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专利名称：高精度轴类零件几何尺寸测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及轴类零件几何尺寸的测量装置，具体涉及轴类零件几何尺寸精密测量装置。
背景技术：
目前在生产过程中，对轴类零件直径的测量大多采用千分尺，由检测人员进行手工测量，由于生产批量大，检测人员劳动强度大，测量频率高，眼睛极易产生疲劳，检测精度低，而且一般只给出合格与否的结论，不同程度地影响生产效率和产品质量。

发明内容
针对上述现有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种降低劳动强度，提高工作效率的高精度轴类零件几何尺寸测量装置。本实用新型的目的是这样实现的高精度轴类零件几何尺寸测量装置，包括测量座、传感器和数显器，测量座上设有可移动的滑板；滑板上有凸出的V形导轨与测量座上的V形导轨精密配合；滑板上设有两个V形支架；传感器设于V形支架的上方，由支架定位；传感器通过线路与数显器连接，数显器还可与计算机连接进行数据处理。
采用本实用新型对轴类零件可实现快速、高精度测量，测量数据经接口输入数显器，具有显示直观的优点，同时还可通过指示灯的颜色和音响实现超差报警功能，大大提高了工作效率和降低生产成本。本实用新型还具有结构简单、成本低、操作方便等优点，尤其适合大批量生产现场使用。
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步说明。


图1是本实用新型一实施方式结构示意图。
图2是图1的左视图。
具体实施方式
如图1所示，一种高精度轴类零件几何尺寸测量装置，包括测量座1、滑板2、V形支架3、传感器支架4、传感器5，传感器5通过线路与数显器(图中未画出)连接，数显器还可与计算机连接进行数据处理；测量座1上设有可左右方向移动的滑板2；如图2所示，为减小误差、提高精度滑板2与测量座1采用V形导轨配合，即滑板2上有凸出的V形体与测量座1上的V形滑槽精密配合；滑板2上设有由螺钉6固定的两个V形支架3，用于对被测零件7的定位；滑板2上设置多处与V形支架3对应的螺孔，用于调整两个V形支架的相对位置并由精密定位销定位。传感器5设于支架4上，支架4可上下调整高度。使用标普纳米测控技术股份有限公司制造的ZJ001光电传感器、SXJ交流数显器可实现本技术方案。
使用本实用新型只需一手抬起传感器5，另一手将被测零件7放入V形支架3上定位，再将V形支架对准传感器5使传感头接触工件，数显器即可即时显示测量数据。如出现较大误差数显器可提示报警。
权利要求1.高精度轴类零件几何尺寸测量装置，包括测量座(1)、传感器(5)和数显器，其特征在于测量座(1)上设有滑板(2)；滑板(2)上有导轨与测量座(1)上对应的导轨配合；滑板(2)上设有两个V形支架(3)；传感器(5)设于V形支架(3)的上方，由支架(4)定位；传感器通过线路与数显器连接。
2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于所述数显器还与计算机连接。
3.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于所述滑板上设置多处与V形支架对应的螺孔。
专利摘要高精度轴类零件几何尺寸测量装置，包括测量座、传感器和数显器，测量座上设有滑板；滑板上有凸出的V形导轨与测量座上的V形导轨精密配合；滑板上设有两个V形支架；传感器设于一V形支架的上方，由支架定位；传感器通过线路与数显器连接。本实用新型可实现快速、精密测量，具有显示直观等优点，大大提高了工作效率和降低生产成本。本实用新型还具有结构简单、成本低、操作方便等优点，尤其适合大批量生产现场使用。
文档编号G01B21/10GK2677874SQ200420032810
公开日2005年2月9日 申请日期2004年2月11日 优先权日2004年2月11日
发明者严学书, 邢弘 申请人:重庆工商大学