一种电磁继电器综合参数测试仪的制作方法-山东亚星游戏官网机床有限公司

专利名称：一种电磁继电器综合参数测试仪的制作方法
技术领域：
一种电磁继电器综合参数测试仪技术领域[0001]本实用新型涉及一种测试仪，具体涉及一种电磁继电器综合参数测试仪。
背景技术：
[0002]目前，现有电磁继电器综合参数测试仪技术主要采用可调直流稳压源和低阻表组合进行测量，由于操作复杂，必须要有专业人员进行检测，导致测试环节繁琐，工作效率极低，对于大批量的继电器生产检测极为困难。发明内容[0003]为了克服上述现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供了一种电磁继电器综合参数测试仪，具有结构简单、操作方便、测试时间短、可靠性高和工作效率高的特点。[0004]为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是:一种电磁继电器综合参数测试仪，包括有微型控制器芯片，微型控制器芯片分别与功能按钮设置器、时钟频率、IXD显示驱动、AD信号采样处理器、DA信号驱动电压、供电电源、测试接口相连。[0005]所述的微型控制器芯片的PO 口扩展并行端口与功能按钮设置器相连，微型控制器芯片的18、19端引脚与时钟频率相连，微型控制器芯片的PO 口扩展并行端口与IXD显示驱动相连，微型控制器芯片的Pl.0、Pl.1、Pl.2、Pl.3端口与AD信号采样处理器相连，微型控制器芯片的Pl.4,Pl.5,Pl.6,Pl.7端口与DA信号驱动电压相连，微型控制器芯片的20、40端引脚与供电电源相连，微型控制器芯片的P3.2、P3.3、P3.5端口与测试接口相连。[0006]本实用新型跟现有技术相比较具有如下优点:[0007]I)主电路与供电电源�？槎懒⑸杓疲┑绲缭茨？橛凶帕己玫纳⑷壬杓疲馐越涌谏杓朴惺淙氡；ぃ苑乐挂蛭蟛僮鞯贾虏馐宰爸盟鸹担籟0008]2)测试功能齐全，可用于测试�？⒊１�、转换型电磁继电器的线圈电阻、接触电阻、吸合电压、释放电压、磁路闭合、吸合时间和释放时间参数；测量速度快，快检时间仅需I秒/只；[0009]3)操作简单。本使用新型只需操作人员将被测继电器与测试接口连接好，启动功能设置按钮�？橹械目旒旎蚓彀磁ィ臼褂眯滦透菔孪壬瓒ǖ某绦蚨员徊饧痰缙鹘懈髦植问馐裕僮魅嗽蔽扌杈弑缸ㄒ抵�。[0010]本实用新型具有测试时间短、可靠性高、工作效率高和测试操作方便的特点。

[0011]附图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
[0012]
以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。[0013]参见附图1，一种电磁继电器综合参数测试仪，包括有微型控制器芯片1、时钟频率2、AD信号采样处理器3、DA信号驱动电压4、IXD显示驱动5、功能按钮设置器6、供电电源7、测试接口 8 ;微型控制器芯片I的PO 口扩展并行端口与功能按钮设置器2相连，微型控制器芯片I的18、19端引脚与时钟频率3相连，微型控制器芯片I的PO 口扩展并行端口与IXD显示驱动4相连，微型控制器芯片I的P1.0、P1.1、P1.2、P1.3端口与AD信号采样处理器5相连，微型控制器芯片I的Pl.4、Pl.5、Pl.6、Pl.7端口与DA信号驱动电压6相连，微型控制器芯片的20、40端引脚与供电电源7相连，微型控制器芯片I的P3.2、P3.3、P3.5端口与测试接口 8相连。[0014]功能设置按钮模块包括9个按键，可对本实用新型各开关检测动作、实用新型参数设置进行动作选择。[0015]本实用新型的工作原理是:[0016]微型控制器芯片内置各部件工作测试程序，对检测数据具有快速运算处理功能。[0017]时钟频率用于对微型控制器芯片提供工作频率。[0018]AD信号采样处理器将采样到的信号进行AD转换，并送至微型控制器芯片，微型控制器芯片对采样数据进行运算处理。[0019]DA信号驱动电压可进行0-48V电压的数字调控。[0020]IXD显示驱动用于连接外部液晶显示屏，用于显示测试数据。[0021 ] 供电电源和外部交流电源连接，用于提供装置内部各模块工作所需的稳定电压。[0022]测试接口�？橛煤图痰缙鞲饕畔嗔�。[0023]本使用新型只需操作人员将被测继电器与测试接口连接好，启动功能按钮设置器中的快检或精检按钮，本使用新型根据事先设定的程序对被测继电器进行各种参数测试，操作人员无需具备专业知识，并且检测速度快，检测效率高，除对单个继电器进行测试外，本实用新型还适用于流水线的大批量生产，从而在保证质量的同时提高工作效率。
权利要求1.一种电磁继电器综合参数测试仪，其特征在于，包括有微型控制器芯片，微型控制器芯片分别与功能按钮设置器、时钟频率、IXD显示驱动、AD信号采样处理器、DA信号驱动电压、供电电源、测试接口相连。
2.根据权利要求1所述的一种电磁继电器综合参数测试仪，其特征在于，所述的微型控制器芯片(I)的PO 口扩展并行端口与功能按钮设置器(2)相连，微型控制器芯片(I)的.18、19端引脚与时钟频率(3)相连，微型控制器芯片(I)的PO 口扩展并行端口与IXD显示驱动(4)相连，微型控制器芯片(I)的Pl.0、Pl.1、Pl.2、Pl.3端口与AD信号采样处理器(5)相连，微型控制器芯片⑴的P1.4、P1.5、P1.6、P1.7端口与DA信号驱动电压(6)相连，微型控制器芯片的20、40端引脚与供电电源(7)相连，微型控制器芯片(I)的P3.2、P3.3、P3.5端口与测试接口⑶相连。
专利摘要一种电磁继电器综合参数测试仪，包括有微型控制器芯片，微型控制器芯片分别与功能按钮设置器、时钟频率、LCD显示驱动、AD信号采样处理器、DA信号驱动电压、供电电源、测试接口相连，将被测继电器与测试接口连接好，启动功能按钮设置器中的快检或精检按钮，本使用新型根据事先设定的程序对被测继电器进行各种参数测试，操作人员无需具备专业知识，具有结构简单、操作方便、测试时间短、可靠性高和工作效率高的特点。
文档编号G01R31/327GK202994981SQ20122050950
公开日2013年6月12日申请日期2012年10月8日优先权日2012年10月8日
发明者魏伟, 武军会, 李军银申请人:西安宝力电子科技有限公司

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