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测试装置的制作方法

时间:2025-04-02    作者: 管理员

专利名称:测试装置的制作方法
技术领域
本发明是有关于一种测试装置,且特别是有关于一种电磁波测试装置。
背景技术
现阶段由于电磁辐射环境对大多数电子、电气设备皆会产生一定程度的影响,轻则使设备性能、功能暂时降低或丧失,重则造成设备永久损坏。所以遥测(Remote Sensing,RS)检验的目的就是为了检验电子、电气设备在遭受这类扰动影响时的性能。在进行RS检验前,为了确保所提高的电磁环境是否均匀,需要对场地进行UFA (Uniform Field Area)校验,即为场的均勻性校验。场的均勻性校验是通过天线发射电磁波,场探头放置在所需求平面上固定的位置上来接受电磁波。 目前场探头位置的确定,采用的是落地式场探头支架来固定场探头的位置。详细而言,场探头支架置放于O. 8公尺高的测试桌面上,使用支架上的夹子来固定场探头,并透过挪动落地式支架和支架上的夹子,来将场探头放置在空间中不同的位置。然而,进行场探头位置确定的时候需要花费较长时间量测来确定场探头的位置,而且人员量测操作容易产生误差。在UFA校验过程中,需要更换场探头位置时,要打开实验室让测试人员进入实验室手动更换位置,容易将外界杂讯带入实验室内。场探头的信号是通过光纤传送,手动搬动位置容易将光纤拉断。落地式场探头支架底部会有一定的高度基座来支撑支架,如此一来,不能将场探头放在距离地面O. 8公尺的位置上。由此可见,上述现有的方式,显然仍存在不便与缺陷,而有待加以进一步改进。为了解决上述问题,相关领域莫不费尽心思来谋求解决的道,但长久以来一直未见适用的方式被发展完成。因此,如何能避免确定场探头位置需花费较长时间量测且藉由人员量测易产生误差的问题、进入实验室手动更换场探头位置易将外界杂讯带入实验室内的问题、手动搬动落地式场探头支架容易将光纤拉断的问题以及不能将场探头放在距离地面O. 8公尺的位置的问题,实属当前重要研发课题的一,亦成为当前相关领域亟需改进的目标。

发明内容
本发明内容的一目的是在提供一种测试装置,藉以改善确定场探头位置需花费较长时间量测且藉由人员量测易产生误差的问题、进入实验室手动更换场探头位置易将外界杂讯带入实验室内的问题、手动搬动落地式场探头支架容易将光纤拉断的问题以及不能将场探头放在距离地面O. 8公尺的位置的问题。为达上述目的,本发明内容的一技术样态是关于一种测试装置。测试装置包含至少一横梁、移动模组、基座、控制模组以及场探头。横梁架设于电波暗室内。基座透过线材耦接于移动模组,其中移动模组用以放出线材与收起线材,以使基座透过线材来进行上升与下降。控制模组配置于移动模组上,用以接收命令信号来控制移动模组于横梁上的移动,并控制移动模组收放线材。场探头配置于基座上,并用以测试电磁波,其中场探头藉由基座的升降以进行升降,并藉由移动模组的移动而进行移动,使得场探头测试不同位置的电磁波。
根据本发明一实施例,移动模组的外型为对称形状。根据本发明另一实施例,移动模组的一中心点配置于场的校验平面上,线材耦接于移动模组的中心点,藉使场探头于场的校验平面上移动。根据本发明再一实施例,横梁为至少二横梁,而移动模组的外型为长方形,移动模组的两端分别架设于其中之一横梁上,而使移动模组跨设于前述些横梁之间。根据本发明又一实施例,控制模组用以接收第一命令信号来控制移动模组于横梁上的移动,并用以接收第二命令信号来控制移动模组收放线材。根据本发明另再一实施例,测试装置更包含位置控制器。位置控制器通信耦接于控制模组,并用以产生第一命令信号与第二命令信号。根据本发明另又一实施例,位置控制器藉由第一组光纤线以及第二组光纤线分别
通信耦接于控制模组,其中第一命令信号透过第一组光纤线传送至控制模组,而第二命令信号透过第二组光纤线传送至控制模组。根据本发明再另一实施例,线材包含一钢丝。因此,根据本发明的技术内容,本发明实施例藉由提供一种测试装置,藉以改善确定场探头位置需花费较长时间量测且藉由人员量测易产生误差的问题、进入实验室手动更换场探头位置易将外界杂讯带入实验室内的问题、手动搬动落地式场探头支架容易将光纤拉断的问题以及不能将场探头放在距离地面O. 8公尺的位置的问题。


为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂,所附图式的说明如下图I是绘示依照现有技术的一种电波暗室的UFA校验仪器配置示意图。图2是绘示依照本发明一实施例的一种测试装置的方块示意图。图3是绘示依照本发明另一实施例的一种测试装置的结构配置示意图。主要元件符号说明100 :测试装置112:横梁114:横梁120 :移动模组130 :基座132 :线材140 :控制模组150 :场探头160 :位置控制器170:测试转桌180 电波暗室
具体实施例方式为了使本发明揭示内容的叙述更加详尽与完备,可参照所附的图式及以下所述各种实施例,图式中相同的号码代表相同或相似的元件。但所提供的实施例并非用以限制本发明所涵盖的范围,而结构运作的描述非用以限制其执行的顺序,任何由元件重新组合的结构,所产生具有均等功效的装置,皆为本发明所涵盖的范围。
其中图式仅以说明为目的,并未依照原尺寸作图。另一方面,众所周知的元件与步骤并未描述于实施例中,以避免对本发明造成不必要的限制。 图1是依照现有技术绘示一种电波暗室的UFA校验仪器配置示意图。如图1 所示,为检验电气设备在电磁辐射环境下的性能,一般会在六面为吸波材料的电波暗室下进行RS检验。RS检验是通过仪器模拟所需要量测的磁场强度来进行对EUT(Equipment Under Test)性能的判定。在进行RS检验前,为了确保所提高的电磁环境是否均匀,需要对场地进行UFA校验。场的均匀性校验是通过如图I所示的天线发射电磁波,图I中的场探头会放置在所需求平面A(虚线所示的平面)上固定的位置上来接受电磁波。本发明实施例即是提供一种测试装置,在电波暗室外透过测试装置的位置控制器的操作,以使场探头得以在所需求平面A上进行移动来接收电磁波,以利于进行UFA校验。前述测试装置的元件配置与操作原理将在图2与图3中详述。 图2是依照本发明一实施例绘示一种测试装置100的方块示意图。图3是依照本发明另一实施例绘示一种测试装置100的结构配置示意图。 请一并参照图2与图3,测试装置100包含至少两横梁112与114、移动模组120、基座130、控制模组140、场探头150以及位置控制器160。首先以图2来介绍本发明实施例的作动方式。移动模组120配置于如图3所示的前述些横梁112与114上以于前述些横梁112与114上进行移动。基座130透过线材132耦接于移动模组120,其中移动模组120用以放出线材132与收起线材,以使基座130透过线材132来进行上升与下降。在此需说明的是,在测试装置100中可选择性地只配置一个横梁,而横梁与移动模组120之间可配置滑轨,以使移动模组120在横梁上进行移动。此外,控制模组140配置于移动模组120上,用以接收命令信号来控制移动模组120于前述些横梁112与114上的移动,并控制移动模组120收放线材132。透过控制模组140对移动模组120的控制,配置于基座130上的场探头150可藉由基座130的升降以进行升降,并藉由移动模组120的移动而进行移动,使得场探头150测试不同位置的电磁波。如此一来,透过控制模组140对移动模组120的控制,例如控制移动模组120向固定方向移动五十公分,或者控制移动模组120放出线材132五十公分,而得以将场探头150移动到所需平面上的固定位置,而避免确定场探头150位置需花费较长时间量测,且藉由人员量测易产生误差的问题。详细而言,控制模组140配置于移动模组120上,而位置控制器160藉由第一组光纤线122以及第二组光纤线124分别通信耦接于控制模组120。位置控制器160用以产生第一命令信号与第二命令信号,分别透过第一组光纤线122与第二组光纤线124传送至控制模组120,而后控制模组140接收第一命令信号来控制移动模组120于横梁112与114上的移动,并接收第二命令信号来控制移动模组120收放线材132,以使基座130透过线材132来进行上升与下降。其中如图2所示的第一组光纤线122为图3中连接到移动模组120右侧的Tx与Rx,而第二组光纤线124为图3中连接到移动模组120左侧的Tx与Rx。
如图3所示,位置控制器160可配置于电波暗室180的外,操作人员可透过位置控制器160来控制移动模组120的移动与收放线材132,藉使场探头150于一需求平面(测试转桌170前沿与移动模组120中心点B所形成的平面)上进行移动。如此一来,操作人员即不需进入实验室更换场探头150位置,而不会将外界杂讯带入实验室内,亦不需手动搬动落地式场探头支架,而不会有光纤被拉断的问题。此外,相较于落地式场探头支架,本发明实施例的测试装置100可归类为悬挂式场探头支架,由于测试装置100悬挂式的特性,因此可将场探头150由上而下垂降,而将场探头150放置在距离地面O. 8公尺高的测试转桌170的前边沿上,以符合相关校验法规的要求。在一实施例中,移动模组120的外型为对称形状,例如长方形,移动模组120的两端分别架设于其中之一横梁112与114上,而使移动模组120跨设于前述些横梁112与114之间。此外,移动模组120的中心点B配置于场的校验平面(测试转桌170前沿与移动模组120中心点B所形成的平面)上,线材132耦接于移动模组120的中心点,·藉使场探头150于场的校验平面上移动。在任选的一实施例中,线材132包含钢丝,然其并非用以限定本发明,任何熟习此技艺者,在不脱离本发明的精神和范围内,当可依照实际需求选择所需线材种类。由上述本发明实施方式可知,应用本发明具有下列优点。本发明实施例藉由提供一种测试装置,藉以改善确定场探头位置需花费较长时间量测且藉由人员量测易产生误差的问题、进入实验室手动更换场探头位置易将外界杂讯带入实验室内的问题、手动搬动落地式场探头支架容易将光纤拉断的问题以及不能将场探头放在距离地面O. 8公尺的位置的问题。虽然本发明已以实施方式揭露如上,然其并非用以限定本发明,任何熟习此技艺者,在不脱离本发明的精神和范围内,当可作各种的更动与润饰,因此本发明的保护范围当视本发明的权利要求书所界定者为准。
权利要求
1.一种测试装置,其特征在于,包含 至少一横梁,架设于一电波暗室内; 一移动模组,配置所述些横梁上以于所述些横梁上进行移动; 一基座,透过一线材耦接于所述移动模组,其中,所述移动模组用以放出所述线材与收起所述线材,以使所述基座透过所述线材来进行上升与下降; 一控制模组,配置于所述移动模组上,用以接收一命令信号来控制所述移动模组于所述横梁上的移动,并控制所述移动模组收放所述线材;以及 一场探头,配置于所述基座上,并用以测试一电磁波,其中,所述场探头藉由所述基座的升降以进行升降,并藉由所述移动模组的移动而进行移动,使得所述场探头测试不同位置的所述电磁波。
2.根据权利要求I所述的测试装置,其特征在于,所述移动模组的外型为一对称形状。
3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于,所述移动模组的一中心点配置于一场的校验平面上,所述线材耦接于所述移动模组的所述中心点,藉使所述场探头于所述场的校验平面上移动。
4.根据权利要求I所述的测试装置,其特征在于,所述横梁为至少二横梁,而所述移动模组的外型为一长方形,所述移动模组的两端分别架设于其中之一横梁上,而使所述移动模组跨设于所述些横梁之间。
5.根据权利要求I所述的测试装置,其特征在于,所述控制模组用以接收一第一命令信号来控制所述移动模组于所述横梁上的移动,并用以接收一第二命令信号来控制所述移动模组收放所述线材。
6.根据权利要求5所述的测试装置,其特征在于,更包含 一位置控制器,通信耦接于所述控制模组,并用以产生所述第一命令信号与所述第二命令号。
7.根据权利要求6所述的测试装置,其特征在于,所述位置控制器藉由一第一组光纤线以及一第二组光纤线分别通信耦接于所述控制模组,其中所述第一命令信号透过所述第一组光纤线传送至所述控制模组,而所述第二命令信号透过所述第二组光纤线传送至所述控制模组。
8.根据权利要求I所述的测试装置,其特征在于,所述线材包含一钢丝。
全文摘要
本发明提出了一种测试装置,其包含至少一横梁、移动模组、基座、控制模组以及场探头。横梁架设于电波暗室内。基座透过线材耦接于移动模组,其中移动模组用以放出线材与收起线材,以使基座透过线材来进行上升与下降。控制模组配置于移动模组上,用以接收命令信号来控制移动模组于横梁上的移动,并控制移动模组收放线材。场探头配置于基座上,并用以测试电磁波,其中场探头藉由基座的升降以进行升降,并藉由移动模组的移动而进行移动,使得场探头测试不同位置的电磁波。
文档编号G01R29/08GK102879652SQ201110205018
公开日2013年1月16日 申请日期2011年7月13日 优先权日2011年7月13日
发明者韩兆祥, 徐昭娣, 刘冉冉 申请人:英业达股份有限公司, 英顺达科技有限公司

  • 专利名称:一种高精度高次非球面透镜偏心测定系统及方法技术领域:本发明属于先进光学制造与检测领域,涉及光学检测系统,特别涉及一种高精度高次非球面透镜偏心测定系统及方法。背景技术:高次非球面透镜在成像系统、投影系统、空间相机等领域得到了越来越广
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