专利名称：一种otp型的mcu测试装置及其测试方法
技术领域：
本发明属于集成电路测试领域，尤其涉及一种OTP型MCU测试装置及其测试方法。
背景技术：
在OTP (One Time Programable)型MCU的测试中(特别是对于封装片的测试)，由于OTP只能烧录一次，经常采用的一种方法就是增加额外的测试电路和测试管脚(如图I所示)，在测试时通过测试管脚进入测试模式，而这将增加芯片的面积和成本，此外测试电路本身可能存在问题，导致芯片的测试失效也是一个问题，第三点就是芯片的测试电路一旦制造以后就被固定，不能修改，如果在芯片量产过程中发现有功能没有被测试电路覆盖，就只能通过重新设计芯片才能解决，这样会严重影响芯片的品质和芯片的上市时间。
发明内容
本发明的目的在于提供一种OTP型MCU测试装置，旨在解决现在的测试装置需要增加额外的测试电路和测试管脚导致成本高、不灵活的问题。 本发明是这样实现的，一种OTP型的MCU测试装置，包括用于储存用户程序的第一�？椋糜诖⒋娌馐猿绦虻牡诙？椋约胺直鹩胨龅谝荒？楹偷诙？榱拥腗CU控制�？椋凰龅谝荒？楹偷诙？槭且淮紊章汲尚停凰鯩CU控制模块控制所述第二�？橹葱胁馐猿绦�。更进一步地，所述第二�？榈拇⒋嫒萘扛菟霾馐猿绦虻拇笮±吹髡�。本发明还提供了一种采用上述的测试装置的测试方法，包括下述步骤在所述第二�？橹行慈氩馐猿绦颍龅谝荒？橹胁恍慈胧荩坏監TP的地址总线跳到已经写入测试程序的第二�？槭保葱兴霾馐猿绦虿⒉馐韵喙毓δ苣？椋坏辈馐酝瓿珊蠼龅诙？橹械牟馐猿绦蛉壳宄�。更进一步地，在步骤SI中根据所述测试程序的大小调整所述第二�？榈拇⒋嫒萘�。在本发明中，OTP型MCU的测试装置不需要使用额外的测试电路和测试管脚，降低了芯片的整体成本，而且测试方案可以灵活多变。
图I是现有技术提供的OTP型MCU测试装置的�？榻峁故疽馔迹煌�2是本发明实施例提供的OTP型MCU测试装置的�？榻峁故疽馔迹煌�3是本发明实施例提供的测试方法的实现流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。图2示出了本发明实施例提供的OTP型MCU测试装置的�？榻峁梗吮阌谒得鳎鍪境隽擞氡痉⒚魇凳├喙氐牟糠郑晔鋈缦翺TP型的MCU测试装置包括用于储存用户程序的第一模块，用于储存测试程序的第二�？椋约胺直鹩氲谝荒？楹偷诙？榱拥腗CU控制�？椋坏谝荒？楹偷诙？槭且淮紊章汲尚停籑CU控制�？榭刂频诙？橹葱胁馐猿绦颉Ｔ诒痉⒚魇凳├校玂TP的区域分为用户程序区和测试程序区两个部分；在测试时，在测试程序区内写入测试程序，用户程序区保持不变，因为用户程序区没有写入数据(OTP CELL的默认值为I)，PC值会不断增加，当PC指针跳到测试程序区后，开始执行测试程序，此时可以测试相关�？椤５辈馐酝瓿梢院螅馐猿绦蚯壳宄�(OTP CELL写入O)。当用户使用时在用户程序区写入用户程序即可执行，不会影响用户正常使用。其中，用于存储测试程序的第二�？榈拇⒋嫒萘靠梢愿莶馐猿绦虻拇笮±吹髡�。 在本发明实施例中，只需要将OTP容量稍稍增大，不用增加额外的测试电路和测试管脚，特别在一些场合中不能增加额外的测试管脚。其次测试主要靠MCU执行测试程序区代码来实现，因此不会存在测试电路失效的问题，如果测试代码执行错误，则说明芯片相关�？榇嬖谖侍猓苯涌梢郧殖隼�。第三由于测试程序可以修改，因此测试方案可以灵活的改动，特别是对刚刚上市的芯片，可能存在测试方案的不确定性，这样的方式可以更好的增加测试的覆盖率。如图3所示，采用本发明实施例提供的OTP型MCU测试装置的测试方法包括下述步骤SI :在第二�？橹行慈氩馐猿绦颍谝荒？橹胁恍慈胧荩豢梢愿莶馐猿绦虻拇笮〉髡诙？榈拇⒋嫒萘浚籗2 :当OTP的地址总线跳到已经写入测试程序的第二模块时，执行所述测试程序并测试相关功能�？椋�0TP的地址总线PC (Program Counter,即程序计数器)指针是由MCU控制的；S3 :当测试完成后将所述第二�？橹械牟馐猿绦蛉壳宄�。为了更进一步的说明本发明实施例，现以8051为内核的芯片来具体说明如下假如OTP空间为8KB，划分前面7KB为用户程序区，后面的IKB为测试程序区；在测试时，将测试程序写入测试程序区，用户程序区保持为空(OTP CELL单元为I);当上电后，MCU开始执行用户程序区内的程序，因为用户程序区为空，所以在用户程序区全部执行的指令都是OxFF (其对应的指令为MOV R7 A);执行的结果是将寄存器A的值赋给寄存器R7,然后PC指针加1，当PC值加到测试程序区时，开始执行测试代码，进行芯片测试。当测试结束后，将芯片的测试代码区全部清零。此时0X00对应的指令为NOP指令，不会对用户使用产生任何影响；在实际的实现中对于测试区域的选择可以根据实际的测试程序大小进行一定的调整。本发明提供的OTP型MCU的测试装置不需要使用额外的测试电路和测试管脚，降低了芯片的整体成本，而且测试方案可以灵活多变；另外测试方法主要是将OTP划分为用户区和测试区两个部分来实现，在测试时，MCU控制�？樵诓馐猿绦蚯兄葱谐绦颍梢酝ü慈氩煌某绦虻髡馐苑桨福谟没褂檬保琈CU执行用户程序区中的程序。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求
1.一种OTP型的MCU测试装置，其特征在于，包括 用于储存用户程序的第一�？椋糜诖⒋娌馐猿绦虻牡诙？椋约胺直鹩胨龅谝荒？楹偷诙？榱拥腗CU控制�？椋� 所述第一�？楹偷诙？槭且淮紊章汲尚停凰鯩CU控制�？榭刂扑龅诙？橹葱胁馐猿绦�。
2.如权利要求I所述的测试装置，其特征在于，所述第二�？榈拇⒋嫒萘扛菟霾馐猿绦虻拇笮±吹髡�。
3.一种采用权利要求I或2所述的测试装置的测试方法，其特征在于，包括下述步骤 51:在所述第二�？橹行慈氩馐猿绦颍龅谝荒？橹胁恍慈胧荩� 52:当OTP的地址总线跳到已经写入所述测试程序的所述第二�？槭保葱兴霾馐猿绦虿⒉馐韵喙毓δ苣？椋� 53:当测试完成后将所述第二�？橹械牟馐猿绦蛉壳宄�。
4.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于，在步骤SI中根据所述测试程序的大小调整所述第二模块的储存容量。
全文摘要
本发明适用于集成电路测试领域，提供了一种OTP型MCU测试装置及其测试方法，测试装置包括用于储存用户程序的第一�？椋糜诖⒋娌馐猿绦虻牡诙？椋约胺直鹩氲谝荒？楹偷诙？榱拥腗CU控制模块；第一�？楹偷诙？槭且淮紊章汲尚停籑CU控制�？榭刂频诙？橹葱胁馐猿绦�。在本发明中，OTP型MCU的测试装置不需要使用额外的测试电路和测试管脚，降低了芯片的整体成本，而且测试方案可以灵活多变。
文档编号G01R31/26GK102768331SQ201210260849
公开日2012年11月7日 申请日期2012年7月26日 优先权日2012年7月26日
发明者严凌志, 刘小灵, 谢韶波, 齐凡 申请人:深圳市芯�？萍加邢薰�
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
