。该复数个突出微结构3的顶表面积总和小于该平坦基台上表面11的表面积。请配合參看图3所示，图3为本实用新型的膜材翘曲量测装置另ー较佳实施例的侧视图，该不连续重复单元的宽度w3相同；同时该不连续重复单元间具有间隔4，且该间隔4的宽度d4相同，因此对于含黏着层的待测膜材接ロ，可得均匀的作用力；而上述该不连续重复单元的宽度《3较佳为小于1_，更佳为小于100 ym，该不连续重复単元的间隔的宽度d4较佳为介于I y m至Imm之间，以此可大幅降低含黏着层的待测膜材2对平坦基台I的黏着力。请參见表一,表ー为待测膜材2为偏光板时,各角所量测的翅曲值,对照组一与对照组ニ为使用图I所示习知无表面微结构平坦基台方式的量测结果，其中对照组一为量测不含黏着层的偏光板，对照组ニ为量测含黏着层的偏光板，对比可知习知方式量测含黏着层的偏光板所得翘曲数据比未含黏着层的偏光板小，原因除所増加黏着层本身重量的轻微影响外，主要因为黏着层对平坦基台I的沾黏，使低估此偏光板膜材的实际翘曲程度，此将造成该偏光板膜材于实际面板片贴制程中发生不良机率増加。请再參见表一，实验组一与实验组ニ皆为使用图2及图3所示的本实用新型ー较佳实施例的膜材翘曲量测装置，且于该不连续重复单元的宽度w3为100 ym，该不连续重复単元的间隔的宽度d4为1_的条件下所量测結果，实验组一的待测膜材2为不含黏着层的偏光板，对比对照组一可知其翘曲数值相当接近，其显示本实用新型的膜材翘曲量测装置不影响不含黏着层的偏光板实际翘曲程度；实验组ニ的待测膜材2为含黏着层的偏光板，对比对照组ニ的量测结果，若排除所増加黏着层本身重量的轻微影响后，其亦相当接近此待测膜材2在对照组一中的实际翘曲程度。这是因为藉由该复数个突出微结构3而减少了平坦基台I的上表面11与待测膜材2的接触面积，故可避免待测膜材2含黏着层吋，因直接与平坦基台I的上表面11接触、沾黏，而造成量测数据失真。表一使用本实用新型的膜材翘曲量测装置与习知翘曲量测平坦基台所量测翘曲值数据表
权利要求1.ー种膜材翘曲量测装置，其特征在于包含 平坦基台，其上表面的表面积大于待测膜材的表面积 '及 复数个突出微结构，均匀分布于该平坦基台的上表面，其中该复数个突出微结构具有相同高度且各具有平坦的顶表面。
2.如权利要求I所述的膜材翘曲量测装置，其特征在于该复数个突出微结构为不连续重复单元。
3.如权利要求2所述的膜材翘曲量测装置，其特征在于该不连续重复单元的宽度相同。
4.如权利要求3所述的膜材翘曲量测装置，其特征在于该不连续重复单元的宽度小于Imm0
5.如权利要求2所述的膜材翘曲量测装置，其特征在于该不连续重复单元间具有间隔，且该间隔的宽度相同。
6.如权利要求5所述的膜材翘曲量测装置，其特征在于该不连续重复单元的间隔宽度介于I u m至Imm之间。
7.如权利要求I所述的膜材翘曲量测装置，其特征在于该顶表面具有顶表面积，且该复数个突出微结构的顶表面积总和小于该平坦基台上表面的表面积。
8.如权利要求I所述的膜材翘曲量测装置，其特征在于该平坦基台为金属平坦基台或导电高分子平坦基台。
9.如权利要求I所述的膜材翘曲量测装置，其特征在于该复数个突出微结构包含涂层，该涂层位于该复数个突出微结构的表面。
10.如权利要求9所述的膜材翘曲量测装置，其特征在于该涂层包含金属层或导电高分子层。
专利摘要本实用新型为一种膜材翘曲量测装置，其包含平坦基台，其上表面的表面积大于待测膜材的表面积；及复数个突出微结构均匀分布于该平坦基台的上表面，其中该复数个突出微结构具有相同高度且各具有平坦的顶表面。本实用新型提供的膜材翘曲量测装置可避免量测含黏着层的膜材翘曲值时，因黏着层与平坦基台沾黏，造成量测误差。
文档编号G01B21/32GK202547636SQ201220022679
公开日2012年11月21日 申请日期2012年1月18日 优先权日2012年1月18日
发明者吴龙海, 杨雯欣, 郭真宽 申请人:明基材料有限公司, 明基材料股份有限公司