专利名称：探针卡基座的制作方法
技术领域：
本实用新型有关探针卡基座，特别是一种可兼容多种不同外形规格电路板的探针
卡基座。
背景技术：
探针卡应用在集成电路(IC)尚未封装前，其工作方式是将探针卡上的探针与芯片上的焊垫或凸块接触而传送芯片讯号，再配合周边测试仪器与软件控制达到自动化量测的目的，筛选出不良品后再进行封装工程，因此探针卡检测在IC制造中对制造成本的影响相当大。探针卡的结构包含一个探针设置在一个电路板上，探针卡设置在一个底座之上，·借由移动底座或芯片而将探针卡移动接触芯片。一般现有的探针卡的底座多为单一外形规格探针卡制作，无法兼容于其它不同外形规格的探针卡，因此使用不同的探针卡就必须备制不同的底座，造成物料成本浪费。
实用新型内容有鉴于此，本实用新型的主要目的在于提供一种能够兼容承载多种不同外形规格的电路板的探针卡基座。为达到上述目的，本实用新型提供ー种探针卡基座，用于容置不同外形的第一电路板及第ニ电路板，其中第一电路板上设有第一探针，第二电路板上设有第二探针，本实用新型的探针卡基座包含本体、第一固定具及第ニ固定具。本体开设有第一容置空间及第ニ容置空间，第一容置空间包含贯穿本体开设的检测开ロ，检测开ロ的内缘设有凸缘，第一电路板承载于凸缘而位于第一容置空间内，而且第一探针对应检测开ロ。第二容置空间自第一容置空间延伸，第二容置空间底部具有承载板，第二电路板承载于承载板，而且第二探针对应检测开ロ。当第一电路板承载于凸缘时，第一固定具可组卸地连接设置于本体并将第一电路板夹持固定。当第二电路板承载于承载板时，第二固定具可组卸地连接设置于本体并将第二电路板夹持固定。较佳地，所述主体包含固定座，所述第一固定具连接于该固定座。较佳地，所述固定座包含枢轴，所述第一固定具借由该枢轴枢接于该固定座。较佳地，所述主体包含固定座，所述第二固定具连接于该固定座。较佳地，所述固定座包含枢轴，所述第二固定具借由该枢轴枢接于该固定座。较佳地，所述探针卡基座还包含锁定螺丝，该锁定螺丝将所述第一固定具锁固于所述本体。较佳地，所述探针卡基座还包含锁定螺丝，该锁定螺丝将所述第二固定具锁固于所述本体。较佳地，所述探针卡基座还包含定位柱，该定位柱设置于所述第二容置空间之内以定位所述第二电路板。[0014]较佳地，所述探针卡基座还包含加强肋，该加强肋凸设在所述第二容置空间内的承载板上。相较于现有技术，本实用新型具有以下功效本实用新型的探针卡基座开设有不同外形规格的第一容置空间及第ニ容置空间，并搭配相对应的第一固定具及第ニ固定具，因此可承载不同外形规格的电路板，有效改善了现有技术无法兼容不同外形规格探针卡的缺点。
图I为本实用新型的较佳实施例的探针卡基座的分解示意图(第一固定具)；图2为本实用新型的较佳实施例的探针卡基座与第一电路板的示意图；图3为本实用新型的较佳实施例的探针卡基座与第一电路板的俯视示意图； 图4为本实用新型的较佳实施例的探针卡基座与第二电路板的示意图；图5为本实用新型的较佳实施例的探针卡基座的分解示意图(第二固定具)。附图标记说明10第一电路板11第一探针20第二电路板21、22、23、24定位孔25第二探针100本体101检测开ロ110第一容置空间111、112凸缘120第二容置空间121、122、123、124 定位柱125 承载板126加强肋130、140固定座131、141枢轴210第一固定具211、212第一夹片220第二固定具221、222 第二夹片311、312、313、321、322、323 锁定螺丝
具体实施方式
有关本实用新型的详细说明及技术内容，将配合附图说明如下，然而所附附图仅作为说明用途，并非用于局限本实用新型。參阅图1，本实用新型的较佳实施例提供ー种探针卡基座，其用于容置至少两种不同外形规格的探针卡，在本实施例中，本实用新型的探针卡基座用于容置不同规格的探针卡的第一电路板10及第ニ电路板20，第二电路板20的尺寸大于第一电路板10，第一电路板10上设有ー个第一探针11，第二电路板20上设有ー个第二探针25，第一探针11及第ニ探针25分别与相对应的芯片电性连接而对芯片进行检测。在本实施例中，本实用新型的探针卡基座包含本体100、两个固定座130、140、一个第一固定具210及ー个第二固定具220。本体100较佳地为金属制成的圆形平台(本实用新型不限于此)，其上开设有ー个第一容置空间Iio及ー个第二容置空间120。第一容置空间110与第一电路板10的外形相符，且第一容置空间110包含贯穿本体100开设的ー个检测开ロ 101，检测开ロ 101的内缘相对的两侧向内凸设有两个凸缘111、112,该凸缘111、112用以承载第一电路板10于第一容置空间110内，第一电路板10置于第一容置空间110内时，第一探针11对应于检测开ロ 101。第二容置空间120为ー个开设于本体100的凹部，且自第一容置空间110相对的两侧向外延伸，第二容置空间120的底部形成一个承载板125以承载第二电路板20。第二电路板20置于承载板125上时，部分位于第二容置空间120内而另一部分位于第一容置空间110内，而且第二探针25对应于检测开ロ 101，承载板125上凸设有加强肋126以及四个定位柱121、122、123、124。加强肋126用以加强本体100的结构并支撑第二电路板20。第二电路板20上贯穿开设有四个定位孔21、22、23、24，分别对应四个定位柱121、122、123、124，借由各定位柱121、122、123、124插入对应的定位孔21、22、23、24以定位第二电路板20。两个固定座130、140相对固定设置于第二容置空间120的外侧，而且各固定座130、140分别包含一个枢轴131、141。參阅图2至图4，当第一电路板10置于第一容置空间110内，第一探针11通过检测开ロ 101接触芯片以检测对应的芯片；当第二电路板20置于第二容置空间120内，第二探针25通过检测开ロ 101接触芯片以检测对应的芯片。 參阅图2及图3，在本实施例中，第一固定具210包含两个第一夹片211、212，当第一电路板10置于第一容置空间110内时，各第一夹片211、212分别可组卸地枢接在两个固定座130、140上，各第一夹片211、212分别朝向检测开ロ 101的内侧延伸设置，第一电路板10夹持于两个第一夹片211、212之间而固定于第一容置空间110内，较佳地，两个第一夹片211、212可借由枢轴131、141向检测开ロ 101的外侧旋转而释放第一电路板10。较佳地，本实用新型的探针卡基座还包含六个锁定螺丝311、312、313、321、322、323 (本实用新型不限定锁定螺丝的数目)，当第一夹片211、212夹持第一电路板10时，各第一夹片211(212)分别以三个锁定螺丝311、312、313(321、322、323)锁固于本体100上以避免旋转。參阅图4及图5，在本实施例中，第二固定具220包含两个第二夹片221、222，当第ニ电路板20置于承载板125上时，各第二夹片221、222分别可组卸地枢接在两个固定座130、140上，各第二夹片221、222分别朝向检测开ロ 101延伸设置，第二电路板20夹持于两个第二夹片221、222之间而固定于第二容置空间120内，由于第二电路板20的尺寸较第一电路板10大，因此第二夹片221、222的长度较第一夹片211、212短，较佳地，两个第二夹片221、222可借由枢轴131、141向检测开ロ 101的外侧旋转而释放第二电路板20。较佳地，当第二夹片221、222夹持第二电路板20时，各第二夹片221 (222)分别以三个锁定螺丝311、312、313(321、322、323)锁固于本体100上以避免旋转。以上所述，仅为本实用新型的较佳实施例的具体说明，并非用以局限本实用新型的保护范围，其它任何等效变换均应属于本申请的权利要求范围。
权利要求1.ー种探针卡基座，其特征在于，用于容置不同外形的第一电路板及第ニ电路板，其中该第一电路板上设有第一探针，该第二电路板上设有第二探针，该探针卡基座包含 本体，开设有第一容置空间及第ニ容置空间，该第一容置空间包含贯穿该本体开设的检测开ロ，该检测开ロ的内缘设有凸缘，该第一电路板承载于该凸缘而位于该第一容置空间内，而且该第一探针对应该检测开ロ，该第二容置空间自该第一容置空间延伸，该第二容置空间底部具有承载板，该第二电路板承载于该承载板，而且该第二探针对应该检测开n ； 第一固定具，当该第一电路板承载于该凸缘时，该第一固定具可组卸地连接设置于该本体并将该第一电路板夹持固定；及 第二固定具，当该第二电路板承载于该承载板时，该第二固定具可组卸地连接设置于该本体并将该第二电路板夹持固定。
2.如权利要求I所述的探针卡基座，其特征在于，所述主体包含固定座，所述第一固定具连接于该固定座。
3.如权利要求2所述的探针卡基座，其特征在于，所述固定座包含枢轴，所述第一固定具借由该枢轴枢接于该固定座。
4.如权利要求I所述的探针卡基座，其特征在于，所述主体包含固定座，所述第二固定具连接于该固定座。
5.如权利要求4所述的探针卡基座，其特征在于，所述固定座包含枢轴，所述第二固定具借由该枢轴枢接于该固定座。
6.如权利要求I所述的探针卡基座，其特征在于，该探针卡基座还包含锁定螺丝，该锁定螺丝将所述第一固定具锁固于所述本体。
7.如权利要求I所述的探针卡基座，其特征在于，该探针卡基座还包含锁定螺丝，该锁定螺丝将所述第二固定具锁固于所述本体。
8.如权利要求I所述的探针卡基座，其特征在于，该探针卡基座还包含定位柱，该定位柱设置于所述第二容置空间之内以定位所述第二电路板。
9.如权利要求I所述的探针卡基座，其特征在于，该探针卡基座还包含加强肋，该加强肋凸设在所述第二容置空间内的承载板上。
专利摘要本实用新型提供一种探针卡基座，用于容置不同外形的第一电路板及第二电路板，探针卡基座包含本体、可组卸地设于本体的第一固定具及第二固定具。本体开设有第一容置空间及第二容置空间，第一容置空间包含检测开口，检测开口的内缘设有凸缘以承载第一电路板，第二容置空间具有承载板以承载第二电路板。借此，有效改善了现有技术无法兼容不同外形规格探针卡的缺点。
文档编号G01R1/073GK202600000SQ201220151959
公开日2012年12月12日 申请日期2012年4月11日 优先权日2012年4月11日
发明者陈文祺 申请人:陈文祺
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
