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专利名称：测试连接器、传输线、测试系统及一种使用方法
技术领域：
本发明涉及液晶显示领域，更具体的说，涉及一种测试连接器、传输线、测试系统及一种使用方法。
背景技术：
薄膜晶体管液晶显示器，即TFT LCD (Thin Film Transistor Liquid Crystal Display)已经成为了现代IT、视讯产品中重要的显示平台。其主要工作原理通过适当的电压加载在阵列(Array)玻璃基板与彩色滤光(CF)玻璃基板结合的液晶层间，使液晶分子在电压作用下发生偏转，通过不同电压控制得到不同的穿透率，从而实现了显示。在TFT IXD厂内，经常需要对产品进行测试，此时需要通过低压差分信号传输 (LVDS)线来连接产品与信号源。现有技术中，低压差分信号传输(LVDQ线一端接头直接插入产品待检测的PCB板，另一端插入型号源。在更换测试样品时需要将插入PCB的接头拔下重新插入新样品中。由于每天进行的测试量巨大，因而需要频繁插拔低压差分信号传输 (LVDS)线，这导致了低压差分信号传输(LVDS)线经常由于接头损坏而作废。

发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种可延长低压差分信号传输(LVDS)线使用寿命的测试连接器、传输线、测试系统及一种使用方法。本发明的目的是通过以下技术方案来实现的一种低压差分信号传输线的测试连接器，所述测试连接器包括与低压差分信号传输线匹配的信号线接口，以及跟待检测的PCB板匹配的PCB接口，所述信号线接口与PCB接口之间电气连接。优选的，所述PCB接口两端设有通孔。通孔可以方便机械化操作，机械手可以卡住两侧通孔进行测试连接器的拔插。优选的，所述PCB接口中部设有凸缘，所述凸缘延伸到长度跟所述测试连接器与待检测的PCB板连接的针脚的高度一致。凸缘可以环绕保护内部的插针，避免外部杂物污染插针，造成接触不良或短路；凸缘延伸到长度跟所述测试连接器与待检测的PCB板连接的针脚的高度一致，可以在测试连接器与待检测的PCB板完全连接后，利用凸缘以及凸缘两侧的PCB接口端面进行定位。优选的，所述信号线接口设有容纳所述低压差分信号传输线的凹槽，所述凹槽两侧设有定位凸包，当压差分信号传输线的接头嵌入凹槽后，凸包可以抵住接头，防止意外脱落，同时也保证接触强度，提升信号连接的可靠性。。一种低压差分信号传输线，所述低压差分信号传输线的接头处连接有上述的一种低压差分信号传输线的测试连接器。一种低压差分信号测试系统，包括上述的一种低压差分信号传输线。优选的，所述低压差分信号测试系统包括电源，低压差分信号传输线跟接头相对的另一端设有接口，所述电源和所述低压差分信号之间通过接口连接。通过接口连接，方便拆卸。一种低压差分信号传输线的使用方法，包括以下步骤A 检测低压差分信号传输线的测试连接器的PCB接口是否正常；如果正常，将所述PCB接口与待检测的PCB板连接，开始正常检测；如果异常，转步骤B ；B:将低压差分信号传输线的测试连接器的信号线接口从低压差分信号传输线上拆卸下来；将新的低压差分信号传输线的测试连接器的信号线接口连接到低压差分信号传输线，转步骤A。本发明通过发明人研究发现，在现有技术中，低压差分信号传输(LVDQ线接头直接插入待检测的PCB板。由于每更换一枚测试样品，就需要插拔一次低压差分信号传输 (LVDS)线，容易导致低压差分信号传输(LVDS)线接头损坏。一旦低压差分信号传输(LVDS) 接头损坏，LVDS线也将作废。本发明将插拔对象由低压差分信号传输(LVDQ接头转变成为测试连接器，发生损坏时只需更换测试连接器即可，大大延长了低压差分信号传输(LVDS) 线的使用寿命。由于测试连接器成本仅为LVDS线的10%不到，因此可减少损耗带来的成本。


图1是本发明低压差分信号测试系统示意图；图2是本发明测试连接器示意图；其中1、待检测的PCB板；2、测试连接器；3、接头；4、线材；5、接口 ；6、电源。7、信号线接口 ；8、PCB接口 ；81、通孔；82、凸缘。
具体实施例方式下面结合附图和较佳的实施例对本发明作进一步说明。 如图1所示，一种低压差分信号测试系统，包括电源6，与电源6连接的低压差分信号传输线，低压差分信号传输线跟电源6连接的一端设有接口 5，另外一端为接头3，接口 5 与接头3之间通过线材4连接，接头3处连接有测试连接器2，所述低压差分信号传输线通过测试连接器2跟需要测试的待检测的PCB板1连接。如图2所示，一种低压差分信号传输线的测试连接器2，所述测试连接器2包括与低压差分信号传输线匹配的信号线接口 7，以及跟待检测的PCB板1匹配的PCB接口 8。PCB 接口 8两端设有通孔81，通孔81可以方便机械化操作，机械手可以卡住两侧通孔81进行测试连接器2的拔插。PCB接口 8中部设有凸缘82，凸缘82的高度跟测试连接器2与待检测的PCB板1连接的针脚的高度一致，凸缘82可以环绕保护内部的插针，避免外部杂物污染插针，造成接触不良或短路；凸缘82延伸的长度跟所述测试连接器2与待检测的PCB板 1连接的针脚的高度一致，可以在测试连接器2与待检测的PCB板1完全连接后，利用凸缘 82以及凸缘82两侧的PCB接口 8端面进行定位。所述信号线接口 7设有容纳所述低压差分信号传输线的凹槽，所述凹槽两侧设有定位凸包，当压差分信号传输线的接头3嵌入凹槽后，凸包可以抵住接头3，防止意外脱落，同时也保证接触强度，提升信号连接的可靠性。一种低压差分信号传输线的使用方法，包括以下步骤
A 检测低压差分信号传输线的测试连接器的PCB接口是否正常；如果正常，将所述PCB接口与待检测的PCB板连接，开始正常检测；如果异常，转步骤B ；B:将低压差分信号传输线的测试连接器的信号线接口从低压差分信号传输线上拆卸下来；将新的低压差分信号传输线的测试连接器的信号线接口连接到低压差分信号传输线，转步骤A。以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。
权利要求
1.一种低压差分信号传输线的测试连接器，其特征在于，所述测试连接器包括与低压差分信号传输线匹配的信号线接口，以及跟待检测的PCB板匹配的PCB接口，所述信号线接口与PCB接口之间电气连接。
2.如权利要求1所述的一种低压差分信号传输线的测试连接器，其特征在于，所述PCB 接口两端设有通孔。
3.如权利要求1所述的一种低压差分信号传输线的测试连接器，其特征在于，所述PCB 接口中部设有凸缘，所述凸缘延伸的长度跟所述测试连接器与待检测的PCB板连接的针脚的高度一致。
4.如权利要求1所述的一种低压差分信号传输线的测试连接器，其特征在于，所述信号线接口设有容纳所述低压差分信号传输线的凹槽，所述凹槽两侧设有定位凸包。
5.—种低压差分信号传输线，其特征在于，所述低压差分信号传输线的接头处连接有如权利要求1 4任一所述的一种低压差分信号传输线的测试连接器。
6.一种低压差分信号测试系统，包括如权利要求5所述的一种低压差分信号传输线。
7.如权利要求6所述的一种低压差分信号测试系统，其特征在于，所述低压差分信号测试系统包括电源，低压差分信号传输线跟接头相对的另一端设有接口，所述电源和所述低压差分信号之间通过接口连接。
8.—种低压差分信号传输线的使用方法，包括以下步骤A 检测低压差分信号传输线的测试连接器的PCB接口是否正常；如果正常，将所述PCB 接口与待检测的PCB板连接，开始正常检测；如果异常，转步骤B ；B:将低压差分信号传输线的测试连接器的信号线接口从低压差分信号传输线上拆卸下来；将新的低压差分信号传输线的测试连接器的信号线接口连接到低压差分信号传输线，转步骤A。
全文摘要
本发明公开一种测试连接器、传输线、测试系统及一种使用方法。一种低压差分信号传输线的测试连接器，所述测试连接器包括与低压差分信号传输线匹配的信号线接口，以及跟待检测的PCB板匹配的PCB接口，所述信号线接口与PCB接口之间电气连接。本发明将插拔对象由低压差分信号传输(LVDS)接头转变成为测试连接器，发生损坏时只需更换测试连接器即可，大大延长了低压差分信号传输(LVDS)线的使用寿命。由于测试连接器成本仅为LVDS线的10％不到，因此可减少损耗带来的成本。
文档编号G01R1/04GK102495244SQ20111038658
公开日2012年6月13日 申请日期2011年11月29日 优先权日2011年11月29日
发明者张小新, 张少远, 蔡荣茂, 邓明锋, 金昊 申请人:深圳市华星光电技术有限公司