专利名称：测试光接口输出电信号的测试装置及测试系统、方法
技术领域：
本发明涉及网络通信设备测试技术，特别涉及高速通信设备的光接口的输出电信号测试的技术。
背景技术：
光接口输出电信号是指支持可插拔光�？榈耐ㄐ派璞阜⑼饽？榈牡缧藕牛壳俺Ｓ玫目刹灏喂饽？橛蠸FP/SFP+(Small Form-factor Pluggable，小型封装可热插拔)和 XFP(10Gigabit Small Form Factor Pluggable Module，IOG 小型封装可热插拔)两种封装形式，这些支持可插拔光�？榈耐ㄐ派璞感枰拖嘤Φ墓饽？榕浜喜拍苁迪指咚俚墓馔ㄐ牛虼瞬馐酝ㄐ派璞杆屯饽？榈牡缧藕诺牡缙匦允潜Ｖねㄐ派璞讣淠芸煽客ㄐ诺谋匾馐韵钅恐�。目前测试该电信号的方法有以下两种1、取下被测设备的电路板，在被测试的SFP/SFP+或者XFP端口插上SFP/SFP+或者XFP光�？椋缓笤诒徊馐陨璞傅牡缏钒宓腟FP/SFP+或者XFP插座上，使用高速示波器配合高阻差分探头在发送差分信号的过孔上测试电路板发送的差分电信号，由于被测试设备的电路板的过孔离SFP/SFP+或者XFP光�？槟诓康牡缧藕挪杉酒芙呕褂幸欢尉嗬耄� 并且电信号属于高速信号，因此这样测试不能真实反映光�？槟诓康牡缧藕挪杉酒芙诺牡缧藕诺恼媸档缙匦�。2、取下被测试设备的电路板，在被测试设备的电路板的SFP/SFP+或者XFP插座的发送差分电信号的两个过孔间焊接一个100欧电阻进行阻抗匹配，然后在100欧电阻上使用高速示波器配合高阻差分探头测试发送差分电信号的波形。这样测试能较好反映发送差分信号在理想匹配下的电气特性，由于目前市场上提供的测试高速信号的高阻差分探头并不能准确对高速信号进行测试，因此测试也就存在一定误差，并且，每次测试均要取下被测试设备的电路板，然后被测试设备的两个过孔间需焊接100欧电阻，测试效率较低。
发明内容
本发明的目的就是克服目前通信设备光接口的输出电信号测试效率低下的缺点和使用高阻差分探头测试引入的误差的缺点，提供一种测试光接口输出电信号的测试装置和测试系统。本发明解决其技术问题，采用的技术方案是，测试光接口输出电信号的测试装置， 包括一测试电路板，所述测试电路板包括信号输入接口单元、交流耦合单元、阻抗匹配单元及信号输出接口单元，具体的所述信号输入接口单元，用于接收测试设备的被测光接口发向光�？榈牟罘值缧藕牛⒔貌罘值缧藕乓氲降缏钒迳希凰鼋涣黢詈系ピ糜诮氲降缏钒迳系谋徊夤饨涌诘牟罘值缧藕胖械闹绷鞣至拷懈衾耄Ⅰ詈喜罘值缧藕胖薪涣鞣至康阶杩蛊ヅ涞ピ�
所述阻抗匹配单元，用于为只有交流分量的差分电信号提供两根单端对地特征阻抗为50欧的传输线，并传输所述差分电信号到输出接口单元；所述输出接口单元，用于将来自阻抗匹配单元的差分电信号发送到示波器。进一步的，所述信号输入接口单元包括光�？楸曜挤庾暗牧悠鳎糜谟氩馐陨璞傅谋徊夤饨涌诹印８徊降模鍪涑鼋涌诘ピ礁龇直鸲杂饨涌诜⑺偷缧藕耪撕透憾说氖涑鼋油罚ü缘靥卣髯杩刮�50欧的同轴电缆与示波器连接。具体的，所述阻抗匹配单元提供的两根传输线为印刷电路板走线。具体的，所述光�？槭侵窼FP光�？榛騒FP光�？�。本发明的另一个目的，提供一种测试光接口输出电信号的测试系统，包括含有至少一个被测光接口的测试设备和示波器；其特征在于，所述系统还包括一个测试电路板，所述测试电路板提供满足光模块标准封装的连接器，用于与测试设备的被测光接口连接；所述测试电路板还提供两个分别对应被测光接口发送电信号正端和负端的输出接头，用于通过对地特征阻抗为50欧的同轴电缆与示波器连接。进一步的，所述测试电路板包括信号输入接口单元、交流耦合单元、阻抗匹配单元及信号输出接口单元，具体的所述信号输入接口单元，用于提供满足光模块标准封装的连接器，以接收测试设备被测光接口发向光�？榈牟罘值缧藕牛⒔貌罘值缧藕殴氲降缏钒澹凰鼋涣黢詈系ピ糜诮氲降缏钒迳系谋徊夤饨涌诘牟罘值缧藕胖械闹绷鞣至拷懈衾耄Ⅰ詈辖涣鞣至康阶杩蛊ヅ涞ピ凰鲎杩蛊ヅ涞ピ糜谖挥薪涣鞣至康牟罘值缧藕盘峁┮桓鲎杩刮�50欧的传输线路，并传输所述差分电信号到输出接口单元；所述输出接口单元，用于提供两个分别对应发送电信号正端和负端的输出接头， 该输出接头通过50欧同轴电缆连接示波器。本发明的另一个目的是，提供一种测试光接口输出电信号的测试方法，其特征在于，包括以下步骤测试电路板接收测试设备的被测光接口发向光�？榈牟罘值缧藕牛馐缘缏钒褰徊夤饨涌诘牟罘值缧藕胖械闹绷鞣至拷懈衾耄Ⅰ詈喜罘值缧藕胖械慕涣鞣至康搅礁ザ硕缘靥卣髯杩刮�50欧的传输线中；测试电路板将耦合后的只有交流分量的差分电信号通过同轴电缆输入到示波器中，由测试人员对示波器中的电信号进行分析。进一步的，所述测试电路板通过其满足光�？楸曜挤庾暗牧悠髁硬馐陨璞傅谋徊夤饨涌� ；所述测试电路板通过两个分别对应被测光接口发送电信号正端和负端的输出接头，利用特征阻抗为50欧的同轴电缆连接示波器。本发明的有益效果是，通过上述测试光接口输出电信号的测试电路板，不再需要去焊接100欧电阻等，所以使用方便，且并未使用SFP/SFP+或者XFP光单元和高阻差分探头进行测试，使测试精度提高。
图1是本发明测试装置实施例的结构框图。图2是本发明测试系统实施例的示意图。图3是本发明测试方法实施例的流程图。
具体实施例方式
下面结合实施例及附图，详细描述本发明的技术方案。本发明的测试光接口输出电信号的测试装置包括一测试电路板，所述测试电路板包括信号输入接口�？�、交流耦合�？椤⒆杩蛊ヅ淠？榧靶藕攀涑鼋涌谀？椋黄渲校藕攀淙虢涌诘ピ虢涣黢詈系ピ樱涣黢詈系ピ胱杩蛊ヅ涞ピ樱杩蛊ヅ涞ピ胄藕攀涑鼋涌诘ピ幼槌桑湫藕攀涑鼋涌诘ピ胧静ㄆ髋涠粤樱俳藕攀淙虢涌诘ピ氡徊馔ㄐ派璞噶樱媒涣黢詈系ピ邮盏降牟罘值缧藕诺闹绷鞒煞指衾耄Ⅰ詈辖涣鞒煞执涞阶杩蛊ヅ涞ピü杩蛊ヅ涞ピ拇湎叽涓貌罘中藕牛⒔弥挥薪涣鞣至康牡缧藕磐ü藕攀涑鼋涌诘ピ涑龈嘤κ静ㄆ魇涑鲇晒ぷ魅嗽苯蟹治�。测试时，将本发明的测试装置插入被测试通信设备中。实施例参见图1，为本发明测试装置实施例的结构框图参见图1。该电路板由信号输入接口单元10、交流耦合单元11、阻抗匹配单元12及信号输出接口单元13构成。输入接口单元10，提供满足SFP/SFP+光�？榛蛘遆FP光�？楸曜挤庾暗慕硬寮� 用以和满足SFP/SFP+或者XFP标准的被测通信设备的光接口可靠连接，并将被测通信设备的被测光接口发往光�？榈牟罘值缧藕乓奖痉⒚鞯牟馐怨饨涌谑涑龅缧藕诺牟馐宰爸玫牡缏钒迳�。交流耦合单元11，用以将引到本发明的测试光接口输出电信号的测试装置电路板上的差分信号的直流成分隔离，并耦合交流成分到下一级。阻抗匹配单元12，给引到本发明的测试光接口输出电信号的测试工装电路板上的差分信号提供两个单端50欧阻匹配的传输线，用于传输该差分信号。信号输出单元13，将只有交流分量的差分电信号通过SMA接头引出。本实施例中，测试装置的信号输入接口单元包SFP/SFP+光模块或XFP光模块标准封装的连接器，用于与被测通信设备的被测光接口连接，接收该被测光接口发向光模块的差分电信号TX+和TX-。阻抗匹配单元连接电路板上的两根单端对地特征阻抗为50欧的传输线；信号输出接口单元包括包括两个分别对应光接口发送电信号正端TX+和负端 TX-的输出接头，通过对地特征阻抗为50欧的同轴电缆与示波器连接。该输出接头可以为 SMA (SubMiniatureversion A) _+。使用时，将测试装置电路板的信号输出接口单元的输出接头与示波器配对通过两根同轴电缆连接，该同轴电缆的特征阻抗为50欧，该示波器为通道阻抗为50欧的高速示波器，将只有交流分量的电信号通过信号输出接口单元输出给相应示波器后，输出由工作人员进行分析，测试出通信设备发往光�？榈牡缧藕诺牡缙匦�。参见图2，为本发明测试系统实施例的示意图，本发明的测试系统包括含有至少一个被测光接口的测试设备和示波器；其特征在于，所述系统还包括一个测试电路板，所述测试电路板提供满足光�？楸曜挤庾暗牧悠鳎糜谟氩馐陨璞傅谋徊夤饨涌诹樱凰霾馐缘缏钒寤固峁┝礁龇直鸲杂Ρ徊夤饨涌诜⑺偷缧藕耪撕透憾说氖涑鼋油罚糜谕ü缘靥卣髯杩刮�50欧的同轴电缆与示波器连接。所述测试电路板的实现见上述说明，在此不再赘述。图3是本发明测试方法实施例的流程图，包括如下步骤步骤301，测试电路板接收测试设备的被测光接口发向光�？榈牟罘值缧藕�。本步骤中，所述测试电路板通过其满足光�？楸曜挤庾暗牧悠髁硬馐陨璞傅谋徊夤饨涌冢� 该连接器既可以是满足SFP/SFP+光�？楸曜挤庾暗牧悠饕部梢允荴FP光�？楸曜挤庾暗牧悠�。步骤302，测试电路板将被测光接口的差分电信号中的直流分量进行隔离，并耦合差分电信号中的交流分量到两根单端对地特征阻抗为50欧的传输线中。步骤303，测试电路板将耦合后的只有交流分量的差分电信号通过同轴电缆输入到示波器中，由测试人员对示波器中的电信号进行分析。本步骤中，测试电路板通过两个分别对应被测光接口发送电信号正端和负端的输出接头，利用特征阻抗为50欧的同轴电缆连接示波器。
权利要求
1.测试光接口输出电信号的测试装置，其特征在于，所述装置包括一测试电路板，所述测试电路板包括信号输入接口单元、交流耦合单元、阻抗匹配单元及信号输出接口单元，具体的所述信号输入接口单元，用于接收测试设备的被测光接口发向光�？榈牟罘值缧藕牛� 并将该差分电信号引入到电路板上；所述交流耦合单元，用于将引入到电路板上的被测光接口的差分电信号中的直流分量进行隔离，并耦合差分电信号中交流分量到阻抗匹配单元；所述阻抗匹配单元，用于为只有交流分量的差分电信号提供两根单端对地特征阻抗为 50欧的传输线，并传输所述差分电信号到输出接口单元；所述输出接口单元，用于将来自阻抗匹配单元的差分电信号发送到示波器。
2.根据权利要求1所述的测试光接口输出电信号的测试装置，其特征在于，所述信号输入接口单元包括光�？楸曜挤庾暗牧悠鳎糜谟氩馐陨璞傅谋徊夤饨涌诹�。
3.根据权利要求1或2所述的测试光接口输出电信号的测试装置，其特征在于，所述输出接口单元包括两个分别对应光接口发送电信号正端和负端的输出接头，通过对地特征阻抗为50欧的同轴电缆与示波器连接。
4.根据权利要求3所述的测试光接口输出电信号的测试装置，其特征在于，所述阻抗匹配单元提供的两根传输线为印刷电路板走线。
5.根据权利要求3所述的测试光接口输出电信号的测试装置，其特征在于，所述光�？槭侵窼FP光�？榛騒FP光�？�。
6.测试光接口输出电信号的测试系统，包括含有至少一个被测光接口的测试设备和示波器；其特征在于，所述系统还包括一个测试电路板，所述测试电路板提供满足光�？楸曜挤庾暗牧悠鳎糜谟氩馐陨璞傅谋徊夤饨涌诹樱凰霾馐缘缏钒寤固峁┝礁龇直鸲杂Ρ徊夤饨涌诜⑺偷缧藕耪撕透憾说氖涑鼋油罚糜谕ü缘靥卣髯杩刮�50欧的同轴电缆与示波器连接。
7.根据权利要求6所述的测试光接口输出电信号的测试系统，其特征在于，所述测试电路板包括信号输入接口单元、交流耦合单元、阻抗匹配单元及信号输出接口单元，具体的所述信号输入接口单元，用于提供满足光�？楸曜挤庾暗牧悠鳎越邮詹馐陨璞副徊夤饨涌诜⑾蚬饽？榈牟罘值缧藕牛⒔貌罘值缧藕殴氲降缏钒澹凰鼋涣黢詈系ピ糜诮氲降缏钒迳系谋徊夤饨涌诘牟罘值缧藕胖械闹绷鞣至拷懈衾耄Ⅰ詈辖涣鞣至康阶杩蛊ヅ涞ピ凰鲎杩蛊ヅ涞ピ糜谖挥薪涣鞣至康牟罘值缧藕盘峁┮桓鲎杩刮�50欧的传输线路，并传输所述差分电信号到输出接口单元；所述输出接口单元，用于提供两个分别对应发送电信号正端和负端的输出接头，该输出接头通过50欧同轴电缆连接示波器。
8.根据权利要求6或7所述的测试光接口输出电信号的测试系统，其特征在于，所述光�？槭侵窼FP光�？榛騒FP光�？椤�
9.测试光接口输出电信号的测试方法，其特征在于，包括以下步骤 a、测试电路板接收测试设备的被测光接口发向光�？榈牟罘值缧藕牛琤、测试电路板将被测光接口的差分电信号中的直流分量进行隔离，并耦合差分电信号中的交流分量到两根单端对地特征阻抗为50欧的传输线中；C、测试电路板将耦合后的只有交流分量的差分电信号通过同轴电缆输入到示波器中， 由测试人员对示波器中的电信号进行分析。
10.如权利要求9所述测试光接口输出电信号的测试方法，其特征在于，所述测试电路板通过其满足光模块标准封装的连接器连接测试设备的被测光接口 ；所述测试电路板通过两个分别对应被测光接口发送电信号正端和负端的输出接头，利用特征阻抗为50欧的同轴电缆连接示波器。
全文摘要
本发明涉及网络通信设备测试技术。本发明解决了现有通信设备光接口的输出电信号测试效率低下的缺点和使用高阻差分探头测试引入的误差的问题，提供了一种测试光接口输出电信号的测试装置及测试系统、方法，其技术方案可概括为测试光接口输出电信号的测试装置包括一测试电路板，所述测试电路板包括信号输入接口�？�、交流耦合�？�、阻抗匹配�？榧靶藕攀涑鼋涌谀？椋槐痉⒚鞯挠幸嫘Ч翘岣卟馐跃龋室擞诟咚偻ㄐ派璞傅墓饨涌诘氖涑龅缧藕挪馐�。
文档编号G01R31/00GK102346222SQ20111015388
公开日2012年2月8日 申请日期2011年6月9日 优先权日2011年6月9日
发明者王鑫 申请人:迈普通信技术股份有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
