单相变压器绕组漏抗的三绕组测量法的制作方法-山东亚星游戏官网机床有限公司

专利名称：单相变压器绕组漏抗的三绕组测量法的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测量単相变压器一、二次绕组漏抗方法，尤其是利用第三绕组测量単相变压器一、二次绕组漏抗方法。
背景技术：
目前，公知単相变压器一、二次绕组漏抗方法一般是将低压绕组短路，在高压绕组两端加电压使低压绕组电流达到额定值，測量高压绕组电压、电流、有功功率，计算出该相绕组漏抗X, X=XfX2,,估计Xp X2’或X2近似值。这种方法只能得到Xp X2’或X2近似值。

发明内容
为了克服现有单相变压器绕组漏抗测量方法所存在只能得到Xl+X2’、根据Xl+X2’估计Xl、X2^或X2近似值的不足，本发明提出ー种利用第三绕组分别测量単相变压器一、ニ次绕组漏抗Xp X2的方法。本发明解决其技术问题所采用的技术方案在单相变压器铁心外装入与NpN2共铁心的第3測量绕组N3,在单相变压器铁心外装入与一次绕组N1、二次绕组N2共铁心的第三绕组N3 ;依次将NpN2A3 —个绕组开路、对另两个绕组按照単相变压器短路试验方法进行短路试验，根据单相变压器短路试验原理测得进行短路试验的两个绕组的漏抗之和；联立三次测得两个绕组的漏抗之和解出队、队、化绕建LXl、Xg、Xg O设N1>N2>N3, N1加电压V10已测得N2开路电压V20, N3开路电压V30。N3开路、N1短路、N2加压V2，测得I2和O2，可得:(V2Zl2)SinO2=XdXZ=Xj(V20ZV10)2X1(I)N1开路、N2短路、N3加压V3,测得I3和。3，可得:(V3Zl3)SinC13=XdXZ=Xd(V30ZV20)2X2(2)N2开路、N1短路、N3加压V/，测得I/和①3，可得(V3W)SinOZ=XjX^=Xj(V30ZV10)2X1(3)式(I)、(2)、(3)相互独立，其中共三个未知量X1、X2、X3，联解式(I)、(2)、(3)可分别解出X1^ x2> X3O测出H N3直流电阻I^rpr3后,式⑴、式⑵、式⑶中可用Tpr^r3计算，式⑴成为{(V2/I2)2-[r2+ (V20A10)2rJ2} 1/2=x2+ (V20A10)2X1(I，)式(2)成为{(V3/I3)2- [r3+ (V30A20) 2r2]2} 1/2=x3+ (V30A20) 2X2 (2，)式(3)成为:{(V3> /I3> )2-[r3+(V30A10) 2rJ2} ^+(V30A10)2X1 (3，)式(I，)、(2，)、(3，)相互独立，其中共三个未知量=X1J2J3，联解式(I，)、(2，)、(3’ )可分别解出XpX^X3tj本发明的有益效果可基本准确测出単相变压器一、二次绕组漏抗Xl、x2。

下面结合附图和实施例对本发明进ー步说明。图I是本发明的N3开路、N1短路、N2加电压原理图；图2是本发明的N3开路、N1短路、N2加电压T型等效电路图；图3是本发明的N1开路、N2短路、N3加电压原理图；
图4是本发明的N1开路、N2短路、N3加电压T型等效电路图；图5是本发明的N2开路、N1短路、N3加电压原理图；图6是本发明的N2开路、N1短路、N3加电压T型等效电路图。在图I中，L 一次绕组，2. 二次绕组，3.测量绕组。在图3中，I. 一次绕组，2. 二次绕组，3.测量绕组。在图5中，I. 一次绕组，2. 二次绕组，3.测量绕组。
具体实施例方式在图I中，将测量绕组(3)开路，将一次绕组⑴短路，对二次绕组⑵加电压v2，测出二次绕组⑵电流i2，得式⑴或式(I’ )。在图3中，将一次绕组⑴开路，将二次绕组⑵短路，对测量绕组(3)加电压v3，测出测量绕组⑶电流i3，得式⑵或式(2’ )。在图5中，将二次绕组⑵开路，将一次绕组⑴短路，对测量绕组(3)加电压v3’，测出测量绕组⑶电流i3’，得式⑶或式(3’)。联立(I)、(2)、(3)或(I，)、(2，)、(3，)计算Xl、x2、x3。
权利要求
1.一种单相变压器绕组漏抗的三绕组测量方法，其特征是在单相变压器铁心外装入与一次绕组N1、二次绕组N2共铁心的第三绕组N3 ;依次将HN3 —个绕组开路、对另两个绕组按照单相变压器短路试验方法进行短路试验，根据单相变压器短路试验原理测得进行短路试验的两个绕组的漏抗之和；联立三次测得两个绕组的漏抗之和解出NpNyN3绕组漏^TL Xi、Xg、Xg o
全文摘要
一种单相变压器绕组漏抗的三绕组测量方法，其特征是在单相变压器铁心外装入与一次绕组N1、二次绕组N2共铁心的第三绕组N3，依次将N1、N2、N3一个绕组开路、对另两个绕组按照单相变压器短路试验方法进行短路试验，根据单相变压器短路试验原理测得进行短路试验的两个绕组的漏抗之和；联立三次测得两个绕组的漏抗之和解出N1、N2、N3绕组漏抗x1、x2、x3。
文档编号G01R27/08GK102759663SQ20121018548
公开日2012年10月31日申请日期2012年6月7日优先权日2012年6月7日
发明者魏明申请人:魏明

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