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专利名称：电磁波检测系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种电磁波检测系统，特别涉及一种配置在电波暗室中的电磁波检测系统。
背景技术：
现代社会中，电子产品几乎无所不在，每个电子产品在使用时都会或多或少产生电磁波，过大的电磁波强度将会对人体产生伤害。电子产品在上市或出口前，都必须先经过电磁波检验测试，检验合格的产品才能获准上市或出口。
目前检验电磁波的方式是将电子产品放置在电波暗室中以进行测试。请参见图1A、图1B、图1C及图1D，它们分别是传统电波检测系统的第一示意图、传统电波检测系统的第二示意图、传统电波检测系统的第三示意图及传统电波检测系统的第四示意图。如图1A所示，当待测物102放置在测试台101进行测试时，天线103先调整成为水平方向以接收电磁波且天线103位于第一高度h1。如图1B所示，接着转换天线103调整成垂直方向接收待测物102电磁波且同样位于第一高度h1。如图1C所示，接着再调整天线103到第二高度h2测量待测物102的电磁波，且天线103呈水平方向。如图1D所示，最后在第二高度h2，再调整天线到垂直方向再测试一次，才能完成全部的测试。因此，传统检验电磁波的方式需要经过四段调整的时间，分别是将天线调整为水平方向的时间，调整为垂直方向的时间，调整天线高度的时间，以及调整高度后再调整天线方向的时间。因此，使用传统电波检测系统来进行电磁波检验测试时，过程相当的繁琐，且相当的耗时耗力。

发明内容
本发明的目的就是提供一种电磁波检测系统，减少测量待测物电磁波的时间，以达到快速完成电磁波检测的目的。本发明利用同时在电波暗室配置水平天线及垂直天线，减少调整水平天线成为垂直天线的时间，并可配合加装不同高度的水平天线及垂直天线，以减少将水平天线或垂直天线移动到不同高度的时间。
根据本发明的目的，提出一种电磁波检测系统，这个系统包括测试台、第一水平天线、第一垂直天线和信号处理单元，测试台用来放置待测物。第一水平天线及第一垂直天线分别位于电波暗室的两处以接收待测物的电磁波，并分别据此产生一水平电波及一垂直电波。信号处理单元接收并分析水平电波及垂直电波。
根据本发明的目的，再提出一种电磁波检测系统，这个系统包括测试台、第一天线组及信号处理单元。测试台用来放置待测物。第一天线组设置在电磁波检测系统的一处，第一天线组包括水平天线及垂直天线，水平天线及垂直天线位于同一高度，并分别产生水平电波及垂直电波。信号处理单元接收并分析水平电波及垂直电波。
为了让本发明的上述目的、特征、和优点能更明显易懂，下文会举几个较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。


图1A为传统电波检测系统的第一示意图；图1B为传统电波检测系统的第二示意图；图1C为传统电波检测系统的第三示意图；图1D为传统电波检测系统的第四示意图；图2A为第一实施例的电磁波检测系统的示意图；图2B为第一实施例的电磁波检测系统天线设置示意图；图2C为信号处理单元的框图；图2D为数据处理单元的框图；图3为第二实施例的电波检测系统的示意图；图4为第三实施例的电波检测系统的示意图；图5A为第四实施例的电波检测系统的示意图；图5B为具有第一天线组及第二天线组的电磁波检测系统的示意图。
具体实施例方式
第一实施例请参照图2A，它是第一实施例的电磁波检测系统的示意图。电磁波检测系统290包括测试台201、第一水平天线202、第一垂直天线203及信号处理单元204。请参照图2B，它是第一实施例的电磁波检测系统天线设置示意图。测试台201用来放置待测物210，第一水平天线202配置在电波暗室200的一处，第一水平天线202与待测物210的距离是D1。第一垂直天线203配置在电波暗室200的另外一处，第一垂直天线203与待测物210的距离是D2，D1与D2的大小实质上相同，例如都是三米。如图2A所示，第一水平天线202及第一垂直天线203分别耦接到信号处理单元204。当待测物210处在操作状态下时，待测物210会发出电磁波。第一水平天线202及第一垂直天线203接收待测物210的电磁波并分别据此产生如图2A所示的水平电波s1及垂直电波s2，水平电波s1及垂直电波s2例如是水平电波与垂直电波。信号处理单元204耦接到第一水平天线202及第一垂直天线203。信号处理单元204用来转换并分析水平电波s1及垂直电波s2。
请参照图2C，图2C是信号处理单元的框图，信号处理单元204包括控制单元220、信号转换单元240以及数据处理单元230。请参照图2D，图2D是数据处理单元的框图。信号转换单元240具有放大器241及转换器242。转换器242例如是频谱分析仪。放大器241分别连接第一水平天线202及第一垂直天线203，转换器242连接放大器241用来将水平电波s1及垂直电波s2分别转换成水平信号H1及垂直信号V1。数据处理单元230例如是计算机，分析处理水平信号H1及垂直信号V1并连接在控制单元220上。控制单元220用来调整第一水平天线202及第一垂直天线203的高度，并控制测试台201作旋转，当测试台201旋转一角度后，第一水平天线202及第一垂直天线203接收这个角度的电磁波，电磁波经由信号处理单元204中的放大器241、转换器242及数据处理单元230处理分析后，由控制单元220调整测试台201旋转到下一个角度以进行电磁波的测试。控制单元220可控制测试台201做360度的旋转，使待测物210能做不同角度的电磁波测试。
请参照图2A，一般而言，电波暗室200可以是三种尺寸，分别是7*3*3米、7*4*3米及9*6*6米。当本实施例的电磁波检测系统配置在7*3*3米及7*4*3米的电波暗室中时，第一水平天线202及第一垂直天线203开始测试时的高度是h1一米，当测试完此高度后，控制单元220调整第一水平天线202及第一垂直天线203的高度h2两米以进行测试。然而如果电波暗室200是9*6*6米的尺寸时，如图2C的控制单元220调整第一水平天线202及第一垂直天线203的高度由h1一米调整到h2三米进行测试。如图2B所示，利用在电波暗室200两处同时配置水平天线及垂直天线且位于同样高度可以节省将水平天线调整成垂直天线的时间。
第二实施例请参照图3，它是本发明第二实施例的电磁波检测系统的示意图。电波暗室200包括测试台201、第一水平天线202、第二水平天线302、第一垂直天线203、第二垂直天线303。如果电波暗室200是7*3*3米或7*4*3米的尺寸时，第一水平天线202及第一垂直天线203由如图2C的控制单元230调整定位到第一高度h1，例如是一米的高度，第二水平天线302及第二垂直天线303由控制单元230调整定位到第二高度h2，例如是两米的高度。若电波暗室200是9*6*6米的尺寸时，第一水平天线202及第一垂直天线203由控制单元230调整定位到第一高度h1’，例如是一米的高度，第二水平天线302及第二垂直天线303由控制单元220调整定位到第二高度h2’，例如是三米的高度。第二水平天线302平行于第一水平天线202配置、第二垂直天线303平行于第一垂直天线203配置。如同第一实施例，第一水平天线202及第二水平天线302接收待测物210的电磁波并产生水平电波s1。第一垂直天线203及第二4垂直天线303接收待测物210电磁波并产生垂直电波s2，第一水平天线202及第一垂直天线203的高度相同，第二水平天线302及第二垂直天线303的高度相同。
第三实施例请参照图4，它是依照本发明第三实施例的电磁波检测系统的示意图。电波暗室200包括测试台201、第一水平天线202、第二水平天线402、第一垂直天线203、第二垂直天线403。若电波暗室200是7*3*3米或7*4*3米的尺寸时，第一水平天线202及第一垂直天线203由如图2C的控制单元230调整定位到第一高度h1，例如是一米，第二水平天线402及第二垂直天线403由控制单元230调整定位到第二高度h2，例如是两米。如果电波暗室200是9*6*6米的尺寸时，第一水平天线202及第一垂直天线203由控制单元230调整定位到第一高度h1’，例如是一米，第二水平天线402及第二垂直天线403由控制单元230调整定位到第二高度h2’，例如是三米。第二水平天线402平行第一垂直天线203配置、第二垂直天线403平行于第一水平天线202配置。如同第一实施例所述，信号处理单元204用来转换并分析第一水平天线202及第二水平天线402与第一垂直天线203及第二垂直天线403所接收到的水平电波s1及垂直电波s2。如图3或图4所示，同时配置两个水平天线及两个垂直天线在电波暗室中且位于不同高度时，除了节省传统需要从水平天线调整到垂直天线的时间，更可以节省需调整水平天线或垂直天线在不同高度测量的时间。
第四实施例请参照图5A，它是本发明第四实施例的电磁波检测系统的示意图。电波暗室200包括测试台201及第一天线组550。测试台201用来放置待测物210。第一天线组550设置在电磁波检测系统的一处，第一天线组550包括水平天线551及垂直天线552，用来分别接收电磁波，并据此产生如同第一实施例中的水平电波s1及垂直电波s2。水平天线551及垂直天线552同样位于第一高度h1，例如是一米处，用来同时接收待测物210的电磁波。请参照图5B，它是依照本发明具有第一天线组及第二天线组的电磁波检测系统的示意图。在第四实施例中，电波暗室200还可包括第二天线组580平行配置在第一天线组550。如图5A所示，在电波暗室的一处设置水平天线及垂直天线，同时水平天线及垂直天线位于相同高度，可以节省传统需调整水平天线成为垂直天线的时间。如图5B所示，在电波暗室的一处且不同高度同时设置水平天线及垂直天线还可以节省调整天线高度的时间。如图2B及图5A所示的电磁波检测系统空间设置大约可以节省传统测量方式一半的时间，如图3、图4及图5B所示的电磁波检测系统空间设置方式仅为传统测量方式四分之一的时间。
本发明上述实施例所揭示的电磁波检测系统，节省了目前一般电波暗室中电磁波检测系统所需花费的时间，以往测试时需要先将水平天线调整成垂直天线，接着又花时间将水平天线移动到不同高度，最后又将水平天线调整成垂直天线。而本发明利用将水平天线或垂直天线同时设置在电波暗室中进行测试，也可以配合利用同时使用四组天线进行测试以减少所需要的测量待测物电磁波的时间以减少成本。
上述的较佳实施例，不是用来限定本发明的，任何本领域中的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，可以作各种的改动和替代，因此本发明的保护范围应当以权利要求书的界定为准。
附图符号说明101、201测试台102、210待测物103天线200电波暗室202第一水平天线203第一垂直天线s1水平电波
s2垂直电波204信号处理单元220控制单元230数据处理单元241放大器242转换器290电磁波检测系统302、402第二水平天线303、403第二垂直天线h1、h1’第一高度h2、h2’第二高度H1水平信号V1垂直信号550第一天线组551水平天线552垂直天线580第二天线组
权利要求
1.一种电磁波检测系统，配置在一电波暗室中，所述电磁波检测系统用来测试待测物的一电磁波，所述电磁波检测系统，其特征在于，包括一测试台，用来放置所述待测物；一第一水平天线，位于所述电波暗室的一处；一第一垂直天线，位于所述电波暗室的另一处，所述第一水平天线及所述第一垂直天线用来分别接收所述电磁波，并分别据以产生一水平电波及一垂直电波；以及一信号处理单元，耦接到所述第一水平天线及所述第一垂直天线，所述信号处理单元用来转换并分析所述水平电波及所述垂直电波。
2.如权利要求1所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述信号处理单元包括一控制单元，配置在所述电磁波检测系统，所述控制单元用来调整所述第一水平天线及所述第一垂直天线的高度；一信号转换单元，包括一放大器，分别连接在所述第一水平天线及所述第一垂直天线，所述放大器用来放大所述水平电波及所述垂直电波；及一转换器，连接在所述放大器，用来将所述水平电波与所述垂直电波转换为一水平信号及一垂直信号；以及一数据处理单元，连接在所述转换器，所述数据处理单元用来接收并分析所述水平信号及所述垂直信号。
3.如权利要求2所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述控制单元用来调整所述测试台的旋转角度。
4.如权利要求3所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述测试台是一旋转台，所述旋转台可作360°旋转。
5.如权利要求2所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述转换器是一频谱分析仪。
6.如权利要求2所述的电磁波检测系统，其特征在于，其中所述数据处理单元是一计算机。
7.如权利要求1所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述第一水平天线及所述待测物间的距离与所述第一垂直天线与所述待测物之间的距离实质上相同。
8如权利要求1所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述电磁波检测系统还包括一第二水平天线及一第二垂直天线，所述第一水平天线及所述第一垂直天线位于第一高度h1，而所述第二水平天线及所述第二垂直天线位于第二高度h2，所述第二水平天线及所述第二垂直天线分别与所述第一水平天线及所述第一垂直天线平行。
9.如权利要求1所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述电磁波检测系统进一步包括一第二水平天线及一第二垂直天线，所述第一水平天线及所述第一垂直天线位于第一高度h1，而所述第二水平天线及所述第二垂直天线位于第二高度h2，所述第二水平天线及所述第二垂直天线分别与所述第一垂直天线及所述第一水平天线平行。
10.如权利要求1所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述电波暗室是7*3*3米的空间。
11.如权利要求1所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述电波暗室是7*4*3米的空间。
12.如权利要求1所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述电波暗室是9*6*6米的空间。
13.一种电磁波检测系统，配置在电波暗室中，所述电磁波检测系统用来测试待测物的电磁波，其特征在于，所述电磁波检测系统包括一测试台，用来放置所述待测物；一第一天线组，设置在所述电磁波检测系统的一处，所述第一天线组包括一水平天线及一垂直天线，所述水平天线及所述垂直天线位于同一高度，所述水平天线及所述垂直天线用来分别接收所述电磁波并分别据此产生水平电波及垂直电波；以及一信号处理单元，耦接到所述水平天线及所述垂直天线，所述信号处理单元用来转换并分析所述水平电波和所述垂直电波。
14.如权利要求13所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述信号处理单元包括一控制单元，配置在所述电磁波检测系统，所述控制单元用来调整所述水平天线和所述垂直天线的高度；一信号转换单元，包括一放大器，连接所述天线组，所述放大器用来放大水平电波及所述垂直电波；及一转换器，连接所述放大器，用来将所述水平电波与所述垂直电波转换为一水平信号及和一垂直信号；以及一数据处理单元，连接所述转换器，所述数据处理单元用来接收并分析所述水平信号及所述垂直信号。
15.如权利要求14所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述控制单元用来调整所述测试台的旋转角度。
16.如权利要求15所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述测试台是旋转台，所述旋转台可作360°旋转。
17.如权利要求14所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述转换器是一频谱分析仪。
18.如权利要求14所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述数据处理单元是一计算机。
19.如权利要求13所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述水平天线和所述待测物之间的距离与所述垂直天线与所述待测物之间的距离实质上相同。
20.如权利要求13所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述电磁波检测系统进一步包括第二天线组与所述第一天线组不同高度平行设置。
21.如权利要求13所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述电波暗室是7*3*3米的空间。
22.如权利要求13所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述电波暗室是7*4*3米的空间。
23.如权利要求13所述的电磁波检测系统，其特征在于，所述电波暗室是9*6*6米的空间。
全文摘要
一种电磁波检测系统，包括测试台、第一水平天线、第一垂直天线以及信号处理单元。测试台用来放置待测物，第一水平天线位于电波暗室的一处、第一垂直天线位于电波暗室的另一处，第一水平天线及第一垂直天线用来分别接收电磁波，并据此产生一个水平电波及一个垂直电波。信号处理单元耦接到第一水平天线及第一垂直天线，信号处理单元用来转换并分析所述水平电波及所述垂直电波。
文档编号G01R29/08GK1737585SQ200410053890
公开日2006年2月22日 申请日期2004年8月20日 优先权日2004年8月20日
发明者林庆源, 吴明芳, 刘培智, 王育国, 林义凯, 林盛里 申请人:虹光精密工业(苏州)有限公司