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恒温控制零漂移磁通仪的制作方法

时间:2025-04-11    作者: 管理员

专利名称:恒温控制零漂移磁通仪的制作方法
技术领域:
本发明涉及一种高性能的磁性材料测试仪器,尤其是涉及一种恒温控 制零漂移磁通仪。
背景技术:
磁通仪是一种用于空间磁场测量和磁性材料性能研究的测试仪器,目 前,常用的磁性材料测试仪器有磁电式、电子式和数字积分式结构。但是, 目前巿场上所用的磁通仪均存在不同程度的零点漂移问题,因而在实际使 用过程中非常不方便,在测量的同时,还需随时进行调零,最终影响测量 精度及工作效率。

发明内容
本发明所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足,提供一 种恒温控制零漂移磁通仪,其结构简单、成本低廉且使用操作简便,能够 有效解决现有磁通测量仪器的零点漂移问题。
为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案是 一种恒温控制零漂移 磁通仪,包括金属密封壳体、密封在金属密封壳体内部的用于测试磁性材 料磁通的主电路板、对主电路板的工作量程进行设定的量程设置装置、将 测试结果进行同步显示的数字显示器、测试信号输入端口以及对各用电单 元进行供电的幵关稳压电源,所述量程设置装置、数字显示器和测试信号 输入端口分别与主电路板相接且均设置在金属密封壳体外侧,其特征在 于所述金属密封壳体内侧套装有一层保温层且其内侧底部还安装有一个 由工作电源进行供电的加热装置,工作电源由恒温控制器进行控制,金属 密封壳体的内部空腔中安装有一个与恒温控制器相接的温度传感器;所述恒温控制器和工作电源均设置在金属密封壳体外部。 所述加热装置为PTC陶瓷加热片。 所述工作电源与开关稳压电源相接。 所述保温层为聚氨酯保温层。
本发明与现有技术相比具有以下优点,1、不仅结构简单、成本低廉, 加工制作方便且使用操作简便,其只需在现有磁通测试仪器的密封客体内 部加入一个使该壳体内部温度恒定的加热装置,而无需对现有的磁通测试 仪器作其他任何改变;2、将磁通测试仪器的主电路板密封在一个恒温的 金属容器内,有效克服了外界温度变化使磁通测试仪器产生的零点漂移问
题;3、金属密封壳体具备磁屏蔽作用,也克服了磁通测试过程中外界磁
场的干扰问题。综上,本发明从磁通测量仪器零点漂移问题的源头入手, 有效解决了温度漂移和外界干扰漂移的问题,使磁通测试仪器工作在恒温 和屏蔽状态下。
下面通过附图和实施例,对本发明的技术方案做进一步的详细描述。


图l为本发明的结构示意图。
图2为本发明的电路原理图。 附图标记说明
l一金属密封壳体; 2 —主电路板; 3—量程设置装置;
4一数字显示器; 5—恒温控制器; 6—温度传感器;
7—开关稳压电源; 8—工作电源; 9一PTC陶瓷加热片;
IO—测试信号输入端口。
具体实施例方式
如图1所示,本发明包括金属密封壳体1、密封在金属密封壳体1内部 的用于测试磁性材料磁通的主电路板2、对主电路板2的工作量程进行设 定的量程设置装置3、将测试结果进行同步显示的数字显示器4、测试信号输入端口 10以及对各用电单元进行供电的开关稳压电源7。其中,所述 量程设置装置3、数字显示器4和测试信号输入端口 10分别与主电路板2 相接且均设置在金属密封壳体l外侧。另外,所述金属密封壳体l内侧套
装有一层保温层且其内侧底部还安装有一个由工作电源8进行供电的加热 装置,工作电源8由恒温控制器5进行控制,同时,金属密封壳体l的内 部空腔中安装有一个与恒温控制器5相接的温度传感器6。所述恒温控制 器5和工作电源8均设置在金属密封壳体1外部,并且工作电源8与开关 稳压电源7相接,开关稳压电源7分别为主电路板2和恒温控制器5供电, 而工作电源8为所述加热装置供电。本实施例中,所述加热装置为安装在 金属密封壳体1内侧底部的PTC陶瓷加热片9,金属密封壳体1内侧套装 的保温层为聚氨酯保温层。
本发明的工作过程是在磁通测试过程中,温度传感器6实时对金属 密封壳体l内部的温度进行检测并将所检测信号同步传送至与其相接的恒 温控制器5,恒温控制器5根据所输入的温度信号相应对工作电源8的电 流大小进行控制,具体是当温度传感器6检测到金属密封壳体1的内部 温度过高或过低时,通过恒温控制器5相应对工作电源8的电流进行控制 调整,最终实现金属密封壳体l内部的恒温状态。
以上所述,仅是本发明的较佳实施例,并非对本发明作任何限制,凡是 根据本发明技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、变更以及等效结构 变化,均仍属于本发明技术方案的保护范围内。
权利要求
1. 一种恒温控制零漂移磁通仪,包括金属密封壳体(1)、密封在金属密封壳体(1)内部的用于测试磁性材料磁通的主电路板(2)、对主电路板(2)的工作量程进行设定的量程设置装置(3)、将测试结果进行同步显示的数字显示器(4)、测试信号输入端口(10)以及对各用电单元进行供电的开关稳压电源(7),所述量程设置装置(3)、数字显示器(4)和测试信号输入端口(10)分别与主电路板(2)相接且均设置在金属密封壳体(1)外侧,其特征在于所述金属密封壳体(1)内侧套装有一层保温层且其内侧底部还安装有一个由工作电源(8)进行供电的加热装置,工作电源(8)由恒温控制器(5)进行控制,金属密封壳体(1)的内部空腔中安装有一个与恒温控制器(5)相接的温度传感器(6);所述恒温控制器(5)和工作电源(8)均设置在金属密封壳体(1)外部。
2. 按照权利要求l所述的恒温控制零漂移磁通仪,其特征在于所述 加热装置为PTC陶瓷加热片(9)。
3. 按照权利要求l或2所述的恒温控制零漂移磁通仪,其特征在于 所述工作电源(8)与开关稳压电源(7)相接。
4. 按照权利要求1或2所述的恒温控制零漂移磁通仪,其特征在于 所述保温层为聚氨酯保温层。
全文摘要
本发明公开了一种恒温控制零漂移磁通仪,包括金属密封壳体、密封在金属密封壳体内部的用于测试磁性材料磁通的主电路板、对主电路板工作量程进行设定的量程设置装置、数字显示器、测试信号输入端口及对各用电单元进行供电的开关稳压电源,所述量程设置装置、数字显示器和测试信号输入端口分别与主电路板相接且均设置在金属密封壳体外侧,金属密封壳体内侧套装有一层保温层且其内侧底部还安装有一个由工作电源进行供电的加热装置,工作电源由恒温控制器进行控制,金属密封壳体内部安装有一与恒温控制器相接的温度传感器。本发明结构简单、成本低廉且使用操作简便,能够有效解决现有磁通测量仪器的零点漂移问题。
文档编号G01R33/02GK101430370SQ20081023194
公开日2009年5月13日 申请日期2008年10月27日 优先权日2008年10月27日
发明者邹光荣 申请人:西安西工大思强科技有限公司

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