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专利名称：一种硅块固定装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种硅块固定装置。
背景技术：
硅是一种非金属元素，是一种半导体材料，太阳能电池片的主要原材料，亦可用于制作半导体器件和集成电路。随着科技的进步集成电路内的元件被不停地予以小型化且高集成化。因此，半导体晶片的纯度也被要求达到较高的可对应高集成电路的程度，而当晶片的原料是硅时，其纯度被提高到99.999999999%。如此高纯的晶片中，当然不允许存在任何的杂质和物理缺陷。为此必须对硅块进行探伤，以确认硅块内部是否有杂质和裂纹或伤痕，最基本的探伤方法是通过目视进行的，但是很难发现内部的裂纹或伤痕，因此需要借助红外探伤仪，利用红外探伤仪探伤时需要将硅块固定，常用的硅块固定设备一般是按照硅块的形状设计的方形凹槽和托盘，不仅容易磕碰硅块的边角，而且托盘在旋转过程中容易磕碰设备，造成不必要的经济损失。

实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是提供一种硅块固定装置，结构简单，制作成本低，PP板材料不会对娃块带 来杂质，避免了影响娃的性能；凹槽处的圆孔可以防止德碰娃块的四个角，固定件和托盘的圆角可以防止在硅块测量中旋转时对设备产生的磕碰。本实用新型所采取的技术方案是:一种硅块固定装置，包括托盘和用于将托盘卡到卡槽内的固定件，托盘正面的中间设有凹槽，凹槽的深度小于托盘的厚度，凹槽的横截面为四个角具有优弧的正方形，固定件与托盘的反面固定连接。优选的固定件的横截面为具有四个圆角的矩形。优选的托盘的横截面为具有四个圆角的矩形。优选的托盘和所述固定件为PP板制成。红外探伤仪:红外探伤测试仪是专门用于多晶硅片生产中的硅块硅棒硅片的裂缝、杂质、黑点、阴影、微晶等缺陷探伤的仪器。PP板:又称聚丙烯板，是一种半结晶性材料，密度小，易焊接和加工，具有优越的耐化性，耐热性及耐冲击性、无毒、无味是目前最符合环保要求之工程塑料之一，PP挤出板材具有质轻、厚度均勻、表面光滑平整、耐热性好、机械强度高、优良的化学稳定性和电绝缘性、无毒等特征。广泛应用于化工容器、机械、电子、电器、食品包装、医药、装潢和水处理等领域。采用上述技术方案所产生的有益效果在于:本实用新型硅块固定装置结构简单，制作成本低，PP板材料不会对硅块带来杂质，避免了影响硅的性能；凹槽处的圆孔可以防止磕碰硅块的四个角，固定件和托盘的圆角可以防止在硅块测量中旋转时对设备产生的磕碰。以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步详细的说明。

图1是本实用新型的俯视图；图2是本实用新型的主视图；图3是本实用新型的仰视图；I为托盘，2为固定件，3为凹槽。
具体实施方式
一种硅块固定装置，包括托盘I和用于将托盘卡到卡槽内的固定件2，托盘I正面的中间设有凹槽3，凹槽3的深度小于托盘的厚度，凹槽3的横截面为四个角具有优弧的正方形，固定件2与托盘I的反面固定连接；固定件2的横截面为具有四个圆角的矩形；托盘I的横截面为具有四个圆角的矩形；托盘I和固定件2为PP板制成。按照硅块的尺寸具体的托盘的截面为具有四个圆角的正方形，正方形的边长为250mm,圆角的半径 为46mm,托盘的厚度为IOmm ;凹槽的横截面为四个角具有优弧的正方形，正方形的边长为158mm,优弧的半径为3mm,凹槽的深度为5mm ;固定件的横截面为具有四个圆角的正方形，正方形的边长为220mm,圆角半径为31mm,固定件的高度为5mm。本实用新型使用时，将固定件放入卡槽内，将硅块放入凹槽内，硅块的四个角放入凹槽四个角的圆孔内避免碰上硅块，即可使用红外探伤仪探伤。
权利要求1.一种硅块固定装置，其特征在于:包括托盘(I)和用于将托盘卡到卡槽内的固定件(2 )，托盘(I)正面的中间设有凹槽(3 )，凹槽(3 )的深度小于托盘的厚度，凹槽(3 )的横截面为四个角具有优弧的正方形，所述固定件(2)与托盘(I)的反面固定连接。
2.如权利要求1所述的硅块固定装置，其特征在于:所述固定件(2)的横截面为具有四个圆角的矩形。
3.如权利要求1所述的硅块固定装置，其特征在于:托盘(I)的横截面为具有四个圆角的矩形。
4.如权利要求1所述的硅块固定装置，其特征在于:托盘(I)和所述固定件(2)为PP板制 成。
专利摘要本实用新型公开了一种硅块固定装置，包括托盘和用于将托盘卡到卡槽内的固定件，托盘正面的中间设有凹槽，凹槽的深度小于托盘的厚度，凹槽的横截面为四个角具有优弧的正方形，固定件与托盘的反面固定连接。本实用新型结构简单，制作成本低，PP板材料不会对硅块带来杂质，避免了影响硅的性能；凹槽处的圆孔可以防止磕碰硅块的四个角，固定件和托盘的圆角可以防止在硅块测量中旋转时对设备产生的磕碰。
文档编号G01N21/88GK203101278SQ201220696199
公开日2013年7月31日 申请日期2012年12月17日 优先权日2012年12月17日
发明者王纪山 申请人:衡水英利新能源有限公司