专利名称：等离子扫描驱动芯片测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于集成电路测试领域，特别涉及一种等离子扫描驱动芯片测试装置。
背景技术：
在测试验证阶段，对集成电路的测试验证是ー项复杂烦琐又极需耐心和细心的エ作，需要测试人员利用性能优良的仪器设备对集成电路进行细致严谨的测试验证，只有严格的测试验证才能保证集成电路的质量和生命力。集成电路的测试，特别是包含高速数字控制、高压、大电流、多通道输出和曲线变 化快的等离子扫描驱动芯片，以下简称为PDP芯片(Plasma Display Panel,等离子扫描驱动芯片)测试是一项复杂的工作。PDP芯片包括电源管脚(高压功率电源管脚VDH、低压逻辑电源管脚VDL)、逻辑控制管脚(数据串行输入管脚DA、时钟信号控制管脚CLK、工作模式信号控制管脚0C1、0C2)、数据串行输出管脚DB和96路功率输入/输出管脚D01-D096等管脚。PDP芯片内部含有96位的串行移位器。测试验证主要集中于PDP芯片的静态电流测试、工作电流测试、串行移位器功能测试、高压漏电流测试、输入高/低电压测试、输出拉电流测试和输出灌电流测试等。现有技术主要是依靠搭线、人工测试等方式来完成，使系统测试变得更加复杂困难。对不同功能的各个功能�？榻卸啻瓮ü讲馐裕环矫娌馐运俣然郝馐孕实拖拢疑婕暗礁哐故涑龊苋菀自斐尚酒鸹担涣硪环矫娌馐猿杀窘诎汗�。随着集成电路的集成度、复杂度的増加，集成电路对测试设备的要求越来越高，在设计阶段就发现电路的缺陷变得越来越重要。而专门的测试机造价昂贵，且还得配备专门的测试技术工程师。这样更具有针对性的，低成本的专用测试验证系统就显得至关重要了。在目前市场上的多数集成电路封装测试企业中，普通机台均无法满足等离子扫描驱动芯片的测试要求，采购国外配置更高的专用机台，对封装测试企业的运营成本提出了更高要求，直接造成芯片测试成本和芯片价格的上升。
发明内容本实用新型所要解决的技术问题是解决目前rop芯片的测试主要是依靠搭线、人工测试等方式，测试速度慢，测试效率低，测试成本高，且容易损坏器件的技术问题。为解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是提供一种等离子扫描驱动芯片测试装置，包括主处理器、数字逻辑�？�、芯片供电模块、多路选择开关、功率管脚测试模块和显示終端。其中主处理器，与芯片供电模块连接，控制芯片供电�？榻牍┑缱刺渲眯酒┑缒？槭涑龉ぷ鞯缭锤鴕op芯片的电源管脚。主处理器，通过数字逻辑�？榕渲肞DP芯片的工作模式。多路选择开关，设有多路选择开关输入端连接PDP芯片的各功率输入/输出管脚，设有多路选择开关输出端连接功率管脚测试�？椋嗦费≡窨卦谥鞔砥鞯目刂葡陆星袚Q，选择PDP芯片的各功率输入/输出管脚进入测试状态。
toon] 功率管脚测试�？椋詔op芯片的各功率输入/输出管脚进行测试，并将rop芯片的各功率输入/输出管脚测试结果反馈给主处理器。主处理器，将测试结果传输到显示終端中显示。作为优�。霾馐宰爸弥鞔砥鳎ü致呒？榕渲肞DP芯片的工作模式为高阻态模式。芯片供电�？椋允淙隤DP芯片的电源管脚的电流进行采样、放大并转换为第一数字信号，芯片供电�？榻龅谝皇中藕欧祷刂鞔砥�。 主处理器，将测试結果，即所述第一数字信号，传输到显示终端中显示，所述第一数字信号即为PDP芯片的电源管脚的静态电流參数。作为优�。霾馐宰爸弥鞔砥鳎ü致呒？榕渲肞DP芯片的工作模式为传输模式。主处理器，通过数字逻辑�？榻敝有藕攀淙隤DP芯片。主处理器，通过数字逻辑�？榻馐孕藕攀淙隤DP芯片的数据数据串行输入管脚。在F1DP芯片输入的时钟信号的控制下，PDP芯片的各功率输入/输出管脚输出的信号通过多路选择开关的切换输入到功率管脚测试模块，所述功率管脚测试�？樯栌械缛莞涸兀鯬DP芯片的各功率输入/输出管脚输出的信号分别驱动功率管脚测试�？榈母髀返缛莞涸兀龆嗦费≡窨氐那袚Q由主处理器控制。芯片供电�？椋允淙隤DP芯片的电源管脚的电流进行采样、放大并转换为第二数字信号，芯片供电�？榻龅诙中藕欧蠢「鞔砥�。主处理器，将测试結果，即所述第二数字信号，传输到显示终端中显示，所述第二数字信号即为PDP芯片的电源管脚的工作电流參数。作为优�。霾馐宰爸弥鞔砥鳎ü致呒？榕渲肞DP芯片的工作模式为传输模式。主处理器，通过数字逻辑�？榻敝有藕攀淙隤DP芯片。主处理器，通过数字逻辑�？榻谌中藕攀淙隤DP芯片的数据数据串行输入管脚。在PDP芯片输入的时钟信号的控制下，经过特定的时钟周期，输入到PDP芯片的数据数据串行输入管脚的第三数字信号通过PDP芯片的数据数据串行输出管脚输出第三数字信号给数字逻辑�？椴⒎蠢「鞔砥�。主处理器，对PDP芯片数据数据串行输出管脚输出的第三数字信号同数据串行输入管脚输入的第三数字信号对应的位进行比较得到测试結果，并将测试结果传输到显示终端中显示。作为优�。霾馐宰爸弥鞔砥鳎ü致呒？榕渲肞DP芯片的工作模式为高阻态模式。主处理器，控制芯片供电�？槭涑龉芙殴β实缭矗龉芙殴β实缭赐ü嗦费≡衿髑袚Q提供给PDP芯片的其中一路功率输入/输出管脚，所述管脚功率电源输入该路功率输入/输出管脚对应的电流经多路选择开关切換提供给功率管脚测试�？榈穆┑缌鞑裳缏罚龆嗦费≡窨氐那袚Q由主处理器控制。功率管脚测试�？樯栌新┑缌鞑裳缏罚雎┑缌鞑裳缏罚愿寐饭β适淙�/输出管脚对应的电流进行采样、放大并转换为第四数字信号，转换后的第四数字信号反馈给主处理器。主处 理器，将测试結果，即所述第四数字信号，传输到显示终端中显示。作为优�。霾馐宰爸弥鞔砥鳎ü致呒？榕渲肞DP芯片的工作模式为全高模式。主处理器，通过多路选择开关切换，选择rop芯片的一路功率输入/输出管脚输出高电平信号，所述功率管脚测试模块设有拉电流采样电路，所述高电平信号经多路选择开关切换输入到功率管脚测试�？榈睦缌鞑裳缏分校龆嗦费≡窨氐那袚Q由主处理器控制。功率管脚测试�？榈睦缌鞑裳缏罚运龈叩缙叫藕沤胁裳�、放大并转换为第五数字信号，所述第五数字信号返回主处理器。主处理器，将测试結果，即所述第五数字信号，传输到显示终端中显示，所述数字信号即为PDP芯片的该路功率输入/输出管脚的输出拉电流參数。作为优�。鍪涑龉嗟缌鞑馐晕鞔砥鳎ü致呒？榕渲肞DP芯片的工作模式为全低模式。主处理器，通过多路选择开关切换，选择PDP芯片的一路功率输入/输出管脚输出的低电平信号，所述功率管脚测试�？樯栌泄嗟缌鞑裳缏罚龅偷缙叫藕啪嗦费≡窨厍谢皇淙氲焦β使芙挪馐阅？榈墓嗟缌鞑裳缏罚龆嗦费≡窨氐那袚Q由主处理器控制。功率管脚测试�？榈墓嗟缌鞑裳缏范运龅偷缙叫藕沤胁裳�、放大并转换为第六数字信号，所述第六数字信号返回主处理器。主处理器，将测试結果，即所述第六数字信号，传输到显示终端中显示，所述数字信号即为PDP芯片的该路功率输入/输出管脚的输出灌电流參数。作为优�。霾馐宰爸弥鞔砥鳎刂菩酒┑缒？榻牍┑缱刺渲眯酒┑缒？槭涑龉ぷ鞯缭锤鳳DP芯片的电源管脚。主处理器，通过数字逻辑�？榕渲肞DP芯片的工作模式为全低到全高模式。功率管脚测试�？樯栌械缙阶槐冉系缏罚鞔砥鳎涑霾馐孕藕牛吹谄呤值缙叫藕诺剿龅缙阶槐冉系缏罚⑸柚玫缙阶槐冉系缏肥涑霰冉细叩缙胶捅冉系偷缙�。主处理器，通过多路选择开关切换，选择rop芯片的各路功率输入/输出管脚输出的模拟电压经过多路选择开关切换输出到电平转换比较电路当所述模拟电压高于比较高电平时，电平转换比较电路输出第一数值表不该功率输入/输出管脚输出的模拟电压为高电平；当所述模拟电压低于比较高电平，高于比较低电平吋，电平转换比较电路输出第二数值表不该功率输入/输出管脚输出的模拟电压为不稳态电平；当所述模拟电压低于比较低电平时，电平转换比较电路输出第三数值表不该功率输入/输出管脚输出的模拟电压为低电平，所述多路选择开关的切換由主处理器控制。电平转换比较电路将所述第一数值、第二数值或第三数值返回主处理器。主处理器，将测试結果，即所述第一数值、第二数值或第三数值，传输到显示终端中显示。本实用新型的有益效果是在测试验证过程中具有测试效率高、耗时短、精度高的优点，同时重复使用率高，具有测试简单、覆盖率高的优点，且自动测量不容易损坏器件，大大降低了测试成本。
图I是本实用新型测试装置实施例的结构示意图；图2是本实用新型测试装置实施例的测试工作流程图；图3是TOP芯片的内部结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本实用新型进行具体说明。本实用新型测试装置实施例的结构示意图如图I所示。该测试装置和待测PDP芯片连接，对待测PDP芯片的输入/输出參数自动测试并存储显示测试結果。测试装置包括显示终端、主处理器、数字逻辑�？�、芯片供电�？�、多路选择开关和功率管脚测试�？椤Ｖ鞔砥鳎ü鼓芟吡有酒┑缒？椋刂菩酒┑缒？榻牍┑缱刺渲眯酒┑缒？槭涑龉ぷ鞯缭锤鳳DP芯片的电源管脚，即PDP芯片的低压逻辑电源管脚VDL和高压功率电源管脚VDH。芯片供电�？榘ㄊ氐缭吹缏贰⒌缌髅籽缏泛偷谝荒Ｊ黄鳌Ｊ致呒？榘ù惺荽娲g元和串行数据输出単元。功率管脚测试�？榘ǖ缙阶槐冉系缏�、漏电流采样电路、拉电流采样电路、灌电流米样电路、电容负载和第二模数转换器。本实用新型实施例可用于进行PDP芯片的静态电流测试、工作电流测试、串行移位器功能测试、高压漏电流测试、输出拉电流测试、输出灌电流测试、输入高/低电压测试中的ー种或多种。测试工作流程图如图2所示。PDP芯片的工作模式配置如表I所不，I表不输入高电平,O表不输入低电平。全高模式表示为全部的96路功率输入/输出管脚D01-D096都为高电平状态。全低模式表示为全部的96路功率输入/输出管脚D01-D096都为低电平状态。高阻态模式为全部的96路功率输入/输出管脚D01-D096都为高阻状态。传输模式表示为全部的96路功率输入/输出管脚D01-D096的输出受时钟信号控制管脚CLK和数据串行输入管脚DA控制。表IPDP芯片的工作模式配置
权利要求1.等离子扫描驱动芯片测试装置，其特征在于包括主处理器、数字逻辑�？�、芯片供电�？�、多路选择开关、功率管脚测试�？楹拖允局斩耍渲� 主处理器，与芯片供电�？榱樱刂菩酒┑缒？榻牍┑缱刺渲眯酒┑缒？槭涑龉ぷ鞯缭锤鳳DP芯片的电源管脚； 主处理器，通过数字逻辑�？榕渲肞DP芯片的工作模式； 多路选择开关，设有多路选择开关输入端连接PDP芯片的各功率输入/输出管脚，设有多路选择开关输出端连接功率管脚测试模块，多路选择开关在主处理器的控制下进行切换，选择PDP芯片的各功率输入/输出管脚进入测试状态； 功率管脚测试�？椋訮DP芯片的各功率输入/输出管脚进行测试，并将PDP芯片的各功率输入/输出管脚测试结果反馈给主处理器； 主处理器，将测试结果传输到显示终端中显示。
2.根据权利要求I所述的测试装置，其特征在于 主处理器，通过数字逻辑�？榕渲肞DP芯片的工作模式为高阻态模式； 芯片供电�？椋允淙隤DP芯片的电源管脚的电流进行采样、放大并转换为第一数字信号，芯片供电模块将所述第一数字信号返回主处理器； 主处理器，将测试结果，即所述第一数字信号，传输到显示终端中显示，所述第一数字信号即为PDP芯片的电源管脚的静态电流参数。
3.根据权利要求I所述的测试装置，其特征 主处理器，通过数字逻辑�？榕渲肞DP芯片的工作模式为传输模式； 主处理器，通过数字逻辑�？榻敝有藕攀淙隤DP芯片； 主处理器，通过数字逻辑�？榻馐孕藕攀淙隤DP芯片的数据串行输入管脚； 在PDP芯片输入的时钟信号的控制下,PDP芯片的各功率输入/输出管脚输出的信号通过多路选择开关的切换输入到功率管脚测试模块，所述功率管脚测试�？樯栌械缛莞涸兀鯬DP芯片的各功率输入/输出管脚输出的信号分别驱动功率管脚测试�？榈母髀返缛莞涸兀龆嗦费≡窨氐那谢挥芍鞔砥骺刂疲� 芯片供电模块，对输入PDP芯片的电源管脚的电流进行采样、放大并转换为第二数字信号，芯片供电�？榻龅诙中藕欧蠢「鞔砥鳎� 主处理器，将测试结果，即所述第二数字信号，传输到显示终端中显示，所述第二数字信号即为PDP芯片的电源管脚的工作电流参数。
4.根据权利要求I所述的测试装置，其特征在于 主处理器，通过数字逻辑�？榕渲肞DP芯片的工作模式为传输模式； 主处理器，通过数字逻辑模块将时钟信号输入PDP芯片； 主处理器，通过数字逻辑�？榻谌中藕攀淙隤DP芯片的数据串行输入管脚； 在PDP芯片输入的时钟信号的控制下，经过特定的时钟周期，输入到PDP芯片的数据串行输入管脚的第三数字信号通过PDP芯片的数据串行输出管脚输出第三数字信号给数字逻辑�？椴⒎蠢「鞔砥鳎� 主处理器，对PDP芯片数据串行输出管脚输出的第三数字信号同串行输入管脚输入的第三数字信号对应的位进行比较得到测试结果，并将测试结果传输到显示终端中显示。
5.根据权利要求I所述的测试装置，其特征在于主处理器，通过数字逻辑模块配置PDP芯片的工作模式为高阻态模式； 主处理器，控制芯片供电�？槭涑龉芙殴β实缭矗龉芙殴β实缭赐ü嗦费≡衿髑谢惶峁└鳳DP芯片的其中一路功率输入/输出管脚，所述管脚功率电源输入该路功率输A/输出管脚对应的电流经多路选择开关切换提供给功率管脚测试�？榈穆┑缌鞑裳缏罚龆嗦费≡窨氐那谢挥芍鞔砥骺刂疲� 功率管脚测试�？樯栌新┑缌鞑裳缏罚雎┑缌鞑裳缏罚愿寐饭β适淙�/输出管脚对应的电流进行采样、放大并转换为第四数字信号，转换后的第四数字信号反馈给主处理器； 主处理器，将测试结果，即所述第四数字信号，传输到显示终端中显示。
6.根据权利要求I所述的测试装置，其特征在于 主处理器，通过数字逻辑�？榕渲肞DP芯片的工作模式为全高模式； 主处理器，通过多路选择开关切换，选择PDP芯片的一路功率输入/输出管脚输出高电平信号，所述功率管脚测试模块设有拉电流采样电路，所述高电平信号经多路选择开关切换输入到功率管脚测试�？榈睦缌鞑裳缏分校龆嗦费≡窨氐那谢挥芍鞔砥骺刂疲� 功率管脚测试�？榈睦缌鞑裳缏罚运龈叩缙叫藕沤胁裳�、放大并转换为第五数字信号，所述第五数字信号返回主处理器； 主处理器，将测试结果，即所述第五数字信号，传输到显示终端中显示，所述数字信号即为PDP芯片的该路功率输入/输出管脚的输出拉电流参数。
7.根据权利要求I所述的测试装置，其特征在于 主处理器，通过数字逻辑�？榕渲肞DP芯片的工作模式为全低模式； 主处理器，通过多路选择开关切换，选择PDP芯片的一路功率输入/输出管脚输出的低电平信号，所述功率管脚测试�？樯栌泄嗟缌鞑裳缏罚龅偷缙叫藕啪嗦费≡窨厍谢皇淙氲焦β使芙挪馐阅？榈墓嗟缌鞑裳缏罚龆嗦费≡窨氐那谢挥芍鞔砥骺刂疲� 功率管脚测试�？榈墓嗟缌鞑裳缏范运龅偷缙叫藕沤胁裳⒎糯蟛⒆晃诹中藕牛龅诹中藕欧祷刂鞔砥鳎� 主处理器，将测试结果，即所述第六数字信号，传输到显示终端中显示，所述数字信号即为PDP芯片的该路功率输入/输出管脚的输出灌电流参数。
8.根据权利要求I所述的测试装置，其特征在于 主处理器，控制芯片供电�？榻牍┑缱刺渲眯酒┑缒？槭涑龉ぷ鞯缭锤鴕op芯片的电源管脚； 主处理器，通过数字逻辑�？榕渲肞DP芯片的工作模式为全低到全高模式或全高到全低模式； 功率管脚测试�？樯栌械缙阶槐冉系缏罚鞔砥魃柚玫缙阶槐冉系缏肥涑霰冉细叩缙胶捅冉系偷缙剑� 主处理器，通过多路选择开关切换，选择PDP芯片的各路功率输入/输出管脚输出的模拟电压经过多路选择开关切换输出到电平转换比较电路当所述模拟电压高于比较高电平时，电平转换比较电路输出第一数值表示该功率输入/输出管脚输出的模拟电平为高电平；当所述模拟电压低于比较高电平，高于比较低电平时，电平转换比较电路输出第二数值表不该功率输入/输出管脚输出的模拟电平为不稳态电平；当所述模拟电压低于比较低电平时，电平转换比较电路输出第三数值表示该功率输入/输出管脚输出的模拟电平为低电平，所述多路选择开关的切换由主处理器控制； 电平转换比较电路将所述第一数值、第二数值或第三数值返回主处理器； 主处理器，将测试结果，即所述第一数值、第二数值或第三数值，传输到显示终端中显示。
专利摘要本实用新型公开了一种涉及集成电路测试领域的等离子扫描驱动芯片测试装置，包括主处理器、数字逻辑�？�、芯片供电模块、多路选择开关、功率管脚测试�？楹拖允局斩耍捎糜诮蠵DP芯片的静态电流测试、工作电流测试、串行移位器功能测试、高压漏电流测试、输出拉电流测试、输出灌电流测试、输入高/低电压测试中的一种或多种。本实用新型在测试验证过程中具有测试效率高、耗时短、精度高的优点，同时重复使用率高，具有测试简单、覆盖率高的优点，且自动测量不容易损坏器件。大大降低了测试成本。
文档编号G01R31/317GK202404207SQ20112057543
公开日2012年8月29日 申请日期2011年12月31日 优先权日2011年12月31日
发明者符强, 蒋登峰, 魏建中 申请人:杭州士兰微电子股份有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
