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专利名称：误差校正的电阻偏差率测量仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测量电阻变化率的仪器，具体地指一种校正误差的电阻偏差率的测量仪。
背景技术：
目前，常用的电阻偏差率测量仪是利用电桥电路⑴的输出电压与待测电阻应变的线性关系来测量电阻偏差率的(注电阻应变的百分比表示即为电阻偏差率)。但是，这种线性关系是有条件的，只有当标准电阻R远大于待测电阻的微小变化△ R时，上述的线性 关系才近似成立。随着待测电阻应变AR/R的增大，电桥的输出电压与待测电阻应变偏离线性关系越远，导致测量电阻偏差率(电阻应变)的误差增大，从而影响测量的准确度。
发明内容为了克服现有电阻偏差率测量仪在测量较大的电阻偏差率时测量误差较大的不足，本实用新型提供一种误差校正的电阻偏差率测量仪，该测量仪的电阻偏差率指示表(3)由一个电压表根据电阻偏差率校正表(见下表)改装而成，能准确测量电阻的偏差率。本实用新型解决其技术问题采用的技术方案是该误差校正的电阻偏差率测量仪包括电阻电桥⑴，同相比例放大电路⑵，电阻偏差率指示表⑶，由导线将它们连接在一起。在附图
电阻电桥(I)中，Rtl是固定电阻，R是标准电阻，Rx = R+AR是待测电阻。
AD
电阻电桥⑴的输出电压UabS : Uab = ——U。电阻电桥⑴的输出电压Uab被增益为
2R + AR
A的同相比例放大电路(2)放大，放大后的电压作为电阻偏差率指示表(3)的输入电压
AD' Ui = UabA = AU-
1 abIR+ HJt当R远大于Λ R时，上式近似为
Γ ττ iTT AR AU ARUi =AU-----
' 2R + M 2 R
ΔΤΤ若γ取100，则上式为电阻偏差率指示表(3)的输入电压Ui与所指示的电阻偏
ADAD
差率|(%)的关系。然而，Ui与电阻偏差率|(%)之间并不是严格的线性关系，并且随 KK
着的增大，近似程度也越来越差。对此，电阻率偏差校正表(见下表)给出经过精确计 K
An
算后电阻偏差率指不表(3)的输入电压Ui与电阻偏差率的对应值。在电阻偏差率
K
#(%)为负值时，Ui的值也为负，它们之间的量值关系与电阻率偏差校正表相同，只是表中K
权利要求1.误差校正的电阻偏差率 测量仪，其特征在于该误差校正的电阻偏差率测量仪包括电阻电桥⑴，同相比例放大电路⑵，电阻偏差率指示表⑶，由导线将它们连接在一起。
专利摘要本发明误差校正的电阻偏差率测量仪，本实用新型公开误差校正的电阻偏差率测量仪，该测量仪包括电阻电桥(1)，同相比例放大电路(2)，电阻偏差率指示表(3)，导线将它们连接在一起。测量仪中的电阻偏差率指示表(3)由电压表根据电阻偏差率校正表改装而成，消除了电阻电桥(1)输出电压与电阻偏差率之间偏离线性关系的误差，使测量电阻偏差率更加准确。该测量仪结构简单，适合于电阻偏差率的精确测量。
文档编号G01R35/00GK202494774SQ20122003135
公开日2012年10月17日 申请日期2012年1月14日 优先权日2012年1月14日
发明者姚仲瑜 申请人:姚仲瑜