一种频率特性测量装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开一种频率特性测量装置，包括正交扫描信号源、第一与第二乘法器、第一与第二低通滤波器、单片机和显示�？椋簧栊藕旁词涑稣坏恼液陀嘞业缪剐藕牛簧栊藕旁吹挠嘞倚藕攀涑龆朔直鹆拥谝怀朔ㄆ鞯囊桓鍪淙攵撕捅徊馔绲氖淙攵耍徊馔绲氖涑龆肆拥谝怀朔ㄆ鞯牧硪桓鍪淙攵撕偷诙朔ㄆ鞯囊桓鍪淙攵耍徽簧栊藕旁吹恼倚藕攀涑龆肆拥诙朔ㄆ鞯牧硪桓鍪淙攵耍坏谝�、二乘法器的输出端分别经由第一、二低通滤波器连接单片机，单片机将第一、二低通滤波器的输入信号转化为数字量，并控制显示模块进行显示。此装置具备同时测量幅频特性和相频特性的功能，简化电路，提高效率。
【专利说明】一种频率特性测量装置【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种频率特性测量装置，具体涉及一种幅频特性和相频特性测量
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【背景技术】
[0002]在雷达技术、通信技术、广播电视领域经常要用到阻抗特性元件如无源滤波器。在生产无源滤波器时需要测量一端口网络的传输特性和阻抗特性，其中一端口网络的传输特性包括幅频特性和相频特性。传统的幅频特性测试仪即扫频仪，十分笨重且价格昂贵，测量时由于操作的问题很容易引入测量误差，使幅频特性曲线容易受到周围环境的影响，并且不具备同时测量相频特性曲线的功能。测量装置测量相频特性曲线需要另外搭建一套电路，幅频特性曲线和相频特性曲线无法在同一台装置上完成，这样大大增加了测量的复杂程度，降低了测量的可靠性。
实用新型内容
[0003]本实用新型的目的，在于提供一种可同时测量幅频特性曲线和相频特性曲线的频率特性测量装置。
[0004]为了达成上述目的，本实用新型的解决方案是:
[0005]一种频率特性测量装置，用于测量被测网络的频率特性；所述频率特性测量装置包括正交扫描信号源、第一与第二乘法器、第一与第二低通滤波器、单片机和显不�？椋稣簧栊藕旁词涑稣坏恼液陀嘞倚藕牛簧栊藕旁吹挠嘞倚藕攀涑龆朔直鹆拥谝怀朔ㄆ鞯囊桓鍪淙攵撕捅徊馔绲氖淙攵耍徊馔绲氖涑龆肆拥谝怀朔ㄆ鞯牧硪桓鍪淙攵撕偷诙朔ㄆ鞯囊桓鍪淙攵耍凰稣簧栊藕旁吹恼倚藕攀涑龆肆拥诙朔ㄆ鞯牧硪桓鍪淙攵耍凰龅谝弧⒍朔ㄆ鞯氖涑龆朔直鹁傻谝�、二低通滤波器连接单片机，单片机将前述第一、二低通滤波器的输入信号转化为数字量，并控制显示�？榻邢圆籓
[0006]进一步的，所述正交扫描信号源包括AD9854芯片、第三与第四低通滤波器和第一与第二差分放大器，所述AD9854芯片的输出端分别与第三与第四低通滤波器的输入端连接，第三低通滤波器的输出端与第一差分放大器的输入端连接，第四低通滤波器的输出端与第二差分放大器的输入端连接，第一差分放大器的输出端作为正交扫描信号源的余弦信号输出端，第二差分放大器的输出端作为正交扫描信号源的正弦信号输出端。
[0007]进一步的，所述第一至四低通滤波器均采用七阶椭圆滤波低通滤波器。
[0008]进一步的，所述单片机采用MSP430F149芯片。[0009]进一步的，所述显示�？椴捎�7寸TFT彩屏。
[0010]采用上述方案后，本实用新型采用正交扫描信号源，将流经被测网络的被测信号和两路正交信号相乘，同时获取幅频特性和相频特性，弥补了传统测量装置不能同时测量幅频特性和相频特性的缺陷，大大简化了电路，提高了测量效率。【专利附图】
【附图说明】
[0011]图1是本实用新型的整体架构图。
[0012]图2是本实用新型中正交扫描信号源的架构图。
【具体实施方式】
[0013]以下将结合附图，对本实用新型的技术方案进行详细说明。
[0014]如图1所示，本实用新型提供一种频率特性测量装置，用于测量被测网络的频率特性；所述频率特性测量装置包括正交扫描信号源、第一与第二乘法器、第一与第二低通滤波器、单片机和显不�？椤Ｋ稣簧栊藕旁词涑稣坏恼液陀嘞倚藕牛簧栊藕旁吹挠嘞倚藕攀涑龆朔直鹆拥谝怀朔ㄆ鞯囊桓鍪淙攵撕捅徊馔绲氖淙攵耍直鹣虻谝怀朔ㄆ骱捅徊馔缢腿胗嘞倚藕牛徊馔绲氖涑龆肆拥谝怀朔ㄆ鞯牧硪桓鍪淙攵撕偷诙朔ㄆ鞯囊桓鍪淙攵耍嘞倚藕攀涑龆耸涑龅挠嘞倚藕啪徊馔绾蟮玫降髦菩藕牛笆鲇嘞倚藕庞胪ü徊馔绲玫降牡髦菩藕啪谝怀朔ㄆ髟怂愫蟮玫降谝怀朔ㄐ藕牛凰稣簧栊藕旁吹恼倚藕攀涑龆肆拥诙朔ㄆ鞯牧硪桓鍪淙攵耍倚藕攀涑龆耸涑龅恼倚藕庞肭笆鐾ü徊馔绲玫降牡髦菩藕啪诙朔ㄆ髟怂愫蟮玫降诙朔ㄐ藕牛凰龅谝�、二乘法器的输出端分别经由第一、二低通滤波器连接单片机，所述第一、二乘法信号分别由第一、二低通滤波器滤除高频分量后得到第一与第二滤波信号，并将第一与第二滤波信号分别输入单片机，单片机通过内部的模数转换器将前述第一与第二滤波信号转化为数字量，在单片机内部计算出该频率下的一组幅频信号和相频信号的值，并送入显示�？榻邢允尽Ｕ簧栊藕旁赐瓿梢淮紊ㄆ挡饬砍龆嘧榉敌藕藕拖嗥敌藕诺闹担缓笤谙允酒辽弦云德饰嶙辏苑敌藕藕拖嗥敌藕盼葑昊龇堤匦郧吆拖嗥堤匦郧�。
[0015]如图2所示，所述正交扫描信号源包括AD9854芯片、第三与第四低通滤波器和第一与第二差分放大器，所述AD9854芯片的输出端分别与第三与第四低通滤波器的输入端连接，第三低通滤波器的输出端与第一差分放大器的输入端连接，第四低通滤波器的输出端与第二差分放大器的输入端连接，第一差分放大器的输出端作为正交扫描信号源的余弦信号输出端，第二差分放大器的输出端作为正交扫描信号源的正弦信号输出端。
[0016]本实施例中所述第一至四低通滤波器均采用七阶椭圆滤波低通滤波器。所述单片机采用MSP430F149芯片。所述显示�？椴捎�7寸TFT彩屏。需要说明的是，本实用新型虽然涉及程序，但单片机为很成熟的硬件�？椋景肝扌瓒缘テ绦蚪懈慕纯墒迪郑簧婕岸杂诜椒ǖ母慕嗜允粲谑涤眯滦偷谋；た吞�。
[0017]综上所述，本实用新型一种频率特性测量装置，重点在于将流经被测网络的被测信号和两路正交电压信号相乘，同时获取幅频特性和相频特性，弥补了传统测量装置不能同时测量幅频特性和相频特性的缺陷，大大简化了电路，提高了测量效率。
[0018]以上实施例仅为说明本实用新型的技术思想，不能以此限定本实用新型的保护范围，凡是按照本实用新型提出的技术思想，在技术方案基础上所做的任何改动，均落入本实用新型保护范围之内。
【权利要求】
1.一种频率特性测量装置，用于测量被测网络的频率特性；其特征在于:所述频率特性测量装置包括正交扫描信号源、第一与第二乘法器、第一与第二低通滤波器、单片机和显示模块，所述正交扫描信号源输出正交的正弦和余弦信号，正交扫描信号源的余弦信号输出端分别连接第一乘法器的一个输入端和被测网络的输入端，而被测网络的输出端连接第一乘法器的另一个输入端和第二乘法器的一个输入端；所述正交扫描信号源的正弦信号输出端连接第二乘法器的另一个输入端；所述第一、二乘法器的输出端分别经由第一、二低通滤波器连接单片机，单片机将前述第一、二低通滤波器的输入信号转化为数字量，并控制显示�？榻邢允�。
2.如权利要求1所述的一种频率特性测量装置，其特征在于:所述正交扫描信号源包括AD9854芯片、第三与第四低通滤波器和第一与第二差分放大器,所述AD9854芯片的输出端分别与第三与第四低通滤波器的输入端连接，第三低通滤波器的输出端与第一差分放大器的输入端连接，第四低通滤波器的输出端与第二差分放大器的输入端连接，第一差分放大器的输出端作为正交扫描信号源的余弦信号输出端，第二差分放大器的输出端作为正交扫描信号源的正弦信号输出端。
3.如权利要求2所述的一种频率特性测量装置，其特征在于:所述第一至四低通滤波器均采用七阶椭圆滤波低通滤波器。
4.如权利要求1所述的一种频率特性测量装置，其特征在于:所述单片机采用MSP430F149 芯片。
5.如权利要求1至4中任一项所述的一种频率特性测量装置，其特征在于:所述显示�？椴捎�7寸TFT彩屏。
【文档编号】G01R23/02GK203720262SQ201420009419
【公开日】2014年7月16日 申请日期:2014年1月7日 优先权日:2014年1月7日
【发明者】梅永, 汤轲, 行鸿彦 申请人:南京信息工程大学
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