专利名称：一种电磁继电器参数测试仪的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试仪，具体涉及一种电磁继电器参数测试仪。
背景技术：
目前，现有电磁继电器综合参数测试仪技术主要采用可调直流稳压源和低阻表组合进行测量，由于操作复杂，必须要有专业人员进行检测，导致测试环节繁琐，工作效率极低，对于大批量的继电器生产检测极为困难。
发明内容
为了克服上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供了一种电磁继电器参数测试仪，具有结构简单、操作方便、测试时间短、可靠性高和工作效率高的特点。 为了实现上述目的，本发明采用的技术方案是一种电磁继电器参数测试仪，所述的MCU控制芯片的按键端与功能按键相连，MCU控制芯片的显示端与显示驱动相连，MCU控制芯片的米集端与AD信号米样器相连,MCU控制芯片的信号驱动端与DA信号驱动器相连，MCU控制芯片的**端与供电电源相连，MCU控制芯片的测试端与测试接口相连。本发明的有益效果是
本发明跟现有技术相比较具有如下优点
O结构设计合理，为什么说结构设计合理？体现在哪里？
2)测试功能齐全，可用于测试�？�、常闭、转换型电磁继电器的线圈电阻、接触电阻、吸合电压、释放电压、磁路闭合、吸合时间和释放时间参数；测量速度快，快检时间仅需I秒/只；
3)操作简单。本使用新型只需操作人员将被测继电器与测试接口连接好，启动功能设置按钮�？橹械目旒旎蚓彀磁ィ臼褂眯滦透菔孪壬瓒ǖ某绦蚨员徊饧痰缙鹘懈髦植问馐裕僮魅嗽蔽扌杈弑缸ㄒ抵�。
附图I为本发明的结构示意图。
具体实施例方式下面结合附图对本发明作进一步详细说明。参见附图I，一种电磁继电器参数测试仪，所述的MCU控制芯片I的按键端与功能按键2相连，MCU控制芯片I的显示端与显示驱动3相连，MCU控制芯片I的采集端与AD信号采样器5相连，MCU控制芯片I的信号驱动端与DA信号驱动器6相连，MCU控制芯片I的测试端与测试接口 4相连。本发明的工作原理是
MCU控制芯片内置各部件工作测试程序，对检测数据具有快速运算处理功能。
时钟频率用于对MCU控制芯片提供工作频率。AD信号采样器将采样到的信号进行AD转换，并送至MCU控制芯片，MCU控制芯片对采样数据进行运算处理。DA信号驱动器可进行O — 48V电压的数字调控。显示驱动用于连接外部液晶显示屏，用于显示测试数据。测试接口�？橛煤图痰缙鞲鞴畔嗔�。本使用新型只需操作人员将被测继电器与测试接口连接好，启动功能按键中的快检或精检按钮，本使用新型根据事先设定的程序对被测继电器进行各种参数测试，操作人员无需具备专业知识，并且检测速度快，检测效率高，除对单个继电器进行测试外，本发明 还适用于流水线的大批量生产，从而在保证质量的同时提高工作效率。
权利要求
1.一种电磁继电器参数测试仪，其特征在于，所述的MCU控制芯片(I)的按键端与功能按键(2)相连，MCU控制芯片(I)的显示端与显示驱动(3)相连，MCU控制芯片(I)的采集端与AD信号米样器(5)相连，MCU控制芯片(I)的信号驱动端与DA信号驱动器(6)相连，MCU控制芯片(I)的测试端与测试接口(4)相连。
全文摘要
一种电磁继电器参数测试仪，包括有MCU控制芯片，MCU控制芯片分别与功能按键、显示驱动、AD信号采样器、DA信号驱动器、测试接口相连，将被测继电器与测试接口连接好，启动功能按键中的快检或精检按钮，依据事先设定的程序对被测继电器进行各种参数测试，操作人员无需具备专业知识，具有结构简单、操作方便、测试时间短、可靠性高和工作效率高的特点。
文档编号G01R31/327GK102854462SQ20121038187
公开日2013年1月2日 申请日期2012年10月10日 优先权日2012年10月10日
发明者吴新潮 申请人:西安北斗星数码信息股份有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
