专利名称：一种数字集成电路功能测试仪的制作方法
技术领域：
本发明属于测试技术领域，更为具体地讲，涉及一种数字集成电路功能测试仪。
背景技术：
当今集成电路产业飞速发展，集成电路种类越来越多，而数字集成电路在其中占据了很大的份额。数字集成电路功能繁多，管脚数各异，速度千差万别。数字集成电路产业的发展为我们追求的数字化生活奠定了坚实的基�。罅康男酒簧隼矗捎谛酒谏杓浦圃旆庾笆褂霉讨卸加锌赡艹鱿止收希蚨云浣胁馐�。数字集成电路测试包含功能测试、直流参数测试和交流参数测试。在三种测试中功能测试是基�。硗饬街植馐远际墙⒃诠δ懿馐灾系�。测试速度是功能测试仪最重要的指标之一。图1是传统的数字集成电路测试仪的原理框图。如图1所示，传统的数字集成电路测试仪包含测试矢量存储器、读测试矢量模块、格式化编码模块、输入电平转换�？�、程控电源�？�、输出电平转换�？椋杉馐越峁肱卸夏？�、写结果矢量�？橐约敖峁娲⑵�。传统的数字集成电路功能测试仪采用了串行的工作方式，测试仪首先读取存储在矢量存储器里面的测试矢量，接着对测试矢量进行格式化编码，之后在输入电平转换�？橹卸员徊馐旨傻缏方屑だ缓笸ü涑龅缙阶荒？橹胁杉徊馐旨傻缏返募だ煊Σ⒂肫谕峁斜冉希詈蠼馐越峁慈虢峁娲⑵�。图2是图1所示的数字集成电路测试仪的功能测试时序图。如图2所示，一条测试矢量的功能测试包含读测试矢量、格式化编码、采集测试结果以及写测试结果四个工作环节，每个环节都是建立在前面的环节基础上的，只有当前面的所有环节都执行完成，后面的环节才可以执行。在其整个工作过程中，所有的环节都是在一个测试周期内完成的，测试效率较低，无法满足需求。传统的数字集成电路功能测试仪功能测试速度不高，就在于在一个测试周期内要实现四个环节，要在一个测试周期内同时满足测试矢量的读取时间、被测试器件的建立时间和返回时间、输出延迟和写结果存储器的时间，这样能实现的最小测试周期必须大于这四个时间之和，因而限制了测试速度的提高。近二十年来数字集成电路的工作速度年均增长30%，而测试仪的速度却增长缓慢，测试仪的速度已经越来越跟不上数字集成电路的速度。在假设传统功能测试仪四个环节的时间都是被测数字集成电路的工作周期的情况下，功能测试要达到被测试集成电路的速度，需要其可以提供4倍于被测数字集成电路速度，即使研制出如此高速的功能测试仪， 其成本也是非常昂贵的。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种测试速度高的数字集成电路功能测试仪。为实现上述目的，本发明的数字集成电路功能测试仪包括矢量存储器、读测试矢量�？�、格式化编码�？�、输入电平转换�？�、程控电源�？�、输出电平转换模块、采集与比较�？椤⑿唇峁噶磕？橐约敖峁娲⑵鳎炭氐缭茨？槲淙氲缙阶荒？�、输出电平转换�？樘峁┑缙阶凰璧母叩偷缙降缪梗涮卣髟谟冢拱ㄒ皇毙蚩刂颇？�、地址总线产生�？椋辉谑毙蚩刂颇？榈目刂葡拢诘谝桓霾馐灾芷冢刂纷芟卟？榈刂分刚胫赶虻谝惶醪馐允噶康牡刂罚刂纷芟卟？槭涑龅谝惶醪馐允噶康牡刂犯噶看娲⑵鳎敛馐允噶磕？榇邮噶看娲⑵髦卸寥〉谝惶醪馐允噶考捌涠杂Φ牟馐云谕峁缓缶谝桓霾馐灾芷诤螅谝惶醪馐允噶恳丫晃榷ǖ乇欢寥。杂Φ牟馐云谕峁腿胧毙蚩刂颇？樵荽妫辉诘诙霾馐灾芷冢袷交嗦肽？槎远寥〉牡谝惶醪馐允噶可柚煤鲜实氖敝咏⒌愫头祷氐悖泻鲜实母袷交嗦耄⑹涑龈淙氲缙阶荒？榻械缙阶唬幼沤袷交嗦牒蟮牡谝惶醪馐允噶渴┘拥奖徊馐旨傻缏返氖淙牍芙牛诙霾馐灾芷诤螅徊馐旨傻缏肺榷ㄊ涑觯煌保刂纷芟卟？榈刂分刚爰�1，指向下一条测试矢量的地址，地址总线产生�？槭涑龅诙醪馐允噶康牡刂犯噶看娲⑵鳎敛馐允噶磕？榇邮噶看娲⑵髦卸寥〉诙醪馐允噶考捌涠杂Φ牟馐云谕峁缓缶诙霾馐灾芷诤螅诙醪馐允噶恳丫晃榷ǖ乇欢寥。杂Φ牟馐云谕峁腿胧毙蚩刂颇？樵荽妫辉诘谌霾馐灾芷冢徊馐旨傻缏返氖涑鼍涑龅缙阶荒？榻械缙阶缓螅刹杉氡冉夏？椴苫兀⒆魑谝惶醪馐允噶康牟馐越峁胧毙蚩刂颇？橹性荽娴牡谝惶醪馐允噶慷杂Φ牟馐云谕峁斜冉希煌保袷交嗦肽？槎远寥〉牡诙醪馐允噶可柚煤鲜实氖敝咏⒌愫头祷氐悖泻鲜实母袷交嗦耄⑹涑龈淙氲缙阶荒？榻械缙阶唬幼沤袷交嗦牒蟮牡诙醪馐允噶渴┘拥奖徊馐旨傻缏返氖淙牍芙牛谌霾馐灾芷诤螅徊馐旨傻缏肺榷ㄊ涑觯煌保刂纷芟卟？榈刂分刚爰�1，指向下一条测试矢量的地址，地址总线产生�？槭涑龅谌醪馐允噶康牡刂犯噶看娲⑵鳎敛馐允噶磕？榇邮噶看娲⑵髦卸寥〉谌醪馐允噶考捌涠杂Φ牟馐云谕峁缓缶谌霾馐灾芷诤螅谌醪馐允噶恳丫晃榷ǖ乇欢寥。杂Φ牟馐云谕峁腿胧毙蚩刂颇？樵荽妫辉诘谒母霾馐灾芷冢唇峁噶磕？榻谝惶醪馐允噶康牟馐越峁坝肫洳馐云谕峁谋冉辖峁嫒虢峁娲⑵髦校煌保徊馐旨傻缏返氖涑鼍涑龅缙阶荒？榻械缙阶缓螅刹杉氡冉夏？椴苫兀⒆魑诙醪馐允噶康牟馐越峁胧毙蚩刂颇？槠谠荽娴牡诙醪馐允噶慷杂Φ牟馐云谕峁斜冉希煌保袷交嗦肽？槎远寥〉牡谌醪馐允噶可柚煤鲜实氖敝咏⒌愫头祷氐悖泻鲜实母袷交嗦耄⑹涑龈淙氲缙阶荒？榻械缙阶唬幼沤袷交嗦牒蟮牡谌醪馐允噶渴┘拥奖徊馐旨傻缏返氖淙牍芙牛谒母霾馐灾芷诤螅徊馐旨傻缏肺榷ㄊ涑觯煌保刂纷芟卟？榈刂分刚爰�1，指向下一条测试矢量的地址，地址总线产生�？槭涑龅谒奶醪馐允噶康牡刂犯噶看娲⑵鳎敛馐允噶磕？榇邮噶看娲⑵髦卸寥〉谒奶醪馐允噶考捌涠杂Φ牟馐云谕峁缓缶谒母霾馐灾芷诤螅谒奶醪馐允噶恳丫晃榷ǖ乇欢寥。�
6应的测试期望结果送入时序控制�？樵荽�。至此，后面的每一个测试周期，对依次读取下一条测试矢量及其对应的测试期望结果，对读取的测试矢量进行格式编码和电平转换并施加到被测数字集成电路的输入管脚，对上一条测试矢量的测试结果采回和比较，对上上一条测试矢量的测试结果及与其测试期望结果的比较结果存入结果存储器，从而完成数字集成电路的功能测试。本发明的发明目的是这样实现的在本发明中，数字集成电路的功能测试在时序控制�？榈目刂葡拢δ懿馐缘亩敛馐允噶�、格式化编码、测试结果的采集与比较以及写结果矢量四个阶段实现了并行工作。 由于在读取测试矢量环节只需要关心测试矢量存储器的读取时间，在格式化编码环节只需要关心测试矢量的建立和保持时间，在测试结果的采集和比较环节只需要关心输出延迟时间和建立时间的差，保证能采回输出，在写结果存储器环节只需要关心写结果存储器的时间。这样，相比于传统方法的最小测试周期需要大于四个环节分别要求的时间之和，本发明可实现的最小测试周期只要大于四个时间中最大的即可，于是在测试同一种数字集成电路的情况下，本发明相对于传统的方法可以很大程度上提高测试速度。
图1是传统的数字集成电路测试仪的原理框图；图2是图1所示的数字集成电路测试仪的功能测试时序图；图3是本发明数字集成电路测试仪一具体实施方式
的原理框图；图4是图3所示的数字集成电路测试仪的功能测试流水化作业模式图；图5是图3所示的数字集成电路测试仪的功能测试时序图；图6是图3所示的时序控制�？橹锌刂坡龀宀缏芬恢�具体实施方式
电路图；图7是五种编码格式输出时序图；图8是图3所示的格式化编码�？橐恢�具体实施方式
电路图；图9是图8中所示的格式化编码状态机状态转换关系图；图10是图3所示的采集与比较�？橹胁杉氡冉峡刂坡龀逖邮钡缏返囊恢�具体实施方式
电路图；图11是图3所示的时序控制�？橹懈餍藕诺氖毙蛲迹煌�12是数字集成电路74LS163的功能时序图；图13是本发明数字集成电路测试仪一实例的面板图。
具体实施例方式下面结合附图对本发明的具体实施方式
进行描述，以便本领域的技术人员更好地理解本发明。需要特别提醒注意的是，在以下的描述中，当已知功能和设计的详细描述也许会淡化本发明的主要内容时，这些描述在这里将被忽略。实施例图3是本发明数字集成电路测试仪一具体实施方式
的原理框图。在本实施例中，如图1所示，本发明的数字集成电路测试仪包括矢量存储器1、读测试矢量�？�2、格式化编码�？�3、输入电平转换�？�4、程控电源�？�5、输出电平转换�？�6、采集与比较模块7、写结果矢量�？�8、结果存储器9，时序控制�？�10、地址总线产生�？�11。程控电源模5块为输入电平转换�？�4、输出电平转换�？�6提供电平转换所需的高低电平电压。在第一个测试周期，时序控制�？�10通过对地址总线的控制，使地址总线产生�？�11中读RAM地址线的指针指向第一条测试矢量地址，并输出第一条测试矢量的地址给矢量存储器1 ；同时，输出读矢量控制脉冲给读测试矢量�？�2，触发启动读测试矢量�？�2， 读测试矢量�？�2从矢量存储器1中读取第一条测试矢量及其对应的测试期望结果，然后经过第一个测试周期后，第一条测试矢量已经被稳定地被读�。魑馐约だ涑龈袷交嗦肽？�3，对应的测试期望结果送入时序控制�？�10暂存。在第二个测试周期，时序控制模块10输出格式化编码控制脉冲给式化编码�？� 3，触发启动格式化编码模块3，格式化编码�？�3对读取的第一条测试矢量设置合适的时钟建立点和返回点，进行合适的格式化编码，并输出给输入电平转换�？�4进行电平转换， 将格式化编码后的第一条测试矢量施加到被测数字集成电路的输入管脚，经过第二个测试周期后，被测数字集成电路稳定输出；同时，地址总线产生模块11中读RAM地址线的指针加 1，指向第二条测试矢量的地址，地址总线产生�？�11中读RAM地址线输出第二条测试矢量的地址给矢量存储器1，时序控制�？�10输出读矢量控制脉冲给读测试矢量�？�2，触发启动读测试矢量模块2，读测试矢量�？�2从矢量存储器1中读取第二条测试矢量及其对应的测试期望结果，然后经过第二个测试周期后，第二条测试矢量已经被稳定地被读�。魑馐约だ涑龈袷交嗦肽？�3，对应的测试期望结果送入时序控制�？�10暂存。在第三个测试周期，被测数字集成电路的输出经输出电平转换�？�6进行电平转换后，由采集与比较�？�7采回，并作为第一条测试矢量的测试结果与时序控制模块1中暂存的第一条测试矢量对应的测试期望结果进行比较，时序控制�？�10输出采集与比较控制脉冲给采集与比较�？�7，触发启动采集与比较模块7，将采集的测试结果和比较结果锁定；同时，时序控制�？�10输出格式化编码控制脉冲给式化编码�？�3，触发启动格式化编码�？�3，格式化编码�？�3对读取的第二条测试矢量设置合适的时钟建立点和返回点，进行合适的格式化编码，并输出给输入电平转换�？�4进行电平转换，接着将格式化编码后的第二条测试矢量施加到被测数字集成电路的输入管脚，经过第三个测试周期后，被测数字集成电路稳定输出；同时，地址总线产生�？�11中读RAM地址线的指针加1，指向第三条测试矢量的地址，地址总线产生模块11中读RAM地址线输出第三条测试矢量的地址给矢量存储器1，时序控制�？�10输出读矢量控制脉冲给读测试矢量模块2，触发启动读测试矢量�？�2，读测试矢量�？�2从矢量存储器1中读取第三条测试矢量及其对应的测试期望结果，然后经过第三个测试周期后，第三条测试矢量已经被稳定地被读取，作为测试激励输出给格式化编码�？�3，对应的测试期望结果送入时序控制�？�10暂存。在第四个测试周期，时序控制�？�10通过对地址总线的控制，使地址总线产生�？�11中写RAM地址线的指针指向第一条写测试矢量地址，输出写结果控制脉冲给写结果矢量�？�8，触发启动写结果矢量�？�8将第一条测试矢量的测试结果及与其测试期望结果的比较结果存入结果存储器9中，地址总线产生�？�11中写RAM地址线的指针加1 ；同时，被测数字集成电路的输出经输出电平转换�？�6进行电平转换后，由采集与比较�？� 7采回，并作为第二条测试矢量的测试结果与时序控制�？�10中暂存的第二条测试矢量对应的测试期望结果进行比较，时序控制�？�10输出采集与比较控制脉冲给采集与比较�？�7，触发启动采集与比较�？�7，将采集的测试结果和比较结果锁定；同时，时序控制�？� 10输出格式化编码控制脉冲给式化编码模块3，触发启动格式化编码�？�3，格式化编码�？�3对读取的第三条测试矢量设置合适的时钟建立点和返回点，进行合格式化编码，并输出给输入电平转换�？�4进行电平转换，接着将格式化编码后的第三条测试矢量施加到被测数字集成电路的输入管脚，经过第四个测试周期后，被测数字集成电路稳定输出；同时， 地址总线产生�？�11地址指针加1，指向下一条测试矢量的地址，地址总线产生�？�11中读RAM地址线输出第四条测试矢量的地址给矢量存储器1，时序控制�？�10输出读矢量控制脉冲给读测试矢量�？�2，触发启动读测试矢量�？�2从矢量存储器1中读取第四条测试矢量及其对应的测试期望结果，然后经过第四个测试周期后，第四条测试矢量已经被稳定地被读�。魑馐约だ涑龈袷交嗦肽？�3，对应的测试期望结果送入时序控制�？� 10暂存。至此，后面的每一个测试周期，对依次读取下一条测试矢量及其对应的测试期望结果，对读取的测试矢量进行格式编码和电平转换并施加到被测数字集成电路的输入管脚，对上一条测试矢量的测试结果采回和比较，对上上一条测试矢量的测试结果及与其测试期望结果的比较结果存入结果存储器，从而完成数字集成电路的功能测试。图4是图3所示的数字集成电路测试仪的功能测试流水化作业模式图。在本实施例中，如图3所示，在本发明数字集成电路测试仪，功能测试的四个环节使用四级流水线实现，第一级实现读测试矢量，第二级实现格式化编码输出，第三级实现采集与比较，第四级实现写结果矢量到结果存储器中，四级环节都依次延迟一个测试周期启动。首先，在第一条测试周期内读取第一条测试矢量，经过一个测试周期的时间，测试矢量已经稳定的被读取了 ；在第二个测试周期内对需要设置合适的时钟建立点和返回点， 进行合适的格式化编码，被测数字集成电路的输入管脚施加格式化编码后的第一条测试矢量，同时读取第二条测试矢量；在第三个周期，被数字集成电路的输出被采集与比较�？椴杉乩床⒂肫谕峁斜冉希倍寥〉谌醪馐允噶恳约笆涑龈袷交嗦牒蟮牡诙醪馐允噶浚唤幼旁诘谒母霾馐灾芷诮杉降牡谝惶醪馐越峁噶考坝肫洳馐云谕峁谋冉辖峁慈虢峁噶看娲⑵骼锩妫倍恋谒奶醪馐允噶�、对第三条测试矢量进行格式化编码输出以及采集第二条测试结果矢量，至此，后面的每一个周期，四个环节都同时作业，每一个周期可以完成一条测试矢量的测试工作。由于在读取测试矢量环节只需要关心测试矢量存储器的读取时间，在格式化编码环节只需要关心测试矢量输出的建立和保持时间，在测试结果采集和比较环节只需要关心输出延迟时间和建立时间的差，在写结果存储器环节只需要关心写结果存储器的时间。 这样，相比于传统方法的最小测试周期需要大于四个环节分别要求的时间之和，本发明可实现的最小测试周期只要大于四个时间中最大的即可，于是在测试同一种数字集成电路的情况下，本发明相对于传统的方法可以很大程度上提高测试速度。图5是图3所示的数字集成电路测试仪的功能测试时序图。在本实施例中，如图5所示，数字集成电路测试仪由FPGA来实现完成的，为了并行完成四个环节，设计四个时钟读矢量控制脉冲trig_readtaSk、格式化编码控制脉冲trig_codetask、采集与比较控制脉冲trig_collecttask、输出写结果控制脉冲trig_ writetask来分别触发启动读测试矢量，格式化编码输出，采集与比较以及写结果这四个任务，因为要实现四个任务依次延迟一个测试周期启动，所以四个时钟信号也需依次延迟一个测试周期。图6是图3所示的时序控制�？橹锌刂坡龀宀缏芬恢�具体实施方式
电路图。在本实施例中，如图6所示，时序控制�？�10中读矢量控制脉冲trig_readtaSk、 格式化编码控制脉冲trig_COdetask、采集与比较控制脉冲trig_C0lleCttask、输出写结果控制脉冲trig_writetaSk四个控制脉冲的产生电路包括1倍频电路、预置分频器、一 T 触发器以及六个D触发器；预置分频器使能端以及T触发器和六个D触发器的清零信号端 CLR均接测试开始控制信号start_C0ntr0l，T触发器和六个D触发器的时钟端CLK均接预置分频器的输出，τ触发器的输入端T接高电平1，输出接一 D触发器的输入端D，该D触发器的输出Q端接下一 D触发器输入端D，下一 D触发器的输出Q端接下下一 D触发器输入端D，这样将六个D触发器依次连接；T触发器输出的脉冲信号作为读矢量控制脉冲trig_ readtask，第二个D触发器输出的脉冲信号作为格式化编码控制脉冲trigjodetask，第四个D触发器输出的脉冲信号作为采集与比较控制脉冲trigjollecttask，第六个D触发器输出的脉冲信号作为写结果控制脉冲trig_Writetask。1倍频电路将20MHz输入时钟进行10倍倍频，输出200MHz的工作时钟 clk_200Mhzo预置分频器的分频数由数字集成电路测试仪的测试速度决定，预置分频数的计算公式如下N 预置分频数=fclk/ (2*f
test,其中，ftest为测试频率，在本实施例中为IOMHz时，fclk为工作时钟频率，在本实施例中为200MHz，则预置分频数Nj^jg^ 10。预置分频器对工作时钟进行分频，输入到T触发器的T输入端。数字集成电路功能测试开始时，测试开始控制信号start_C0ntr0l由0变为1，使触发器和预置分频器开始工作，预置分频器输出2倍于测试频率的时钟信号，也就是20MHz，T触发器FFl为上升沿触发，每个上升沿会触发输出翻转，于是T触发器FFl的输出频率为IOMHz的时钟信号，恰好是测试频率，依次连接的D触发器FF2、FF3、FF4、FF5、FF6、FF7为上升沿触发，触发时钟，即预置分频器输出是20MHz时钟信号，于是每个D触发器会引起50ns的延时，也就是半个测试周期，两个D触发器就会延迟一个测试周期，所以读矢量控制脉冲trig_readtaSk、格式化编码控制脉冲trig_COdetask、采集与比较控制脉冲trig_C0lleCttask、输出写结果控制脉冲trig_writetaSk依次延迟一个测试周期，用这四个时钟分别触发四个任务的开始， 下面对每个任务的实现进行解释。(1)、读取测试矢量读矢量控制脉冲trig_readtaSk触发读测试矢量任务的开始，同时，地址总线产生模块11地址指针加1，指向当前测试矢量的地址。在该任务中，需要等待地址总线稳定了再向RAM发出读信号，由于RAM输出有也一定的建立时间，所以读矢量控制脉冲输出后，还需要足够的时间等待RAM输出稳定后，读测试矢量�？�2再读�。咛宓却奔涓軷AM的特性而定。O)、格式化编码输出
图7是五种编码格式输出时序图。测试矢量的格式很重要，殿2、0殿2、1^、1 0、58〇 是常见的五种编码格式。通常来说，输入信号有两类控制信号和数据信号。数据信号在控制信号决定的时间点提供数据读入或锁定到器件内部逻辑。第一个要决定的是控制信号的有效时沿和数据信号的建立和返回时间，这些信息将决定周期内各输入信号时间沿的位置。接下来决定各输入信号的格式。时钟信号通常使用RZ (正脉冲)或R0(负脉冲) 格式；上升沿有效的信号如片选(⑶)或读(READ)常使用RZ格式；下降沿有效的信号如输出始能(/0E)常使用RO格式；拥有建立和保持时间要求的数据信号常使用SBC格式；其他的输入信号则可以使用NRZ或DNRZ格式。图8是图3所示的格式化编码�？橐恢�具体实施方式
电路图。在本实施例，如图8所示，实现信号格式化编码的FPGA电路，即格式化编码�？榘ㄒ唤⑹奔銬触发器FF8，其输入端D接高电平1，时钟端CLK接来自时序控制�？�10的格式化编码控制脉冲trig_COdetask ；一建立时间计数器CTl，其使能端EN接建立时间D触发器FF8的输出端Q，其计数时钟端CLK接工作时钟clk_200Mhz ；一建立时间比较器CP1，其一个比较输入端b[..]接建立时间计数器CTl的计数输出Q[..]，另一个比较输入端a[..]接格式建立点数寄存器，其输出端在两个比较输入端相等时，输出高电平信号；建立时间比较器CPl输出端接建立时间计数器CTl的高电平清零端 CLR,同时，通过一非门接建立时间D触发器FF8的低电平清零端CLR ；一返回时间D触发器FF9，其输入端D接高电平1，时钟端CLK接来接建立时间比较器CPl输出端；一返回时间计数器CT2，其使能端EN接格式返回时间D触发器FF9的输出端Q，其计数时钟端CLK接工作时钟clk_200Mhz ；一返回时间比较器CP2，其一个比较输入端a[..]接返回时间计数器CT2的计数输出Q[..]，另一个比较输入端b[..]接格式返回点数寄存器，其输出端在两个比较输入端相等时，输出高电平信号；返回时间比较器CP2输出端接返回时间计数器CT2的高电平清零端 CLR,同时，通过一非门接返回时间D触发器FF9的低电平清零端CLR ；一格式化编码状态机VECT0R_C0DE，其时间建立端clk_set接建立时间比较器CPl 输出，时间返回端Clk_return接返回时间比较器CP2输出，测试矢量输入端vectorjn接来自读测试矢量�？榇邮噶看娲⑵鞫寥〔⑹涑龅牟馐允噶浚袷交嗦肟刂坡龀迨淙攵� trig_COdetask接来自时序控制�？�10的格式化编码控制脉冲trig_COdetask，时钟端elk 接工作时钟clk_200Mhz，复位端rest测试开始控制信号start^ontrol，测试矢量格式端 code_style[..]接编码格式寄存器；格式化编码端c0de_0Ut将格式化后的测试矢量输出给输入电平转换�？榻械缙阶唬幼沤袷交嗦牒蟮牡谌醪馐允噶渴┘拥奖徊馐旨傻缏返氖淙牍芙牛桓袷交嗦胱刺兴母鲎刺闯跏甲刺琲dle_State，开始状态 start_state,建立状态 set_state 禾[!返回状态 return_state。图9是图8中所示的格式化编码状态机状态转换关系图。
11
参见图8、图9，测试开始控制信号startcontrol由0变为1，格式化编码状态机的复位端reset不再复位，格式化编码状态机进入初始状态idle_State ；格式化编码控制脉冲trig_codetask到来时，使格式化编码状态机VECT0R_C0DE进入开始状态start_ state，并按照编码格式输出信号，编码格式由格式化编码寄存器输出测试矢量格式端 code_style[..]的信号选择，同时，上升沿使建立时间D触发器FF8输出高电平，使能建立时间计数器CTl开始计数，当建立时间计数器CTl计到预置的格式建立点数，在本实施例中，工作时钟clk_200Mhz为200MHz，因此，每点为5ns，建立时间比较器CPl输出高电平，这个高电平同时反馈回来使建立时间D触发器FF8和建立时间计数器CTl清零，同时建立时间计数器CTl停止计数，直到下一个格式化编码控制脉冲trigjodetask上升沿的到来，因为建立时间计数器CTl输出为零，所以建立时间比较器CPl输出也变为零，所以时间建立端 clk_set接收到的为一个脉冲信号，格式化编码状态机进入建立状态set_state ；同样的原理，建立时间比较器CPl输出高电平时，上升沿触发返回时间D触发器 FF9输出高电平使能返回时间计数器CT2开始计数，当返回时间计数器CT2计到格式返回点数的时候，返回时间比较器CP2输出高电平，这个高电平同时反馈回来使返回时间D触发器FF9和返回时间计数器CT2清零，同时返回时间计数器CT2停止计数，直到建立时间比较器CPl再次输出高电平，时间返回端clk_retUrn接收到的也为一个脉冲信号，格式化编码状态机进入返回状态return_state。当测试开始控制信号startcontrol由0变为1变高后，格式化编码状态机开始工作，进入初始状态idle_State，当检测到trig_COdetaSk的上升沿后进入开始状态 startstate，对应图7的STATE1，并按照编码格式输出信号，编码格式由格式化编码寄存器输出测试矢量格式端c0de_Style[..]的信号选择，具体参见图7，VHDL程序如下
case code style is
when ” 000 ”=>cοde—out<=vector—in ；- -NRZ
when "001 "=>code_out<=vector_pre;-DNRZ, vector_pre 表示前一周期输出值 when "010"=>code out<=O’;--RZ when "Oil"=>code_out<=' 1 ';-RO when "100"=>code_out<=not vector—in;--SBC when others=>code_out<='Z';--invalid end case;进入开始状态startstate后，若检测到时间建立端clk_set上升沿则进入建立状态Set_State，对应图7的STATE2，此状态无论哪种状态，输出都是输入矢量，执行的程序
如下case code—style is
when"000’->codeout<==vectorin;--NRZwhen"001’->codeout<==vectorin;--DNRZwhen"010’->codeout<==vectorin;-RZwhen"011’'=>codeout<==vectorin;.-ROwhen"100'->codeout<==vectorin;-SBC
when others=>code_out<-Z'; —invalid end case;进入建立状态set_state后，若检测到时间返回端Clk_return上升沿则进入返回状态return_state，对应图7的STATE3，此状态执行的程序如下
权利要求
1. 一种数字集成电路功能测试仪包括矢量存储器、读测试矢量�？�、格式化编码�？�、 输入电平转换�？�、程控电源�？�、输出电平转换�？�、采集与比较�？�、写结果矢量�？橐约敖峁娲⑵鳎炭氐缭茨？槲淙氲缙阶荒？椤⑹涑龅缙阶荒？樘峁┑缙阶凰璧母叩偷缙降缪梗涮卣髟谟冢拱ㄒ皇毙蚩刂颇？�、地址总线产生�？椋辉谑毙蚩刂颇？榈目刂葡拢诘谝桓霾馐灾芷冢刂纷芟卟？榈刂分刚胫赶虻谝惶醪馐允噶康牡刂罚刂纷芟卟？槭涑龅谝惶醪馐允噶康牡刂犯噶看娲⑵鳎敛馐允噶磕？榇邮噶看娲⑵髦卸寥〉谝惶醪馐允噶考捌涠杂Φ牟馐云谕峁缓缶谝桓霾馐灾芷诤螅谝惶醪馐允噶恳丫晃榷ǖ乇欢寥。杂Φ牟馐云谕峁腿胧毙蚩刂颇？樵荽妫辉诘诙霾馐灾芷冢袷交嗦肽？槎远寥〉牡谝惶醪馐允噶可柚煤鲜实氖敝咏⒌愫头祷氐悖泻鲜实母袷交嗦耄⑹涑龈淙氲缙阶荒？榻械缙阶唬幼沤袷交嗦牒蟮牡谝惶醪馐允噶渴┘拥奖徊馐旨傻缏返氖淙牍芙牛诙霾馐灾芷诤螅徊馐旨傻缏肺榷ㄊ涑觯煌保刂纷芟卟？榈刂分刚爰�1，指向下一条测试矢量的地址，地址总线产生模块输出第二条测试矢量的地址给矢量存储器，读测试矢量�？榇邮噶看娲⑵髦卸寥〉诙醪馐允噶考捌涠杂Φ牟馐云谕峁缓缶诙霾馐灾芷诤螅诙醪馐允噶恳丫晃榷ǖ乇欢寥。杂Φ牟馐云谕峁腿胧毙蚩刂颇？樵荽妫辉诘谌霾馐灾芷冢徊馐旨傻缏返氖涑鼍涑龅缙阶荒？榻械缙阶缓螅� 由采集与比较�？椴苫兀⒆魑谝惶醪馐允噶康牟馐越峁胧毙蚩刂颇？橹性荽娴牡谝惶醪馐允噶慷杂Φ牟馐云谕峁斜冉希煌保袷交嗦肽？槎远寥〉牡诙醪馐允噶可柚煤鲜实氖敝咏⒌愫头祷氐悖泻鲜实母袷交嗦耄⑹涑龈淙氲缙阶荒？榻械缙阶唬幼沤袷交嗦牒蟮牡诙醪馐允噶渴┘拥奖徊馐旨傻缏返氖淙牍芙牛谌霾馐灾芷诤螅徊馐旨傻缏肺榷ㄊ涑觯煌保刂纷芟卟？榈刂分刚爰�1，指向下一条测试矢量的地址，地址总线产生�？槭涑龅谌醪馐允噶康牡刂犯噶看娲⑵鳎敛馐允噶磕？榇邮噶看娲⑵髦卸寥〉谌醪馐允噶考捌涠杂Φ牟馐云谕峁� 然后经过第三个测试周期后，第三条测试矢量已经被稳定地被读�。杂Φ牟馐云谕峁腿胧毙蚩刂颇？樵荽妫辉诘谒母霾馐灾芷冢唇峁噶磕？榻谝惶醪馐允噶康牟馐越峁坝肫洳馐云谕峁谋冉辖峁嫒虢峁娲⑵髦校煌保徊馐旨傻缏返氖涑鼍涑龅缙阶荒？榻械缙阶缓螅刹杉氡冉夏？椴苫兀⒆魑诙醪馐允噶康牟馐越峁胧毙蚩刂颇？槠谠荽娴牡诙醪馐允噶慷杂Φ牟馐云谕峁斜冉希煌保袷交嗦肽？槎远寥〉牡谌醪馐允噶可柚煤鲜实氖敝咏⒌愫头祷氐悖泻鲜实母袷交嗦耄⑹涑龈淙氲缙阶荒？榻械缙阶唬幼沤袷交嗦牒蟮牡谌醪馐允噶渴┘拥奖徊馐旨傻缏返氖淙牍芙牛谒母霾馐灾芷诤螅徊馐旨傻缏肺榷ㄊ涑觯煌保刂纷芟卟？榈刂分刚爰�1，指向下一条测试矢量的地址，地址总线产生模块输出第四条测试矢量的地址给矢量存储器，读测试矢量�？榇邮噶看娲⑵髦卸寥〉谒奶醪馐允噶考捌涠杂Φ牟馐云谕峁缓缶谒母霾馐灾芷诤螅谒奶醪馐允噶恳丫晃榷ǖ乇欢寥。杂Φ牟馐云谕峁腿胧毙蚩刂颇？樵荽�。至此，后面的每一个测试周期，对依次读取下一条测试矢量及其对应的测试期望结果，对读取的测试矢量进行格式编码和电平转换并施加到被测数字集成电路的输入管脚，对上一条测试矢量的测试结果采回和比较，对上上一条测试矢量的测试结果及与其测试期望结果的比较结果存入结果存储器，从而完成数字集成电路的功能测试。
2.根据权利要求1所述的数字集成电路功能测试仪，其特征在于，所述的时序控制模块通过读矢量控制脉冲、格式化编码控制脉冲、采集与比较控制脉冲、输出写结果控制脉冲四个控制脉冲触发启动读测试矢量�？�、格式化编码�？�、采集与比较�？�、写结果矢量�？椋凰母隹刂坡龀宀缏钒ㄔぶ梅制灯�、一 T触发器以及六个D触发器；预置分频器使能端以及T触发器和六个D触发器的清零信号端CLR均接测试开始控制信号，T触发器和六个D触发器的时钟端CLK均接预置分频器的输出，T触发器的输入端T接高电平1，输出接一 D触发器的输入端D，该D触发器的输出Q端接下一 D触发器输入端D，下一 D触发器的输出Q端接下下一 D触发器输入端D，这样将六个D触发器依次连接；T触发器输出的脉冲信号作为读矢量控制脉冲，第二个D触发器输出的脉冲信号作为格式化编码控制脉冲， 第四个D触发器输出的脉冲信号作为采集与比较控制脉冲，第六个D触发器输出的脉冲信号作为写结果控制脉冲；预置分频器对工作时钟进行分频，预置分频器的分频数由数字集成电路测试仪的测试速度决定，预置分频数的计算公式如下N 预置分频数=fcik/ (2*ftest)其中，ftest为测试频率，fclk为工作时钟频率；预置分频器输出到T触发器的T输入端，数字集成电路功能测试开始时，测试开始控制信号由0变为1，使触发器和预置分频器开始工作，T触发器为上升沿触发，每个上升沿会触发输出翻转，依次连接的D触发器为上升沿触发。
3.根据权利要求2所述的数字集成电路功能测试仪，其特征在于，所述的格式化编码�？榘ㄒ唤⑹奔銬触发器，其输入端D接高电平1，时钟端CLK接来自时序控制�？榈母袷交嗦肟刂坡龀澹灰唤⑹奔浼剖鳎涫鼓芏私咏⑹奔銬触发器的输出端Q，其计数时钟端接工作时钟；一建立时间比较器，其一个比较输入接建立时间计数器的计数输出，另一个比较输入端接格式建立点数寄存器，其输出端在两个比较输入端相等时，输出高电平信号；建立时间比较器输出端接建立时间计数器的高电平清零端，同时，通过一非门接建立时间D触发器的低电平清零端；一返回时间D触发器，其输入端D接高电平1，时钟端接来接建立时间比较器输出端；一返回时间计数器，其使能端接格式返回时间触发器的输出端，其计数时钟端接工作时钟；一返回时间比较器，其一个比较输入端接返回时间计数器的计数输出，另一个比较输入端接格式返回点数寄存器，其输出端在两个比较输入端相等时，输出高电平信号；返回时间比较器输出端接返回时间计数器的高电平清零端，同时，通过一非门接返回时间D触发器的低电平清零端；一格式化编码状态机，其时间建立端接建立时间比较器输出，时间返回端接返回时间比较器输出，测试矢量输入端接来自读测试矢量�？榇邮噶看娲⑵鞫寥〔⑹涑龅牟馐允噶浚袷交嗦肟刂坡龀迨淙攵私永醋允毙蚩刂颇？榈母袷交嗦肟刂坡龀澹敝佣私庸ぷ魇敝樱次欢瞬馐钥伎刂菩藕牛馐允噶扛袷蕉私颖嗦敫袷郊拇嫫鳎桓袷交嗦攵私袷交蟮牟馐允噶渴涑龈淙氲缙阶荒？榻械缙阶唬幼沤袷交嗦牒蟮牡谌醪馐允噶渴┘拥奖徊馐旨傻缏返氖淙牍芙牛桓袷交嗦胱刺兴母鲎刺闯跏甲刺甲刺⒆刺头祷刈刺徊馐钥伎刂菩藕庞�0变为1，格式化编码状态机的复位端不再复位，格式化编码状态机进入初始状态；格式化编码控制脉冲到来时，使格式化编码状态机进入开始状态，并按照编码格式输出信号，编码格式由格式化编码寄存器输出测试矢量格式端的信号选择，同时， 上升沿使建立时间D触发器输出高电平，使能建立时间计数器开始计数，当建立时间计数器计到预置的格式建立点数，建立时间比较器输出高电平，这个高电平同时反馈回来使建立时间D触发器和建立时间计数器清零，同时建立时间计数器停止计数，直到下一个格式化编码控制脉冲上升沿的到来，格式化编码状态机进入建立状态；同样的原理，建立时间比较器输出高电平时，上升沿触发返回时间D触发器输出高电平使能返回时间计数器开始计数，当返回时间计数器计到格式返回点数的时候，返回时间比较器输出高电平，这个高电平同时反馈回来使返回时间D触发器和返回时间计数器清零，同时返回时间计数器停止计数，直到建立时间比较器再次输出高电平，格式化编码状态机进入返回状态；测试开始控制信号由0变为1，返回开始状态，等待格式化编码控制脉冲触发下一周期的到来，对下一输入测试矢量进行格式化编码。
4.根据权利要求2所述的数字集成电路功能测试仪，其特征在于，所述的采集与比较�？橹杏幸徊杉氡冉峡刂坡龀逖邮钡缏罚玫缏钒ㄒ� D触发器，其输入端D接高电平1，时钟端接来自时序控制�？榈牟杉氡冉峡刂坡龀澹灰患剖鳎涫鼓芏私覦触发器的输出端Q，其计数时钟端接工作时钟； 一比较器，其一个比较输入端接建立时间计数器的计数输出，另一个比较输入端接采集与比较点数寄存器，其输出端在两个比较输入端相等时，输出高电平信号；比较器输出端接计数器的高电平清零端，同时，通过一非门接D触发器的低电平清零端；来自时序控制�？榈牟杉氡冉峡刂坡龀宕シ触发器输出高电平使能计数器开始计数，当计数器计到预置的采集与比较点数时，比较器输出高电平，同时高电平反馈回来使和输出清零，相应地比较器因为输入不相等输出又变回零，比较器输出一个延迟的采集与比较控制脉冲，然后进行采集和比较，用延迟的采集与比较控制脉冲触发启动采集与比较�？椋杉牟馐越峁捅冉辖峁�。
全文摘要
本发明公开了一种数字集成电路的功能测试仪，在时序控制�？榈目刂葡拢δ懿馐缘亩敛馐允噶�、格式化编码、测试结果的采集与比较以及写结果矢量四个阶段实现了并行工作。由于在读取测试矢量环节只需要关心测试矢量存储器的读取时间，在格式化编码环节只需要关心测试矢量的建立和保持时间，在测试结果的采集和比较环节只需要关心输出延迟时间和建立时间的差，保证能采回输出，在写结果存储器环节只需要关心写结果存储器的时间。这样，相比于传统方法的最小测试周期需要大于四个环节分别要求的时间之和，本发明可实现的最小测试周期只要大于四个时间中最大的即可，于是在测试同一种数字集成电路的情况下，本发明相对于传统的方法可以很大程度上提高测试速度。
文档编号G01R31/3181GK102353891SQ20111018169
公开日2012年2月15日 申请日期2011年6月30日 优先权日2011年6月30日
发明者古军, 周建, 徐林, 李旭刚, 王寅, 詹惠琴, 郝叶军, 金鸣 申请人:电子科技大学
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