发光面亮度均匀性分析方法
【专利摘要】本发明提出了一种发光面亮度均匀性分析方法，其包括：亮度数据测量步骤，测量待测产品的发光面的亮度数据；形状判断步骤，判断发光面的形状；亮度均匀性分析步骤，根据发光面的形状，对发光面的亮度数据进行亮度均匀性分析。本发明通过测量整个发光面的亮度数据，并以此作为亮度均匀性分析的基�。芄唤档驮诓捎媚壳傲炼染刃苑治龇椒ǎ哉彰骼嗖方辛炼染确治鍪辈钠睿淮送猓痉⒚魈岢龈莘⒐饷娴男巫吹牟煌炊粤炼染刃越蟹治觯芄惶岣吡炼染刃苑治鼋峁淖既范�。
【专利说明】发光面亮度均匀性分析方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及照明领域，具体地，涉及一种发光面亮度均匀性分析方法。
【背景技术】
[0002]目前，大多数的亮度均匀性分析方法，主要用于对诸如IXD、LED的显示类产品进行亮度均匀性分析。这些亮度均匀性分析方法通常选取发光面的多个点或者区域作为亮度均匀性分析基础。若采用现有的亮度均匀性分析方法，对照明类产品进行亮度均匀性分析，则存在分析偏差较大的问题。
【发明内容】
[0003]本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题，特别创新地提出了一种发光面亮度均匀性分析方法，以解决目前亮度均匀分析方法在对照明类产品进行亮度均匀性分析时，偏差较大的问题。
[0004]为了实现本发明的上述目的，本发明提供了一种发光面亮度均匀性分析方法，包括:
[0005]亮度数据测量步骤，测量待测产品的发光面的亮度数据；
[0006]形状判断步骤，判断所述发光面的形状；
[0007]亮度均匀性分析步骤，根据所述发光面的形状，对所述发光面的亮度数据进行亮度均匀性分析。
[0008]在本发明的一个实施例中，所述亮度数据测量步骤，包括:
[0009]固定亮度计和所述待测产品，以使所述亮度计的镜头的对称轴与所述待测产品的发光面的对称轴所构成的平面，与所述发光面垂直，且所述亮度计的镜头面与所述发光面相对平行设置；
[0010]采用所述亮度计测量所述待测产品的发光面的亮度数据。
[0011 ] 在本发明的一个实施例中，所述亮度数据测量步骤，包括:在采用所述亮度计测量所述发光面的亮度数据之前，还包括:
[0012]启动所述待测产品，直至所述待测产品工作至稳定状态。
[0013]在本发明的一个实施例中，所述亮度计为成像亮度计。
[0014]在本发明的一个实施例中，在所述形状判断步骤中，若判断所述发光面的形状为圆形，则所述亮度均匀性分析步骤包括:
[0015]第一发光面划分步骤，将所述发光面划分成中心区和环形区，并将所述环形区划分成多个扇面区；
[0016]第一参数计算步骤，计算出所述发光面的亮度旋转对称性参数、第一亮度中心平衡性参数和第一亮度均匀性参数中至少一个参数；
[0017]第一亮度均匀性分析步骤，将计算出的所述参数与其阈值进行比较，分析出所述发光面的亮度均匀性。[0018]在本发明的一个实施例中，所述第一参数计算步骤，包括:
[0019]亮度旋转对称性参数计算步骤:根据公式S = Iiiin(Li)Aiax(Li)计算出所述亮度旋转对称性参数S，其中，I < i Sn-1且η表示所述发光面的中心区和扇面区的总数，L1至Llri表示所述发光面的对应扇面区的亮度，Ln表示所述发光面的中心区的亮度，Li表示所述发光面的第i个扇面区的亮度，min O表示取最小值,max O表示取最大值；
[0020]第一亮度中心平衡性参数计算步骤:求取所述发光面中所有扇面区的亮度的平均值average(Li);以及根据公式B = Ln/average (Li)计算出所述第一亮度中心平衡性参数B，其中，Ln表示所述发光面的中心区的亮度；
[0021]第一亮度均匀性参数计算步骤:根据公式U = Nbright/N计算出所述第一亮度均匀性参数，其中，Nfcight表示所述发光面中亮度大于或等于平均亮度80 %的像素点的个数，N表示所述发光面中所有像素点的总数，且所述平均亮度表示所述发光面中所有像素点的亮度平均值。
[0022]在本发明的一个实施例中，在所述形状判断步骤中，若判断所述发光面的形状为方形，则所述亮度均匀分析步骤包括:
[0023]第二发光面划分步骤，将所述发光面等分成2p X 2q个方形区，其中，P表示方形区的列数，Q表示方形区的行数，且P和q均为正整数；
[0024]第二参数计算步骤，计算出所述发光面的水平对称性参数、垂直对称性参数、第二亮度中心平衡性参数和第二亮度均匀性参数中的至少一个参数；
[0025]第二亮度均匀性分析步骤，将计算出的所述参数与其阈值进行比较，分析出所述发光面的亮度均匀性。
[0026]在本发明的一个实施例中，所述第二参数计算步骤，包括:
[0027]水平对称性参数计算步骤:利用所述发光面的水平对称轴，将所述发光面划分成上半部和下半部；
[0028]分别计算出位于所述发光面的上半部的所有方形区的亮度之和SI，以及位于所述发光面的下半部的所有方形区的亮度之和S2 ;以及
[0029]根据公式
【权利要求】
1.一种发光面亮度均匀性分析方法，其特征在于，包括: 亮度数据测量步骤，测量待测产品的发光面的亮度数据； 形状判断步骤，判断所述发光面的形状； 亮度均匀性分析步骤，根据所述发光面的形状，对所述发光面的亮度数据进行亮度均匀性分析。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述亮度数据测量步骤，包括: 固定亮度计和所述待测产品，以使所述亮度计的镜头的对称轴与所述待测产品的发光面的对称轴所构成的平面，与所述发光面垂直，且所述亮度计的镜头面与所述发光面相对平行设置； 采用所述亮度计测量所述待测产品的发光面的亮度数据。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述亮度数据测量步骤，包括:在采用所述亮度计测量所述发光面的亮度数据之前，还包括: 启动所述待测产品，直至所述待测产品工作至稳定状态。
4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述亮度计为成像亮度计。
5.根据权利要求 1所述的方法，其特征在于，在所述形状判断步骤中，若判断所述发光面的形状为圆形，则所述亮度均匀性分析步骤包括: 第一发光面划分步骤，将所述发光面划分成中心区和环形区，并将所述环形区划分成多个扇面区； 第一参数计算步骤，计算出所述发光面的亮度旋转对称性参数、第一亮度中心平衡性参数和第一亮度均匀性参数中至少一个参数； 第一亮度均匀性分析步骤，将计算出的所述参数与其阈值进行比较，分析出所述发光面的亮度均匀性。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一参数计算步骤，包括: 亮度旋转对称性参数计算步骤: 根据公式S = Iiiin(Li)Aiax(Li)计算出所述亮度旋转对称性参数S,其中，I≤i≤n_l且η表示所述发光面的中心区和扇面区的总数，L1至Llri表示所述发光面的对应扇面区的亮度，Ln表示所述发光面的中心区的亮度，Li表示所述发光面的第i个扇面区的亮度，min()表示取最小值，max O表示取最大值； 第一亮度中心平衡性参数计算步骤: 求取所述发光面中所有扇面区的亮度的平均值average (Li);以及根据公式B = Ln/average (Li)计算出所述第一亮度中心平衡性参数B,其中,Ln表示所述发光面的中心区的亮度； 第一亮度均匀性参数计算步骤: 根据公式U = Nb,ight/N计算出所述第一亮度均匀性参数，其中，Nb,ight表示所述发光面中亮度大于或等于平均亮度80%的像素点的个数，N表示所述发光面中所有像素点的总数，且所述平均亮度表示所述发光面中所有像素点的亮度平均值。
7.根据权利要求1或5所述的方法，其特征在于，在所述形状判断步骤中，若判断所述发光面的形状为方形，则所述亮度均匀分析步骤包括: 第二发光面划分步骤，将所述发光面等分成2p X 2q个方形区，其中，P表示方形区的列数，q表示方形区的行数，且P和q均为正整数； 第二参数计算步骤，计算出所述发光面的水平对称性参数、垂直对称性参数、第二亮度中心平衡性参数和第二亮度均匀性参数中的至少一个参数； 第二亮度均匀性分析步骤，将计算出的所述参数与其阈值进行比较，分析出所述发光面的亮度均匀性。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述第二参数计算步骤，包括: 水平对称性参数计算步骤: 利用所述发光面的水平对称轴，将所述发光面划分成上半部和下半部； 分别计算出位于所述发光面的上半部的所有方形区的亮度之和SI，以及位于所述发光面的下半部的所有方形区的亮度之和S2 ;以及 根据公式
9.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一亮度均匀性分析步骤，包括若满足以下至少一个条件，则分析出所述发光面的亮度均匀性良好: 所述发光面的亮度旋转对称性参数大于或等于0.5 ； 所述发光面的第一亮度中心平衡性参数小于4 ； 所述发光面的第一亮度均匀性参数大于或等于0.3。
10.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述第二亮度均匀性分析步骤，包括若满足以下至少一个条件，则分析出所述发光面的亮度均匀性良好: 所述发光面的水平对称性参数大于或等于0.85 ； 所述发光面的垂直对称性参数大于或等于0.85 ； 所述发光面的第二亮度中心平衡性参数大于或等于0.5 ；所述发光面的第二亮度均匀性参数大于或等于0.3。
【文档编号】G01M11/02GK103983429SQ201410164419
【公开日】2014年8月13日 申请日期:2014年4月22日 优先权日:2014年4月22日
【发明者】钟磊, 周详, 郑成龙, 李福生, 花醒飞, 熊衍建, 于勇, 季永康 申请人:常州市武进区半导体照明应用技术研究院
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